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新品發(fā)布 rBT3250-50G突發(fā)誤碼分析儀,支持突發(fā)和連續(xù)模式信號輸出及誤碼測試

聯訊儀器 ? 來源:聯訊儀器 ? 作者:聯訊儀器 ? 2024-07-26 18:35 ? 次閱讀

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50G突發(fā)誤碼分析儀

rBT3250是專門針對下一代25G/50G無源光網絡(PON)應用的光線路終端(OLT)測試新型突發(fā)誤碼分析儀,用于評估突發(fā)模式下的25G及50G OLT接收機性能。

rBT3250提供2個獨立的突發(fā)碼型發(fā)生器和誤碼探測器通道,支持連續(xù)模式或突發(fā)模式誤碼分析,具有兩路突發(fā)時分碼型序列產生和誤碼分析能力,碼型時序靈活可調。并針對器件測試需求,給相應測試通道提供同步的激光器使能、復位信號等低速控制通道。產品內置時鐘恢復,可以自動測距,輕松應對長纖測試。

50GPON模塊測試

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(a)

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(b)

如圖a所示,搭建50G PON突發(fā)測試環(huán)境,主要由兩個ONU模塊和一個OLT模塊組成。突發(fā)誤碼測試儀兩個突發(fā)通道PPG時分交替發(fā)送具備突發(fā)幀結構的數據(preamble & Data)及激光器使能信號(enable),使兩個ONU模塊交替發(fā)送突發(fā)數據,分別經過衰減器,模擬不同長度光纖上的功率衰減,經過分光路器合成一路光,接入OLT模塊。突發(fā)誤碼測試儀ED向OLT發(fā)送reset信號并接收突發(fā)數據,進行兩路突發(fā)誤碼比較。

如圖b所示,在雙突發(fā)測試過程中,突發(fā)誤碼測試儀通過配置兩個突發(fā)通道的突發(fā)幀長度(preamble & Data),以及衰減器的衰減量,可以充分檢測OLT模塊在接收不同光功率,不同突發(fā)數據長度時的性能。

產品優(yōu)勢

01,支持突發(fā)和連續(xù)模式信號輸出及誤碼測試

支持2路突發(fā)時序可配置的碼型發(fā)生器通道和2路突發(fā)誤碼測試通道

02,突發(fā)模式支持速率

24.8832Gbps、25.78125Gbps、49.7664Gbps、51.5625Gbps

03,支持2路同步的ONU激光器使能控制通道誤碼測試通道

控制電平是LVTTL 3.3V不需外接電平轉換。

04,支持2路雙復位控制通道

復位位置可調,復位寬度可調

主要應用

01,50G PON OLT模塊研發(fā)及生產測試

02,突發(fā)線性TIA芯片測試

需要驗證突發(fā)信號情況下TIA(跨阻放大器)的器件的工作狀態(tài)

03,對碼型時序有特殊要求的一些場合

04,多通道信號輸出,多路信號碼型同步、時延同步

05,SDI碼型或者成幀信號產生及誤碼探測

技術指標

碼型發(fā)生指標 輸出 差分,交流耦合,100?±10%
輸出幅度 差分,100-600mVp-p
輸出通道 突發(fā)通道(50GbpsNRZ)
連續(xù)通道(50GbpsNRZ/PAM4)
支持碼型 支持:PRBS7,15,23,31,SSPR,自定義碼型及CID碼型
上升時間
(20%~80%)
<12ps
抖動(RMS <0.9ps
碼型序列 支持前導碼、保護時間及負荷時序信號的產生及編輯
CID碼型 長度64-128bits可調
時鐘輸出 1/2、1/4、1/8、1/16分頻時鐘輸出
連接器類型 2.4mm female,50Ω
RSSI觸發(fā)輸出 支持RSSI觸發(fā)信號脈沖寬度、重復周期、位置可調
誤碼探測器指標 輸入類型 差分,交流耦合,100?±10%
幅度 100~800mVpp
靈敏度 >100mV
時鐘模式 內置時鐘恢復
連接器 2.4mm female,50Ω

關于聯訊

聯訊儀器是國內高端測試儀器和設備供應商。主要專注于高速通信、光芯片、電芯片和第三代半導體功率芯片等測試儀表和設備的研發(fā)制造。公司可以提供包括寬帶采樣示波器、高速誤碼儀、網絡流量測試儀、高精度快速波長計、精密數字源表、低泄漏矩陣開關等高端測試儀器,以及高速光電混合ATE、半導體激光器CoC老化、裸Die芯片測試、硅光晶圓測試、SiC晶圓老化、SiC裸Die功率芯片KGD測試分選、WAT晶圓允收測試系統、WLR/PLR可靠性測試系統等高端測試設備。

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