隨著現場可編程門陣列(FPGA)芯片在商業、軍事、航空航天等領域的廣泛應用，其可靠性和可測試性顯得尤為重要。對設計人員來說，FPGA的使用相當靈活。然而，正是這種應用的不確定性和重復可編程性，增加了芯片的測試難度。其核心問題是建立什么樣的測試模型才能使故障激活。根據需求，FPGA的測試大體可分為面向制造的測試過程(MTP)和面向應用的測試過程（ATP）兩類。MTP主要是從制造商的角度來測試，ATP是在應用級上的測試，也就是把FPGA配置為特定的功能進行測試，具有很強的針對性[1]。本文介紹ATP測試中SPI Master 模型的建立。在測試FPGA設計的集成電路時，對設計電路的性能進行實時測試是必不可少的環節[2]。這就需要設計一種接口電路，將測試數據送入設計電路。1 SPI總線協議介紹SPI(Serion Perpheral Interface)[3]是一種高速的、全雙工、同步的通信總線，并且在芯片的管腳上只占用4根線，節約了芯片的管腳，同時為PCB的布局節省空間，提供方便，正是出于這種簡單易用的特性，越來越多的芯片集成了這種通信協議。SPI的通信原理很簡單，它以主從方式工作，這種模式通常有一個主設備和一個或多個從設備，需要至少4根線，事實上3根也可以（用于單向傳輸時，也就是半雙工方式）。也是所有基于SPI的設備共有，分別是MISO(數據輸入)，MOSI(數據輸出)，SCK（時鐘），NSS（片選），如圖1所示。

(1)MOSI：主設備數據輸出，從設備數據輸入。(2)MISO：主設備數據輸入，從設備數據輸出。(3)SCK：時鐘信號，由主設備產生。(4)NSS：從設備使能信號，由主設備控制。 使能信號低電平有效，當使能信號為低電平時，輸出數據（MOSI）在串行時鐘(SCK)下降沿變化，輸入數據（MISO）在(SCK)上升沿變化。2 SPI Master原理 本文介紹的基于FPGA的、可配置的SPI Master接口設計，能滿足測試的各種正常、異常以及強度測試要求。此SPI接口模塊可設置為單次發送、循環發送（發送間隔可設）；發送數據長度可變；串行時鐘線（SCK）與輸出數據線（MOSI）時序關系可變；串行時鐘線（SCK）與使能信號（NSS）時序關系可變。 一般情況下，為了SPI數據發送的靈活性，SPI發送次數及發送間隔是由軟件實現的,當需要循環發送且發送間隔達到微秒甚至納秒數量級時，軟件很難實現。本文將SPI發送次數以及發送間隔集成到SPI Master模塊中，使SPI發送間隔可變且最小為一個SCK周期。按照SPI總線協議設計的SPI Master輸出數據（MOSI）在串行時鐘(SCK)下降沿變化,不能進行異常時序測試，而異常時序在FPGA[4，5]的接口測試中又最為重要，故本文利用觸發器特性設計電路，使SPI發送數據時序可變，精度為1個系統時鐘周期。3 SPI Master 模塊結構圖SPI Master模塊由Bram接口、配置寄存器、控制器三部分組成，如圖2所示。此模塊系統時鐘為100 MHz。BRAM接口：控制配置參數以及SPI數據的讀寫配置參數及SPI數據在BRAM中存儲結構如表1所示。

控制器：解析配置寄存器，產生發送時序，控制BRAM接口進行數據讀寫。 對配置寄存器說明如下。(1)循環發送標識寄存器：1 bit，高電平標識循環發送，低電平標識單次發送。(2)循環發送次數寄存器：15 bit，若循環發送標識為高電平時，此寄存器值為要發送的數據長度，單位：B；發送模塊中包含一發送次數計數器，NSS從高電平變為低電平，發送次數計數器加1。(3)循環發送間隔寄存器：16 bit，若循環發送標識為高電平時，此寄存器值為每兩次發送間隔，單位：10 ns。(最小間隔為1個SCK周期，若小于1個SCK周期,則從設備不能檢測到NSS信號變化)，發送模塊中包含1個發送間隔計數器，從一次SPI發送結束開始計數，直到與循環發送間隔寄存器中值相等，啟動下次發送。(4)SCK頻率寄存器：16 bit，此寄存器值表示串行時鐘SCK周期，單位為10 ns(系統時鐘為100 MHz，精度為20 ns)；時序模塊中包含一分頻模塊，SCK周期=(SCK頻率寄存器)×10 ns。(5)MOSI時序寄存器：8 bit，此寄存器值表示MOSI變化與SCK下降沿間隔時間，單位：10 ns(系統時鐘為100 MHz，因此最小間隔為10 ns)。(6)數據長度寄存器：16 bit，此寄存器值表示要發送數據的長度，單位：B。(7)NSS時序寄存器：8 bit，此寄存器值表示NSS變化與SCK下降沿間隔時間，單位：10 ns(系統時鐘為100 MHz，因此最小間隔為10 ns)。4 SPI Master模塊功能介紹(1)SPI循環發送次數可變，范圍：1～32 767；(2)SPI數據發送長度可變，范圍：1～65 535，單位：B；(3)SPI循環發送間隔可變，范圍：(1個SCK周期)～(65 536×10 ns)，實現了連續發送,即一次SPI發送結束后下一SCK時鐘立即啟動下次SPI發送；(4)MOSI與SCK時序關系可變，NSS與SCK時序關系可變，SPI總線為下降沿發送，上升沿接收，故MOSI、NSS在SCK下降沿后半個周期可調即可。SPI功能流程如圖3所示，FPGA上電復位后不斷檢測SPI_start信號，當SPI_start信號有效時（高電平）啟動SPI發送，讀取BRAM中的配置參數，進行譯碼，依據譯碼后數據長度值讀取BRAM中數據，按照SPI協議發送數據；完成一次SPI發送后判斷是否為循環發送，若為循環發送則啟動下一次SPI發送，直到發送次數等于循環發送次數寄存器值，其中發送間隔由循環發送間隔寄存器值決定。

4.1 單次發送（正常時序）SPI Master控制器檢測到SPI_start信號有效，即控制Bram接口讀取配置參數，經譯碼后若循環發送標識寄存器為低電平,則配合發送長度寄存器讀取BRAM中數據，并進行發送。

4.2 單次發送（異常時序）MOSI異常時序：正常情況下MOSI在SCK下降沿變化，此設計采用一帶抽頭的序列寄存器產生異常時序，如圖4。

每增加一個觸發器，延時增加一個系統時鐘[6]，多路開關依據MOSI時序寄存器中值選擇相應觸發器輸出，產生異常時序，舉例說明如圖5。

圖5中sys_clk為系統時鐘頻率100 MHz，NSS為使能信號；MOSI為串行輸出信號；當SCK頻率寄存器為10時，SPI串行時鐘SCK周期=(SCK頻率寄存器)×10 ns=100 ns，即SCK頻率為10 MHz；當MOSI時序寄存器值為4時，MOSI在SCK下降沿后4個sys_clk開始變化。

4.3 循環發送（時序正常） 每完成一次SPI發送，發送次數計數器加1，當發送次數計數器中的值與循環發送次數寄存器中值相等時，完成循環發送。發送次數由循環發送次數寄存器值決定，循環發送間隔由發送間隔計數器決定。

4.4 循環發送（時序異常） 類似循環發送(正常時序)，異常時序產生類似單次發送（異常時序）。 實現的目標器件是Xilinx的Virtex2 pro開發板。

本文已應用于中國科學院光電研究院測試平臺中，實現了SPI接口以及與其功能相關的的測試。 與同類SPI Master相比，發送間隔可變、精度高，最小間隔僅為1個SCK時鐘周期；發送時序可變，精度高，為1個系統時鐘周期；基本滿足正常、異常以及強度等測試要求。