任何產(chǎn)品在到達消費者手中之前，都會歷經(jīng)一系列嚴格的可靠性試驗。正是這些試驗的錘煉，確保了產(chǎn)品的強健與可靠，使它們能在日常使用中經(jīng)受住時間的考驗。環(huán)境可靠性試驗的核心在于模擬外界環(huán)境的溫度變化，以此檢驗產(chǎn)品的耐氣候性能。今天，我們將通過廣東貝爾合作過的燈具案例，深入探討燈具所需進行的高低溫沖擊試驗，以供用戶參考。

高溫對燈具的影響

高溫環(huán)境對燈具構(gòu)成了多方面的挑戰(zhàn)。燈具的塑膠外殼可能因無法承受高溫而脆化破壞;燈管在溫度急劇變化時面臨燒壞的風險;照明燈的電路板芯片在冷熱沖擊下容易發(fā)生短路。因此，對燈具進行高溫測試顯得尤為重要。

高溫試驗方法

1、將燈具置于溫度設(shè)定為60℃的高低溫試驗箱中。

2、通過調(diào)壓器將燈具的輸入電壓調(diào)整至大額定輸入電壓的1.1倍，以模擬極端電壓條件。

3、接通電源，讓燈具持續(xù)點亮24小時，期間密切觀察燈具是否有損壞、材料受熱變形等異常現(xiàn)象。

4、點燈測試完成后，通過繼電器控制燈具在此高溫環(huán)境下進行沖擊測試。測試設(shè)置為：點燈20秒、熄燈20秒，循環(huán)100次。

高溫測試要求

1、燈具在經(jīng)過高溫高壓測試后，表面不得出現(xiàn)脫漆、變色、開裂、材料變形等異常現(xiàn)象。

2、燈具在溫度沖擊試驗后，不得發(fā)生漏電、點燈不亮等電氣異常現(xiàn)象，確保電氣性能的穩(wěn)定。

低溫對燈具的影響

燈具作為由多種電子元器件和結(jié)構(gòu)件組成的照明產(chǎn)品，在低溫環(huán)境下其性能也會發(fā)生顯著變化。特別是半導(dǎo)體器件和電解電容等關(guān)鍵部件，在低溫下的性能表現(xiàn)尤為重要。

低溫對關(guān)鍵部件的影響

1、開關(guān)管：在低溫環(huán)境下，開關(guān)管的載流子密度和活性都會降低，導(dǎo)致過載保護的啟動點降低。

2、電解電容：低溫環(huán)境下，電解電容的電解液易凍結(jié)(不同制作工藝的電解液耐低溫能力有顯著差異)，容值降低，失去電容效應(yīng)，無帶載能力，可能導(dǎo)致LED驅(qū)動啟動異常。同時，隨著溫度的降低，電容的ESR(等效串聯(lián)電阻)會急劇增大，導(dǎo)致電解電容對紋波的抑制能力降低，電壓紋波隨之變大。

低溫試驗方法

1、將燈具放置在溫度設(shè)定為-15℃的高低溫試驗箱中。

2、通過調(diào)壓器將燈具的輸入電壓調(diào)整至小額定輸入電壓的0.9倍，以模擬極端低電壓條件。

3、接通電源，讓燈具持續(xù)點亮24小時，期間密切觀察燈具是否有損壞、材料變形等異常現(xiàn)象。

4、點燈測試完成后，通過繼電器控制燈具在此低溫環(huán)境下進行溫度沖擊試驗。測試設(shè)置為：點燈20秒、熄燈20秒，循環(huán)100次。

低溫測試要求

1、燈具在經(jīng)過低溫低壓測試后，表面不得出現(xiàn)脫漆、變色、開裂、材料變形等異常現(xiàn)象。

2、燈具在溫度沖擊試驗后，不得發(fā)生漏電、點燈不亮等電氣異常現(xiàn)象，確保在極端低溫條件下的電氣穩(wěn)定性和可靠性。

廣東貝爾為您提供了關(guān)于燈具進行高低溫沖擊試驗的詳細方法和目的。這些試驗對于確保燈具在各種極端環(huán)境下的可靠性和穩(wěn)定性至關(guān)重要。如果您有更多關(guān)于試驗箱的問題或需要專業(yè)的技術(shù)咨詢與指導(dǎo)，請隨時與廣東貝爾聯(lián)系。作為一家專注于研發(fā)、設(shè)計、制造可靠性環(huán)境試驗設(shè)備及行業(yè)整體解決方案的高新技術(shù)企業(yè)，廣東貝爾擁有20余年的行業(yè)經(jīng)驗，可為您提供一對一的專業(yè)服務(wù)。