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你了解高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)換誤碼率的原理?

模擬對(duì)話 ? 來源:NL ? 2019-04-16 14:42 ? 次閱讀

就像很多其他半導(dǎo)體器件一樣,高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)并不能始終像我們期望那樣完美運(yùn)行。它們存在一些固有限制,使其偶爾會(huì)產(chǎn)生超出正常功能的罕見轉(zhuǎn)換錯(cuò)誤。然而,像測(cè)試和測(cè)量設(shè)備等很多實(shí)際采樣系統(tǒng)不容許存在高ADC轉(zhuǎn)換誤碼率。因此,量化高速模數(shù)轉(zhuǎn)換誤碼率(CER)的頻率和幅度非常重要,這樣工程師才能設(shè)計(jì)出具有合適預(yù)期性能的系統(tǒng)。

高速或GSPS ADC(每秒千兆采樣ADC)相對(duì)稀疏出現(xiàn)的轉(zhuǎn)換錯(cuò)誤不僅造成其難以檢測(cè),而且還使測(cè)量過程非常耗時(shí)。該持續(xù)時(shí)間通常超出毫秒范圍,達(dá)到幾小時(shí)、幾天、幾周甚至是幾個(gè)月。為了幫助消減這一耗時(shí)測(cè)試負(fù)擔(dān),我們可以在一定“置信度”的確定性情況下估算誤碼率,而仍然保持結(jié)果的質(zhì)量。

比特誤碼率(BER)與轉(zhuǎn)換誤碼率(CER)

與串行或并行數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)傳輸中比特誤碼率的數(shù)字等效值類似,轉(zhuǎn)換誤碼率是轉(zhuǎn)換錯(cuò)誤數(shù)與樣本總數(shù)之比。但是,BER和CER之間有一些截然不同之處。數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)流中的BER測(cè)試采用長(zhǎng)偽隨機(jī)序列,該序列可于發(fā)送器中在傳輸兩端使用常用種子值來啟動(dòng)。接收器預(yù)期將收到理想的傳輸。通過觀察接收數(shù)據(jù)與理想數(shù)據(jù)的差異,便可精確計(jì)算出BER。兩端之間偽隨機(jī)序列數(shù)據(jù)中的失配(基于種子值)即視為比特錯(cuò)誤。

與CER不同,誤差測(cè)定不像純數(shù)字比較那么簡(jiǎn)單。由于ADC轉(zhuǎn)換過程中始終具有小的非線性,另外還存在系統(tǒng)噪聲和抖動(dòng),因此并非總是能確定預(yù)期數(shù)據(jù)和實(shí)際數(shù)據(jù)之間的確切差異。相反,需要建立誤差閾值,用于確定轉(zhuǎn)換錯(cuò)誤和具有容許預(yù)期噪聲的樣本之間的界限。這與數(shù)字BER不同,并不會(huì)對(duì)發(fā)送和接收的預(yù)期數(shù)據(jù)進(jìn)行確切比較。相反,首先必須量化樣本的誤差幅度,然后再確定是轉(zhuǎn)換錯(cuò)誤,還是在轉(zhuǎn)換器和系統(tǒng)的預(yù)期非線性范圍內(nèi)。

ADC后端數(shù)字接口的誤碼率必須低于轉(zhuǎn)換器的內(nèi)核CER,因此無法忽視。如果并非如此,那么數(shù)據(jù)輸出傳輸誤差將覆蓋CER并成為主要誤差來源。系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員實(shí)際并不關(guān)心誤差來自ADC的哪一部分,但是,出于討論目的,我們將僅關(guān)注ADC轉(zhuǎn)換誤碼率。

亞穩(wěn)態(tài)

高速ADC中造成轉(zhuǎn)換錯(cuò)誤的一個(gè)常見原因是一種稱為亞穩(wěn)態(tài)的現(xiàn)象。高速ADC在將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字值的不同轉(zhuǎn)換級(jí)中往往會(huì)使用很多梯形比較器。如果比較器無法確定模擬輸入是高于還是低于其參考點(diǎn)時(shí),就會(huì)產(chǎn)生可能導(dǎo)致出現(xiàn)錯(cuò)誤代碼的亞穩(wěn)態(tài)結(jié)果。當(dāng)兩個(gè)比較器的輸入之差幅度非常小或?yàn)榱銜r(shí),就可能發(fā)生這種情況,此時(shí)無法進(jìn)行正確比較。由于此錯(cuò)誤值會(huì)沿著流水線傳播,因此ADC可能產(chǎn)生重大的轉(zhuǎn)換錯(cuò)誤。

當(dāng)差分模擬輸入為相對(duì)較大的正值或負(fù)值時(shí),比較器可以快速計(jì)算出差值并給出明確決定。當(dāng)差分值很小或?yàn)榱銜r(shí),比較器做出決定所需的持續(xù)時(shí)間會(huì)長(zhǎng)很多。如果在此決定點(diǎn)之前比較器輸出鎖存,則將產(chǎn)生亞穩(wěn)態(tài)結(jié)果。

幸運(yùn)的是,有些設(shè)計(jì)方案可以減輕這個(gè)問題。首先,最顯而易見的方法是將比較器的不確定范圍設(shè)計(jì)地非常小,迫使比較器在可能的最大模擬輸入條件范圍內(nèi)做出準(zhǔn)確決定。不過,這可能造成電路功率和設(shè)計(jì)尺寸增加。

第二種方法是盡量延遲比較器采樣時(shí)間,給模擬輸入最長(zhǎng)的時(shí)間建立至已知的比較器輸出值。不過,這種方法存在多個(gè)限制,因?yàn)檠舆t最長(zhǎng)也只能持續(xù)到當(dāng)前采樣時(shí)間結(jié)束,而后比較器必須繼續(xù)處理下一次采樣。

第三種方法是采用智能錯(cuò)誤檢測(cè)和校正算法,該算法會(huì)對(duì)比較器在高速ADC轉(zhuǎn)換過程后續(xù)階段中引入的不確定性進(jìn)行數(shù)字補(bǔ)償。當(dāng)比較器未能在最大允許時(shí)間內(nèi)做出決定時(shí),邏輯可檢測(cè)到該缺失。然后,此信息可被附加到相關(guān)樣本上,以便未來進(jìn)行內(nèi)部調(diào)整。識(shí)別出此警報(bào)時(shí),可使用后處理步驟在樣本從轉(zhuǎn)換器輸出前糾正該錯(cuò)誤。這可以從圖2中的AD9625看出,它是ADI公司的一款12位、2.5 GSPS ADC。

置信度

CER置信度(CL)是指在不精確到特定故障率的情況下對(duì)未來錯(cuò)誤的外推預(yù)期。這可減少針對(duì)給定CER獲取的樣本總數(shù),但代價(jià)是不能保證100%的確定性。從數(shù)學(xué)角度來說,要達(dá)到絕對(duì)100%的確定性,需要取得無限持續(xù)時(shí)間內(nèi)的樣本。因此,根據(jù)行業(yè)經(jīng)驗(yàn),95%的置信度已經(jīng)相當(dāng)接近已知值并且實(shí)現(xiàn)了不確定性和測(cè)量時(shí)間之間的平衡。如果將測(cè)試重復(fù)一百次,則有95次可以準(zhǔn)確識(shí)誤碼率。

有時(shí)我們會(huì)誤認(rèn)為一旦在測(cè)試期間檢測(cè)到錯(cuò)誤,該過程就會(huì)結(jié)束并找到最終的轉(zhuǎn)換誤碼率。這既不準(zhǔn)確也不完整。無論過程中是否有錯(cuò)誤,都可以測(cè)試轉(zhuǎn)換誤碼率及相關(guān)置信度。但是,如果在給定置信度下檢測(cè)到錯(cuò)誤,則與沒有錯(cuò)誤時(shí)的樣本數(shù)相比,必須增加測(cè)量的樣本數(shù)量。此影響如下圖3所示。

以下公式給出了置信度、誤碼率和樣本數(shù)之間的自然對(duì)數(shù)數(shù)學(xué)關(guān)系表達(dá)式:

N = 測(cè)量的樣本數(shù)
CER = 轉(zhuǎn)換誤碼率
CL = 置信度
E = 檢測(cè)到的錯(cuò)誤計(jì)數(shù)

未檢測(cè)到錯(cuò)誤時(shí),公式有所簡(jiǎn)化,右邊的項(xiàng)等于零,結(jié)果僅取決于左邊的項(xiàng)。當(dāng)置信度為95%且未檢測(cè)到錯(cuò)誤時(shí),所需的樣本數(shù)僅約為預(yù)期CER的倒數(shù)乘以3。精確到100%置信度時(shí),即對(duì)于任何CER值都有CL = 1.0,從數(shù)學(xué)角度上需要獲取–ln(0)無窮大的無限樣本數(shù)(N)。

誤差閾值

高速ADC中的所有轉(zhuǎn)換誤差并非都“生而平等”。誤差幅度很關(guān)鍵,因?yàn)橛行┱`差絕對(duì)比其他誤差更重要。例如,一個(gè)或兩個(gè)最低有效位(LSB)誤差可能在系統(tǒng)的預(yù)期噪底之內(nèi),甚至可能不會(huì)影響瞬時(shí)性能。但是,最高有效位(MSB)誤差,乃至滿量程誤差可能造成系統(tǒng)故障事件。因此,CER測(cè)試需要具有一種機(jī)制或閾值來確定轉(zhuǎn)換中誤差的嚴(yán)重程度。

轉(zhuǎn)換的誤差閾值應(yīng)該包括ADC的已知線性不足,以及時(shí)鐘抖動(dòng)和其他超出轉(zhuǎn)換器功能的系統(tǒng)噪聲。對(duì)于任何給定樣本,這些通常會(huì)累加為14位ADC的4或5個(gè)最低有效位(lsb)或16-32個(gè)代碼。根據(jù)ADC分辨率、系統(tǒng)性能和應(yīng)用的誤碼率要求,該值的大小可能略有不同。使用此誤差帶與理想值進(jìn)行比較后,超出此限值的樣本將被視為轉(zhuǎn)換錯(cuò)誤。在傳統(tǒng)視頻ADC中,此錯(cuò)誤被稱為“閃碼”,因?yàn)樗鼤?huì)在視頻屏幕上產(chǎn)生亮白色像素閃爍。

可接受的轉(zhuǎn)換器誤碼率很大程度上取決于信號(hào)處理系統(tǒng)和系統(tǒng)誤差容差要求。例如,后院移動(dòng)藍(lán)牙對(duì)講系統(tǒng)的用戶可以容忍幾個(gè)小時(shí)內(nèi)發(fā)生幾次錯(cuò)誤,甚至不會(huì)察覺。對(duì)于航天衛(wèi)星上的任務(wù)關(guān)鍵型傳感器電路板,則可能需要將轉(zhuǎn)換器不確定性降至最低,否則衛(wèi)星可能從天上掉下來。退一步講,即使沒那么嚴(yán)重,但也可能發(fā)生極其糟糕的事情,例如電視接收信號(hào)很差。

歷史上測(cè)量的GSPS ADC轉(zhuǎn)換誤碼率一般不會(huì)低于1e-14。對(duì)于1e-12的誤碼率,這意味著轉(zhuǎn)換器在1e-12(1萬億)個(gè)樣本內(nèi)不應(yīng)出現(xiàn)轉(zhuǎn)換錯(cuò)誤。1e-15的誤碼率意味著轉(zhuǎn)換器在1e-15(1百萬的四次方)個(gè)樣本范圍內(nèi)不應(yīng)出現(xiàn)轉(zhuǎn)換錯(cuò)誤。雖然這些數(shù)字看起來很大,但憑借當(dāng)今先進(jìn)轉(zhuǎn)換器技術(shù)的高采樣速率,對(duì)于CER測(cè)試仍然可以實(shí)現(xiàn)。但是,對(duì)于具有8 ns采樣速率的125 MSPS轉(zhuǎn)換器,1萬億次采樣將占用800秒(1e-12 × 8 ns),約十三分鐘。1百萬的四次方次采樣將占用800,000秒(1e-15 ×8 ns),也即9.24天。要在這些誤碼率中實(shí)現(xiàn)95%的置信度,則需要分別將這些采樣持續(xù)時(shí)間的每一個(gè)均乘以2.996。

CER測(cè)試

下面的簡(jiǎn)化功能框圖給出了如何測(cè)試內(nèi)部ADC內(nèi)核的CER。在或接近ADC最大編碼速率下采樣時(shí),可使用頻率相對(duì)較慢的正弦波作為模擬輸入。應(yīng)對(duì)模擬輸入信號(hào)進(jìn)行規(guī)劃,以便在忽視系統(tǒng)噪聲的情況下,兩個(gè)相鄰樣本之間的預(yù)期絕對(duì)差不大于1 LSB代碼。理想情況下,模擬輸入信號(hào)比滿量程稍大,以便運(yùn)用ADC的所有代碼。應(yīng)計(jì)算模擬輸入和編碼采樣速率,以便建立較長(zhǎng)的一致性周期,而ADC不在同一代碼級(jí)別進(jìn)行一致采樣。

系統(tǒng)使用一個(gè)計(jì)數(shù)器來跟蹤兩個(gè)相鄰樣本之間的幅度差值超過閾值限值的情況,并將這種情況計(jì)數(shù)為轉(zhuǎn)換錯(cuò)誤。該計(jì)數(shù)器必須保留整個(gè)測(cè)試過程中錯(cuò)誤的累加總數(shù)。為了保證系統(tǒng)按預(yù)期工作,還應(yīng)記錄誤差幅度與理想情況之間的關(guān)系。測(cè)試需要的時(shí)間將基于采樣速率、所需的測(cè)試轉(zhuǎn)換誤碼率和所需的置信度。

測(cè)量與仿真

在選擇具有較低CER的ADC時(shí),系統(tǒng)工程師應(yīng)該能夠區(qū)分列出的實(shí)際可測(cè)規(guī)格與僅基于設(shè)計(jì)仿真例子的規(guī)格。例如,1 GSPS ADC在置信度為95%且無錯(cuò)誤條件下CER為1e-18的表述要么必須僅基于電路仿真,要么必須進(jìn)行近一個(gè)世紀(jì)長(zhǎng)的連續(xù)測(cè)量。要將1e-18的CER精確到95% CL,即使使用相對(duì)較快的1 GSPS ADC且采樣速率為1 ns,也將消耗29.96億秒(2.996 × 1e18 × 1ns),約95年。您希望自己的系統(tǒng)ADC轉(zhuǎn)換誤碼率單獨(dú)通過仿真的外推評(píng)估,還是根據(jù)實(shí)驗(yàn)室中實(shí)際測(cè)量的結(jié)果進(jìn)行指定?

小結(jié)

與數(shù)字比特誤碼測(cè)試概念不同,即便是GSPS ADC轉(zhuǎn)換誤碼率測(cè)試,也需要很長(zhǎng)時(shí)間才能得到精確測(cè)量結(jié)果。需要將CER測(cè)試的置信度設(shè)為小于100%,因?yàn)闊o法無限期地進(jìn)行測(cè)量。ADC采樣必須與閾值進(jìn)行比較,然后才能確定其作為真正轉(zhuǎn)換誤差的重要性。實(shí)時(shí)測(cè)試系統(tǒng)會(huì)比較相鄰樣本,以獲取超出閾值的嚴(yán)重偏離。

典型轉(zhuǎn)換器架構(gòu)可實(shí)現(xiàn)一些系統(tǒng)可接受的測(cè)量轉(zhuǎn)換誤碼率,新的設(shè)計(jì)和錯(cuò)誤檢測(cè)算法正推動(dòng)限值實(shí)現(xiàn)更佳的性能。ADI的12位2.5 GSPS ADC AD9625分級(jí)比較型流水線內(nèi)核使用專有技術(shù)檢測(cè)流水線處理前期的ADC轉(zhuǎn)換錯(cuò)誤,然后處理和糾正后期的錯(cuò)誤。這在12位GSPS ADC上實(shí)現(xiàn)了優(yōu)于1e-15、CL為95%的行業(yè)一流測(cè)量CER。

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