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為減少開關(guān)管損耗的BSCO16NO3LSG型開關(guān)電源MOSFET

電子工程師 ? 來源:網(wǎng)絡(luò)整理 ? 作者:工程師黃明星 ? 2018-06-08 10:24 ? 次閱讀

近年來,電源的輸出電壓越來越低、輸出電流越來越大(某些電源系統(tǒng)輸出幾十安培到上百安培)。因此,電源設(shè)計(jì)中采用開關(guān)電源控制器、加上多個(gè)驅(qū)動(dòng)器及功率 MOSFET組成的多相開關(guān)電源能滿足這種要求。若采用多相控制器與功率MOSFET組成的結(jié)構(gòu),應(yīng)用十分靈活,可以根據(jù)輸出電流的大小合理選擇開關(guān)管及同步整流管,并且可獲得很好的轉(zhuǎn)模效率及低的紋波電壓。

為減少在工作頻率高時(shí)的開關(guān)管損耗,要求開關(guān)管的柵極電容小、導(dǎo)通電阻小;并且要求輸出漏極電流大,不少功率MOSFET廠家紛紛開發(fā)出各種低Qg、低RDS(on)及大ID的專用開關(guān)電源MOSFET。本文介紹Infineon公司推出的為開關(guān)電源設(shè)計(jì)的N溝道高開關(guān)速度功率MOSFET。它的型號(hào)是BSCO16NO3LSG。它的產(chǎn)品摘要為:VDS=30V、RDS(on)=1.6mΩ、ID=100A。

主要特點(diǎn)及有關(guān)參數(shù)

BSCO16NO3LSG的主要特點(diǎn)及有關(guān)參數(shù):

1. 可采用TTL邏輯電壓控制;

2. 在TTL邏輯高電壓時(shí),其導(dǎo)通電阻RDS(on)很小。如VGS=5V時(shí),RDS(on)=1.7mΩ;VGS=4.5V時(shí),RDS(on)=1.8 mΩ;VGS=4V時(shí),RDS(on)=2mΩ;并且ID在0~50A范圍內(nèi)變化,RDS(on)不變,如圖1所示;

為減少開關(guān)管損耗的BSCO16NO3LSG型開關(guān)電源MOSFET

圖1 BSCO16NO3LSG的典型漏-源導(dǎo)通電阻

柵極電荷Qg×RDS(on)的乘積小,有利于工作于高頻率時(shí)減小損耗及具有良好的開關(guān)特性;

3. 熱阻RJC低,RJC=1℃/W;并且在40mm×40mm×1.5mm單層敷銅板(環(huán)氧樹脂PCB),其銅層面積為6cm2(銅層厚70μM),PCB垂直在靜止空氣中的熱阻RJA=50℃/W。這說明在一定工作條件下,功率MOSFET所需的冷卻散熱的PCB面積不大,可以減少PCB面積;

4. 小尺寸PG—TDSON—8封裝(一種封裝背面有較大面積散熱墊的結(jié)構(gòu)),其尺寸為:6mm×5mm×1mm。其背面形狀如圖2所示;

為減少開關(guān)管損耗的BSCO16NO3LSG型開關(guān)電源MOSFET

圖2 BSCO16NO3LSG的封裝背面有較大面積散熱墊

5. 在足夠大的散熱面積條件下,VGS=4.5V,該器件散熱墊的溫度TC在25℃~100℃范圍,其最大的連續(xù)ID可達(dá)100A。如果在其散熱敷銅層面積為6cm2的條件下(RJA=50℃/W),VGS=10V、TA環(huán)境溫度=25℃,其最大連續(xù)ID為32A。如果要求連續(xù)ID大于32A,可增加散熱面積或采用雙層敷銅層的PCB。

漏極電流ID與MOSFET散熱墊的溫度TC的關(guān)系表明:在VGS≥10V時(shí),即使TC=120℃,也可保證ID=100A,脈沖漏極電流可達(dá)400A;

6. 該MOSFET的最大功耗在TC=25℃時(shí),Ptot=125W。這與散熱條件有關(guān)。如果在TA=25℃,RJA=50℃/W的條件下(即散熱面積僅6cm2層敷銅層)時(shí),其最大允許功耗僅2.5W。如果要增加最大允許功耗時(shí)可增加散熱面積或采用雙層銅層的PCB;

7. 該MOSFET的輸出特性如圖3所示,轉(zhuǎn)移特性如圖4所示。

為減少開關(guān)管損耗的BSCO16NO3LSG型開關(guān)電源MOSFET

圖3 輸出特性

為減少開關(guān)管損耗的BSCO16NO3LSG型開關(guān)電源MOSFET

圖4 轉(zhuǎn)移特性

滿足同步整流的工作安全

在同步整流的電路中,它由高端MOSFET(HS)及低端MOSFET(LS)組成,如圖5所示。HS及LS由驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng),在正常工作時(shí):HS導(dǎo)通時(shí),LS截止;HS截止時(shí),LS導(dǎo)通。為防止HS沒有關(guān)斷、LS開始導(dǎo)通的情況發(fā)生,在HS截止時(shí)有個(gè)死區(qū)時(shí)間后LS才導(dǎo)通。

為減少開關(guān)管損耗的BSCO16NO3LSG型開關(guān)電源MOSFET

圖5 同步整流電路

由于MOSFET管內(nèi)存在極間電容Cgd及Cgs,在HS開始導(dǎo)通時(shí),有電流Icgd流經(jīng)Cgd、經(jīng)過Rgate+Rdrive后到地而產(chǎn)生一個(gè)△VGS、△VGS=(Rgate+Rdrive)×Icgd,如果△VGS大于LS的VGS(th),則可能使LS導(dǎo)通,即產(chǎn)生HS及LS都導(dǎo)通的情況,這將使MOSFET造成損壞。若LS中的Cgd和Cgs的比值Cgd/Cgs≤1時(shí),這種HS及LS同時(shí)導(dǎo)通的事故可避免。BSCO16NO3LSG在工藝上可做到Cgd/Cgs≈0.48的最佳比值,使同步整流的工作很安全(資料中給出Qgd典型值為10nC,Qgs典型值為21nC,其比值為0.476)。

引腳排列

該MOSFET采用散熱良好、熱阻RJC小的PG—TDSON—8封裝,其引腳排列如圖6所示。為保證良好散熱,在印制板設(shè)計(jì)時(shí),4個(gè)漏極并聯(lián)引腳D的焊盤與其背面散熱墊的焊接面連接在一起,3個(gè)源極并聯(lián)的焊盤尺寸也盡量的大,有利于散熱。一種印制板圖形設(shè)計(jì)如圖7所示。

為減少開關(guān)管損耗的BSCO16NO3LSG型開關(guān)電源MOSFET

圖6 引腳排列

為減少開關(guān)管損耗的BSCO16NO3LSG型開關(guān)電源MOSFET

圖7 一種印制板圖形設(shè)計(jì)

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