EVAL-AD7175SDZ評(píng)估板的信號(hào)鏈測(cè)試中,在60 kHz附近捕獲到一簇雜散信號(hào),如圖5所示。圖5.EVAL-AD7175-2SDZ評(píng)估板上觀察到的雜散問題。經(jīng)過評(píng)估發(fā)現(xiàn),AD7175-2 ADC的電源和模擬
2019-02-14 14:18:45
我司某款產(chǎn)品做摸底測(cè)試時(shí),發(fā)現(xiàn)RE超標(biāo),主要表現(xiàn)為單頻點(diǎn): 根據(jù)RE實(shí)驗(yàn)報(bào)告來看,根據(jù)干擾頻點(diǎn)及現(xiàn)象可以懷疑是有時(shí)鐘等諧振頻率造成的,經(jīng)過查看原理圖,網(wǎng)絡(luò)交換芯片采用25MHz的晶振,因此懷疑是晶振
2019-05-21 10:41:44
系統(tǒng)主要就是2個(gè)網(wǎng)口,RGMII接口,跑100M,所以時(shí)鐘和信號(hào)都是25M,但是FPGA內(nèi)部時(shí)鐘是125M。 做
RE測(cè)試的時(shí)候,發(fā)現(xiàn)125M的3/5/7次諧波
超標(biāo)。。。 已經(jīng)改過網(wǎng)口的時(shí)鐘幅度,能小一點(diǎn)點(diǎn),但還是超。 調(diào)整RGMII phy tx方向的串聯(lián)電阻,無效或更糟。 請(qǐng)高手賜招?。?/div>
2019-04-16 10:29:33
本帖最后由 anflower 于 2016-12-6 17:56 編輯
1、控制電機(jī)PWM信號(hào)為10KHz現(xiàn)在RE測(cè)試還有超標(biāo),請(qǐng)各位大神指教!此圖為示波器測(cè)量圖1、紫色為電機(jī)兩端波形2、黃色為輸入電源兩端波形3、橙色和藍(lán)色為FFT波形
2016-12-06 17:51:25
雜散測(cè)試線損問題? 有的時(shí)候是一個(gè)范圍,怎么確定線損呢?
2020-05-08 05:55:31
雜散測(cè)試線損問題? 有的時(shí)候測(cè)得是一個(gè)范圍,怎么確定線損呢?
2016-09-11 23:41:06
位雜散的來源,適當(dāng)?shù)母牟蓸訒r(shí)鐘的頻率并做同樣的記錄可以更好的定位問題來源。 [size=18.6667px]Q:數(shù)字地是怎樣影響模擬地的?A:有觀點(diǎn)認(rèn)為是高頻電流引起的地彈影響了模擬地平面, 如果兩種
2019-01-16 12:27:07
寄存器的值,改變輸出頻率,看雜譜如何變化!雜散隨主頻變化以定位雜散的來源,適當(dāng)?shù)母牟蓸訒r(shí)鐘的頻率并做同樣的記錄可以更好的定位問題來源。Q:數(shù)字地是怎樣影響模擬地的?A:有觀點(diǎn)認(rèn)為是高頻電流引起的地彈
2017-04-27 15:58:16
出現(xiàn)一個(gè)與基帶信號(hào)相關(guān)的雜散點(diǎn)幅度-50dBm左右,影響了射頻輸出的Sfdr。具體現(xiàn)象:
輸出2.2ghz點(diǎn)頻時(shí),雜散點(diǎn)在2.6GHz
輸出2.3ghz點(diǎn)頻時(shí),雜散在2.5ghz
輸出2.4ghz點(diǎn)頻
2023-12-04 07:39:16
).TX通道基帶不發(fā)數(shù)據(jù)時(shí),雜散和[size=13.3333px]噪底大概哪個(gè)量級(jí)?是否在FDD模式下可以關(guān)掉發(fā)射通道?[size=13.3333px]2).看到發(fā)射通道IQ調(diào)制器后,模擬部分有個(gè)衰減器
2018-12-27 09:24:47
各位大牛,請(qǐng)教一下。我現(xiàn)在用AD9467-250,采樣時(shí)鐘用AD9517-3出的200MHz,采集70M、0dBm單音信號(hào)。頻譜上出現(xiàn)較多的雜散。ADC前端電路按照AD9467手冊(cè)推薦的設(shè)計(jì)。ADC
2019-01-25 08:21:14
各位大牛,請(qǐng)教一下。我現(xiàn)在用AD9467-250,采樣時(shí)鐘用AD9517-3出的200MHz,采集70M、0dBm單音信號(hào)。頻譜上出現(xiàn)較多的雜散。ADC前端電路按照AD9467手冊(cè)推薦的設(shè)計(jì)。ADC
2023-12-08 06:52:03
近日通過多次測(cè)試,發(fā)現(xiàn)AD9912的DAC輸出端雜散比較大。望幫忙分析分析 環(huán)境條件如下:1、3.3v,1.8v均為L(zhǎng)DO電源供電;原理圖參考的是官方提供的文件。2、外部1G時(shí)鐘輸入,旁路內(nèi)部PLL
2019-03-08 15:14:23
參考輸入為245.76MHz/0dBm,輸出61.44MHz附近給鎖相環(huán)做參考,可是輸出一直有雜散。我改用信號(hào)源直接給鎖相環(huán)提供參考就沒有雜散了,所以推斷出是AD9912引入的雜散。我同事他也用
2018-12-25 11:41:21
的雜散抑制,請(qǐng)問,雜散抑制只能做到這個(gè)程度還是我哪個(gè)地方?jīng)]有做好?雜散的位置隨著頻率的不同而不同,比如在18.185MHz處的雜散主要是250HZ,500Hz;而在18.818MHz處的雜散有30Hz
2019-02-22 08:27:59
我使用ADF4351,其輸出在中心頻率偏移184k附近有雜散輸出,通過減小環(huán)路帶寬,減小充電電流等,雜散有一定的降低, 此時(shí)帶來靠近中心頻率出的噪聲升高,通過對(duì)比不同的板卡,都存在類似的現(xiàn)象,環(huán)路
2018-10-12 09:24:23
最近在用adf4355,輸出頻率3915MHz,參考頻率100MHz,PDF頻率50MHz,其余配置為adi軟件導(dǎo)出的默認(rèn)配置,結(jié)果近端出現(xiàn)如圖所示雜散,頻率大約在28kHz和66kHz兩處比較明顯。已經(jīng)排除電源影響,且修改環(huán)路濾波器和降低cp電流均沒有什么變化。請(qǐng)教各位大神還有什么原因是沒有考慮到的
2022-01-21 16:49:31
求教各位高手,我們給DC/DC電源模塊做外圍濾波電路,現(xiàn)在把電源安裝在客戶的負(fù)載上進(jìn)行整機(jī)測(cè)試,RE超標(biāo),請(qǐng)各位高手幫忙看看問題在哪。
2019-10-29 09:11:00
,需要完全依托工程師的直覺和經(jīng)驗(yàn)來進(jìn)行判斷。第二:比較測(cè)試,根據(jù)測(cè)試儀器所提供的數(shù)據(jù)來進(jìn)行分析問題。02 PART EMC整改流程1、RE超標(biāo)整改流程:2、電線電纜超標(biāo)整改流程:3、信號(hào)電纜整改流程
2023-02-13 09:30:53
本帖最后由 EMChenry 于 2015-8-6 10:17 編輯
EMC案例之輻射雜散測(cè)試
2015-08-06 10:15:32
產(chǎn)品內(nèi)部包含一個(gè)工作頻率為13.56Mhz的RFID模塊,在RE測(cè)試時(shí),其倍頻點(diǎn)135.6M超標(biāo),不想問整改,我想問的是135.6M是怎么產(chǎn)生的?有哪些因素會(huì)導(dǎo)致頻率發(fā)生倍頻?
2019-09-18 21:39:39
用HMC700設(shè)計(jì)PLL環(huán)路在低溫下有頻率輸出,但是主峰兩邊有雜散,且鎖定指示沒有輸出,是怎么回事兒呢?
2019-02-14 14:06:48
~2MHz 現(xiàn)象:輸出10025MHz和10075MHz時(shí)在主頻兩邊相隔512KHz處有雜散,大小約50dBc,(測(cè)試排除電源引入的可能)當(dāng)輸出偏50Hz(10025MHz+-50Hz,10075MHz+-50Hz)時(shí)雜散消失 輸出為10050MHz時(shí)沒有雜散 請(qǐng)問可能是什么原因?
2019-02-21 14:05:56
小弟最近做試驗(yàn)(RE)發(fā)現(xiàn),發(fā)現(xiàn)低頻發(fā)射超標(biāo),經(jīng)常排查是LIN通信芯片,在20KHZ時(shí),超標(biāo)5dB。請(qǐng)問各位有沒有思路如何進(jìn)行整改?
2019-01-04 08:55:23
3GPP TS 36.104以Band40為例,基于傳統(tǒng)的共址雜散測(cè)試方案,探討了一種新型的共址雜散測(cè)試方案,采用了雙工器和低噪放相結(jié)合的方法。在此方案中,雙工器的主要作用是將載波信號(hào)和雜散發(fā)
2020-12-03 15:58:08
人體監(jiān)測(cè)儀EMC測(cè)試,EMC整改,電磁兼容空間輻射測(cè)試不通過超標(biāo)了怎么辦?
什么是EMC測(cè)試?
EMC(電磁兼容性)的全稱是Electro Magnetic Compatibility, 其定義為
2023-06-13 09:45:16
每隔3KHz存在雜散,無法通過降低信號(hào)功率,改變時(shí)鐘數(shù)據(jù)相位來改善
更改參考時(shí)鐘為60MHz,雜散間隔變?yōu)?5K
更改參考時(shí)鐘為20MHz是,雜散消失
請(qǐng)問各位大神這個(gè)問題應(yīng)該怎么考慮,謝謝
另外當(dāng)去掉DAC輸出輔助之后用示波器測(cè)試波形如下,這種現(xiàn)象是信號(hào)發(fā)生反射了嗎?
2023-12-07 07:09:55
、驗(yàn)證中尋找出合適的、較優(yōu)的、低成本的方案從而縮短開發(fā)周期,進(jìn)而搶先獲得消費(fèi)市場(chǎng)認(rèn)可。本案例向我們揭示了一種通過使用頻譜儀和近場(chǎng)探頭測(cè)試解決方案來完成無線智能通訊設(shè)備的輻射雜散調(diào)試的方法。一個(gè)快速精準(zhǔn)
2018-03-27 14:30:31
輸入,設(shè)備里面還有電源DC/DC模塊。在做RE102的實(shí)驗(yàn)的時(shí)候,在頻率是550MHZ-750MHZ的時(shí)候,分別在600MHZ、640MHZ、680MHZ、720MHZ上有很高的脈沖,超過了標(biāo)準(zhǔn)值。這
2012-12-12 20:37:25
的二次諧波大于3GHz,是為了防止干擾到其他比如LTE的頻段嗎?或者考慮的更深遠(yuǎn)?3.輻射雜散騷擾的測(cè)試需要帶適配器嗎?按理說,這是EUT的典型工作狀態(tài),但是CCC測(cè)試,中檢試驗(yàn)室的布置圖中無適配器的,只是在報(bào)告里說明樣機(jī)是充滿電的狀況。邀請(qǐng)大神或入行時(shí)間長(zhǎng)的同事,進(jìn)行解答討論,謝謝!
2015-11-20 20:26:50
摘要: 針對(duì)某型號(hào)發(fā)動(dòng)機(jī)電控系統(tǒng)在電磁兼容測(cè)試試驗(yàn)中CE102和RE102 兩項(xiàng)指標(biāo)在部分頻段出現(xiàn)的超標(biāo)現(xiàn)象, 對(duì)電控系統(tǒng)組成和電磁兼容環(huán)境進(jìn)行了分析、研究。作了多種方案的改進(jìn)設(shè)計(jì)并逐一進(jìn)行了試驗(yàn)
2015-08-06 10:27:32
在一個(gè)發(fā)射系統(tǒng)中,有很多射頻接口,那么究竟哪個(gè)接口是測(cè)試者所關(guān)心的呢?讓我們通過下圖來討論各測(cè)試點(diǎn)對(duì)系統(tǒng)雜散測(cè)試的意義。由多工器的無源互調(diào)所產(chǎn)生的雜散端口1和端口2具有同等地位,從端口1(或2)可以
2017-11-15 10:35:09
整數(shù)邊界雜散不受歡迎的原因有哪些?如何改變PFD頻率?怎樣將ADIsimFrequencyPlanner應(yīng)用到寬帶VCO里?
2021-04-12 06:28:29
DDS的工作原理是什么?如何抑制DDS輸出信號(hào)中雜散問題?
2021-05-26 07:15:37
具有一定的現(xiàn)實(shí)意義。本文將以摩爾實(shí)驗(yàn)室多年的EMC經(jīng)驗(yàn), 以信息技術(shù)產(chǎn)品為例簡(jiǎn)單介紹輻射騷擾的測(cè)試方法以及如何查找失敗原因和我們常用的整改對(duì)策等。一、RE測(cè)試場(chǎng)地布局如下三、輻射騷擾整改的一般步驟1
2020-10-22 07:39:25
直接數(shù)據(jù)頻率合成器(DDS)因能產(chǎn)生頻率捷變且殘留相位噪聲性能卓越而著稱。另外,多數(shù)用戶都很清楚DDS輸出頻譜中存在的雜散噪聲,比如相位截?cái)?b class="flag-6" style="color: red">雜散以及與相位-幅度轉(zhuǎn)換過程相關(guān)的雜散等。此類雜散是實(shí)際
2023-12-15 07:38:37
:圖4 整改前超標(biāo)數(shù)據(jù)使用寬頻濾波電感,濾波元器件大量減少,濾波電路體積有了很大的減小,能夠輕松放下濾波電路,不存在“U”字形排列,如下圖5所示:圖5 優(yōu)化后的濾波電路濾波電路由3級(jí)濾波優(yōu)化到1級(jí)濾波,成本和空間都有了大大的降低,優(yōu)化后的測(cè)試結(jié)果如下圖6所示:圖6優(yōu)化濾波電路后測(cè)試數(shù)據(jù)
2019-10-09 15:20:36
`相關(guān)推薦:http://t.elecfans.com/topic/45.html?elecfans_trackid=bbs_toptxt開關(guān)電源傳導(dǎo)和輻射超標(biāo)整改方案(史上最全)簡(jiǎn)潔明了的列出測(cè)試超標(biāo)問題,以及整改辦法篇幅短,價(jià)值高![hide][/hide]`
2015-08-25 09:23:49
雜散測(cè)試的一些資料,期刊論文,有需要的朋友自行下載吧
2018-09-26 10:15:21
各位大神: 我有個(gè)機(jī)箱在按GJB151A做RE102測(cè)試時(shí),結(jié)果超標(biāo)(如下圖所示),請(qǐng)問下該如何分析解決此問題?
2016-01-11 17:16:32
傳導(dǎo)和輻射
雜散的FCC限值是什么情況,沒看懂,求指點(diǎn)。另外,2G和3G的
雜散測(cè)試,除了
測(cè)試頻率范圍不同外,還有哪些不同,提前謝謝大神?。。。。。。?/div>
2013-03-10 21:38:03
小弟正在調(diào)試一款X波段(9.6-10.8GHz)的鎖相環(huán),采用的是內(nèi)部集成VCO的HMC778LP6CE芯片。在調(diào)試中,我發(fā)現(xiàn)在距中心頻率50Hz整數(shù)倍的頻率處有很多雜散,請(qǐng)問各位大神這些雜散
2014-07-21 15:47:54
液晶顯示器輻射發(fā)射超標(biāo)整改案例1電源線套磁環(huán)飛利浦液晶顯示器輻射發(fā)射測(cè)試結(jié)果如圖1所示,曲線在200MHz-300MHz有較高的包絡(luò)。據(jù)以往經(jīng)驗(yàn),這種包絡(luò)說明顯示器電源上存在很大噪聲,需對(duì)電源模塊做
2015-08-19 23:18:44
的其余部分。此類不希望有的輸出信號(hào)被稱為 “雜散脈沖”。假如這些雜散脈沖的功率足夠高,那就會(huì)在射頻設(shè)計(jì)中引發(fā)很多問題,例如:發(fā)送器中相鄰?fù)ǖ赖奈廴?、接收?b class="flag-6" style="color: red">中的靈敏度損失、或期望信號(hào)自身的失真。視系統(tǒng)
2019-07-23 08:17:34
測(cè)試數(shù)據(jù)RE測(cè)試數(shù)據(jù)1. 198kHz這個(gè)點(diǎn)超標(biāo)198k為低頻,低頻一般是差模噪聲。常用手段為:增加差模濾波插損,增加電感感量或者增加電容。2. CE高頻段超標(biāo)CE高頻段通常為共模接地不良及近場(chǎng)耦合,無法
2020-08-30 08:09:09
測(cè)試數(shù)據(jù)RE測(cè)試數(shù)據(jù)1. 198kHz這個(gè)點(diǎn)超標(biāo)198k為低頻,低頻一般是差模噪聲。常用手段為:增加差模濾波插損,增加電感感量或者增加電容。2. CE高頻段超標(biāo)CE高頻段通常為共模接地不良及近場(chǎng)耦合,無法
2020-09-02 07:53:20
(1)外觀判斷法對(duì)埋地管道來說,如果受到直流雜散電流的腐蝕,其外觀是:孔蝕傾向大,創(chuàng)面光滑、邊緣比較整齊,有時(shí)有金屬光澤,腐蝕產(chǎn)物似炭黑色粉末,無分層現(xiàn)象,有水存在且腐蝕激烈時(shí),可以明顯觀察到電解
2020-12-01 16:22:35
,CPU 增加高頻濾波電容的單板全配置測(cè)試。4、單板地連接,CPU 增加高頻濾波電容,網(wǎng)口變壓器中差分線對(duì)地加電容,電話口信號(hào)線串磁珠的單板全配置測(cè)試。四 最終整改方案1、 在主芯片的上面增加高頻濾波電容
2016-05-31 15:08:44
,如果系統(tǒng)板布局規(guī)劃不當(dāng),ADC的數(shù)字輸出端有可能耦合回輸入端。外部噪聲也可能耦合到ADC的基準(zhǔn)電壓源、電源或接地域上。如果噪聲足夠大且具有半周期性,則會(huì)在系統(tǒng)的頻域中表現(xiàn)為無用的SFDR限制雜散
2018-11-01 11:31:37
最近在使用HMC213設(shè)計(jì)射頻鏈路,器件手冊(cè)只給出了下變頻時(shí)中頻輸出口的雜散抑制度指標(biāo),我現(xiàn)在需要使用HMC213做上變頻,想請(qǐng)問一下有沒有該芯片上變頻時(shí)射頻口的雜散抑制度測(cè)試指標(biāo)。謝謝!
2019-02-21 14:19:53
貴公司的專家們好,我最近在做的項(xiàng)目使用的AD9914芯片,芯片使用3.2GHz參考時(shí)鐘,DDS輸出950MHz信號(hào)時(shí)150MHz,200MHz,處有-65dBc左右的雜散,300MHz處有
2018-11-13 09:35:04
Current可優(yōu)化雜散至51dBc左右。ADIsimfrequencyPlanner也沒有這么近的雜散仿真值提供,該雜散從何而來,有何推薦的解決方法?(設(shè)置輸出為4100MHz則無此雜散)另外若采用
2018-08-22 10:40:08
您好,請(qǐng)問我在做ADF4356鎖相環(huán)時(shí)發(fā)現(xiàn)在PFD諧波處
有較強(qiáng)
雜散,高達(dá)-75dBc,可以看成就是整數(shù)邊界
雜散,但是
雜散距離中心頻率已經(jīng)
有了15M左右,環(huán)路帶寬40KHz,請(qǐng)問一下這是什么原因?qū)е?/div>
2019-02-15 13:26:51
如圖,這是數(shù)據(jù)手冊(cè)上說的HMC833參考為50MHz輸出為5900.8Mhz時(shí)的雜散情況。圖上頻偏頻偏為400KHz和800Khz的地方都有雜散。根據(jù)數(shù)據(jù)手冊(cè)上的理論,我能理解800Khz處的雜散是整數(shù)邊界雜散,但我沒弄懂400Khz處的雜散緣由?哪位明白的,可以解釋一下?謝謝
2018-10-09 17:57:58
HMC833低雜散(1)HMC833是否有低雜散模式。(2)改變seed in fraction是否有作用?
2019-01-15 08:42:05
各位好我在看模擬對(duì)話的時(shí)候,看到邊帶雜散和開關(guān)雜散不太明白,請(qǐng)問大家這其中的含義以及它將導(dǎo)致什么后果?謝謝大家了?。?!
2019-01-09 09:29:01
超聲波霧化器re整改措施總結(jié)日前成功整改了一款超聲波霧化器的EMI問題(B標(biāo)),現(xiàn)做簡(jiǎn)單的歸納總結(jié)。先說re(輻射),未作任何措施時(shí)的檢測(cè)結(jié)果如下:可見是在低頻段超標(biāo)。30M-40M的噪聲可能
2016-03-02 10:54:18
了,最好能抑制再高些。 常用的抑制鑒相頻率雜散的方法是環(huán)路濾波器的多級(jí)設(shè)計(jì),如3級(jí)。在鑒相頻率固定、3級(jí)環(huán)路濾波器固定且濾波器帶寬已經(jīng)10KHz不能再低的條件下,還有哪些方法可以改善上面提到的這些雜散呢
2018-11-07 09:03:01
逼近型寄存器(SAR) ADC。在EVAL-AD4003FMCZ評(píng)估板交流性能測(cè)試過程中,在277.5 kHz附近出現(xiàn)約–115 dBFS的雜散電平;該雜散及其第二諧波如圖2所示。圖
2018-10-19 10:38:17
測(cè)試數(shù)據(jù)中,1、2、3、5這幾個(gè)超標(biāo)點(diǎn)都是單支(窄帶干擾),其頻率間隔是125MHz,所以是板子上125MHz時(shí)鐘的倍頻引起的超標(biāo)。超標(biāo)的頻率范圍是500-900MHz,屬于高頻范圍,而低頻幾乎沒有噪聲(125MHz,250MHz,375MHz并不超標(biāo),甚至沒有噪聲),為什么呢?
2022-04-27 10:56:209348 因芯片NC引腳線路導(dǎo)致RE測(cè)試超標(biāo)問題案例
2023-04-28 16:39:52790 因測(cè)試布置不規(guī)范導(dǎo)致RE102測(cè)試FAIL案例
2023-06-10 16:46:41643 【電磁兼容知識(shí)要點(diǎn)分享】因芯片NC引腳線路導(dǎo)致RE測(cè)試超標(biāo)問題案例
2023-04-14 09:29:15560 某產(chǎn)品在入網(wǎng)測(cè)試電磁騷擾項(xiàng)目中,直流電源端口(DC端口)傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試超標(biāo)嚴(yán)重,在低頻150kHz~2MHz之間,某些頻點(diǎn)超標(biāo)10dBuV以上。經(jīng)過對(duì)電源單板現(xiàn)場(chǎng)整改,再次測(cè)試DC端口傳導(dǎo)發(fā)射順利通過,余量在5dBuV以上。
2023-06-25 16:50:591256 【電磁兼容技術(shù)案例分享】因測(cè)試布置不規(guī)范導(dǎo)致RE102測(cè)試FAIL案例
2023-07-31 16:58:131622 某風(fēng)機(jī)產(chǎn)品CE電流法測(cè)試超標(biāo)問題整改分析案例
2023-08-14 10:03:321067 輻射RE整改有哪些方法?|深圳比創(chuàng)達(dá)電子EMC
2023-10-31 10:57:58809 EMC測(cè)試超標(biāo)如何整改?|深圳比創(chuàng)達(dá)電子EMC
2023-12-13 10:32:21494 EMC輻射發(fā)射RE整改方法
2023-12-14 10:09:17434 【電磁兼容技術(shù)案例分享】某控制器RE超標(biāo)問題整改案例
2024-03-06 08:16:06392
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