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基于測(cè)試系統(tǒng)的FPGA測(cè)試方法研究與實(shí)現(xiàn) - 全文

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2009-12-21 09:59:4420

FPGA在WCDMA基帶測(cè)試系統(tǒng)中的應(yīng)用

本文介紹了基帶測(cè)試系統(tǒng)中,如何應(yīng)用FPGA實(shí)現(xiàn)后臺(tái)計(jì)算機(jī)與測(cè)試環(huán)境數(shù)據(jù)交互以及存儲(chǔ)的電路設(shè)計(jì)流程,并已在某基站測(cè)試系統(tǒng)中成功應(yīng)用。
2010-08-09 15:00:3227

EMC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)及手機(jī)EMI測(cè)試實(shí)現(xiàn)

主要內(nèi)容一、為什么需要做自動(dòng)測(cè)試?二、EMI自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)三、EMS自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)四、EMC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)集成實(shí)例五、手機(jī)EMI自動(dòng)測(cè)試實(shí)現(xiàn)
2010-09-21 11:29:2362

基于FPGA的虛擬測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)

設(shè)計(jì)了一種基于FPGA的單板單片主控器件的低成本即插即用虛擬測(cè)試系統(tǒng)系統(tǒng)包括兩路分立信號(hào)源、一路虛擬存儲(chǔ)示波器和16路高速虛擬邏輯分析儀,結(jié)合FPGA、高速DAC/ADC設(shè)計(jì)特點(diǎn),
2010-12-14 10:07:1216

FPGA系統(tǒng)內(nèi)部邏輯在線測(cè)試技術(shù)

隨著FPGA設(shè)計(jì)復(fù)雜度的增加,傳統(tǒng)測(cè)試方法受到限制。在高速集成FPGA測(cè)試中,其內(nèi)部信號(hào)的實(shí)時(shí)獲取和分析比較困難。介紹了Quartus II中SingalTap II嵌入式邏輯分析器的使用,并給出一個(gè)
2010-12-17 15:25:1716

IPM自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)的研究實(shí)現(xiàn)

摘 要: IPM測(cè)試需要測(cè)試多個(gè)參數(shù),這些不同的參數(shù)需要不同的測(cè)試平臺(tái)。本文通過對(duì)各種不同參數(shù)的測(cè)試方法進(jìn)行研究,設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)。問題的提出火車
2006-03-11 13:45:29744

采用FPGA低成本虛擬測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)

      本文選用FPGA實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)處理、邏輯控制,充分利用PC機(jī),結(jié)合Labwindows圖形化上層應(yīng)用軟件界面生成的虛擬測(cè)試系統(tǒng)具有較強(qiáng)的競(jìng)爭(zhēng)力。本系統(tǒng)FPGA單板
2009-02-12 11:49:27418

基于IEEE1149.4的測(cè)試方法研究

基于IEEE1149.4的測(cè)試方法研究 根據(jù)混合信號(hào)邊界掃描測(cè)試的工作機(jī)制,提出了符合1149.4標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試方法,并用本研究室開發(fā)的混合信號(hào)邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行了測(cè)試
2009-05-04 22:29:181007

基于IEEE1149.4的測(cè)試方法研究

根據(jù)混合信號(hào)邊界掃描測(cè)試的工作機(jī)制,提出了符合1149.4標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試方法,并用本研究室開發(fā)的混合信號(hào)邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行了測(cè)試驗(yàn)證。
2009-05-09 11:42:12578

FPGA 重復(fù)配置和測(cè)試實(shí)現(xiàn)

FPGA 重復(fù)配置和測(cè)試實(shí)現(xiàn) 從制造的角度來講,FPGA測(cè)試是指對(duì)FPGA器件內(nèi)部的邏輯塊、可編程互聯(lián)線、輸入輸出塊等資源的檢測(cè)。完整的FPGA測(cè)試包括
2009-09-03 11:17:08528

基于FPGA的PCB測(cè)試機(jī)硬件電路設(shè)計(jì)研究

基于FPGA的PCB測(cè)試機(jī)硬件電路設(shè)計(jì)研究  引言   PCB 光板測(cè)試機(jī)基本的測(cè)試原理是歐姆定律,其測(cè)試方法是將待測(cè)試點(diǎn)間加一定的測(cè)試電壓,用譯碼電路選中PCB
2010-01-04 09:12:33957

FPGA重復(fù)配置和測(cè)試實(shí)現(xiàn)

FPGA重復(fù)配置和測(cè)試實(shí)現(xiàn) 從制造的角度來講,FPGA測(cè)試是指對(duì)FPGA器件內(nèi)部的邏輯塊、可編程互聯(lián)線、輸入輸出塊等資源的檢測(cè)。完整的FPGA測(cè)試包括兩步,一是配置FPGA
2010-01-26 09:39:56544

基于FPGA的新型誤碼測(cè)試儀的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

基于FPGA的新型誤碼測(cè)試儀的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn) 本文設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了一種用于測(cè)量基帶傳輸信道的誤碼儀,闡述了主要模塊的工作原理,提出了一種新的積分鑒相同步時(shí)鐘提取的實(shí)
2010-02-09 10:42:01876

基站發(fā)射系統(tǒng)匹配測(cè)試方法研究

基站發(fā)射系統(tǒng)匹配測(cè)試方法研究 基站發(fā)射系統(tǒng)是移動(dòng)通信系統(tǒng)的重要組成部分,其性能優(yōu)劣對(duì)整體移動(dòng)通信質(zhì)量的影響至關(guān)重要。根據(jù)移動(dòng)網(wǎng)運(yùn)行質(zhì)量統(tǒng)計(jì)結(jié)果分析,
2010-01-06 14:18:29850

FPGA測(cè)試性分析

現(xiàn)代科技對(duì)系統(tǒng)的可靠性提出了更高的要求,而FPGA技術(shù)在電子系統(tǒng)中應(yīng)用已經(jīng)非常廣泛,因此FPGA測(cè)試性就變得很重要。要獲得的FPGA內(nèi)部信號(hào)十分有限、FPGA封裝和印刷電路板(PCB)
2010-08-04 17:35:45600

基于SoPC的FPGA在線測(cè)試方法

本文提出了一種基于SoPC的FPGA在線測(cè)試方法,是對(duì)現(xiàn)有FPGA在線測(cè)試方法的一種有效的補(bǔ)充。
2011-04-18 11:46:201145

基于FPGA的高速誤碼測(cè)試儀的設(shè)計(jì)

誤碼測(cè)試儀是檢測(cè)通信系統(tǒng)可靠性的重要設(shè)備。傳統(tǒng)的誤碼測(cè)試儀基于CPLD和CPU協(xié)同工作,不僅結(jié)構(gòu)復(fù)雜,價(jià)格昂貴,而且不方便攜帶。基于FPGA的高速誤碼測(cè)試儀,采用FPGA來完成控制和
2011-05-06 16:03:0742

基于FPGA系統(tǒng)測(cè)試性的研究

本文就調(diào)試FPGA系統(tǒng)時(shí)遇到的問題及有助于提高調(diào)試效率的方法,針對(duì)Altera和Xilinx的FPGA調(diào)試提供了最新的方法和工具。
2011-09-27 14:28:39750

基于軟件測(cè)試技術(shù)的FPGA測(cè)試研究

基于對(duì)FPGA系統(tǒng)失效機(jī)理的深入分析, 提出了軟件測(cè)試技術(shù)在FPGA測(cè)試中的應(yīng)用, 并分析了其可行性; 通過對(duì)比FPGA與軟件系統(tǒng)的異同, 歸納出FPGA特有的測(cè)試要求,從而在軟件測(cè)試技術(shù)的基礎(chǔ)
2011-09-29 17:41:2165

一種基于FPGA的新型誤碼測(cè)試儀的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

誤碼儀是評(píng)估信道性能的基本測(cè)量?jī)x器。本文介紹的誤碼儀結(jié)合FPGA 的特點(diǎn),采用全新的積分式鑒相結(jié)構(gòu),提出了一種新的誤碼測(cè)試方法,經(jīng)多次測(cè)試驗(yàn)證,方案可行,設(shè)計(jì)的系統(tǒng)穩(wěn)定。
2012-05-02 14:31:02808

FPGA自動(dòng)化測(cè)試難度凸顯

本文核心提示: 隨著FPGA接口的速度提高,高速接口的測(cè)試、PCB板級(jí)的測(cè)試、EMI/EMC的測(cè)試等,這些測(cè)試的難度會(huì)越來越突出。想要實(shí)現(xiàn)FPGA的自動(dòng)化測(cè)試的話,就需要提高軟件的可控性和
2012-08-27 10:09:08972

基于FPGA的ADC指標(biāo)測(cè)量及測(cè)試系統(tǒng)

基于FPGA的ADC指標(biāo)測(cè)量及測(cè)試系統(tǒng)
2016-05-10 11:47:1313

基于反熔絲的FPGA測(cè)試方法

基于反熔絲的FPGA測(cè)試方法_馬金龍
2017-01-07 19:08:432

汽車ECU測(cè)試系統(tǒng)研究實(shí)現(xiàn)_莫太平

汽車ECU測(cè)試系統(tǒng)研究實(shí)現(xiàn)_莫太平
2017-01-19 21:54:1514

基于LabVIEW與FPGA的飛行訓(xùn)練彈測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)_劉克軒

基于LabVIEW與FPGA的飛行訓(xùn)練彈測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)_劉克軒
2017-02-07 18:22:066

IT硬件能耗測(cè)試方法應(yīng)用研究_黃植勤

IT硬件能耗測(cè)試方法應(yīng)用研究_黃植勤
2017-03-19 11:27:342

STUN協(xié)議的實(shí)現(xiàn)原理及測(cè)試方法研究_吳任國(guó)

STUN協(xié)議的實(shí)現(xiàn)原理及測(cè)試方法研究_吳任國(guó)
2017-03-19 11:28:020

基于FPGA和無線通信的密立根油滴測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)_徐富新

基于FPGA和無線通信的密立根油滴測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)_徐富新
2017-03-19 19:08:350

基于magnumII測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)研究

了基于magnumII測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)研究,提出了采用magnumII測(cè)試系統(tǒng)的APG及其他模塊實(shí)現(xiàn)對(duì)MRAMVDMR8M32進(jìn)行電性測(cè)試及功能測(cè)試
2017-09-19 08:49:2624

基于DSP的FPGA配置方法研究實(shí)現(xiàn)

基于DSP的FPGA配置方法研究實(shí)現(xiàn)
2017-10-19 16:15:1936

針對(duì)FPGA可編程邏輯模塊的離線BIST測(cè)試方法

隨著FPGA在現(xiàn)代電子系統(tǒng)中應(yīng)用的不斷增多.FPGA測(cè)試技術(shù)也得到非常快的發(fā)展。其中,內(nèi)建白測(cè)試(BIST)的方法已經(jīng)成為一種主流的解決方案。BIST方法一般來說可以分為兩大類,一類是離線BIST
2017-11-08 14:21:461

基于FPGA的軟硬件協(xié)同測(cè)試設(shè)計(jì)影響因素分析與設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)

,不利于硬件的開發(fā)進(jìn)度。面對(duì)這一難題,文章從FPGA 的軟硬件協(xié)同測(cè)試角度出發(fā),利用PC 機(jī)和測(cè)試硬件設(shè)備的特點(diǎn),進(jìn)行FPGA 的軟硬件協(xié)同測(cè)試的設(shè)計(jì),努力實(shí)現(xiàn)FPGA 的軟硬件協(xié)調(diào)測(cè)試系統(tǒng)在軟硬件的測(cè)試和分析中的應(yīng)用。
2017-11-18 05:46:281616

以功能建模為基礎(chǔ)的含FPGA電路板測(cè)試方法研究過程詳解

FPGA 具有高速度、高集成度,可重復(fù)編程的特點(diǎn),將其用于電路系統(tǒng)設(shè)計(jì),可簡(jiǎn)化電路設(shè)計(jì),增強(qiáng)電路功能。而作為電路系統(tǒng)的“中樞控制神經(jīng)”,FPGA 的故障會(huì)引起整個(gè)電路系統(tǒng)的癱瘓,而用一般的測(cè)試方法很難對(duì)其實(shí)施故障測(cè)試診斷。
2018-07-18 14:37:001088

FPGA配置與測(cè)試的詳細(xì)方法分析與特點(diǎn)

從制造的角度來講,FPGA測(cè)試是指對(duì)FPGA器件內(nèi)部的邏輯塊、可編程互聯(lián)線、輸入輸出塊等資源的檢測(cè)。完整的FPGA測(cè)試包括兩步,一是配置FPGA、然后是測(cè)試FPGA,配置FPGA是指將FPGA通過
2017-11-24 20:55:535922

幾種常用的單片機(jī)系統(tǒng)RAM測(cè)試方法研究

針對(duì)性地介紹了幾種常用的單片機(jī)系統(tǒng)RAM測(cè)試方法,并在其基礎(chǔ)上提出了一種基于種子和逐位倒轉(zhuǎn)的RAM故障測(cè)試方法。 1 RAM測(cè)試方法回顧 (1)方法1 參考文獻(xiàn)中給出了一種測(cè)試系統(tǒng)RAM的方法。該方法是分兩步來檢查,先后向整個(gè)數(shù)據(jù)區(qū)
2017-12-02 09:07:57544

基于軟件測(cè)試技術(shù)的FPGA測(cè)試研究[圖]

摘要: 基于對(duì)FPGA系統(tǒng)失效機(jī)理的深入分析,提出了軟件測(cè)試技術(shù)在FPGA測(cè)試中的應(yīng)用,并分析了其可行性;通過對(duì)比FPGA與軟件系統(tǒng)的異同,歸納出FPGA特有的測(cè)試要求,從而在軟件測(cè)試技術(shù)的基礎(chǔ)上
2018-01-19 22:34:59937

儲(chǔ)能系統(tǒng)工況測(cè)試方法

儲(chǔ)能系統(tǒng)在可再生能源應(yīng)用中具有多種功能,研究模塊化儲(chǔ)能系統(tǒng)在大規(guī)模可再生能源各種應(yīng)用中的適用性是當(dāng)前研究的熱點(diǎn)之一。文中構(gòu)建并分析了模塊化儲(chǔ)能系統(tǒng)工況測(cè)試曲線。通過因子分析對(duì)儲(chǔ)能系統(tǒng)跟蹤計(jì)劃
2018-01-22 16:27:3316

WEB測(cè)試環(huán)境搭建和測(cè)試方法

本文主要講述了web應(yīng)用系統(tǒng)的搭建測(cè)試環(huán)境和web測(cè)試方法,在測(cè)試過程中,有的僅需要手動(dòng)測(cè)試的,有的需要自動(dòng)化測(cè)試工具的幫助,所以web系統(tǒng)測(cè)試要求測(cè)試人員有很深的自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)。
2018-01-31 17:07:3317914

FPGA測(cè)試系統(tǒng)中有哪四種典型應(yīng)用

FPGA可以通過專享的硬件資源進(jìn)行處理數(shù)據(jù),從而實(shí)現(xiàn)較高的吞吐率,可以比通過I/O硬件先獲取數(shù)據(jù)再通過軟件執(zhí)行數(shù)據(jù)處理的速率更快。結(jié)合FPGA技術(shù)的測(cè)試系統(tǒng),不是按照傳統(tǒng)意義上的“采集、數(shù)據(jù)傳輸
2018-10-07 11:47:475023

基于FPGA的PCB測(cè)試機(jī)如何去設(shè)計(jì)硬件電路

基于FPGA的PCB測(cè)試機(jī)的硬件控制系統(tǒng),提高了PCB測(cè)試機(jī)的測(cè)試速度、簡(jiǎn)化電路的設(shè)計(jì)。
2020-04-01 17:56:561688

基于FPGA的PCB怎樣來測(cè)試

 基于FPGA的PCB測(cè)試機(jī)的硬件控制系統(tǒng),提高了PCB測(cè)試機(jī)的測(cè)試速度、簡(jiǎn)化電路的設(shè)計(jì)。
2019-10-23 15:15:451867

采用FPGA器件實(shí)現(xiàn)基站模擬測(cè)試系統(tǒng)的應(yīng)用方案

在基站的模擬測(cè)試系統(tǒng)中,終端控制子系統(tǒng)負(fù)責(zé)生成上行測(cè)試數(shù)據(jù)并將其發(fā)送到被測(cè)基帶板,測(cè)試基帶板上行接收的功能及性能;同時(shí)根據(jù)后臺(tái)控制采集下行發(fā)射的基帶數(shù)據(jù)并送后臺(tái)進(jìn)行分析,測(cè)試其發(fā)射功能。而FPGA部分屬于終端控制子系統(tǒng)的前臺(tái)部分,負(fù)責(zé)IQ數(shù)據(jù)的發(fā)送及采集,基帶測(cè)試板的功能主要在這里面實(shí)現(xiàn)
2020-08-07 17:53:52892

晶閘管參數(shù)的自動(dòng)測(cè)試方法研究實(shí)現(xiàn)

本文著重分析晶閘管直流參數(shù)的測(cè)試方法,并實(shí)現(xiàn)其自動(dòng)化測(cè)試。本文首先 詳細(xì)分析了晶閘管的各個(gè)直流參數(shù)的測(cè)量方法,并給出了各個(gè)參數(shù)相應(yīng)的測(cè)試電 路原理圖。其次,本文介紹了測(cè)試平臺(tái)的硬件總體構(gòu)成和軟件
2022-07-05 17:49:242

基于模糊測(cè)試方法實(shí)現(xiàn)車載通信測(cè)試

作者|J小編|吃不飽模糊測(cè)試是網(wǎng)絡(luò)安全測(cè)試領(lǐng)域必然會(huì)被提及的一類測(cè)試方法。它有著極其鮮明的特點(diǎn),包括極低的需求依賴性、可逆向的測(cè)試理念等,與常規(guī)測(cè)試方法顯得是那么的“風(fēng)格迥異”。但同時(shí),這種測(cè)試方法
2022-09-15 11:09:06354

FPGA測(cè)試面臨哪些挑戰(zhàn)?測(cè)試方案是什么?

點(diǎn)擊上方 藍(lán)字 關(guān)注我們 大容量、高速率和低功耗已成為FPGA的發(fā)展重點(diǎn)。 嵌入式邏輯分析工具無法滿足通用性要求,外部測(cè)試工具可以把FPGA內(nèi)部信號(hào)與實(shí)際電路聯(lián)合起來觀察系統(tǒng)真實(shí)運(yùn)行情況。 隨著
2023-10-23 15:20:01460

基于ARM9平臺(tái)和FPGA的1553B總線測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《基于ARM9平臺(tái)和FPGA的1553B總線測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf》資料免費(fèi)下載
2023-11-08 10:10:290

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