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加速科技突破2.7G高速數(shù)據(jù)接口測試技術

方朵朵 ? 來源:方朵朵 ? 作者:方朵朵 ? 2024-05-09 17:36 ? 次閱讀

隨著顯示面板分辨率的不斷提升,顯示驅(qū)動芯片(DDIC)的數(shù)據(jù)接口傳輸速率越來越高,MIPI、LVDS/mLVDS、HDMI等高速數(shù)據(jù)接口在DDIC上廣泛應用。為滿足高速數(shù)據(jù)接口的ATE測試需求,作為國內(nèi)少數(shù)擁有完全自研的LCD Driver測試解決方案供應商,加速科技經(jīng)過近三年時間的不懈努力,已在國內(nèi)率先完成了行業(yè)內(nèi)最高標準的高速數(shù)據(jù)接口測試技術自主研發(fā),推出了High Speed I/O測試板。它提供32 lanes測試接口,測試速率可達2.7Gbps。

目前,High Speed I/O測試板取得了多項核心技術的研發(fā)突破,EPR、EPA等關鍵指標達到國內(nèi)領先水平,EPR 1ps,EPA ±66ps。除了皮秒級的高精度波形傳輸外,High Speed I/O測試板還集成了PMU(per pin)、Pattern generator、Frame processor、Jitter injection等功能單元,支持對高速數(shù)據(jù)接口測試對象進行全面的、定制化的測試。

加速科技基于對未來顯示驅(qū)動芯片發(fā)展的前瞻洞察,在探索中革新演進,最終實現(xiàn)了從1.0Gbps到2.7Gbps的技術跨越。行業(yè)周知,高速傳輸與高精度之間的平衡是永恒的難題。如何在實現(xiàn)高速傳輸?shù)耐瑫r,兼顧數(shù)據(jù)精確性,對于技術的落地應用提出了極大挑戰(zhàn);此外,顯示驅(qū)動芯片功能集成度高,這就要求高速數(shù)據(jù)接口測試全面化且支持定制。高精度、高測試接口覆蓋率成為掣肘2.7Gbps落地的兩大關鍵技術難題。

提高高速數(shù)據(jù)傳輸精確性:在實際測試場景中,高速數(shù)據(jù)接口在傳輸數(shù)據(jù)時要求信號的完整性極高,包括波形的上升時間、下降時間、噪聲等指標。高速傳輸?shù)耐瑫r,保障傳輸信號質(zhì)量的最優(yōu),技術難度極大。High Speed I/O測試板目前已實現(xiàn)皮秒級的高精度波形傳輸,EPR 1ps,EPA ±66ps,解決了高速信號傳輸精確性難題。

保障測試接口覆蓋率:消費者對顯示設備的顯示效果要求日益提高,推動顯示驅(qū)動芯片產(chǎn)品性能不斷提升,顯示驅(qū)動芯片功能集成度持續(xù)躍升,測試接口的數(shù)量、復雜度、密度增加,同時測試需求也會變得更加定制化,High Speed I/O測試板目前能夠覆蓋主流接口的測試需求,且能確保各個接口之間的兼容性和穩(wěn)定性。

加速科技的發(fā)展之路是堅持創(chuàng)新,無論是在“自上而下”的頂層設計,即產(chǎn)品研發(fā)規(guī)劃上,還是在“自下而上”的技術落地實踐,應對高速接口測試各種嚴酷挑戰(zhàn)的前沿探索上,始終保持著高度的創(chuàng)新性、專業(yè)性,在半導體測試方面我們致力于為客戶提供最佳技術支持。

以顯示驅(qū)動芯片測試為代表的測試場景中,高速數(shù)據(jù)接口測試是核心要素,要讓測試技術真正落到實處,讓技術與用戶需求融合創(chuàng)新,提升效益助力產(chǎn)品升級迭代的同時,也讓顯示領域創(chuàng)新凸顯出更多的價值。作為國內(nèi)半導體測試領域領軍企業(yè),加速科技將通過不斷精研技術,創(chuàng)新突破,助力半導體測試產(chǎn)業(yè)持續(xù)升級和健康發(fā)展。

審核編輯 黃宇

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