吉時(shí)利儀器公司(NYSE:KEI)發(fā)布了其2600系列SourceMeter; 數(shù)字源表的兩款新產(chǎn)品2635和2636，自此形成業(yè)界技術(shù)最先進(jìn)、效費(fèi)比最高的半導(dǎo)體參數(shù)分析與測試解決方案。2635和2636采用最新特殊參數(shù)分析技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了高達(dá)1fa(10-15安)的測量分辨率，從而滿足了很多半導(dǎo)體、光電和納米器件的測試需求。此外，其基于儀器的多通道架構(gòu)相比普通的基于主機(jī)的源測量方案降低了50%的成本。通過其測試腳本處理器(TSP)和TSP-Link互連通信總線，測試工程師可利用2636和2635快速構(gòu)建用于技術(shù)研究、特征分析、圓片分揀、可靠性測試、生產(chǎn)監(jiān)測等多種測試應(yīng)用場合的高速測試系統(tǒng)。

　　2635和2636能夠?qū)崿F(xiàn)從飛安和微伏量級到200V/1.5A范圍的高效費(fèi)比直流和脈沖測試。它們可以配合PC機(jī)或獨(dú)立工作，測試速度比普通基于主機(jī)的源測量方案快四倍。此外，每種儀器內(nèi)置一個(gè)類似于PC的微處理器，支持各種簡單或復(fù)雜的測試程序(腳本)的編程與獨(dú)立執(zhí)行，包括提供信號源、測量、測試序列流程控制以及帶條件程序分支的判斷操作等。2635和2636極易與其他儀器集成構(gòu)成自動(dòng)測試系統(tǒng)，因此對于從事圓片級測試和封裝器件測試工作的元件制造商和半導(dǎo)體廠商都極具吸引力。同時(shí)，對于需要快速、方便地進(jìn)行器件與材料I-V特征分析的各領(lǐng)域研究人員和學(xué)者而言，其低成本優(yōu)勢十分誘人。

　　最廉價(jià)的易擴(kuò)展性

　　對于較小和中等引腳個(gè)數(shù)的器件，或者多器件和材料樣本的測試，2635和2636能夠大大降低用戶的測試成本。它們將五種精密測量儀器的功能集于一身：SMU(源測量單元)、DMM(數(shù)字萬用表)、偏壓源、低頻脈沖發(fā)生器和任意波形發(fā)生器。所有功能都受控于TSP，從而支持在儀器內(nèi)下載與執(zhí)行完全可編程的測試序列。這在增大測試產(chǎn)能的同時(shí)降低了通信與PC開銷，完全具備滿足不同測試環(huán)境需求的控制靈活性。

　　除了支持TSP功能外，吉時(shí)利的TSP-Link主/從連接功能還提供了一種高速、低延遲的接口，以便和其他基于TSP的儀器相互連接，實(shí)現(xiàn)簡單的單臺和多臺儀器軟件控制架構(gòu)。2600系列測試系統(tǒng)一個(gè)主要優(yōu)勢在于能夠根據(jù)當(dāng)前和今后的測試需求為用戶提供方便的可擴(kuò)展性。在無需主機(jī)的情況下，多個(gè)單通道(2635)單元和雙通道(2636)單元實(shí)現(xiàn)無縫集成。該種無需主機(jī)的擴(kuò)展性能夠?qū)崿F(xiàn)每GPIB地址32個(gè)通道的系統(tǒng)規(guī)模，同時(shí)將新增通道所需的成本、機(jī)架空間和時(shí)間降至最低限度。通過選用2600系列產(chǎn)品，用戶可以利用兩到三個(gè)經(jīng)過標(biāo)準(zhǔn)校驗(yàn)的SMU模型對多種應(yīng)用領(lǐng)域的10A脈沖或者3A直流電流進(jìn)行測試。用戶只需修改SMU執(zhí)行的測試腳本，就可重新定位SMU功能。

　　更短的測試時(shí)間

　　吉時(shí)利所有基于TSP功能的系統(tǒng)皆能存儲(chǔ)并執(zhí)行大量預(yù)定義的器件測試腳本，包括界限比較、PASS/FAIL判斷、元件分揀等。無論是否有PC機(jī)的配合，都能夠獨(dú)立完成測試工作。此外，其數(shù)字I/O端口可以直接控制探測器、機(jī)械手和其他儀器，而TSP-Link功能還允許用戶在多個(gè)通道和儀器上執(zhí)行高速的自動(dòng)化測試操作并避免GPIB通信開銷。相比早期的定序式測試儀，測試時(shí)間減少了10倍，在元件測試方面的測試時(shí)間通常都降低了2到4倍。

　　2635和2636與吉時(shí)利新推出的3700系列系統(tǒng)開關(guān)/萬用表(也具有TSP和TSP-Link功能)結(jié)合使用時(shí)，能支持范圍更廣的高速應(yīng)用。同時(shí)，這兩個(gè)產(chǎn)品系列提供了基本的功能模塊，能夠?qū)崿F(xiàn)緊密集成的高性能開關(guān)和多通道I-V測量系統(tǒng)。測試工程師使用這些產(chǎn)品可非常方便地構(gòu)建出針對高產(chǎn)能測試優(yōu)化的低成本ATE系統(tǒng)，例如半導(dǎo)體強(qiáng)度測試和封裝器件的功能測試。

　　輕松的系統(tǒng)開發(fā)

　　歷史上，為初級研發(fā)和高速產(chǎn)品測試工作而開發(fā)多儀器特征分析系統(tǒng)或ATE系統(tǒng)曾是一大挑戰(zhàn)。吉時(shí)利通過兩個(gè)免費(fèi)的軟件工具解決了這一問題，大大簡化了2600系列數(shù)字源表的系統(tǒng)集成。對于研發(fā)和曲線繪圖等應(yīng)用，吉時(shí)利LabTracer 2.0軟件能夠控制多達(dá)8個(gè)數(shù)字源表通道，無論編程與否皆能執(zhí)行器件特征分析操作。利用這種軟件，用戶可非常方便、輕松地配置每個(gè)通道，測試器件參數(shù)，繪制測試數(shù)據(jù)曲線。

　　對于高速生產(chǎn)測試的應(yīng)用場合，用戶可使用一種簡單的類似于BASIC風(fēng)格的編程語言對測試腳本處理器進(jìn)行編程，所編寫的腳本能在儀器上實(shí)時(shí)運(yùn)行。其直觀而易于使用的界面兼容所有流行的編程語言。吉時(shí)利為信號掃描、脈沖發(fā)生、波形生成和常見的元件測試提供內(nèi)嵌測試腳本。測試儀器中包含大量測試腳本，其他一些腳本可從吉時(shí)利官方網(wǎng)站http://www.keithley.com/上免費(fèi)下載。為用戶預(yù)先編寫的測試腳本可直接使用，或經(jīng)由用戶裁剪后使用，從而幫助生產(chǎn)用戶有效提高測試系統(tǒng)的執(zhí)行速度。

　　用戶還可通過其他方式開發(fā)自定義的測試腳本，包括Test Script Builder的免費(fèi)編程工具，用戶能使用它提供的簡單命令語言創(chuàng)建、修改、調(diào)試和保存TSP腳本。用戶腳本能從PC機(jī)上下載到主數(shù)字源表中，存儲(chǔ)在它的非易失性存儲(chǔ)器內(nèi)。該存儲(chǔ)器具有16MB容量，可存儲(chǔ)50000行TSP代碼和100000個(gè)讀數(shù)。研究表明，利用TSP及其相關(guān)軟件，相比前幾代定序式測試儀器，用戶的系統(tǒng)開發(fā)時(shí)間降低了50%到75%。

　　吉時(shí)利2600系列儀器的優(yōu)勢還體現(xiàn)在由其ACS(自動(dòng)特征分析套件)驅(qū)動(dòng)的總控集成測試系統(tǒng)上。2600系列儀器支持?jǐn)?shù)量可擴(kuò)展的源-測量通道以及各種半導(dǎo)體應(yīng)用的高速測試，包括圓片級可靠性分析、圓片上參數(shù)化管芯分揀和自動(dòng)化特征分析。例如，需要極高測量速度的測量任務(wù)(例如動(dòng)態(tài)NBTI)可以順序執(zhí)行，或者與器件級、圓片級或圓片盒一級的測試規(guī)劃并行執(zhí)行。ACS所特有的靈活性以及用戶友好性實(shí)現(xiàn)了系統(tǒng)儀器的完全控制，提供了強(qiáng)大的圓片描述工具，支持半自動(dòng)和全自動(dòng)的探測器控制功能，提高了測試過程的自動(dòng)化，并對測試結(jié)果進(jìn)行深入分析。ACS利用2600系列的靈活性，為用戶提供了吉時(shí)利所獨(dú)有的自動(dòng)測試系統(tǒng)。