矢量網(wǎng)絡分析儀(VNA)是一種廣泛應用于射頻和微波電路測試領域的儀器,它能夠測量被測設備的幅頻特性和相頻特性等參數(shù)。其中,對被測設備的衰減特性的準確測量是VNA應用中的一個重要指標。

E5080B是是是Keysight公司推出的一款高性能矢量網(wǎng)絡分析儀,其具有業(yè)界領先的測量性能和豐富的測量功能。下面我們就來介紹一下使用E5080B測量被測設備衰減特性的具體步驟。

1. 儀器連接

首先,將被測設備的輸入端連接到VNA的Port1,輸出端連接到VNA的Port2。確保所有連接均牢固可靠,以減少測量過程中的測試誤差。

2. 校準

在正式測量之前,需要對VNA進行校準,以消除測試線纜、連接器等因素對測量結果的影響。E5080B支持多種校準方法,用戶可以根據(jù)實際情況選擇合適的校準方式,如單端口校準、雙端口校準等。校準完成后,VNA的測量精度將大幅提高。

3. 設置測量參數(shù)

進入測量界面后,需要設置合適的測量參數(shù)。首先,選擇測量S參數(shù)為S21,即從Port1到Port2的傳輸參數(shù)。然后,設置頻率掃描范圍,覆蓋被測設備的工作頻段。同時,可以調整分辨率,即頻率步進,以獲得所需的測量精度。

4. 執(zhí)行測量

設置完參數(shù)后,即可開始測量。E5080B支持多種測量模式,用戶可以選擇連續(xù)掃描、單點測量等,根據(jù)實際需求進行靈活調整。測量過程中,VNA會自動采集幅度和相位數(shù)據(jù),并實時顯示在屏幕上。

5. 數(shù)據(jù)分析

測量完成后,用戶可以對獲取的數(shù)據(jù)進行進一步分析。E5080B內置了豐富的數(shù)據(jù)分析功能,包括幅度/相位曲線繪制、數(shù)據(jù)導出、標記測量等。通過這些功能,用戶可以深入了解被測設備的衰減特性,為電路優(yōu)化提供依據(jù)。

綜上所述,使用E5080B矢量網(wǎng)絡分析儀測量被測設備的衰減特性需要經(jīng)歷儀器連接、校準、參數(shù)設置、測量執(zhí)行和數(shù)據(jù)分析等步驟。只有嚴格按照操作流程,并合理利用VNA的各項功能,才能獲得可靠、準確的測量結果。同時,用戶還需要具備一定的測試知識和操作經(jīng)驗,以確保測量過程的規(guī)范性和測量結果的合理性。

審核編輯 黃宇