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各種SiC功率器件的研究和開發(fā)進入迅速發(fā)展時期

QjeK_yflgybdt ? 來源:未知 ? 作者:李倩 ? 2018-05-11 17:00 ? 次閱讀

上世紀四五十年代,以硅(Si)和鍺(Ge)為代表的第一代半導體材料奠定了微電子產(chǎn)業(yè)的基礎。經(jīng)過幾十年的發(fā)展,硅材料的制備與工藝日臻完美,Si基器件的設計和開發(fā)也經(jīng)過了多次迭代和優(yōu)化,正在逐漸接近硅材料的極限,Si基器件性能提高的潛力愈來愈小。現(xiàn)代電子技術對半導體材料提出了高溫、高功率、高壓、高頻以及抗輻射等新要求,而寬帶隙第三代半導體材料SiC擁有非常高的擊穿場強、卓越的開關性能和良好的熱導率,極其適合下一代電源轉換應用,如太陽能逆變器、UPS、電動汽車和工業(yè)傳動等。

SiC功率器件的研發(fā)始于1970年代,80年代SiC晶體質量和制造工藝獲得大幅改進,隨著90年代高品質6H-SiC和4H-SiC外延層生長技術的成功應用,各種SiC功率器件的研究和開發(fā)進入迅速發(fā)展時期。

SiC是由硅和碳組成的化合物半導體材料,C原子和Si原子不同的結合方式使SiC擁有多種晶格結構,如4H,6H,3C等等。4H-SiC因為其較高的載流子遷移率,能夠提供較高的電流密度,常被用來做功率器件。下表是4H-SiC與Si物理特性對比。我們可以清楚地看到4H-SiC禁帶寬度為Si的3倍,擊穿場強為Si的10倍,漂移率為Si的2倍,熱導率為Si的2.5倍。這些優(yōu)異的特性是如何帶來功率器件的改變呢?我們接下來分三個方面詳細地分析一下。

擊穿電壓與通態(tài)電阻

擊穿電壓是功率器件的一個重要指標。功率開關器件的正向電壓承受能力與其漂移區(qū)的長度和電阻率有關,而單極功率開關器件的通態(tài)電阻又直接決定于漂移區(qū)的長度和電阻率,與其制造材料擊穿電場強度的立方成反比。因為4H-SiC有10倍于Si的擊穿電場強度,因此基于SiC的功率器件允許使用更薄的漂移區(qū)來維持更高的阻斷電壓,從而顯著降低了正向壓降以及導通損耗。由下圖可見,如果要獲得5000V的耐壓,使用摻雜為2.5e13/cm3的襯底材料,Si基功率器件需要漂移層厚度0.5mm,單位面積電阻為10Ωcm2;SiC MOSFET使用摻雜為2.0e15/cm3的漂移層,需要的厚度僅有0.05mm,單位面積電阻僅為0.02Ωcm2。

開關頻率

使用SiC代替Si,不但其通態(tài)比電阻會大大降低,動態(tài)損耗也會大大降低,。這是因為碳化硅的擊穿電場強度是硅的10倍,其電子飽和漂移速度也是硅的2倍,更有利于提高器件的工作頻率。傳統(tǒng)的硅基高頻功率器件比如MOSFET和肖特基二極管,在獲得更高耐壓的同時正向壓降也會成倍增加,因此不適合高壓應用,目前常見的MOSFET耐壓都在900V以下。因此目前高壓領域主要使用Si IGBT,但IGBT是雙極型器件,在關斷時存在拖尾電流,造成比較大的關斷損耗。SiC MOSFET能夠承受相當高的阻斷電壓,并且因為是單極器件,不存在拖尾電流。SiC的出現(xiàn)將使MOSFET和肖特基二極管的應用拓展到更高的電壓等級。SiC單位面積的導通電阻非常低,與功率等級相當?shù)腟i器件相比,SiC器件的芯片尺寸可以大幅縮小,因此寄生電容更低,使器件的驅動更容易,且開關速度更快。因為SiC器件的高頻工作特性,在系統(tǒng)中可以使用更小變壓器,從而降低開關損耗和提高效率,并且大大降低了系統(tǒng)的體積。

熱特性

SiC的禁帶寬度3.23ev,相應的本征溫度可高達800攝氏度。如果能夠突破材料及封裝的溫度瓶頸,則功率器件的工作溫度將會提升到一個全新的高度。SiC材料擁有3.7W/cm/K的熱導率,而硅材料的熱導率僅有1.5W/cm/K,更高的熱導率可以帶來功率密度的顯著提升,同時散熱系統(tǒng)的設計更簡單,或者直接采用自然冷卻。

挑戰(zhàn)與展望

SiC雖然擁有卓越的性能,但離廣泛普及的應用,還存在著一些挑戰(zhàn)。例如SiC-SiO2界面電荷密度大大高于Si-SiO2,受此影響,SiC MOSFET的溝道電子等效遷移率遠低于體電子遷移率,使溝道電阻遠大于漂移區(qū)電阻,成為決定器件通態(tài)比電阻大小的主要成分。為了獲得合理的通態(tài)電阻,一般驅動SiC MOSFET會選擇更高的門極電壓,而使用更高的門極電壓將會增加柵氧化層的電應力,從而對器件的長期可靠性造成不良影響。為了解決這些困擾,一方面SiC襯底處理、外延生長和制備工藝等方面的進展將會大大降低缺陷密度;另一方面器件結構方面的改進也有助于降低柵極驅動電壓,延長器件壽命,比如英飛凌CoolSiCTM MOSFET采用的溝槽柵結構,在SiC晶體的C-面形成導電溝道。在這個晶面上,缺陷較少,界面電荷密度較低,因而允許更高的電子遷移率,從而使得器件可以采用與硅基IGBT及MOSFET相當?shù)尿寗与妷海s15V。

綜上,憑借禁帶寬度大、擊穿電場高、熱導率大等特性,在可以預見的未來,我們將看到SiC對電力電子行業(yè)產(chǎn)生的革命性影響。SiC MOSFET用于太陽能,UPS,工業(yè)傳動等應用時,可以使得逆變器效率更高,輸出功率更大,系統(tǒng)尺寸更小,冷卻系統(tǒng)更簡單(散熱器體積更小或采用自然冷卻)。英飛凌一直在不斷開發(fā)碳化硅最前沿的技術,產(chǎn)品以及解決方案,致力于滿足用戶對節(jié)能,提升效率、縮減尺寸、系統(tǒng)集成和提高可靠性的需求。

碳化硅應用市場的未來已經(jīng)到來,但面對新技術,新應用,總會有新的挑戰(zhàn),比如可靠性,高成本,應用技術門檻高等。那么,如何應對技術挑戰(zhàn)?如何擁抱和迎接新一輪的技術浪潮?

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原文標題:英飛凌碳化硅技術大解析——SiC材料到底“Cool”在哪里?

文章出處:【微信號:yflgybdt,微信公眾號:英飛凌工業(yè)半導體】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

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