工業級gom三維掃描儀(如ATOS系列)的檢測原理主要基于結構光掃描技術(Structured Light Scanning)和光學三角測量原理。以下是其基本的檢測原理:
1.結構光投射:掃描儀首先通過特定的光源(如藍光光源)向被測物體表面投射出精確的條紋圖案或光柵。這些條紋圖案經過精心設計和編碼,以便在后續的計算中準確識別和處理。
2.光學攝像:使用兩個或多個高分辨率攝像機同時捕捉投射在物體表面的條紋圖案。這些攝像機按照一定的角度和位置布局,以便從多個視角獲取物體的表面信息。
3.三角測量原理:根據攝像機捕捉到的條紋圖案,結合光學三角測量原理,可以計算出物體表面上每一點的三維坐標。具體來說,通過測量條紋圖案在攝像機成像平面上的位移和變形,可以推算出物體表面各點相對于掃描儀的空間位置。
4.數據處理:將多個攝像機獲取的數據進行融合和校準,以消除誤差和冗余信息,最終得到完整、準確的三維點云數據。這些數據可以進一步用于3D建模、測量、分析等操作。
工業級gom三維掃描儀采用的結構光掃描技術具有高精度、高效率、高自動化程度等優點,廣泛應用于汽車制造、航空航天、精密儀器、科技產品等領域。同時,由于其獨特的流動式設計和不同視角點云的自動拼合技術,使得掃描過程更加靈活、高效和準確。
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