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電子發(fā)燒友網(wǎng)>電源/新能源>基準(zhǔn)/監(jiān)控/保護(hù)電路>基于CMOS閾值電壓的基準(zhǔn)電路設(shè)計(jì)

基于CMOS閾值電壓的基準(zhǔn)電路設(shè)計(jì)

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模擬CMOS集成電路設(shè)計(jì)資料分享

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2010-07-08 09:45:002331

高精度CMOS帶隙基準(zhǔn)源的設(shè)計(jì)

  引言   模擬電路中廣泛地包含電壓基準(zhǔn)(reference voltage)和電流基準(zhǔn)(current reference)。在數(shù)/模轉(zhuǎn)換器、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器等電路中,基準(zhǔn)電壓的精度直接決定著這些電路
2010-09-30 10:11:553772

新型BiCMOS帶隙基準(zhǔn)電路的設(shè)計(jì)

  在模擬及數(shù)/模混合集成電路設(shè)計(jì)中,電壓基準(zhǔn)是非常重要的電路模塊之一,而通過巧妙設(shè)計(jì)的帶隙電壓基準(zhǔn)更是以其與電源電壓、工藝、溫度變化幾乎無關(guān)的特點(diǎn),廣泛應(yīng)用
2010-11-02 09:40:441729

電壓高精度CMOS基準(zhǔn)電流源設(shè)計(jì)

電壓高精度CMOS基準(zhǔn)電流源設(shè)計(jì)
2011-01-24 15:10:1795

CMOS帶隙基準(zhǔn)電壓源曲率校正方法

基準(zhǔn)電壓源是集成電路系統(tǒng)中一個(gè)非常重要的構(gòu)成單元。結(jié)合近年來的設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn),首先給出了帶隙基準(zhǔn)源曲率產(chǎn)生的主要原因,而后介紹了在高性能CMOS 帶隙基準(zhǔn)電壓源中所廣泛采用的幾種
2011-05-25 14:52:4434

基于不同VTH值的新型CMOS電壓基準(zhǔn)

本文利用高電源抑制比電路設(shè)計(jì)的和式偏置電流源進(jìn)一步提高了電源抑制比,并利用NMOS和PMOS管的兩個(gè)閾值電壓VTHN和VTHP具有相同方向但不同數(shù)量的溫度系數(shù),設(shè)計(jì)了一種基于不同VTH值的
2011-08-18 11:29:322399

CMOS帶隙基準(zhǔn)電壓源中的曲率校正方法

基準(zhǔn)電壓源是集成電路系統(tǒng)中一個(gè)非常重要的構(gòu)成單元。結(jié)合近年來的設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn),首先給出了帶隙基準(zhǔn)源曲率產(chǎn)生的主要原因,而后介紹了在高性能CMOS 帶隙基準(zhǔn)電壓源中所廣泛采用的幾種
2011-09-27 14:30:5258

用于音頻AD轉(zhuǎn)換器的CMOS帶隙電壓基準(zhǔn)

在傳統(tǒng)帶隙基準(zhǔn)電壓電路結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上,通過在運(yùn)放中引入增益提高級(jí),實(shí)現(xiàn)了一種用于音頻-A/D轉(zhuǎn)換器的CMOS帶隙電壓基準(zhǔn)源。在一階溫度補(bǔ)償下實(shí)現(xiàn)了較高的電源抑制比(PSRR)和較
2012-10-10 14:49:5043

一種發(fā)動(dòng)機(jī)高溫差環(huán)境下的基準(zhǔn)電壓電路

根據(jù)汽車發(fā)動(dòng)機(jī)控制芯片的工作環(huán)境,針對(duì)常見的溫度失效問題,提出了一種應(yīng)用在發(fā)動(dòng)機(jī)控制芯片中的帶隙基準(zhǔn)電壓電路。該電路采用0.18 m CMOS工藝,采用電流型帶隙基準(zhǔn)電壓源結(jié)構(gòu)
2013-09-26 17:06:1233

一種用于低功耗LDO的CMOS電壓基準(zhǔn)設(shè)計(jì)

。本電路采用TSMC 0.18 μm混合信號(hào)CMOS工藝,仿真結(jié)果顯示,輸出基準(zhǔn)電壓為1.213 V,靜態(tài)電流為538 nA,在-55~125 ℃溫度范圍內(nèi),溫度系數(shù)僅為10.58 ppm/℃,低頻時(shí)的電源抑
2015-12-08 11:40:2517

一種高電源抑制低溫漂帶隙基準(zhǔn)電路設(shè)計(jì)

一種高電源抑制低溫漂帶隙基準(zhǔn)電路設(shè)計(jì)_于全東
2017-01-03 15:24:451

低溫漂系數(shù)共源共柵CMOS帶隙基準(zhǔn)電壓源_鄧玉斌

低溫漂系數(shù)共源共柵CMOS帶隙基準(zhǔn)電壓源_鄧玉斌
2017-01-08 10:24:075

面向BTI特征分析的在運(yùn)行中閾值電壓測(cè)量

面向BTI特征分析的在運(yùn)行中閾值電壓測(cè)量
2017-01-22 13:38:087

ADC基準(zhǔn)電壓源設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

  高分辨率、逐次逼近型ADC的整體精度取決于精度、穩(wěn)定性和其基準(zhǔn)電壓源的驅(qū)動(dòng)能力。本文探討基準(zhǔn)電壓電路設(shè)計(jì)中遇到的挑戰(zhàn)和要求。
2017-09-15 15:45:1717

cmos帶隙基準(zhǔn)電壓源設(shè)計(jì)

帶隙是導(dǎo)帶的最低點(diǎn)和價(jià)帶的最高點(diǎn)的能量之差。也稱能隙。帶隙越大,電子由價(jià)帶被激發(fā)到導(dǎo)帶越難,本征載流子濃度就越低,電導(dǎo)率也就越低帶隙主要作為帶隙基準(zhǔn)的簡(jiǎn)稱,帶隙基準(zhǔn)是所有基準(zhǔn)電壓中最受歡迎的一種
2017-11-24 15:45:2022131

閾值電壓的計(jì)算

閾值電壓 (Threshold voltage):通常將傳輸特性曲線中輸出電壓隨輸入電壓改變而急劇變化轉(zhuǎn)折區(qū)的中點(diǎn)對(duì)應(yīng)的輸入電壓稱為閾值電壓。在描述不同的器件時(shí)具有不同的參數(shù)。如描述場(chǎng)發(fā)射的特性時(shí),電流達(dá)到10mA時(shí)的電壓被稱為閾值電壓
2017-11-27 17:18:4367568

帶隙基準(zhǔn)電路_cmos無運(yùn)放帶隙基準(zhǔn)

本文為大家介紹一個(gè)cmos無運(yùn)放帶隙基準(zhǔn)電路
2018-01-11 16:52:5014756

單限比較器原理及閾值電壓介紹

本文開始介紹了單限比較器的電路和單限比較器的理論分析及計(jì)算,其次介紹了單限電壓比較器的工作原理,最后介紹了單限比較器閾值電壓計(jì)算。
2018-02-26 15:58:0264100

MOS管閾值電壓與溝長和溝寬的關(guān)系

關(guān)于 MOSFET 的 W 和 L 對(duì)其閾值電壓 Vth 的影響,實(shí)際在考慮工藝相關(guān)因素后都是比較復(fù)雜,但是也可以有一些簡(jiǎn)化的分析,這里主要還是分析當(dāng)晶體管處在窄溝道和短溝道情況下,MOSFET 耗盡區(qū)的電荷的變化,從而分析其對(duì)晶體管的閾值電壓的作用。
2019-06-18 17:19:4635146

使用亞閾值MOS晶體管和單BJT實(shí)現(xiàn)的帶隙基準(zhǔn)電壓源論文免費(fèi)下載

介紹了一種采用亞閾值mos晶體管和單bjt的低溫系數(shù)(tc)和大功率電源紋波抑制(psrr)cmos子帶隙基準(zhǔn)電壓源(sub-bgr)電路。所提出的子bgr包括一種基于bjt的標(biāo)度發(fā)射極基極電壓
2019-09-30 08:00:002

Gan-ON-SI中負(fù)偏壓引起的閾值電壓不穩(wěn)定性的論文免費(fèi)下載

本文報(bào)道了一個(gè)深入研究的負(fù)閾值電壓不穩(wěn)定性的gan-on-si金屬絕緣體半導(dǎo)體高電子遷移率晶體管部分凹陷algan。基于一組在不同溫度下進(jìn)行的應(yīng)力/恢復(fù)實(shí)驗(yàn),我們證明:1)在高溫和負(fù)柵偏壓(-10v
2019-10-09 08:00:002

AlGaN和GaN界面陷阱對(duì)AlGaN與GaN及HEMT負(fù)閾值電壓漂移的影響說明

本文報(bào)道了algan/gan高電子遷移率晶體管(hemt)在反向柵偏壓作用下閾值電壓的負(fù)漂移。該器件在強(qiáng)pinch-off和低漏源電壓條件下偏置一定時(shí)間(反向柵極偏置應(yīng)力),然后測(cè)量傳輸特性。施加
2019-10-09 08:00:0010

如何針對(duì)精密逐次逼近型ADC設(shè)計(jì)基準(zhǔn)電壓電路

ADC 片上集成基準(zhǔn)電壓源和基準(zhǔn)電壓源緩沖器,但這類器件在功耗或性能方面可能并非最佳——通常使用外部基準(zhǔn)電壓電路才可達(dá)到最佳性能。本文探討基準(zhǔn)電壓電路設(shè)計(jì)中遇到的挑戰(zhàn)和要求。
2021-01-07 23:55:0021

AN-680: ADG451/ADG452/ADG453閾值電壓與數(shù)字電壓 VL

AN-680: ADG451/ADG452/ADG453閾值電壓與數(shù)字電壓 VL
2021-03-18 20:33:082

三種基準(zhǔn)電壓源該如何選擇

些則需要外部基準(zhǔn)。知道了這一點(diǎn),那么我們就需要考慮,如何在應(yīng)用中選擇合適的ADC或DAC基準(zhǔn)類型呢? 一般來說,有3種主要的基準(zhǔn)類型可供選擇:內(nèi)部、外部和電源。 1.內(nèi)部基準(zhǔn) 轉(zhuǎn)換器內(nèi)置的一些基準(zhǔn)電壓。在下面的典型電路中,內(nèi)部基準(zhǔn)類型有助于減少電路設(shè)計(jì)
2021-12-10 09:41:274431

CMOS集成電路設(shè)計(jì)基礎(chǔ)

CMOS集成電路設(shè)計(jì)基礎(chǔ)免費(fèi)下載。
2022-03-03 10:06:120

如何突破EDA封鎖 卷起來的閾值電壓

Vt roll-off核心是(同一個(gè)工藝節(jié)點(diǎn)下面)閾值電壓與柵長之間的關(guān)系。當(dāng)溝道長度比較長的時(shí)候,Vt值是比較穩(wěn)定的。隨著溝道長度的減小,閾值電壓會(huì)下降(對(duì)于PMOS而言是絕對(duì)值的下降)。
2022-12-30 15:14:411332

EDA探索之控制閾值電壓

精確控制集成電路中MOSFET的閾值電壓對(duì)電路的可靠性至關(guān)重要。通常情況下,閾值電壓是通過向溝道區(qū)的離子注入來調(diào)整的。
2023-02-09 14:26:361147

控制閾值電壓

此外,襯底偏壓也能影響閾值電壓。當(dāng)在襯底和源極之間施加反向偏壓時(shí),耗盡區(qū)被加寬,實(shí)現(xiàn)反轉(zhuǎn)所需的閾值電壓也必須增加,以適應(yīng)更大的Qsc。
2023-02-09 14:26:381660

NMOS晶體管的閾值電壓公式 nmos晶體管的閾值電壓與哪些因素有關(guān)

nmos晶體管的閾值電壓公式為Vt=Vt0-γ(2φF/Cox),其中Vt0為晶體管的基礎(chǔ)閾值電壓,γ為晶體管的偏置系數(shù),φF為晶體管的反向偏置電勢(shì),Cox為晶體管的歐姆容量。
2023-02-11 16:30:149781

不同Vt cell工藝是怎么實(shí)現(xiàn)的?閾值電壓和哪些因素有關(guān)系?

Vt指的是MOS管的閾值電壓(threshold voltage)。具體定義(以下圖NMOS為例):當(dāng)柵源電壓(Vgs)由0逐漸增大,直到MOS管溝道形成反型層(圖中的三角形)所需要的電壓閾值電壓
2023-03-10 17:43:114539

了解基準(zhǔn)電壓源:使用并聯(lián)基準(zhǔn)電壓源作為比較器

在圖 1 所示的原理圖中,TLV431 可調(diào)分流基準(zhǔn)配置為開環(huán)操作,這意味著輸出未連接到反饋引腳。 相反,信號(hào)VX通過電阻分壓器驅(qū)動(dòng)反饋引腳。 電阻分壓器的設(shè)置使得當(dāng)VX處于閾值電壓VTH時(shí),反饋引腳上的值等于內(nèi)部基準(zhǔn)電壓
2023-04-11 09:17:281518

影響第三代半導(dǎo)體SiC MOS閾值電壓不穩(wěn)定的因素有哪些?如何應(yīng)對(duì)?

由于SiC MOSFET與Si MOSFET特性的不同,SiC MOSFET的閾值電壓具有不穩(wěn)定性,在器件測(cè)試過程中閾值電壓會(huì)有明顯漂移,導(dǎo)致其電性能測(cè)試以及高溫柵偏試驗(yàn)后的電測(cè)試結(jié)果嚴(yán)重依賴于測(cè)試
2023-05-09 14:59:06853

帶你認(rèn)識(shí)帶隙基準(zhǔn)電路

與溫度關(guān)系很小的電壓或者電流基準(zhǔn),在實(shí)際電路設(shè)計(jì)中具有重要的應(yīng)用,比如在電流鏡結(jié)構(gòu)中,需要對(duì)一“理想的”基準(zhǔn)電流進(jìn)行精確復(fù)制,這一“理想的”基準(zhǔn)電流,一般由帶隙基準(zhǔn)電路產(chǎn)生。
2023-07-06 11:32:142369

閾值電壓對(duì)傳播延遲和躍遷延遲的影響

如果你能看到下面的方程式-我相信你可以很容易地弄清楚閾值電壓對(duì)電池延遲的影響。(注:以下電阻公式是關(guān)于NMOS的。您也可以為PMOS導(dǎo)出類似的公式(只需將下標(biāo)“n”替換為“p”)。
2023-09-07 10:03:59649

影響MOSFET閾值電壓的因素

影響MOSFET閾值電壓的因素? MOSFET(金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)管)是一種常用的半導(dǎo)體器件,具有高輸入阻抗、低輸出阻抗、高增益等特點(diǎn)。MOSFET的閾值電壓是決定其工作狀態(tài)的重要參數(shù),影響著
2023-09-17 10:39:446670

如何減小cmos帶隙基準(zhǔn)溫度系數(shù)工藝角的影響?

高、速度快等優(yōu)點(diǎn),在眾多電子設(shè)備中應(yīng)用廣泛。其中,基準(zhǔn)電壓就是一個(gè)比較重要的參數(shù),而基準(zhǔn)電壓的溫度系數(shù)是指在不同溫度下電路帶來的基準(zhǔn)電壓變化情況。 通常來說,CMOS電路中使用的帶隙基準(zhǔn)技術(shù),具有多晶硅、硅谷能帶、亞穩(wěn)態(tài)等技術(shù),但是這些技術(shù)都存在著一定的溫度漂移問題。而在實(shí)際
2023-10-23 10:29:11318

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