SD NAND測(cè)試工具的實(shí)用技巧
H2 testw檢測(cè)工具是一款能夠?yàn)橛脩?hù)們提供全面的U盤(pán)讀寫(xiě)性能的U盤(pán)工具，H2testwU盤(pán)檢測(cè)工具能夠準(zhǔn)確的檢測(cè)出U盤(pán)的參數(shù)信息，提高用戶(hù)的使用效率。
而SD NAND通過(guò)轉(zhuǎn)接板，插上讀卡器后其實(shí)也等同于U盤(pán)，因此，也可以通過(guò)此方式測(cè)試SD NAND的性能。
如下圖，是米客方德MKDV2GIL-AST的H2測(cè)試結(jié)果，可以看出，該SD NAND具備較好的讀寫(xiě)性能。
審核編輯 黃宇
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??最后貼上測(cè)試工程的鏈接，還迎復(fù)現(xiàn)實(shí)驗(yàn): https://gitee.com/gewenjie_host/sd_-nand_-zynq700_test
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前言
本文基于 ESP32 芯片作為主控制器，測(cè)試 SD
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