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使用Tanner實現物聯網所用的CMOS IC與MEMS的集成設計

缺芯少魂 ? 來源:未知 ? 作者:胡薇 ? 2018-08-17 14:15 ? 次閱讀

創建基于傳感器物聯網IoT)邊緣器件會涉及多個設計領域,因此極具挑戰性(圖1)。但是,在同一硅片上創建一個既有采用傳統CMOS IC流程制作的電子器件,又有MEMS傳感器的邊緣器件似乎不大現實。實際上,許多IoT邊緣器件會在單個封裝中集成多個芯片,將電子器件與MEMS設計分開。Tanner AMS IC設計流程支持單芯片或多芯片技術,因而有助于成功實現IoT邊緣器件的設計和驗證。不過,本文將著重介紹在單個芯片上融合CMOS IC與MEMS設計的獨特挑戰。

圖1:一個典型IoT邊緣器件,涉及數字、模擬、射頻和MEMS領域

Tanner設計流程(圖2)為AMS IC設計提供了一個完整的環境。

圖2:Tanner AMS設計流程

不過,多年以來,Tanner支持自上而下的MEMS IC流程(圖3),能讓客戶將MEMS設計融入這一流程中。

圖3:自上而下的IC/MEMS流程

IoT邊緣設計要求結合模擬、數字、射頻和MEMS這四個設計領域,特別是在同一芯片的情況下。即使組件針對的是不同芯片之后的結合,在版圖布局和驗證過程中,它們仍需要協同工作。設計團隊需要繪制混合模擬與數字、射頻和MEMS設計,進行芯片版圖布局,然后執行元器件和頂層仿真。在單個芯片上設計電子器件和MEMS涉及以下幾點需要關注(參見圖3)

原理圖可能包含IC和MEMS器件。IC器件使用SPICE模型進行建模,而MEMS器件則可直接在物理域(如機械、靜電、流體和磁)中創建行為模型(圖4)。S-Edit內的MEMS符號庫支持MEMS繪制。

圖4:電子器件和MEMS位于同一電路圖上

為了支持初始MEMS/IC仿真,您可以在System Model Builder中利用SPICE或Verilog-A中的解析方程來創建MEMS模型。結合MEMS仿真庫,您還可以在初始階段就對整個設計進行是否符合預期的驗證。

利用MEMS PCell庫,您可以在L-Edit進行版圖設計。此外,Library Palette(圖5)提供了許多MEMS器件的基本版圖生成器,您可以將其用作設計的初始模型。

圖5:用于創建MEMS器件版圖的Library Palette

然后,您可以生成一個三維(3D)幾何模型,以便進行查看、虛擬原型開發,以及導出到有限元分析(FEA)工具。

Compact Model Builder采用的是降階建模技術,因此利用該工具,您可以根據FEA結果創建行為模型,并將其用于最終系統級仿真中。

傳統上,MEMS的設計部分從創建MEMS器件的3D模型開始,然后在第三方有限元分析(FEA)工具(如Open Engineering的OOFELIE::Multiphysics)中分析其物理特性,直到獲得滿意的結果。但是,您需要2D掩模才能制造MEMS器件。如何從3D模型中衍生出2D掩模呢?您可以遵循圖6所示的Tanner流程,即以掩模為導向,然后成功制造出MEMS器件。

圖6:以掩模為導向的MEMS設計流程

從L-Edit的2D掩模版圖開始創建器件。然后,3D Solid Modeler會利用這些版圖和一系列的3D制造流程步驟,自動生成器件的3D實體模型。導出該3D模型并使用您喜歡的有限元工具執行3D分析,如發現任何問題,可以進行迭代。對2D掩模版圖進行適當的修改,然后重復流程。通過這個以掩模為導向的設計流程,您可以在運行的MEMS器件中進行仿真集成,因為您可以直接創建最終用于制造目的的掩模,而不是從3D模型進行逆向工作。

執行MEMS實體建模

您可以根據晶圓代工廠的流程信息設置制造步驟(圖7)。利用此信息,L-Edit可以為MEMS器件建立制造流程每一步的3D實體模型。

圖7:制造流程編輯器

您可以與生成的3D模型(圖8)進行交互,例如旋轉模型,獲取橫截面視圖,另外您還可以診斷制造問題。您可以自動導出流程每個步驟的橫截面,以便更好地了解制造流程和您的器件。然后,您可以將模型導出到FEA工具進行分析。

圖8:3D模型示例

設計案例

以下案例為東方微電公司(www.dfwee.com)設計的集成式磁開關芯片,內部包含磁阻傳感芯片和信號調理芯片ASIC。產品可用于音響/冰箱/保險柜/汽車/艙門監測,液位,氣缸行程位置、水表氣表/轉速表等。

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原文標題:使用Tanner 實現物聯網所用的CMOS IC與MEMS的集成設計

文章出處:【微信號:QQ1831986287,微信公眾號:缺芯少魂】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

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