精品国产人成在线_亚洲高清无码在线观看_国产在线视频国产永久2021_国产AV综合第一页一个的一区免费影院黑人_最近中文字幕MV高清在线视频

0
  • 聊天消息
  • 系統消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術視頻
  • 寫文章/發帖/加入社區
會員中心
創作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>

3天內不再提示

功率器件熱設計基礎(三)——功率半導體殼溫和散熱器溫度定義和測試方法

英飛凌工業半導體 ? 2024-11-05 08:02 ? 次閱讀

/ 前言 /

功率半導體熱設計是實現IGBT、碳化硅SiC高功率密度的基礎,只有掌握功率半導體的熱設計基礎知識,才能完成精確熱設計,提高功率器件的利用率,降低系統成本,并保證系統的可靠性。

功率器件熱設計基礎系列文章會聯系實際,比較系統地講解熱設計基礎知識,相關標準和工程測量方法。

功率半導體模塊殼溫和散熱器溫度

功率模塊的散熱通路由芯片DCB、銅基板、散熱器和焊接層、導熱脂層串聯構成的。各層都有相應的熱阻,這些熱阻是串聯的,總熱阻等于各熱阻之和,這是因為熱量在傳遞過程中,需要依次克服每一個熱阻,所以總熱阻就是各熱阻的累積。

33b95f1e-9b09-11ef-8084-92fbcf53809c.jpg

各芯片在導熱通路上有多個導熱層,在IEC 60747-15 Discrete semiconductor devices–15_Isolated power semiconductor devices按照設計的具體需要定義了殼溫Tc和散熱器溫度Th,以及測試方法。

在損耗和熱仿真時,基本的仿真總是針對單個IGBT或單個二極管,所以需要知道的殼溫是指芯片正下方的溫度,散熱器溫度也是指芯片正下方的溫度。英飛凌數據手冊就是這樣定義的。

按照IEC 60747-15,具體測試方法為:

Tc:殼溫是通過功率開關(芯片)下面穿透散熱器以及熱界面材料的小孔測量到的管殼溫度Tc。

Ts(Th):散熱器溫度是通過止于散熱器表面下方2mm±1mm(型式試驗特征,應予規定)的規定的盲孔測量。

Tsx:散熱器溫度也可以取自距功率開關(芯片)最近的最熱可觸及點,但這殼溫與英飛凌數據手冊上的定義和測量方法不一致,這樣的管殼溫度可以作為設計也測量參考,需要的化,可以通過測量定標,建立與結溫的函數關系。

33d5f656-9b09-11ef-8084-92fbcf53809c.jpg

為了測量Tc打了穿透散熱器以及熱界面材料的小孔,插入傳感器會影響模塊殼到散熱器的熱傳遞,好在有基板的模塊,熱會在基板上橫向傳導擴散,孔和探頭對測量誤差可以控制在5%水平。

注:在IEC 60747-15中的Rth(j-s),Rth(c-s)與本文中Rthjh和RthCH一致。

33dd2714-9b09-11ef-8084-92fbcf53809c.jpg

對于沒有基板的模塊,如英飛凌的Easy系列,DCB下表面的銅層很薄,熱的橫向傳導非常有限,熱傳遞的有效面積與芯片尺寸相當,打孔測殼溫對模塊散熱影響就比較大,測量改變了工況,這樣的測量不宜提倡。

33e0b3de-9b09-11ef-8084-92fbcf53809c.jpg

因此,對于這種沒有基板的模塊,熱阻抗的參考溫度為Ts(Th)而不再用TC,就是說直接定義RthJH,在數據手冊里找不到RthJC和RthCH。

33e77caa-9b09-11ef-8084-92fbcf53809c.jpg

模塊殼溫的工程測量方法:

在芯片底部測殼溫是型式試驗方法,用于功率平臺開發,而實際應用中,功率模塊會自帶NTC,負溫度系數熱敏電阻作為測溫元件。

NTC安裝在硅芯片的附近,以得到一個比較緊密的熱耦合。根據模塊的不同,NTC或者與硅芯片安裝在同一塊DCB上,或者安裝在單獨的基片上。

33fe3c6a-9b09-11ef-8084-92fbcf53809c.jpg

NTC測量值不是數據手冊中定義熱阻的殼溫,需要按照經驗進行修正,或進行散熱定標。

熱量可能傳導路徑的等效熱路:

3401cb6e-9b09-11ef-8084-92fbcf53809c.jpg

經驗法:

NTC可用于穩態過熱保護,其時間常數大約是2秒。在數據手冊上的瞬態熱阻曲線上可以讀到芯片的熱時間常數,0.2秒左右,但是整個散熱系統的時間常數卻非常大,譬如在20秒左右,因此NTC可以檢測較緩慢溫度變化和緩慢過載情況,對短時結溫過熱保護是無能為力的,更不能用于短路保護。

我們可以有兩個簡單的說法:

1.由于連接芯片結到NTC的路徑RthJNTC上有溫度差,熱敏電阻NTC的溫度TNTC會比結溫TJ來得低。

2.但NTC的溫度會比散熱器上測量的溫度來得高。由經驗可知,對于電力電子設備,散熱器的溫度和NTC的溫度的差值約等于10K的溫度左右。

340f4ef6-9b09-11ef-8084-92fbcf53809c.jpg

這方法僅用于估算,建議用下面的定標法和熱仿真得到更精確的數值。

定標法:

對于結構設計完成的功率系統,我們可以測得芯片表面溫度和在特定的散熱條件下的Tvj~TNTC曲線,這曲線可以很好幫助你利用NTC在穩態條件下來監測芯片溫度。具體方法參考《論文|如何通過IGBT模塊內置的NTC電阻測量芯片結溫》

下圖就是摘自上述微信文章,被測器件是PrimePACK模塊FF1000R17IE4 1000A/1700V,采用可調風速的風冷散熱器。

芯片的溫度用紅外熱成像儀測量,數據手冊所定義的殼溫用熱電偶在芯片下方測量。NTC電阻值通過數據采集器記錄,并且根據IGBT模塊數據手冊中的NTC阻值-溫度曲線將電阻值轉換成對應的溫度值。

341e5c3e-9b09-11ef-8084-92fbcf53809c.jpg

單管管腳溫度測量:

功率半導體單管,例如TO-247-3封裝,其中心管腳是框架的一部分,在系統設計中往往測中心管腳溫度作為殼溫的參考,為此JEDEC即固態技術協會在1973年就發布了一份出版物《測量晶體管引線溫度的推薦做法》,目前有效版本是2004年的JEP84A 。

342a39dc-9b09-11ef-8084-92fbcf53809c.jpg

JEP84A推薦做法包括:

1.建議的引線溫度測量點為距離外殼1.5毫米處或制造商指定的位置,如圖綠點位置;

2.熱電偶測量時,必須注意熱電偶與引線表面的牢固接觸,建議采用焊接方式;

3.熱電偶球的橫截面積不得大于引線橫截面積的二分之一,由于圖示封裝b3=2.87mm,所以熱電偶不要超過1.4mm。

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規問題,請聯系本站處理。 舉報投訴
  • 散熱器
    +關注

    關注

    2

    文章

    1056

    瀏覽量

    37486
  • 功率器件
    +關注

    關注

    41

    文章

    1728

    瀏覽量

    90313
  • 功率半導體
    +關注

    關注

    22

    文章

    1131

    瀏覽量

    42881
  • 熱設計
    +關注

    關注

    11

    文章

    121

    瀏覽量

    26624
收藏 人收藏

    評論

    相關推薦

    功率MOSFET搭配散熱器的分析講解

    功率MOSFET和散熱器的工作講解;散熱器阻計算所需的重要說明.
    的頭像 發表于 05-19 09:08 ?1w次閱讀
    <b class='flag-5'>功率</b>MOSFET搭配<b class='flag-5'>散熱器</b>的分析講解

    功率器件設計基礎(一)——功率半導體

    文章會比較系統地講解熱設計基礎知識,相關標準和工程測量方法散熱功率半導體器件在開通和關斷過程中和導通電流時會產生損耗,損失的能量會轉化為熱
    的頭像 發表于 10-22 08:01 ?838次閱讀
    <b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>器件</b><b class='flag-5'>熱</b>設計基礎(一)——<b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>半導體</b>的<b class='flag-5'>熱</b>阻

    功率器件設計基礎(四)——功率半導體芯片溫度測試方法

    功率半導體熱設計是實現IGBT、碳化硅SiC高功率密度的基礎,只有掌握功率半導體設計基礎知識
    的頭像 發表于 11-12 01:04 ?711次閱讀
    <b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>器件</b><b class='flag-5'>熱</b>設計基礎(四)——<b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>半導體</b>芯片<b class='flag-5'>溫度</b>和<b class='flag-5'>測試</b><b class='flag-5'>方法</b>

    功率半導體器件應用手冊

    過程中不損壞器件?一、怎樣彎腳才能不影響器件的可靠性1、彎腳功率電路為保證散熱效果往往安裝有較大的散熱器,而用戶所得到的穿孔封裝
    發表于 08-12 08:46

    IGBT模塊散熱器選擇及使用原則

    的耗散功率器件阻、接觸阻以及冷卻介質溫度來考慮。  2,
    發表于 06-20 14:33

    IGBT模塊散熱器的應用

      IGBT模塊散熱器的應用  隨著電力電子技術的快速發展,以及當前電子設備對高性能、高可靠性、大功率器件的要求不斷提高,單位體積內的耗散程度越來越高,導致發熱量和
    發表于 06-20 14:58

    LED封裝器件測試散熱能力評估

    溫度變化曲線;(4)色坐標溫度變化曲線;(5)色溫溫度變化曲線;(6)效率溫度變化曲線。 金鑒檢測應用舉例1.封裝器件
    發表于 07-29 16:05

    半導體功率器件的分類

    芯集成電路等);測試類(***冠魁、紹興宏邦、西安易恩、杭州可靠性儀器廠、陜西海、西安慶云等);隨著半導體功率
    發表于 07-12 07:49

    什么是基于SiC和GaN的功率半導體器件

    阻使這些材料成為高溫和功率密度轉換實現的理想選擇 [4]。    為了充分利用這些技術,重要的是通過傳導和開關損耗模型評估特定所需應用的可用半導體
    發表于 02-21 16:01

    半導體器件阻和散熱器設計

    半導體器件阻和散熱器設計 半導體器件阻:
    發表于 03-12 15:07 ?63次下載

    功率半導體激光器標準列陣單元及散熱器的設計與制作

    摘要:對高功率半導體激光器的標準列陣單元及散熱器進行了設計和制作.采用該標準列陣單元及散熱器對不同占空比的二維半導體激光器列陣的
    發表于 11-23 21:21 ?27次下載

    功率半導體器件風冷散熱器阻計算

    功率半導體器件風冷散熱器阻計算方法
    發表于 04-28 14:35 ?43次下載

    功率器件設計及散熱計算

    本文介紹了功率器件的熱性能參數,并根據實際工作經驗,闡述了功率器件設計方法
    發表于 06-20 10:56 ?14次下載

    探討半導體散熱器的原理和工作機制

    過程中會發熱,這是由電流通過半導體產生的功耗引起的。如果不及時散熱溫度將會持續升高,超過器件能夠承受的范圍,可能導致性能下降、甚至損壞設備。因此,
    的頭像 發表于 02-02 17:06 ?3002次閱讀

    功率半導體器件功率循環測試與控制策略

    功率循環測試是一種功率半導體器件的可靠性測試方法,被
    的頭像 發表于 10-09 18:11 ?253次閱讀
    <b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>半導體</b><b class='flag-5'>器件</b><b class='flag-5'>功率</b>循環<b class='flag-5'>測試</b>與控制策略