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LCR數字電橋的選購方法_lcr數字電橋功能介紹

姚小熊27 ? 來源:網絡整理 ? 2018-03-30 09:51 ? 次閱讀

LCR數字電橋原理

LCR數字電橋是屬于線纜電性能檢測范疇,不同于燃燒試驗機、拉力試驗機等,提到數字電橋,傳統的說法都是能夠測量電感,電容,電阻,阻抗的儀器,但是隨著社會的不斷進步,尤其是現代模擬和數字技術的發展,早期的電橋法測阻抗也已經被淘汰,但是,LCR數字電橋的叫法卻一直沿用至今,但其名字的真正原因是電橋內部安裝微處理器,今天,宇諾小編想跟大家分享一下LCR數字電橋工作原理

L:電感(為了紀念物理學家HeinrichLenz),C:電容(Capacitor),R:電阻(Resistance),數字電橋就是能夠測量電感,電容,電阻,阻抗的儀器,數字電橋的測量對象為阻抗元件的參數,包括交流電阻R、電感L及其品質因數Q,電容C及其損耗因數D。因此,又常稱數字電橋為數字式LCR測量儀。其測量用頻率自工頻到約100千赫。基本測量誤差為0.02%,一般均在0.1%左右。

數字電橋原理如圖所示。圖中DUT為被測件,其阻抗用Zx表示,Rr為標準電阻器。切換開關可分別測出兩者的電壓Ux與Ur,于是有下式:

Zx=Ux/Ix=Rr*Ux/Ur

此式為一相量關系式。如使用相敏檢波器(PSD)分別測出Ux和Ur對應于某一參考相量的同相量分量和正交分量,然后經模數轉換(A/D)器將其轉化為數字量,再由計算機進行復數運算,即可得到組成被測阻抗Zx的電阻值與電抗值。

LCR數字電橋的選購方法_lcr數字電橋功能介紹

從圖中的線路及工作原理可見,數字電橋只是繼承了電橋傳統的稱呼。實際上它已失去傳統經典交流電橋的組成形式,而是在更高的水平上回到以歐姆定律為基礎的測量阻抗的電流表、電壓表的線路和原理中。

數字電橋可用于計量測試部門對阻抗量具的檢定與傳遞,以及在一般部門中對阻抗元件的常規測量。很多數字電橋帶有標準接口,可根據被測值的準確度對被測元件進行自動分檔;也可直接連接到自動測試系統,用于元件生產線上對產品自動檢驗,以實現生產過程的質量控制。

選擇LCR數字電橋關心的主要方面

A)測量準確度

測量準確度是反映儀器性能的主要指標之。確切了解所需儀器的準確度是準確評價元件優劣的關鍵。一般地,儀器準確度應比測量元件的技術指標高3—5倍。更為重要的是.通常儀器樣本或其它宣傳資料給出的是在某種條件下的最高準確度,這是最能產生混淆之處,應了解被測量元件在測量頻率下呈現的阻抗在對應該測量條件下的儀器準確度是否滿足測量要求。

B)測試信號頻率與電平

測試頻率、電平是元件檢測需確定的首要參數,也是反映元件要素相關性的最重要內容,對正確選擇LCR電橋是極為重要的,

C)儀器價位

購買儀器前,應確定需要儀器的性能和功能,將購買預算進行估算。一般地,儀器定價是根據頻率準確度、性能等要素綜合確定的。經過近幾年的努力,國產LCR電橋的技術和工藝水平與國外先進水平的差距已大大縮短。相同檔次的國產儀器與進口相比價格相差2-6倍。

LCR數字電橋的選購方法

a)LCR數字電橋可以使用兩種等效電路模式來測量L、C或R:并聯和串聯,如下表:

LCR數字電橋的選購方法_lcr數字電橋功能介紹

b)電容的電路模式的選擇

小電容::小電容可產生大電抗,這意味著相比之下并聯電阻(Rp)的影響明顯大于串聯電阻(Rs)的影響。與容抗相比,Rs表示的電阻值的影響可忽略不計,所以應使用并聯電路模式(Cp-D或Cp-G)。

大電容:測量涉及大電容值(低阻抗),則Rs比Rp更重要,所以應使用串聯電路模式(Cs-D或Cs-Q)。

c)電感的電路模式的選擇

大電感:給定頻率下的電抗相對較大(與小電感的電抗相比),所以并聯電阻比串聯電阻更重要。因此,并聯等效電路模式(Lp-D、Lp-Q或Lp-G)更為適用。

小電感:對于小的電感值,電抗變得相對較?。ㄅc大電感的電抗相比),所以串聯電阻分量更重要。因此,串聯等效電路模式(Ls-D或Ls-Q)更適用。

d)以下經驗法則可用于根據電容或電感阻抗大小來選擇電路模式:

阻抗大于約10kΩ使用并聯電路模式。

阻抗小于約10Ω使用串聯電路模式。

阻抗在兩值之間根據電容器電感器制造商的建議進行選擇。

LCR數字電橋選型表

LCR數字電橋的選購方法

LCR數字電橋有哪些功能

使用了微處理器的LCR電橋則叫LCR數字電橋。一般用戶又稱這些為:LCR測試儀、LCR電橋、LCR表、LCRMeter等等。可以精確測量大量電子元件:廣泛的測量對象半導體元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數測量。其它元件:印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估。

介質材料:塑料、陶瓷和其它材料的介電常數的損耗角評估。

磁性材料:鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估。半導體材料:半導體材料的介電常數,導電率和C-V特性。

液晶材料:液晶單元的介電子常數、彈性常數等C-V特性。多種元件、材料特性測量能力多參數混合顯示功能多參數同時顯示可滿足復雜元件各種分布參數的全面觀察與評估要求,而不必反復切換測量參數。電感L和其直流電阻DCR可以同時測量顯示,顯著提高電感測量效率。揭示電感器件的多種特性使用內部/外部直流偏置,結合各種掃描測試功能,可以精確地分析磁性材料、電感器件的性能。通過偏置電流疊加測試功能,可以精確測量高頻電感器件、通訊變壓器,濾波器的小電流疊加性能。使用外部電流疊加裝置,可使偏置電流達40A以精確分析高功率、大電流電感器件。精確的陶瓷電容測量1kHz和1MHz是陶瓷材料和電容器的主要測試頻率。

陶瓷電容器具有低損耗值的特征,同時其容量、損耗施加之交流信號會產生明顯的變化。儀器具有寬頻測試能力并可提供良好的準確度,六位分辨率和自動電平控制(ALC)功能等,中以滿足陶瓷材料和電容器可靠、準確的測試需要。液晶單元的電容特性測量電容-電壓(C-Vac)特性是評價液晶材料性能的主要方法,常規儀器測量液晶單元的C-Vac特性遇到一個問題是最大測試電壓不夠。使用擴展測量選件可提供分辨率為1%及最高達20Vms的可編程測試信號電平,使它能在最佳條件下進行液晶材料的電容特性測量。半導體材料和元件的測量進行MOS型半導體制造工藝評價時,需要氧化層電容和襯底雜質密度這些參數,這些可從C-Vdc特性的測量結果推導出來。通過提供的直流源,結合各種掃描功能,可以方便地完成C-VDC特性的測量。為了測試晶圓上的半導體器件,需要延伸電纜和探頭,儀器的1m/2m/4m延伸電纜選件可將電纜延伸的誤差降至最小。各種二極管、三極管、MOS管的分布電容也是本儀器的測試內容。


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