引言

有機發光二極管（Organic Light Emitting Diode，OLED），屬于一種電流型的有機發光器件，是通過載流子的注入和復合而致發光的現象。OLED以其自發光特性，提供了更高的對比度、更廣的視角以及更快的響應時間，相較于傳統的液晶顯示技術（LCD），OLED展現出更加生動鮮明的色彩和更深的黑色。此外，OLED的柔性特性為可穿戴設備、折疊屏幕等創新應用提供了可能，極大地推動了顯示技術的革新與發展。

隨著OLED技術的不斷進步，對其電學性能的測試與優化變得尤為關鍵。高效準確的電學性能測試不僅可以評估OLED器件的性能，還能為改進設計、提高產品質量提供重要依據。

在之前云上大講堂直播課程中，泰克高級應用工程師趙克潤帶大家全面了解了OLED技術及其測試方法，包含OLED顯示原理介紹、OLED TEG器件電學性能測試以及OLED電路中MOSFET、電阻和電容測試優化方法。

本期內容中，我們邀請趙工詳細解答本次直播中各位同學的提問，并附上本期云上大講堂直播回放。

問答精選

Q1

電容值可以使用LCR測試儀測試嗎？

答

可以直接用4200A CVU模塊進行測試。

Q2

4200支持四線法么？

答

支持。

Q3

脈沖源如何設置測試？

答

可以用4200A自帶的KPulse進行設置。

Q4

小電容測試原理及基本框架

答

典型的半導體電容在pF或nF范圍內。許多商業上可用的LCR表或電容計補償后可以使用適當的測量技術 來測量這些值，然而，一些應用需要在飛秒法（fF）或1e-15范圍內進行非常靈敏的電容測量。這些應 用包括測量金屬到金屬的電容，晶片上的互連電容，MEMS器件，如：開關，納米器件端子之間的電容。如果沒有使用適當的儀器和測量技術，這些非常小的 電容很難進行測量。

使用4200A-SCS參數分析儀配備的4215-CVU（CVU），用戶能夠測量大范圍的電容，<1pF非常低的電容值 也能測到。CVU采用獨特的電路設計，并由Clarius+軟件控制，支持校準和診斷工具，以確保最準確的結 果。使用這種CVU和適當的測量技術可以使用戶實現多個噪聲水平的非常低的電容（1e-18f）測量。

Q5

為了減少Cable&接觸電阻誤差，小電阻測試應該采用哪種方式？

答

四線法，四線法測試可以有效消除導線電阻和接觸電阻的影響，從而減少誤差。

Q6

電容補償方式有幾種？

答

電容補償有三種方式，open補償，short補償，load補償。

Q7

4201 SMU能否有效處理因為負載電容太大而導致的電壓源的振蕩

答

可以，4201 SMU可以把4200 SMU 的最大負載電容從10nF 增大到10uF, 從而可以有效處理因為負載電容太大而導致的電壓源振蕩。