在高速串行測試時,對測試所需示波器有什么樣的要求?哪幾個指標(biāo)是最關(guān)鍵的?
2012-03-09 14:46:255859 本文介紹如何利用先進(jìn)的測試平臺來對ADSL芯片的某些關(guān)鍵參數(shù)進(jìn)行測試,從而使半導(dǎo)體制造商能夠降低ADSL器件的測試成本。
2011-11-21 17:49:281805 可測性設(shè)計是在滿足芯片正常功能的基礎(chǔ)上,通過有效地加入測試電路,來降低芯片的測試難度,降低測試成本。
2021-03-07 10:45:212733 測試點(diǎn)/測試插座/測試插針
2023-03-30 17:34:49
、數(shù)碼相機(jī)、電子相冊(電子相框)、各類SENSOR及攝像模組、指紋識別、超級通訊終端、服務(wù)器、路由器、網(wǎng)卡、無線上網(wǎng)卡、DVD、DVB、LCD主芯片、ADSL、投影儀、內(nèi)存條等主控芯片及各類模塊測試架
2009-12-05 16:53:53
FT測試,英文全稱Final Test,是芯片出廠前的最后一道攔截。測試對象是針對封裝好的chip,對封裝好了的每一個chip進(jìn)行測試,是為了把壞的chip挑出來,檢驗(yàn)的是封裝的良率。
FT測試
2023-08-01 15:34:26
IC芯片測試我公司的主要經(jīng)營項(xiàng)目主要分為四大塊:BGA測試夾具、、BGA返修(BGA測試/測試/貼裝)、O/S測試。 , BGA測試夾具:我們的產(chǎn)品使用壽命
2009-12-05 16:33:50
IC芯片測試我公司的主要經(jīng)營項(xiàng)目主要分為四大塊:BGA測試夾具、、BGA返修(BGA測試/測試/貼裝)、O/S測試。 , BGA測試夾具:我們的產(chǎn)品使用壽命
2009-12-05 16:34:54
IC芯片測試我公司的主要經(jīng)營項(xiàng)目主要分為四大塊:BGA測試夾具、、BGA返修(BGA測試/測試/貼裝)、O/S測試。 , BGA測試夾具:我們的產(chǎn)品使用壽命
2009-12-05 16:36:58
IC芯片測試我公司的主要經(jīng)營項(xiàng)目主要分為四大塊:BGA測試夾具、、BGA返修(BGA測試/測試/貼裝)、O/S測試。 , BGA測試夾具:我們的產(chǎn)品使用壽命
2009-12-05 16:51:45
使用壽命長、測試精度高。我們已經(jīng)做過的測試夾具的種類有:手機(jī)基帶芯片(電源、CUP、字庫)、手機(jī)射頻芯片(幀頻、功放)、手機(jī)藍(lán)牙芯片;電腦南北橋、顯卡、MP3、MP4、GPS導(dǎo)航儀、藍(lán)牙IC、光纖通訊卡
2009-12-05 16:40:27
IDS測試目的及指標(biāo)是什么IDS測試環(huán)境有哪幾種?怎么搭建軟件平臺進(jìn)行IDS測試?
2021-04-09 06:01:30
;另一種方法是測試和分選由兩臺機(jī)器完成,測試設(shè)備記錄下每個芯片的位置和參數(shù),然后把這些數(shù)據(jù)傳遞到分選設(shè)備上,進(jìn)行快速分選、這樣做的優(yōu)點(diǎn)是快速,但缺點(diǎn)是可***性比較低,容易出錯,因?yàn)樵?b class="flag-6" style="color: red">測試與分選兩個步驟
2018-08-24 09:47:12
本文硬件平臺以飛凌嵌入式OK3399-C開發(fā)板為基礎(chǔ)進(jìn)行講解,其它RK3399產(chǎn)品,由于各個廠家設(shè)置不同會有所差異,請參考使用。本文詳細(xì)介紹了OK3399-C平臺平臺多媒體測試。
2021-01-07 06:58:16
,多則上千個用戶會同時發(fā)生阻斷;如果是多局制的中繼線纜出現(xiàn)障礙,會使兩個局的全體用戶都不能相互通信。因此,無論是ADSL業(yè)務(wù)還是市話業(yè)務(wù)的開通,還是正常的運(yùn)營維護(hù),都需進(jìn)行一系列的測試工作,而自動化
2019-08-26 06:25:25
的輔助。 測試是為了以下三個目標(biāo)。第一,在晶圓送到封裝工廠之前,鑒別出合格的芯片。第二,器件/電路的電性參數(shù)進(jìn)行特性評估。工程師們需要監(jiān)測參數(shù)的分布狀態(tài)來保持工藝的質(zhì)量水平。第三,芯片的合格品與不良品
2011-12-01 13:54:00
內(nèi)存芯片測試軟件是一個可以電腦內(nèi)存診斷程序,而且容易操作可以找出所有可能的內(nèi)存問題。制作出一張可以開機(jī)的磁片。只要用這張磁片重新開機(jī)之后,就可以開始進(jìn)行測試了。有各種先進(jìn)的內(nèi)存測試機(jī)制。
2009-10-27 09:25:35
輪軌間的作用力直接影響著車輛脫軌系數(shù)等參數(shù)的計算。應(yīng)變力測試系統(tǒng)是設(shè)計列車運(yùn)行狀態(tài)地面安全監(jiān)測平臺的關(guān)鍵環(huán)節(jié),本文用DSP芯片開發(fā)的測試系統(tǒng)正是針對這一需要
2013-01-28 15:32:49
設(shè)計的性能指標(biāo)要求及是否滿足使用要求,同時可以根據(jù)測試結(jié)果確定傳感器的特性曲線和性能,進(jìn)而對器件進(jìn)行補(bǔ)償,從而提高器件的精度。以柔性測試技術(shù)理念開發(fā)一套傳感器測試平臺,能夠?qū)Χ喾N傾角傳感器進(jìn)行標(biāo)定與檢測
2018-11-13 16:22:11
如何利用先進(jìn)模擬與電源管理設(shè)計滿足ADSL系統(tǒng)設(shè)計目標(biāo)?
2021-05-26 06:53:35
如何對EEPROM芯片的讀寫速度進(jìn)行測試呢?如何對EEPROM芯片的全片有效性進(jìn)行測試呢?
2022-02-24 07:53:45
如何對OK3399-C平臺多媒體進(jìn)行測試呢?有哪些測試步驟?
2022-03-08 09:47:29
SWM32SRET6芯片有哪些特點(diǎn)呢?如何對SWM32SRET6芯片進(jìn)行測試呢?
2021-12-21 06:27:20
數(shù)字預(yù)失真平臺系統(tǒng)模型是怎樣構(gòu)成的?如何對數(shù)字預(yù)失真平臺系統(tǒng)進(jìn)行仿真測試?
2021-04-21 07:23:32
能識別圖形界面上的關(guān)鍵信息,比如界面上的文字,數(shù)值,圖標(biāo)等。小螞蟻測試(AnTestin)平臺支持對人機(jī)接口的屏幕顯示進(jìn)行自動化檢測,代替人的眼睛觀察,可以識別界面上的關(guān)鍵信息,結(jié)合其他操作(比如
2020-03-06 19:57:07
本文設(shè)計了一個用于串行總線芯片測試的實(shí)驗(yàn)平臺?
2021-05-27 06:24:48
和微波開關(guān)測試系統(tǒng)中的關(guān)鍵問題,包括不同的開關(guān)種類,RF開關(guān)卡規(guī)格,和有助于測試工程師提高測試吞吐量并降低測試成本的RF開關(guān)設(shè)計中需要考慮的問題。
2019-07-10 08:02:09
對于RTL設(shè)計而言,仿真驗(yàn)證是上板前必不可少的一環(huán)。當(dāng)我們的代碼基于SpinalHDL進(jìn)行設(shè)計時,自然也想通過基于scala來進(jìn)行測試驗(yàn)證。測試平臺該有的樣子對于仿真驗(yàn)證而言,簡單的仿真對比驗(yàn)證我們
2022-07-20 14:38:07
本文針對LCD的調(diào)試環(huán)境設(shè)計一個基于C8051F130的TFT_LCD測試平臺。
2021-06-03 06:25:10
本文介紹一種運(yùn)用時域脈沖回波原理測量ADSL 線纜故障點(diǎn)位置的測試儀,只需單人操作,一鍵測試,小巧輕便,上手即會運(yùn)用。
2021-05-13 07:02:19
身體參數(shù)測試系統(tǒng)的硬件部分是由哪些部分組成的呢?怎樣去設(shè)計一種基于云平臺+APP+設(shè)備端的身體參數(shù)測試系統(tǒng)呢?
2021-11-11 09:14:50
摘要:本文在介紹數(shù)字電視基本概念和背景的前提下,介紹了數(shù)字電視測試的主要參數(shù)和主要儀器,并介紹數(shù)字電視測試行業(yè)的發(fā)展?fàn)顩r。 關(guān)鍵詞:數(shù)字電視測試、傳輸碼流、信號源
2019-07-23 07:24:14
需要進(jìn)行優(yōu)化、測試和控制。這涉及整個產(chǎn)品生命周期,從早期的概念創(chuàng)建階段到生產(chǎn)和售后服務(wù),直到車輛使用壽命結(jié)束,確保關(guān)鍵系統(tǒng)即使在車輛使用多年之后仍能正常工作。”在汽車無線連接技術(shù)中,最關(guān)鍵的技術(shù)之一
2019-06-19 04:20:55
求一種測試平臺上的阻抗測試方案
2021-05-06 09:13:47
如題,求移動電源的測試參數(shù)及測試方法
2016-05-16 14:35:44
需要進(jìn)行優(yōu)化、測試和控制。這涉及整個產(chǎn)品生命周期,從早期的概念創(chuàng)建階段到生產(chǎn)和售后服務(wù),直到車輛使用壽命結(jié)束,確保關(guān)鍵系統(tǒng)即使在車輛使用多年之后仍能正常工作。”在汽車無線連接技術(shù)中,最關(guān)鍵的技術(shù)之一
2018-07-26 11:17:00
目前需要對一款電源芯片進(jìn)行功能性能測試,主要從哪方面入手呢?
2016-10-19 18:40:18
為什么要設(shè)計一款新型的ADSL2+測試儀?ADSL2+測試儀硬件系統(tǒng)結(jié)構(gòu)是由哪些部分組成?ADSL2+測試儀軟件系統(tǒng)結(jié)構(gòu)是由哪些部分組成?怎樣去設(shè)計一款新型的ADSL2+測試儀?
2021-04-15 06:23:02
數(shù)據(jù)1,以棋盤格方式進(jìn)行全空間讀寫測試。另外,針對MRAM的關(guān)鍵時序參數(shù),如TAVQV(地址有效到數(shù)據(jù)有效的時間)、TELQV(片選使能到數(shù)據(jù)有效的時間)、TGLQV(輸出使能到輸出數(shù)據(jù)有效的時間)等,使用測試系統(tǒng)為器件施加適當(dāng)?shù)目刂萍睿瓿蒑RAM的時序配合,從而達(dá)到器件性能的測試要求。
2019-07-23 07:25:23
基于對IC 測試接口原理和系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的闡釋,具體針對型號為SL431L 的電源芯片,提出改進(jìn)測試電路的方法,電壓測試值的波動范圍小于3mV。關(guān)鍵詞:測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu),測試接口,芯片
2009-12-19 15:10:3333 摘要:本文通過對一款系統(tǒng)芯片(System on Chip SoC)——“成電之芯”的功能測試平臺的搭建,介紹了一種實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)芯片功能測試的方法。關(guān)鍵詞:系統(tǒng)芯片;雷達(dá)信號處理電路;
2009-12-21 09:59:4420 本文提出了一套基于ARM9處理器與Windows CE操作系統(tǒng)的通用型ADSL2+測試儀表解決方案。在分析儀表產(chǎn)品現(xiàn)狀的基礎(chǔ)上,闡述了主要設(shè)計思想,并詳細(xì)介紹了系統(tǒng)的硬件和軟件設(shè)計方案。
2010-07-26 17:49:3122 介紹一種基于時域脈沖回波(TDR)原理的ADSL線纜斷點(diǎn)測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)設(shè)計以STC單片機(jī)為控制核心,以FPGA為測試主體發(fā)射接收脈沖,采集脈沖往返線纜時間,實(shí)現(xiàn)ADSL線纜斷
2010-12-28 10:41:3157 摘 要: IPM測試需要測試多個參數(shù),這些不同的參數(shù)需要不同的測試平臺。本文通過對各種不同參數(shù)的測試方法進(jìn)行研究,設(shè)計并實(shí)現(xiàn)了自動測試平臺。問題的提出火車
2006-03-11 13:45:29744 數(shù)字測試儀下的參數(shù)測試單元的設(shè)計
隨著電子技術(shù)的迅速發(fā)展,數(shù)字集成電路得到了廣泛的應(yīng)用,數(shù)字芯片已經(jīng)滲透到各個生產(chǎn)、生活的領(lǐng)域。與
2009-05-12 11:29:23577 ADSL業(yè)務(wù)的用戶線測試及測試儀表選擇
ADSL業(yè)務(wù)利用現(xiàn)有的銅線資源實(shí)現(xiàn)高速數(shù)據(jù)、語音和圖像的傳輸,增強(qiáng)了傳統(tǒng)運(yùn)營商在數(shù)據(jù)接入方面的優(yōu)勢,但
2009-08-20 00:16:34764 ADSL收發(fā)器片上系統(tǒng)芯片的設(shè)計與實(shí)現(xiàn)
非對稱數(shù)字用戶環(huán)路(ADSL)是目前寬帶接入網(wǎng)技術(shù)中最具有前景及競爭力的一種[1]。雖然歐美一些先進(jìn)國家在ADSL示范網(wǎng)上取得了
2010-01-26 10:48:541044 ADSL2/ADSL2,ADSL2/ADSL2是什么意思
ADSL2 和ADSL2+:新的標(biāo)準(zhǔn) 2002年7月,ITU公布了ADSL的兩個新標(biāo)準(zhǔn)(G.992.3和G.992.4),也就是所謂的ADS
2010-04-06 09:20:482646 先進(jìn)的測試儀表能提供對射頻微波,中頻電路,數(shù)字電路等關(guān)鍵電路的獨(dú)立測試平臺。Agilent能提供業(yè)內(nèi)最完整的測試解決方案。測試儀表能提供與被測件匹配的物理接口和測試功能。
2011-04-06 12:36:2735 介紹了一種以單片機(jī)和FPGA為核心的 ADSL 線纜測試儀。通過采用嵌入式計算機(jī)技術(shù),硬件電路模塊化設(shè)計技術(shù),方便了測量通道的擴(kuò)展,實(shí)現(xiàn)了ADSL線纜的導(dǎo)通,絕緣,電壓,電容測試。
2011-09-01 11:35:031343 有測試儀表多為國外品牌且價格昂貴,國內(nèi)產(chǎn)品普遍存在測試頻段有限,測試結(jié)果片面的問題;而且由于核心芯片處理能力有限,嵌入式操作系統(tǒng)不先進(jìn),軟件包功能不夠完善,對測試
2012-05-10 16:32:17772 本文結(jié)合ADC的靜態(tài)和動態(tài)測試原理,給出了基于測試系統(tǒng)的ADC靜態(tài)參數(shù)和動態(tài)參數(shù)測試的一般過程,并對此過程測試環(huán)境進(jìn)行了較為詳細(xì)的分析。從而用國產(chǎn)的自動測試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了ADC的低成本、高可靠性的計算機(jī)輔助測試。
2017-11-06 13:06:2619549 進(jìn)行測試的設(shè)備,主要用于IC晶圓的測試,以便驗(yàn)證芯片的性能參數(shù)是否符合規(guī)范要求。 1模擬IC自動測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu) 模擬IC自動測試系統(tǒng)主要包括PC、PCI通信板、控制板、母板、TMU板、OVC板、AWG板、DIG板和DUT板組成,系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖如圖1所示。 圖1 模擬IC自動測試系統(tǒng)框圖 1.
2017-11-15 16:27:5215 特性,嚴(yán)重制約了其推廣應(yīng)用。從壓接式IGBT的封裝結(jié)構(gòu)和電氣特性出發(fā),基于雙脈沖測試原理,設(shè)計并搭建壓接式IGBT模塊的動態(tài)開關(guān)特性測試平臺。采用Ansoft Q3D軟件對測試平臺的雜散參數(shù)進(jìn)行仿真,分析雜散參數(shù)的分布特征、影響與提取方法,
2017-12-26 14:16:013 計,不利于高頻信號傳輸,線路周邊環(huán)境惡劣且復(fù)雜多變,無論ADSL業(yè)務(wù)的開通還是正常的運(yùn)營維護(hù),都需進(jìn)行一系列復(fù)雜的測試工作。 現(xiàn)有測試儀表多為國外品牌且價格昂貴,國內(nèi)產(chǎn)品普遍存在測試頻段有限,測試結(jié)果片面的問題;而且由于核
2018-01-17 20:01:46151 示波器進(jìn)行抖動測試和分析,并且探討了示波器中影響抖動測試結(jié)果的幾個關(guān)鍵因素。最后針對高精度抖動測試提供了參考方法和測試實(shí)例。
2020-08-20 12:44:593388 ? 集成電路產(chǎn)品EMC測試系統(tǒng)是嚴(yán)格按照IEC 61967和IEC 62132系列進(jìn)行設(shè)計,整套系統(tǒng)的功能和性能不僅能夠滿足上述兩大類標(biāo)準(zhǔn)要求的測試項(xiàng)目。而且在系統(tǒng)的關(guān)鍵技術(shù)具有創(chuàng)新性、實(shí)踐可行性
2020-12-28 10:41:573715 晶圓測試:接觸測試、功耗測試、輸入漏電測試、輸出電平測試、全面的功能測試、全面的動態(tài)參數(shù)測試、模擬信號參數(shù)測試。
2021-04-09 15:55:12102 集成電路芯片的測試(ICtest)分類包括:分為晶圓測試(wafertest)、芯片測試(chiptest)和封裝測試(packagetest)。
2021-07-14 14:31:239715 SierraNet M408協(xié)議測試系統(tǒng)。這是一套先進(jìn)、高性價比的10?Gbps?和40 Gbps?以太網(wǎng)協(xié)議分析平臺。
2022-04-06 17:31:12513 江蘇某生產(chǎn)電源的企業(yè)聯(lián)系到納米軟件Namisoft,了解到他們目前依然使用的是全人工模式進(jìn)行電源模塊參數(shù)的測試,經(jīng)常會因?yàn)槭謩佑涗洈?shù)據(jù)而導(dǎo)致的一些數(shù)據(jù)出錯,測試的效率也是非常低。通過網(wǎng)絡(luò)了解
2022-04-25 14:01:322125 封裝測試是將生產(chǎn)出來的合格晶圓進(jìn)行切割、焊線、塑封,使芯片電路與外部器件實(shí)現(xiàn)電氣連接,并為芯片提供機(jī)械物理保護(hù),并利用集成電路設(shè)計企業(yè)提供的測試工具,對封裝完畢的芯片進(jìn)行功能和性能測試。
2022-08-08 15:32:466988 從工序角度上看,似乎非常容易區(qū)分cp測試和ft測試,沒有必要再做區(qū)分,而且有人會問,封裝前已經(jīng)做過測試把壞的芯片篩選出來了,封裝后為什么還要進(jìn)行一次測試呢?難道是封裝完成度不高影響了芯片的動能嗎?不是的,因?yàn)閺?b class="flag-6" style="color: red">測試內(nèi)容上看,cp測試和ft測試有著非常明顯的不同。
2022-08-09 17:29:135715 器件的I-V功能測試和特征分析是實(shí)驗(yàn)過程中經(jīng)常需要測試的參數(shù)之一,一般我們用到源表進(jìn)行IV參數(shù)的測試,如果需要對測試的數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時IV曲線圖顯示及保存,可以用到源表測試軟件
2023-02-02 10:50:591313 在開始芯片測試流程之前應(yīng)先充分了解芯片的工作原理。要熟悉它的內(nèi)部電路,主要參數(shù)指標(biāo),各個引出線的作用及其正常電壓。芯片很敏感,所以測試的時候要注意不要引起引腳之間的短路,任何一瞬間的短路都能被捕
2023-04-25 15:13:122066 芯片從設(shè)計到成品有幾個重要環(huán)節(jié),分別是設(shè)計->流片->封裝->測試,但芯片成本構(gòu)成的比例確大不相同,一般為人力成本20%,流片40%,封裝35%,測試5%。測試是芯片各個環(huán)節(jié)中最
2023-05-22 08:58:331849 芯片自動化測試系統(tǒng)平臺,并探討其在國產(chǎn)芯片研發(fā)中的應(yīng)用和前景。 ATECLOUD是一款由中國自主研發(fā)的自動化測試系統(tǒng)平臺,旨在為CPU芯片的研發(fā)和生產(chǎn)提供高效、準(zhǔn)確的測試解決方案。該平臺采用了先進(jìn)的軟件和硬件技術(shù),可以實(shí)現(xiàn)對CPU芯片的全面測試,
2023-05-30 16:02:03856 量控制并不太重視。IC芯片產(chǎn)業(yè)鏈從上游到下游是設(shè)計、帶出、制造、封裝和測試。目前市場上基本上集中在芯片設(shè)計、流片、制造三個環(huán)節(jié),對芯片測試環(huán)節(jié)并不重視,甚至把測試和封裝一起稱為封裝測試。那么IC芯片測試有什么作用。為什么要做IC芯片測試。下面跟安瑪科技小編一起來看看吧。
2023-06-05 17:43:36749 之間,是針對整片晶圓中的每一個Die做測試,具體操作是在晶圓制作完成之后,成千上萬的裸DIE(未封裝的芯片)規(guī)則的分布滿整個Wafer。由于尚未進(jìn)行劃片封裝,只需要將這些裸露在外的芯片管腳,通過探針與測試機(jī)臺連接,進(jìn)行芯片測試就是CP測試。 二、為什么要做CP測試
2023-06-10 15:51:493373 writer ) 進(jìn)行區(qū)分,前者負(fù)責(zé)測試平臺的構(gòu)建和配置,后者可能對測試平臺的底層了解較少,但用它來創(chuàng)建測試用例。 基于驗(yàn)證組件創(chuàng)建測試平臺的步驟是:? Review可重用的驗(yàn)證組件配置參數(shù)。? 實(shí)例化和配置驗(yàn)證組件。? 為接口驗(yàn)證組件創(chuàng)建可重用的sequences(可選)。? 添加一
2023-06-13 09:14:23326 公司需要主導(dǎo)的環(huán)節(jié)主要是芯片設(shè)計和測試,其余的環(huán)節(jié)都可以由相應(yīng)的partner來主導(dǎo)或者完成。圖(1)2測試如何體現(xiàn)在設(shè)計的過程中下圖表示的是設(shè)計公司在進(jìn)行一個新的
2022-03-30 11:19:213817 TPT中的測試用例用信號特征和函數(shù)調(diào)用描述被測系統(tǒng)的刺激。您可以用連續(xù)的測試步驟對簡單的測試進(jìn)行建模。對于更復(fù)雜的測試用例,TPT提供了混合狀態(tài)機(jī)和測試步驟的圖形化建模。無論應(yīng)用哪種方法,由于使用了
2022-11-25 11:15:50608 DCTEST什么是芯片直流特性測試?芯片測試中的直流(DC)特性測試是指通過測量芯片的直流電特性參數(shù)(例如電流、電壓、電阻)來驗(yàn)證芯片電學(xué)性能是否符合設(shè)計要求的過程。這些測試通常包括以下方面:電源
2023-05-16 09:54:431569 在芯片測試中,分類和選擇是關(guān)鍵的步驟,以確保芯片的質(zhì)量和可靠性。根據(jù)不同的測試目標(biāo)和要求,可以采用不同的分類方法和選擇策略。
2023-06-30 13:50:22478 在IC芯片測試中,芯片測試座起著至關(guān)重要的作用。它是連接芯片和測試設(shè)備的關(guān)鍵橋梁,為芯片提供測試所需的電流和信號。
2023-07-25 14:02:50632 芯片封裝測試有技術(shù)含量嗎?封裝測試是干嘛的?? 芯片封裝測試是指針對生產(chǎn)出來的芯片進(jìn)行封裝,并且對封裝出來的芯片進(jìn)行各種類型的測試。封裝測試是芯片生產(chǎn)過程中非常關(guān)鍵的一環(huán),而且也需要高度的技術(shù)含量
2023-08-24 10:41:572321 芯片測試大講堂系列 又和大家見面了 本期我們來聊聊 半導(dǎo)體參數(shù)測試 內(nèi)容涉及半導(dǎo)體參數(shù)測試原理, 參數(shù)測試面臨的挑戰(zhàn)與實(shí)測避坑指南。 前言 ● 半導(dǎo)體元器件是構(gòu)成現(xiàn)代電子設(shè)備和系統(tǒng)的基礎(chǔ),其性能
2023-09-13 07:45:021210 進(jìn)行各種測試成為可能。測試座確保了測試的準(zhǔn)確性和一致性,它可以測試芯片的功能、性能、耐久性和其他參數(shù)。一、芯片測試座的主要組成和類型組成:連接器:負(fù)責(zé)將測試座與測
2023-10-07 09:29:44811 軟件即可完成靜態(tài)功耗的測量,不同參數(shù)的配置與儀器操作完全由軟件完成,無需人工修改參數(shù)與讀取記錄數(shù)據(jù),可以一次對多個芯片進(jìn)行同時測量。
2023-10-08 15:30:25492 電學(xué)測試是芯片測試的一個重要環(huán)節(jié),用來描述和評估芯片的電性能、穩(wěn)定性和可靠性。芯片電學(xué)測試包括直流參數(shù)測試、交流參數(shù)測試和高速數(shù)字信號性能測試等。
2023-10-26 15:34:14629 開關(guān)器件,常用于控制高電壓和高電流的電力電子設(shè)備中。IGBT短路測試是在IGBT生產(chǎn)和維修過程中常用的一項(xiàng)關(guān)鍵測試,旨在檢測IGBT是否存在電路短路故障。 IGBT短路測試平臺是一種用于進(jìn)行IGBT
2023-11-09 09:18:291042 芯片電學(xué)測試如何進(jìn)行?包含哪些測試內(nèi)容? 芯片電學(xué)測試是對芯片的電學(xué)性能進(jìn)行測試和評估的過程。它是保證芯片質(zhì)量和可靠性的重要環(huán)節(jié),通過測試可以驗(yàn)證芯片的功能、性能和穩(wěn)定性,從而確保芯片可以在實(shí)際
2023-11-09 09:36:48676 芯片電源輸入電流怎么測試? 芯片電源輸入電流的測試是一項(xiàng)關(guān)鍵的工作,它能夠幫助我們了解電源系統(tǒng)的性能和穩(wěn)定性。在本文中,我們將詳細(xì)介紹如何進(jìn)行芯片電源輸入電流測試,并提供一些實(shí)用的技巧和建議。 首先
2023-11-09 09:42:29726 為什么要測試芯片上下電功能?芯片上電和下電功能測試的重要性? 芯片上下電功能測試是集成電路設(shè)計和制造過程中的一個重要環(huán)節(jié)。它是確保芯片在正常的上電和下電過程中能夠正確地執(zhí)行各種操作和功能的關(guān)鍵部分
2023-11-10 15:36:30591 電源芯片測試旨在檢測電源管理芯片的質(zhì)量和性能,保證其可以長期穩(wěn)定工作。電源芯片測試的參數(shù)主要有輸入/輸出電壓、輸出電流、效率、溫度、功耗等。本文將對電源芯片測試參數(shù)以及測試注意事項(xiàng)進(jìn)行介紹。
2023-11-15 15:39:11600 模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)是數(shù)字電子系統(tǒng)中重要組成部分,用于捕獲外部世界的模擬信號,將它們轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號0\1, 以供計算機(jī)進(jìn)行處理分析。德思特提供完整的ADC測試解決方案,能夠測試8-24位的ADC芯片,功能測試涵蓋幾乎所有典型的性能參數(shù)測試。
2023-11-20 13:25:31235 智能網(wǎng)聯(lián)汽車虛擬仿真測試平臺主要用于智能網(wǎng)聯(lián)汽車自動駕駛功能的仿真測試。平臺內(nèi)置多個測試場景庫,嵌入先進(jìn)的自動駕駛算法,可在系統(tǒng)中進(jìn)行場景搭建、多種型號車輛的選擇、單個或多種傳感器配置等測試項(xiàng)目。
2023-11-20 17:22:21717 車規(guī)芯片為什么要進(jìn)行三溫測試? 車規(guī)芯片,也被稱為汽車惡劣環(huán)境芯片,是一種專門用于汽車電子系統(tǒng)的集成電路芯片。車規(guī)芯片需要進(jìn)行三溫測試,是因?yàn)槠嚬ぷ鳝h(huán)境極其復(fù)雜,溫度變化范圍廣,從極寒的寒冷地區(qū)
2023-11-21 16:10:482597 汽車功能安全芯片測試? 汽車功能安全芯片測試是保障汽車安全性能的重要環(huán)節(jié),也是汽車產(chǎn)業(yè)發(fā)展的關(guān)鍵部分。隨著汽車智能化技術(shù)的不斷進(jìn)步,車輛上搭載的各種智能功能也越來越多,這些功能倚賴于安全芯片來保障
2023-11-21 16:10:511066 作為芯片封測領(lǐng)域的領(lǐng)軍企業(yè),長電科技成功突破了5G毫米波芯片封裝模塊測試的一系列挑戰(zhàn),以其先進(jìn)的AiP天線封裝技術(shù)和專業(yè)的測試平臺實(shí)驗(yàn)室,為5G應(yīng)用和生態(tài)伙伴提供了創(chuàng)新性解決方案。
2024-01-22 10:37:23368
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