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歡迎大俠來到FPGA技術江湖新欄目今日說“法”，當然，在這里我們肯定不是去研究討論法律法規知識，那我們討論什么呢，在這里我們討論的是產品研發以及技術學習時一些小細節小方法等，歡迎大家一起學習交流，有好的靈感以及文章隨筆，歡迎投稿，投稿請標明筆名以及相關文章。今天帶來的是“是誰動了我的JTAG口？”，話不多說，上貨。

在FPGA研發及學習過程中，有一個關鍵步驟就是下板實現，做硬件“硬現”很重要，一般來說用JTAG口比較常見一些，因此相信肯定有些大俠遇到過JTAG口失靈或者損壞無法使用的事情。最近我就遇到了這類事情，FPGA的JTAG口突然就不能下載程序了，而且這種事情已經不是第一次了，之前在做項目的時候也出現過，而且出現的形式也極其相似，之前還用的好好的，第二天就不行了，真是讓人郁悶。為此，本人也是去嘗試了很多解決辦法，一開始也沒有去設想是JTAG口壞了，于是乎，本人換了usb-blaster，可一點反應也沒有。難道真的是JTAG口壞了？于是，本人就去查閱相關資料去搞清楚問題的本質在哪里，下面就是本人的一些收獲，分享出來，僅供各位大俠參考，一起交流學習。

根據查閱資料及本人的一些實踐經驗所得，在使用JTAG下載接口的過程中，請不要隨意帶電插拔，否則會損壞FPGA芯片的JTAG口信號管腳。那么如何去確認JTAG口已經損壞了呢。首先你要去排除基本的幾項因素，一是，是否匹配連接，有很多設備會對應很多接口，在實際條件下要匹配正確，否則也會出現上述情況；二是，排除下載線的問題，如果是下載線壞了，可以使用多根下載線去嘗試，排除這類問題。如果還是不能訪問FPGA的JTAG口，那么很有可能你的FPGA芯片的JTAG口已經損壞。此時請用萬用表檢查TCK，TMS，TDO和Tdi是否和GND短路，如果任何一個信號對地短路則表示JTAG信號管腳已經損壞。

至于JTAG口是什么，這里我們也來探討一下，JTAG英文全稱是 Joint Test Action Group，翻譯過來中文就是聯合測試工作組。

JTAG是一種IEEE標準用來解決板級問題，誕生于20世紀80年代。今天JTAG被用來燒錄、debug、探查端口。當然，最原始的使用是邊界測試。

1、邊界測試

舉個例子，你有兩個芯片，這兩個芯片之間連接了很多很多的線，怎么確保這些線之間的連接是OK的呢，用JTAG，它可以控制所有IC的引腳。這叫做芯片邊界測試。

2、JTAG引腳

JTAG發展到現在已經有腳了，通常四個腳：TDI，TDO，TMS，TCK，當然還有個復位腳TRST。對于芯片上的JTAG的腳實際上是專用的。

TDI：測試數據輸入，數據通過TDI輸入JTAG口；

TDO：測試數據輸出，數據通過TDO從JTAG口輸出；

TMS：測試模式選擇，用來設置JTAG口處于某種特定的測試模式；

TCK：測試時鐘輸入；

TRST：測試復位。

CPU和FPGA制造商允許JTAG用來端口debug；FPGA廠商允許通過JTAG配置FPGA，使用JTAG信號通入FPGA核。

3、JTAG如何工作

PC控制JTAG：用JTAG電纜連接PC的打印端口或者USB或者網口。最簡單的是連接打印端口。

TMS：在每個含有JTAG的芯片內部，會有個JTAG TAP控制器。TAP控制器是一個有16個狀態的狀態機，而TMS就是這玩意的控制信號。當TMS把各個芯片都連接在一起的時候，所有的芯片的TAP狀態跳轉是一致的。下面是TAP控制器的示意圖：

改變TMS的值，狀態就會發生跳轉。如果保持5個周期的高電平，就會跳回test-logic-rest，通常用來同步TAP控制器；通常使用兩個最重要的狀態是Shift-DR和Shift-IR，兩者連接TDI和TDO使用。

IR：命令寄存器，你可以寫值到這個寄存器中通知JTAG干某件事。每個TAP只有一個IR寄存器而且長度是一定的。

DR：TAP可以有多個DR寄存器，與IR寄存器相似，每個IR值會選擇不同的DR寄存器。（很迷）

4、JTAG鏈相關疑問

計算JTAG鏈中的IC數目：

一個重要的應用是IR值是全一值，表示BYPASS命令，在BYPASS模式中，TAP控制器中的DR寄存器總是單bit的，從輸入TDI到輸出TDO，通常一個周期，啥也不干。

可用BYPASS模式計算IC數目。如果每個IC的TDI-TDO鏈的延遲是一個時鐘，我們可以發送一些數據并檢測它延遲了多久，那么久可以推算出JTAG鏈中的IC數目。

得到JTAG鏈中的器件ID：

大多數的JTAG IC都支持IDCODE命令。在IDCODE命令中，DR寄存器會裝載一個32bit的代表器件ID的值。不同于BYPASS指令，在IDCODE模式下IR的值沒有標準。不過每次TAP控制器跳轉到Test-Logic-Reset態，它會進入IDCODE模式，并裝載IDCODE到DR。

5、邊界掃描：

TAP控制器進入邊界掃描模式時，DR鏈可以遍歷每個IO塊或者讀或攔截每個引腳。在FPGA上使用JTAG，你可以知曉每個引腳的狀態當FPGA在運行的時候。可以使用JTAG命令SAMPLE，當然不同IC可能是不同的。

這里沒有過多的講解JTAG調試原理，但是但是對于感興趣的大俠們，可以獲取詳細文檔查看一下，JTAG調試原理詳細技術文檔。

如果JTAG口已經損壞了，那只能“節哀順變”了，但是也不要只顧著傷心，最重要的是分析其中的原因，做其他事情也是一樣的道理。那我們就來分析分析，我們在使用的過程中，可能經常為了方便，隨意插拔JTAG下載口，在大多數情況下不會發生問題。但是仍然會有很小的機率發生下面的問題，因為熱插拔而產生的JTAG口的靜電和浪涌，最終導致FPGA管腳的擊穿。至此，也有人懷疑是否是盜版的USB Blaster或者ByteBlasterII設計簡化，去除了保護電路導致的。但經過很多實際情況的反饋，事實證明原裝的USB Blaster 也會發生同樣的問題。也有人提出質疑是否是ALTERA的低端芯片為了降低成本，FPGA的IO單元沒有加二極管鉗位保護電路。這類質疑其實都不是解決問題的本質，最重要的是我們要規范操作，盡可能的去減少因為實際操作不當導致一些硬件設備、接口等提前結束壽命或“英年早逝”，那重點來了，關于JTAG下載口的使用，我們需要如何去規范操作呢。

上電時的操作流程順序：

1.在FPGA開發板及相關設備斷電的前提下，插上JTAG下載線接口；

2.插上USB Blaster或者ByteBlasterII的電纜；

3.接通FPGA開發板的電源。

下電時的操作流程順序：

1.斷開FPGA開發板及相關設備的電源；

2.斷開USB Blaster或者ByteBlasterII的電纜；

3.拔下JTAG下載線接口，并放置適宜地方存儲。

雖然上述的操作步驟有點繁瑣，有時我們在使用的時候也是不以為然，但是為了保證芯片不被損壞，建議大家還是中規中矩的按照上述的步驟來操作。本人上述出現的問題，經過檢測后就是TCK跟GND短路了，雖然發生的概率不是很大，但是為了能夠更合理更長久的的使用硬件相關設備，還是建議大家在實操過程中，不要擔心繁瑣，中規中矩操作，換個角度思考，“多磨多練”也是對自己有好處的。最后，還是給各位嘮叨一句，關于JTAG下載口的使用最好不要帶電熱插拔，起碼可以讓JTAG口“活”的久一些，畢竟長情陪伴也是挺不錯的，不要等到失去了才知道惋惜。

審核編輯：湯梓紅