1.引言

集成電路相關技術作為最具發展前景的技術，已經成為世界最具發展前景的高科技技術，一個國家的集成電路發展水平最能衡量整體的科技水平，目前受到國家的高度重視，特別是關于集成電路的芯片研發領域。

近年來，國內越來越多的科研機構、高校院所、IC企業研發部門等逐步關注和從事集成電路的電磁兼容性（IC EMC）研究。

目前關于IC EMC的相關研究國外起步較早，發展較快，已經形成比較完善的理論體系以及先進的測試研究設備，像歐洲的法國、德國、美國等，亞洲的韓國、日本，新加坡。

國內的相關的IC EMC研究目前集中于高校院所，如國防科技大學、浙江大學、解放軍信息工程大學、中科院微電子所等，近年來也取得了重要成果。

2. 電磁敏感度

電磁兼容性分為電磁干擾（EMI）和電磁敏感度（EMS）。簡單的說，EMI指的是待測設備影響其它設備正常工作產生的電磁輻射，EMS指的是設備抵御外界電磁輻射干擾的能力。

目前關于電磁敏感度測試分為多個項目，如傳導、輻射、靜電放電、電快速脈沖群、浪涌等。本文介紹其中兩種測試方法。

3. 電磁敏感度測試方法

3.1傳導抗擾度

傳導抗擾度測試主要分為直接功率注入法、大電流注入法。這里介紹直接功率注入法。

直接功率注入法，通過干擾源產生干擾脈沖，經過功放、定向耦合器、注入網絡，進而注入測試設備。通過失效判據來判斷設備的功能狀態，確定注入電壓的大小，測試框圖如圖1所示，圖2為實際設備的配置，具體配置參考IEC 62132。

圖1 測試框圖

圖2 測試設備

測試過程中，需要注意盡量按照測試標準進行測試，另外，相關測試板的設計要充分考慮接地設置。

3.2 靜電放電

靜電放電測試是設備抗擾度測試的重要項目，目前關于ESD的研究，國內起步較早，取得了不錯的研究成果。但是ESD相關測試設備過于昂貴， 一般小型研究機構無法從事進一步研究，其研究成果大多集中于測試設備完備的大型科研機構。

目前國際上有關于ESD測試的通用標準IEC 61000，規定了ESD脈沖的幅值和上升時間，如圖3所示，圖4為標準的ESD發生器模型。

圖3 ESD脈沖波形

圖4 ESD發生器模型

ESD測試方法簡單，只需把測試探頭壓上測試引腳注入脈沖波形即可，在測試過程中，測試人員要全程穿戴接地手環，防止人體自身靜電造成干擾。