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半導(dǎo)體IGBT采用銀燒結(jié)工藝(LTJT)的優(yōu)勢(shì)探討

北京中科同志科技股份有限公司 ? 2024-07-19 10:23 ? 次閱讀

隨著現(xiàn)代電力電子技術(shù)的飛速發(fā)展,功率半導(dǎo)體器件在電力轉(zhuǎn)換與能源管理領(lǐng)域的應(yīng)用越來越廣泛。其中,絕緣柵雙極晶體管IGBT)以其顯著優(yōu)點(diǎn)在功率半導(dǎo)體器件中脫穎而出,然而,傳統(tǒng)的焊接技術(shù)已經(jīng)難以滿足IGBT模塊對(duì)高可靠性的需求。在這一背景下,銀燒結(jié)工藝(LTJT)作為一種新型連接技術(shù),正逐漸成為IGBT封裝領(lǐng)域的研究與應(yīng)用熱點(diǎn)。

一、IGBT概述

IGBT,即絕緣柵雙極型晶體管,是由BJT(雙極型三極管)和MOS(絕緣柵型場(chǎng)效應(yīng)管)組成的復(fù)合型半導(dǎo)體器件。它結(jié)合了MOS管的高輸入阻抗和晶體管的低導(dǎo)通壓降兩方面的優(yōu)點(diǎn),特別適用于高電壓、大電流的應(yīng)用場(chǎng)合。IGBT是電壓控制型器件,具有開關(guān)特性,但沒有放大功能。

二、傳統(tǒng)焊接技術(shù)的挑戰(zhàn)

傳統(tǒng)的焊接技術(shù),如軟釬焊,雖然在IGBT模塊封裝中廣泛應(yīng)用,但隨著IGBT功率等級(jí)的提升和封裝尺寸的縮小,其局限性愈發(fā)明顯。傳統(tǒng)焊接材料的熔點(diǎn)較低,導(dǎo)致在高溫工作環(huán)境下焊層容易出現(xiàn)退化現(xiàn)象,從而影響器件的可靠性。此外,傳統(tǒng)焊接技術(shù)的熱阻較高,不利于IGBT模塊的散熱,限制了其性能的提升。

三、銀燒結(jié)工藝(LTJT)的優(yōu)勢(shì)

銀燒結(jié)工藝(LTJT)作為一種新型連接技術(shù),以其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)正在逐漸取代傳統(tǒng)的焊接技術(shù)。該技術(shù)采用微米和納米級(jí)的銀顆粒(銀漿、銀膜和銀粉)通過燒結(jié)實(shí)現(xiàn)材料連接。相較于傳統(tǒng)焊接技術(shù),銀燒結(jié)工藝具有以下顯著優(yōu)勢(shì):

高熔點(diǎn):銀的熔點(diǎn)高達(dá)961℃,遠(yuǎn)高于傳統(tǒng)焊接材料的熔點(diǎn)。這使得采用銀燒結(jié)工藝的IGBT模塊能夠在高溫環(huán)境下穩(wěn)定工作,大大提高了模塊的可靠性。

低熱阻:銀具有優(yōu)異的導(dǎo)熱性能,采用銀燒結(jié)工藝可以顯著降低IGBT模塊內(nèi)部的熱阻,提高散熱性能。這有利于降低IGBT的工作溫度,延長(zhǎng)其使用壽命。

優(yōu)異的電性能:銀的導(dǎo)電性能極佳,可以有效降低連接層的電阻,從而提高IGBT模塊的工作效率。

抗疲勞性能好:銀燒結(jié)工藝形成的冶金結(jié)合層具有更高的強(qiáng)度和更好的耐熱循環(huán)性能,能夠有效抵抗熱應(yīng)力和機(jī)械應(yīng)力,提高模塊的耐久性。

四、銀燒結(jié)工藝的關(guān)鍵步驟

銀燒結(jié)工藝主要包括以下關(guān)鍵步驟:

焊料制備:選用高純度的銀粉,通過添加適量的有機(jī)載體和分散劑,制備成具有一定流動(dòng)性和黏度的銀膏。

芯片與基板預(yù)處理:對(duì)芯片和基板的連接表面進(jìn)行清潔、除油和粗化處理,以提高銀膏與連接表面的潤濕性和結(jié)合強(qiáng)度。

銀膏涂覆與定位:將制備好的銀膏均勻涂覆在芯片或基板的連接表面上,并通過精確定位確保芯片與基板的準(zhǔn)確對(duì)位。

燒結(jié)過程:在一定的溫度和壓力下進(jìn)行燒結(jié)。燒結(jié)過程中,銀膏中的有機(jī)載體和分散劑在高溫下分解揮發(fā),銀粉顆粒之間發(fā)生固態(tài)擴(kuò)散或液態(tài)燒結(jié),形成致密的銀層,實(shí)現(xiàn)芯片與基板的冶金結(jié)合。

五、銀燒結(jié)工藝的挑戰(zhàn)與展望

盡管銀燒結(jié)工藝在IGBT模塊封裝中具有諸多優(yōu)勢(shì),但在實(shí)際應(yīng)用過程中仍面臨一些挑戰(zhàn),如銀焊料價(jià)格昂貴、容易氧化以及與銅基板間的熱膨脹系數(shù)差異等問題。針對(duì)這些問題,研究者們正在不斷探索新型的焊料合金、抗氧化涂層技術(shù)以及熱應(yīng)力緩解措施。

展望未來,隨著新材料、新技術(shù)的不斷涌現(xiàn)和電力電子市場(chǎng)的持續(xù)發(fā)展,銀燒結(jié)工藝有望得到進(jìn)一步的完善和優(yōu)化。同時(shí),隨著銀燒結(jié)技術(shù)與其他連接技術(shù)的相互補(bǔ)充和共同發(fā)展,IGBT模塊的可靠性和性能將得到進(jìn)一步提升,為電力電子技術(shù)的進(jìn)步做出更大的貢獻(xiàn)。

六、結(jié)論

銀燒結(jié)工藝以其高熔點(diǎn)、低熱阻、優(yōu)異的導(dǎo)熱性能和抗疲勞性能等獨(dú)特優(yōu)勢(shì),在IGBT模塊封裝領(lǐng)域展現(xiàn)出廣闊的應(yīng)用前景。通過不斷優(yōu)化工藝參數(shù)和降低成本,銀燒結(jié)工藝有望為IGBT模塊的高可靠性、高性能和小型化提供有力保障,推動(dòng)電力電子技術(shù)的持續(xù)發(fā)展和創(chuàng)新。隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步和市場(chǎng)需求的持續(xù)增長(zhǎng),相信銀燒結(jié)工藝將在未來發(fā)揮更加重要的作用。

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