實驗背景：

在電子設備的設計與制造流程中，電磁干擾（EMI）占據著舉足輕重的地位，是不可或缺的考量要素。鑒于某些設備在運作時可能釋放出高強度的電磁輻射，進而對周邊設備的穩定運行構成潛在威脅。我們借助EMI掃描儀、近場探頭以及頻譜分析儀等尖端工具，來精準地識別并鎖定這些干擾源頭。通過集成高效能的測試設備，實現對電子設備電磁輻射特性的全面剖析。

實驗目的：1、識別設備或電路板上的電磁干擾源2、測量干擾的頻率和強度3、定位潛在的干擾區域并評估其對周邊設備的影響

實驗設備：OI-EASU432型EMI掃描儀和軟件：作為高精度的電磁輻射測量與分析工具，該掃描儀能夠精確操控探頭位置與掃描軌跡，確保對被測設備（DUT）的全面覆蓋。通過自動化掃描與先進的軟件控制，我們能夠顯著減少人工干預，提升測試效率與精度。OI-ICSET40GHz無源近場探頭組：作為EMI表面掃描的核心組件，這些探頭能夠敏銳捕捉DUT表面的局部電磁場強度，無論是電場還是磁場，均能依據實際需求靈活選擇。它們將捕捉到的信號傳輸至頻譜分析儀進行進一步處理。FSV3044頻譜分析儀：頻譜分析儀用于實時測量和分析近場探頭采集到的電磁信號的頻率和強度，為后續的數據處理和分析提供支持。

實驗測試設備連接：根據需要選擇電場探頭或磁場探頭，將近場探頭安裝在掃描儀的探頭支架上，確保其能準確接觸或靠近DUT的表面。探頭的校準和配置由測試軟件控制，確保整個掃描過程中的數據一致性。將探頭信號通過掃描儀或直接連接至頻譜分析儀，并通過軟件進行設備配置（如頻率范圍、分辨率帶寬等）。將DUT放置在掃描儀的工作區域，確保其在正常工作狀態下接受掃描測試。

實驗步驟：1.設備安裝與校準：安裝好近場探頭，并確保掃描儀與頻譜分析儀正常連接到測試軟件，被測裝置應通電并進行運行檢查，以確保設備正常運行。2.掃描與頻譜分析：在測試軟件中設定掃描路徑、頻率范圍和數據采集參數，啟動自動掃描與頻譜分析。3.數據采集與實時監測：測試軟件實時采集和處理掃描與頻譜數據，并以圖形方式顯示在用戶界面上。4.數據分析：軟件自動分析采集的數據，識別并標記異常干擾源。5.報告生成與管理：測試軟件支持自動生成格式化的測試報告，并提供強大的數據管理功能，支持不同測試項目的數據分類。