移動通信的不斷發(fā)展，對測試技術(shù)提出了非常高的要求，測試儀器和儀表在產(chǎn)業(yè)鏈各環(huán)節(jié)中是不可或缺的一環(huán)，沒有這一環(huán)，技術(shù)和業(yè)務(wù)都無法正常開展。LTE即將在中國規(guī)模商用，在這一進(jìn)程中，構(gòu)建完善的LTE產(chǎn)業(yè)鏈至關(guān)重要。LTE測試是整條產(chǎn)業(yè)鏈中重要的一環(huán)。

　　據(jù)（艾斯）Frost & Sullivan的研究報告顯示，全球LTE測試設(shè)備市場到2018年將增至28.456億美元。研究指出，多種類型的測試設(shè)備和應(yīng)用技術(shù)，如研究和開發(fā)、制造、安裝、維護(hù)和監(jiān)控等，將推動整體LTE測試設(shè)備市場的增長。高帶寬應(yīng)用和服務(wù)的使用增加將為無線測試設(shè)備供應(yīng)商創(chuàng)造無數(shù)機會。

　　當(dāng)前，LTE產(chǎn)業(yè)的推進(jìn)主要聚焦在幾個環(huán)節(jié)上，而測試測量領(lǐng)域是其中非常重要的一環(huán)。NI射頻與無線通信產(chǎn)品市場開發(fā)經(jīng)理姚遠(yuǎn)先生日前接受了電子發(fā)燒友專訪，就LTE測試發(fā)表了獨到見解。
?

　　圖：NI射頻與無線通信產(chǎn)品市場開發(fā)經(jīng)理姚遠(yuǎn)先生

　　NI：打破常規(guī) 積極布局

　　4G時代正式來臨，NI非常看好中國LTE測試市場，4年前就開始積極布局，并有針對性的推出“打破常規(guī)”的解決方案。

　　NI射頻與無線通信產(chǎn)品市場開發(fā)經(jīng)理姚遠(yuǎn)先生表示：NI對4G/LTE在中國未來幾年的市場前景還是比較樂觀的。作為全球的手機制造基地，中國的手機廠商非常關(guān)注快速、高質(zhì)量、高性價比的測試方案，滿足大規(guī)模的手機終端生產(chǎn)需要。另一方面，相比于傳統(tǒng)電子產(chǎn)品行業(yè)，移動終端，特別是智能手機的出貨量受市場波動很大，當(dāng)一款手機受到消費者青睞，其出乎量可能出現(xiàn)脈沖式的增長，風(fēng)頭過后，出乎量可能又會迅速萎縮，這就更需要一種靈活而兼具成本效益的測試系統(tǒng)解決方案。面對這樣的市場現(xiàn)狀，NI提出的基于PXI平臺的無線測試平臺提供了一種“打破常規(guī)”的解決思路。一方面，在PXI平臺上，我們可以更快享受到商業(yè)現(xiàn)成可用技術(shù)所帶來的成本優(yōu)勢。另一方面，這種軟件定義的模塊化的解決方案具有極強的靈活性和可擴展性，可以很好的支持最新的通信標(biāo)準(zhǔn)。

　　姚遠(yuǎn)先生還表示，在LTE測試方面，早在2009年，NI就已經(jīng)開始利用PXI平臺針對LTE-FDD進(jìn)行相關(guān)實驗，在2010年12月5日LTE-FDD正式商用之前已經(jīng)推出相關(guān)測試方案。在2012年全球圖形化系統(tǒng)設(shè)計大會NIWeek和2013年世界移動通信大會（MWC2013）上，NI先后發(fā)布了兩款矢量信號收發(fā)儀（VST）NI PXIe-5644R和NI PXIe-5645R，它是全新的軟件完全自定義儀器，不僅具備快速的測量速度和小巧的生產(chǎn)測試儀器組成結(jié)構(gòu)，同時還擁有研發(fā)級箱型儀器的靈活性和高性能，可以全面支持LTE的相關(guān)測試。

　　以軟件為中心、全方位合作快速推出極具競爭力的測試方案

　　NI的無線通信測試方案，采用以軟件為中心的模塊化儀器構(gòu)架，基于現(xiàn)成可用的模塊化硬件設(shè)備，與相關(guān)廠商積極合作，快速開發(fā)出最合適的高性價比測試方案，贏得市場認(rèn)可。工程師可快速實現(xiàn)從研發(fā)驗證到生產(chǎn)測試的全方位一體化流程。

　　姚遠(yuǎn)先生表示，一個成熟的市場一定是一個充分競爭的市場。特別是由于TD-LTE的國產(chǎn)背景，在這個市場中，除了許多老牌國際測試廠商，還會有眾多國內(nèi)測試廠商參與其中。由于NI的測試方案是基于軟件定義的理念，我們特別看重和具有技術(shù)實力的國內(nèi)測試測量廠商以及研究所合作，為客戶提供極具性價比的方案。舉個例子，大家都知道在TD-LTE之前，國內(nèi)首先嘗試的是TD-SCDMA，這個標(biāo)準(zhǔn)雖然表現(xiàn)一般，但這確是中國走向標(biāo)準(zhǔn)制定者的第一步。在TD-SCDMA剛剛提出時，面臨的一個很重要的挑戰(zhàn)就是國際上大的測試測量廠商都沒有足夠重視這一塊的市場，所以相關(guān)的商業(yè)測試方案遲遲沒有出來，在一定程度上制約了這個標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)展。我們的聯(lián)盟合作伙伴，聚星儀器，在標(biāo)準(zhǔn)的制定階段，他們就已經(jīng)積極投入并參與到這個協(xié)議的測試方案之中。這正是得益于軟件定義，針對一些比較前期的標(biāo)準(zhǔn)可以找到頂尖的射頻測試工程師利用這個平臺，來針對協(xié)議測試進(jìn)行快速開發(fā)。

　　LTE測試難點解讀

　　新的標(biāo)準(zhǔn)也意味著新的挑戰(zhàn)，相比于3G移動通信標(biāo)準(zhǔn)，4G/LTE終端產(chǎn)品的測試項目要多出近百項。不僅無線制式在增加，終端支持的頻段也在增加。這對生產(chǎn)測試提出了更高的要求，測試項目和測試時間達(dá)以前的數(shù)倍。測試時間的增加意味著測試成本的提高，如何尋找快速有效的測試方法，則成為針對4G/LTE系統(tǒng)測試的一個重要挑戰(zhàn)。另一方面，隨著數(shù)據(jù)傳輸量的上升，測量的復(fù)雜性也隨之增加，4G/LTE信號的調(diào)制解調(diào)需要提高一個數(shù)量級的信號處理能力，這些都對于測試系統(tǒng)提出了新的要求。NI采用“非信令模式” （Non-signaling）由于無需建立信令呼叫，可以省去由于信令所需要的大量時間，因此大大提高了測試速度，使得測試時間可以加快50%以上，非常適用于快速、高效率的生產(chǎn)測試。

　　LTE的另一個很重要挑戰(zhàn)就是它的功耗很大。如果大家以后使用LTE手機，可能就會有所體會。NI為市場提供了LTE-TDD和LTE-FDD的測試方案，不止包括了通訊協(xié)議的測試，也可以進(jìn)行射頻功放（PA）的測試。

　　對于PA來說，它需要有一個確定的輸出功率。為了精確的校準(zhǔn)一個功放，在每個PA出廠之前，我們使用功率伺服定標(biāo)系統(tǒng)來進(jìn)行確定其最終的增益。這個定標(biāo)系統(tǒng)通過監(jiān)測并分析PA的輸出功率來及時調(diào)整輸入端的功率直到最終達(dá)到了理想值，這是一個非常耗時的過程。基于FPGA的VST是一個非常理想的進(jìn)行功率定標(biāo)的儀器，因為我們可以將分析的算法放在FPGA上，并且利用它的射頻輸入進(jìn)行快速調(diào)諧，從而可以加速整個校準(zhǔn)的過程。

　　測試技術(shù)是LTE發(fā)展產(chǎn)業(yè)鏈上十分關(guān)鍵的一環(huán)，面對LTE產(chǎn)業(yè)多模多頻的終端發(fā)展方向以及移動互聯(lián)網(wǎng)時代復(fù)雜的網(wǎng)絡(luò)環(huán)境，NI獨具優(yōu)勢的LTE測試方案可以快速靈活的應(yīng)對市場挑戰(zhàn)，幫助工程師們降低測試成本、提高產(chǎn)品市場競爭力，為整個LTE產(chǎn)業(yè)發(fā)展做好鋪墊。

　　姚遠(yuǎn)先生簡介：

　　姚遠(yuǎn)先生目前擔(dān)任美國國家儀器中國地區(qū)市場開發(fā)經(jīng)理，負(fù)責(zé)NI射頻與無線通信產(chǎn)品及方案在中國區(qū)重要行業(yè)的市場推廣與合作等工作。此前，姚遠(yuǎn)先生曾在NI公司擔(dān)任應(yīng)用工程師，系統(tǒng)工程師，技術(shù)市場工程師等職務(wù)，在測試測量與自動化領(lǐng)域具有多年的系統(tǒng)開發(fā)及行業(yè)經(jīng)驗。姚遠(yuǎn)先生畢業(yè)于上海交通大學(xué)，獲碩士學(xué)位。