日前，NI全聯結峰會在上海國際會議中心如期召開，此次峰會以“共贏智能測試未來”為主題。

華穗應邀參加此次峰會，在現場展示了“T/R組件自動測試系統Demo”，并且在“前沿研究與科研”分論壇上開展了“讓T/R組件測試可以黑燈”的專題演講。

展會回顧

此次展會我們帶來的T/R組件自動測試系統Demo備受矚目，吸引了通信、電子、半導體等多個行業的專業人士前來參觀咨詢。在展位前，華穗的工程師們憑借深厚的專業知識和對T/R組件自動測試系統的深刻理解，與來訪專業人士展開了深入的探討和交流。

在與客戶交流中，華穗的工程師們圍繞華穗T/R組件自動測試系統Demo，專業并詳細地闡述了華穗是如何解決傳統T/R組件測試的痛點，如何提高測試效率，以及靈活的軟件編程等方面的卓越表現。

同時，華穗的工程師們還分享了多個系統集成的成功案例，這些案例涵蓋了從航天航空到軍事船舶等多個領域的測試系統，充分展示了華穗在系統集成方面的強大實力和豐富經驗。

專題演講

聚焦“前沿研究與科研”分論壇，華穗的資深項目經理——莊文軒，帶我們深入剖析傳統T/R組件測試方法痛點，提出華穗是如何突破現狀，提升測試效率，分享華穗是如何實現“讓T/R組件測試可以黑燈”這一愿景的。

傳統T/R組件測試方法痛點？

本T/R組件自動測試系統如何實現黑燈化，如何解決痛點？

T/R組件自動測試系統的關鍵技術？

硬件方面運用NI VST系列產品,搭建模塊化測試平臺；軟件方面基于LabVIEW C#/.Net,C開發測試系統軟件，測試序列由Teststand測試步驟管理、測試資源調用。