掃描電子顯微鏡(SEM簡稱掃描電鏡)是一個集電子光學技術、真空技術、精細機械結構以及現代計算機控制技術于一體的復雜系統
2023-11-24 15:39:53353 。在電極材料測試方面也由以往的光學顯微鏡,發展到掃描電鏡,高分辨率場發射掃描電鏡,以及分辨率在1nm級的高分辨率透射電鏡。在掃描探針顯微術基礎上發展起來的電化學隧道掃描顯微鏡ECSTM使得電化學
2013-05-04 11:25:49
蘇試宜特實驗室通過掃描電鏡看試樣氧化層的厚度,直接掰開看斷面,這樣準確嗎?通過掃描電鏡看試樣氧化層的厚度,如果是玻璃或陶瓷這樣直接掰開看斷面是可以的;如果是金屬材料可能在切割時,樣品結構發生變化就不行了,所以要看是什么材料的氧化層。
2021-09-30 18:45:38
掃描式電子顯微鏡 (SEM)掃描式電子顯微鏡,又掃描電鏡(Scanning Electron Microscope, SEM)主要是利用微小聚焦的電子束(Electron Beam)進行樣品表面掃描
2018-08-31 15:53:31
`材料表面微結構觀察半導體芯片剖面觀察電壓對比EDS Mapping分析液態材料觀察IC線路逆向工程`
2019-08-02 17:25:35
新型的按鍵掃描程序
2016-11-02 10:58:42
掃描電子顯微鏡被廣泛用于納米技術、金屬、半導體、陶瓷、醫學和生物學等各種領域。此外,SEM的應用范圍正在不斷擴大,不僅涉及基礎研究,還涵蓋制造現場的質量控制。因此,對更快、更輕松地獲取SEM圖像
2021-11-09 17:45:04
掃描電子顯微鏡(SEM簡稱掃描電鏡)是一個集電子光學技術、真空技術、精細機械結構以及現代計算機控制技術于一體的復雜系統,常用于對固態物質的形貌顯微分析和對常規成分微小區域的精細分析。掃描電鏡憑借其
2019-06-28 11:13:30
的掃描電鏡觀察服務。金鑒實驗室蔡司場發射掃描電鏡可以提供:12×~1000,000×的放大倍數的觀察,還可提供顆粒尺寸、孔徑測量的測試服務。案例一:正極材料-SEM測試 磷酸鐵鋰 三元 案例二:負極
2017-07-07 10:22:27
如何去使用基于51單片機的新型按鍵掃描程序?基于51單片機的新型按鍵掃描程序有哪些應用?
2021-10-19 09:14:19
本帖最后由 淘淘發燒友 于 2019-7-26 16:57 編輯
影響掃描電鏡的分辨本領的主要因素有: 分辨率A. 入射電子束束斑直徑:為掃描電鏡分辨本領的極限。一般,熱陰極電子槍的最小束斑
2019-07-26 16:54:28
表面形貌分析方法主要是指利用掃描電鏡(SEM)對電弧侵蝕后的觸頭表面區域進行顯微結構觀測,得到侵蝕區域的表面形貌圖像。通過對觸頭接觸表面 SEM 的觀察,可獲得觸頭表面的凹陷與凸起、微粒的沉積或
2018-03-07 08:55:14
采取SEM和其他分析手段相結合的分析方法。如:杭州柘大飛秒檢測技術有限公司的科研人員采用的是SEM掃描電鏡/EDX成分分析。 杭州柘大飛秒檢測技術有限公司立足浙江大學國家大學科技園光與電技術開放實驗室
2017-12-06 09:45:42
,鍍層晶格形貌、內部缺陷一覽無遺。 FIB-SEM掃描電鏡下觀察支架鍍層截面形貌,鍍層界限明顯、結構及晶格形貌清晰,尺寸測量準確。此款支架在常規鍍鎳層上方鍍銅,普通制樣方法極其容易忽略此層結構
2020-01-16 22:02:26
3DMetrology軟件可以實現3維重構及測量功能。 VEGA3配置VEGA3 SBH高真空型SEM,配備有3軸馬達驅動樣品臺,適用于觀察小型導電樣品。VEGA3 SBU可變真空型掃描電鏡,體現了高真空模式和低真空模式的優點,可以在不噴金的情況下利用低真空模式直接觀察不導電樣品。`
2019-05-16 16:04:54
【設備應用】
SEM是掃描電子顯微鏡,用二次電子成像的原理來觀察某種物質的微觀形貌。EDS是能譜儀,是每種元素對應的電子能不同,來鑒別元素,通常與SEM結合使用,也就是說在SEM上安裝EDS附件,在
2024-03-01 18:59:58
電子顯微原理與技術【教學內容】1.透射和掃描電子顯微鏡的構造與成像原理2.透射和掃描電鏡圖像的成像過程3.透射和掃描電鏡主要性能4.表面復型技術5.透射和掃
2009-03-06 11:44:180 提出一種基于陰影恢復技術的細胞圖像表面各點的曲率計算方法,利用邊界輪廓提取技術分離由掃描電鏡SEM得到的紅血球亮度圖像,對單個細胞從跟蹤得到的中心點開始進行區域生
2009-04-11 09:23:1418 掃描電子顯微鏡原理和應用2.4.1 掃描電鏡的特點與光學顯微鏡及透射電鏡相比,掃描電鏡具有以下特點: (一) 能夠直接觀察樣品表面的結構,樣品的尺寸可大
2009-03-06 22:23:305129 本文主要討論利用掃描電鏡及其外加電路, 對集成電路的失效進行分析的方法 電壓襯度法.
2012-03-15 14:27:3334 半導體器件芯片分析的幾種方法與步驟。分析手段一般包括:c-sam,x-ray,sem掃描電鏡,EMMI微光顯微鏡等。
2012-05-02 15:36:089908 電子發燒友網站提供《[掃描電鏡與能譜儀分析技術].張大同.掃描版.txt》資料免費下載
2013-04-29 20:47:150 EEPROM的掃描電鏡探測和探針攻擊_程鵬
2017-01-03 17:41:321 電子探針、掃描電鏡顯微分析學習資料
2017-02-07 16:15:3811 掃描電鏡圖像中電壓反差影響研究
2017-02-14 16:42:2415 本文詳細介紹了掃描電鏡圖像中電壓發差的影響。
2017-11-08 18:50:5911 本文介紹工業掃描電鏡的新貴——智能電鏡。著重描述其多重的自動化功能。智能目的是讓電鏡成為科研和工程上得心應手的利器,發揮工具的作用。
2018-04-14 10:50:001546 電子顯微鏡從實驗室走向工業應用,關鍵詞是高速和好用。 首款智能化全自動高速成像掃描電子束顯微鏡在北京下線,不僅對科研, 而且對工程應用是利好消息,拓展了一條微觀世界探索之路。
2018-03-20 11:30:003472 曾毅告訴記者。但是,目前我國科研與工業部門所用的掃描電鏡嚴重依賴進口,每年我國花費超過1億美元采購的幾百臺掃描電鏡中,主要產自美、日、德和捷克等國。國產掃描電鏡只占約5%—10%。
2018-08-10 17:38:142039 電鏡動畫,被驚艷到,原來枯燥無味的電鏡可以變得這么生動,閑言少敘,下面就和大家一起來分享。掃描電子顯微鏡(SEM)掃描電鏡成像是利用細聚焦高能電子束在樣件表面激發各種物理信號,如二次電子、背散射
2018-11-06 15:00:44852 電鏡動畫,被驚艷到,原來枯燥無味的電鏡可以變得這么生動,閑言少敘,下面就和大家一起來分享。掃描電子顯微鏡(SEM)掃描電鏡成像是利用細聚焦高能電子束在樣件表面激發各種物理信號,如二次電子、背散射
2018-11-22 16:24:313247 1、掃描電鏡樣品的基本要求 首先,導電性能好,樣品在電子束反復掃描下表面電位不會升啊,避免電荷效應; 其次,熱穩定性能好,電子束溫度較高,導熱性差的樣品在觀察時會漂移,圖像不穩定有些熱敏感材料會損傷
2020-03-21 09:35:007941 巖心聚焦離子東掃描電鏡(FIB-SEM)圖像存在灰度分布不均及孔隙內局部高亮等現象,采用傳統圖像分割算法所得孔隙分割精度較低,而基于輪廓的分割算法需對孔隙進行人工標記,操作繁瑣且無法精確提取孔隙
2021-03-11 17:35:446 聚焦離子束(FIB)與掃描電子顯微鏡(SEM)耦合成為FIB-SEM雙束系統后,通過結合相應的氣體沉積裝置,納米操縱儀,各種探測器及可控的樣品臺等附件成為一個集微區成像、加工、分析、操縱于一體
2021-04-29 10:54:403087 SEM的工作原理是用一束極細的電子束掃描樣品,在樣品表面激發出次級電子,次級電子的多少與電子束入射角有關,也就是說與樣品的表面結構有關,次級電子由探測體收集,并在那里被閃爍器轉變為光信號,再經
2021-06-21 09:25:058788 聚焦離子束(FIB)與掃描電子顯微鏡(SEM)耦合成為FIB-SEM雙束系統后,通過結合相應的氣體沉積裝置,納米操縱儀,各種探測器及可控的樣品臺等附件成為一個集微區成像、加工、分析、操縱于一體
2021-09-18 10:52:094441 貼片電阻用無鉛焊錫焊接在基板上,用氬離子拋光制作掃描電鏡樣品,可以清楚地觀測到焊錫中的反應層 金鍵合引線剖光截面 ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?軟金屬的清洗和拋光 銅鎳襯底
2021-11-06 09:46:271044 1. 設備型號 日立-掃描電鏡-SU 1510, 配備能譜儀eds 2. 原理 SEM的工作原理是用一束極細的電子束掃描樣品,在樣品表面激發出次級電子,次級電子的多少與電子束入射角有關,也就是說
2021-11-04 10:20:381837 圖1 LED芯片(掃描電鏡SEM) 圖2 LED芯片(掃描電鏡SEM) 圖3 LED芯片(掃描電鏡SEM) ? ymf
2021-11-24 11:02:491649 LED芯片粘結不牢(掃描電鏡SEM) LED芯片粘結錯位(掃描電鏡SEM) 冷熱沖擊后,銀膠開裂(掃描電鏡SEM) ? ? ? ? ? ? ?ymf
2021-11-24 10:59:52685 案例分析: ? ?(掃描電鏡SEM) ? LED引線裂開(掃描電鏡SEM) ? 樣品制備 樣品制備多是破壞性實驗,即利用砂紙(或鉆石砂紙)進行粗磨和細磨,加上后續拋光,可處理出清晰的樣品剖面,搭配
2021-11-25 17:27:37942 銀粉形貌圖 (掃描電鏡SEM) 銀粉的品種很多,可以依據物理化學特性和市場需求進行不同分類,每一類別里又有不同銀粉應用于不同方面,細化使用的目標是最大程度發揮銀的特性優勢和降低成本,衡量銀粉的主要
2021-11-25 17:06:462724 圖1 LED焊球良品(掃描電鏡SEM) ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? 圖2 LED焊球不良品(掃描電鏡SEM) 圖3 LED焊球(掃描電鏡SEM
2021-11-26 16:33:04750 于:光擴散燈罩,磨砂燈罩,霧面光擴散燈罩、陽光板、LED發光面板,電子顯示牌,燈箱廣告板數碼管,發光字等。 圖1 PMMA顆粒形貌(掃描電鏡SEM) 圖2 PMMA顆粒形貌(掃描電鏡SEM) ? 圖3 PMMA顆粒形貌(掃描電鏡SEM) ? ? ? ? ? ? ymf
2021-11-26 16:24:34871 掃描電鏡能夠直接觀察表面粗化后樣品表面的結構,對比粗化處理前后表面的粗糙度。掃描電鏡景深大,圖象富有立體感,可觀察經過粗化處理的表面三維島狀結構。 ? ? ? ? ? ?ymf
2021-11-29 11:07:47922 放置于兩極之間,能夠讓電解質離子通過,又能避免兩極上的活性物質直接接觸而造成短路。電池隔膜一般是用高分子材料PE(聚乙烯)或PP(聚丙烯)來制備,孔徑大小通常在10nm至300nm左右。 ? 掃描電鏡是用來檢測電池隔膜孔徑大小和孔洞分別是否均勻的常用儀
2021-12-14 16:24:51857 金鑒實驗室提供氬離子拋光制備SEM樣品加頁巖石SEM測試服務,超高分辨率sem。詳細咨詢金鑒在線客服。 審核編輯:ymf ?
2021-12-14 16:45:23301 IC 相同的故障模式。檢查 TFT 顯示器的兩種方法,即使用 SEM(掃描電子顯微鏡)和 EDX(能量色散 X 射線光譜)的方法通常僅分析表面。
2021-12-15 16:22:58545 二次鋰離子電池基本原理: ? 掃描電鏡微觀分析系統SEM-EDS ? 1、?電池的失效分析? ? ? 鋰電正極剖面:拋光檢測 掃描電鏡二次電子圖像和俄歇電子元素面分布圖。 ? 2、不同類型鋰電池正極
2021-12-15 17:05:341101 。 ? 但由于石油地質行業中很多樣品需要進行掃描電鏡觀察前的樣品制備工作,傳統的方法是采用普通的手動或機械研磨,但因為其內部的微小尺度結構在研磨過程中會所造成的表面的機械劃痕、污染以及形變等各種損傷,很難得到其真實
2021-12-16 16:05:03623 ? 圖1 PMMA顆粒形貌(掃描電鏡SEM) ? ? ? 圖2 PMMA顆粒形貌(掃描電鏡SEM) ? ? ? 圖3?PMMA顆粒形貌(掃描電鏡SEM) ? 審核編輯:ymf ?
2021-12-20 17:14:541344 figure class=image image_resized style=width:500px;img alt=金屬氧化物(掃描電鏡SEM) src=https
2021-12-22 16:44:42575 。這個工具就是掃描電鏡和能譜儀(SEM-EDS),使得快速解決困難問題的分析成為可能,并且有效、及時和經濟。? SEM-EDS成為終極解決工具理由如下:? 沉積物和摩屑分析? 顆粒形貌尺寸和特征分析? 失效分析? 污染物分析? 冶金學
2021-12-22 16:54:591179 。 3、X射線:由于內殼層電子躍遷產生,不同原子產生的能量不同,用于EDS分析。 入射電子與樣品作用產生的信號 SEM原理 1.2 掃描電鏡的用途(SEMEDS) (1)材料的微觀形貌、組織 (2)微區元素定量、定性成分分析 (3)材料斷口分析和失效分析 (4)多元素面掃描和線掃
2021-12-23 15:46:041138 No.1 引言 ? 掃描電子顯微鏡的簡稱為掃描電鏡,英文縮寫為SEM 。它利用細聚焦的電子束,轟擊樣品表面,通過電子與樣品相互作用產生的二次電子、背散射電子等,對樣品表面或斷口形貌進行觀察和分析
2022-08-18 08:50:392732 場發射掃描電鏡的日常維護與管理
2022-12-09 16:10:164742 電鏡帶你看世界,我們帶你看電鏡!近日,由儀器信息網主辦的“關于電鏡的Everything——創意微視頻征集大賽”圓滿落幕,《掃描電鏡下的芝麻粒》視頻榮獲“最具人氣獎(用戶榜)”TOP1,《國儀量子
2022-08-16 10:07:152412 2022年9月,國儀量子掃描電鏡交付劉小春教授團隊,目前已調試完畢,正式投入運行。通過短視頻,劉老師現身說法,為大家分享了國儀量子掃描電鏡的使用體驗與心得。劉老師在視頻中說,有賴于國儀量子掃描電鏡
2022-10-09 10:18:181001 摘要:以石蠟作為相變物質,與埃洛石復合,以無水乙醇為溶劑,采用溶液插層法制備出不同配比的新型石蠟/埃洛石復合相變材料。使用掃描電鏡(SEM)觀察其表面形貌,對材料相變過程中的形狀穩定性進行測試,采用
2022-10-20 11:16:571390 鎢燈絲掃描電鏡性價比高、易于維護、操作相對簡單、對場地要求較小便于大眾使用但長期以來鎢燈絲掃描電鏡的分辨率都停滯不前難以實現用戶對更高分辨率的追求國儀量子于近日推出的鎢燈絲掃描電鏡SEM
2022-12-09 11:14:38532 當下,全球都在強調制造業的重要性我國更是將制造業轉型升級作為長期的發展戰略掃描電鏡作為一種強大的分析儀器在提升制造業產品創新能力與產品質量上將大有作為鎢燈絲掃描電鏡SEM2000但在實際應用中常
2022-12-13 09:18:22511 在此前的兩期推文中我們為大家介紹了兩款鎢燈絲掃描電鏡“重新定義鎢燈絲掃描電鏡”的SEM3300和“操作不挑人,簡約不簡單”的SEM2000今天,針對有分析型需求的用戶超大束流,超快分析的場發射
2022-12-15 10:25:38594 納米的商用鎢燈絲掃描電子顯微鏡(國儀量子鎢燈絲掃描電鏡SEM3300),這一成果的出現依托于中國科技大學的成果轉化團隊。圖片來源:新聞聯播鎢燈絲掃描電鏡SEM33
2023-01-13 09:40:33404 近日,國儀量子的鎢燈絲掃描電鏡SEM3200成功交付山東華豐新型材料有限公司(以下簡稱“華豐新材“),為其板材產品的品質控制與改善提供了高效便捷的技術保障。華豐新材華豐新材成立于2004年,主要生產
2023-03-06 14:08:34402 場發射掃描電鏡SEM5000SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場發射掃描電子顯微鏡。先進的鏡筒設計,高壓隧道技術(SuperTunnel)、低像差無漏磁物鏡設計,實現了低電壓高分辨率成像,同時
2023-04-12 11:38:30573 5月18日,2023第十六屆中國科學儀器發展年會(ACCSI2023)在北京雁棲湖國際會展中心盛大開幕,并頒發“儀器及檢測3i獎”。國儀量子自主研發的場發射掃描電鏡SEM5000榮獲“3i
2023-05-30 17:19:16367 新推出的場發射掃描電子顯微鏡Sigma 360和Sigma 560繼承了Gemini電子透鏡管的優良性能,將成為材料研究、生命科學和工業檢驗領域的“全方位”。蔡司致力于與用戶攜手共進,推動科學發展和行業進步。 新Sigma系列的亮點: 高分辨率 雙子座的電
2023-07-04 15:39:24249 等領域。SEM掃描電鏡分析實驗室圖源:優爾鴻信華南檢測中心SEM掃描電鏡工作原理SEM電鏡工作原理,主要基于聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品,通過光束與物質間的相
2023-07-05 10:04:061998 的高性能高效率,大樣品倉內含5軸共心電動樣品臺,可更輕松地測量大尺寸樣品。 EM科特 Veritas鎢燈絲掃描電鏡系列 產品優勢 l大尺寸樣品分析? Veritas系列可以分析常規SEM無法分析的大尺寸樣品。例如:晶圓,磁盤 l無損樣品分析?? 無需切割即可分析樣品。例如PCB,半導體圖案分析 l較重
2023-07-05 15:13:38272 EM科特(EmCrafts)Cube系列桌面式掃描電鏡,是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。區別與傳統掃描電鏡的笨重機身,Cube系列占地面積小,便攜性能好,可遵照客戶服務指南任意移動SEM設備。 EM
2023-07-05 15:24:02433 蔡司場發射掃描電鏡SIGMA500采用了GEMINI電子束無交叉光路設計,打破了傳統設計中電子束交叉三次發生能量擴散的局限性,束流大小適中,極大地降低色差對圖像質量的影響;鏡筒內置電子束加速器,無需
2023-07-14 16:26:59917 。蔡司代理三本精密儀器小編今天為您介紹蔡司熱場掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡制備要求:1.SEM樣品要求(1)塊體樣品:金屬塊體樣品可用導電膠直接固定在樣品臺上
2023-07-26 10:48:06650 掃描電鏡-電子通道襯度成像技術(SEM-ECCI)是一種在掃描電鏡下直接表征晶體材料內部缺陷的技術。SEM-ECCI技術的發展在缺陷表征領域替代了一部分透射電鏡(TEM)的功能,相對透射電鏡分析而言
2023-07-31 15:59:56331 蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)對于材料科學、電子、地質、物理、化工、農醫、公安、食品和輕工等領域的科學研究,人們總是關心微觀形態、晶體結構和化學組成與宏觀物理或化學性質之間的關系。光學顯微系統
2023-08-08 15:50:351420 場發射掃描電鏡SEM5000正式上線使用左側設備為鎢燈絲掃描電鏡SEM3200右側設備為場發射掃描電鏡SEM5000近日,國儀量子場發射掃描電鏡SEM5000交付中國農科院作科所重大
2023-07-31 23:30:26350 今天三本精密儀器小編給您介紹場發射掃描電鏡GeminiSEM500規格參數及樣品制備要求:一、樣品要求(1)本儀器不接收磁性、易潮、液體、有機、生物、不耐熱、熔融蒸發、松動粉末或碎屑等有揮發物樣品
2023-06-19 11:15:40814 能譜儀(EDS)是一種快速分析樣品微區內元素種類及含量的重要工具,通常與掃描電鏡(SEM)、透射電鏡(TEM)組合使用,實現形貌與成分的對照。它的工作原理是:當電子束掃描樣品時,不同元素被激發出來的x射線能量不同,通過探測這些特征X射線的能量與強度,可以確定樣品中的元素組成和含量。
2023-08-29 09:43:241964 掃描電子顯微鏡-電子通道對比成像(SEM-ECCI)是在掃描電子顯微鏡下直接表征晶體材料內部缺陷的技術。SEM-ECCI技術的發展已經取代了透射電子顯微鏡(TEM)在缺陷表征領域的部分功能。與TEM
2023-09-04 14:56:47363 (合肥)技術有限公司承辦的“2023國產掃描電鏡技術應用研討會”在合肥召開。來自中國科學院、北京大學、中南大學、中國農科院、中國醫學科學院、浙江中醫藥大學等高校科研
2023-09-13 08:30:05503 不同型號掃描電鏡的操作步驟會有一些差異,各廠家的EBSD系統,特別是控制SEM的軟件都不一致。
2023-10-10 09:25:08609 。 特點 制樣簡單、放大倍率可調范圍寬、圖像分辨率高、景深大、高保真度、真實的三維效果等特點。對于導電材料,它們可以直接放入樣品室進行分析。對于導電性差或絕緣性差的樣品,需噴涂導電層。 基本結構 從結構上看,掃描電鏡主
2023-10-19 15:38:30360 1. 工作原理 掃描電子顯微鏡以電子束為光源,以光柵式掃描方式將精細聚焦的電子束照射到樣品上。二次電子、背散射電子等。電子與樣品之間相互作用所產生的電子然后被收集和處理,以獲得顯微形貌的放大圖像
2023-10-23 14:56:393877 10月26日,2023年全國電子顯微學學術年會在東莞市召開。國儀量子在會議期間重磅發布自主研制的聚焦離子束電子束雙束顯微鏡DB500、超高分辨場發射掃描電子顯微鏡SEM5000X,開啟了國產高端電鏡
2023-10-29 08:25:471166 廣東全自動SEM掃描電鏡是一種高分辨率的顯微鏡,通過掃描樣品表面并利用電子信號生成圖像。它與傳統光學顯微鏡不同,能夠提供更高的放大倍數和更好的表面細節。以下是廣東全自動SEM掃描電鏡的原理和構造
2023-10-31 15:12:41770 相同點:都是電子槍即發射電子的裝置,都有陰極和陽極,陰極都是點源發射,陰極和陽極之間有直流高壓電場存在,高壓一般可調,用于控制電子的發射速度(能量),電子槍發射的電流強度很小,微安級別和納安級別,為防止氣體電離造成的大電流擊穿高壓電源,都需要高真空環境。電子槍陰極都屬于耗材系列。差異和優劣:1、點源直徑不同及優劣:鎢燈絲電子槍陰極使用0.1mm直徑的鎢絲制成
2023-11-10 18:43:39353 常規的TEM使用固定的入射電子束,而SEM的電子束在兩個垂直的(X和Y)方向上水平掃描樣品。
2023-12-01 11:37:50691 大部分掃描電鏡實驗室對于納米尺寸的準確測量,要求沒有那么嚴格,比如線寬或顆粒大小到底是105nm還是95nm,似乎不太重要
2023-12-09 17:36:52428 蔡司代理三本精密儀器小編介紹SEM掃描電鏡與X射線顯微鏡是生命科學研究中的重要儀器,憑借其納米級分辨率,SEM掃描電鏡與X射線顯微鏡極大地提升了我們對生物超微結構的認識,-些亞細胞結構甚至是通過
2023-12-15 14:11:17144 ? ? ? ?掃描電子顯微鏡能夠以極高的分辨率觀察樣品表面的形貌和結構,是材料相關工作者和學者研究的有力工具之一。其應用范圍非常廣泛,甚至可以延伸到生物、醫療和工業領域。本文將對掃描電子顯微鏡
2023-12-19 15:31:37512 蔡司代理三本精密儀器小編獲悉,近期蔡司對中國科學技術大學龔明教授進行了采訪,談了對于蔡司場發射掃描電鏡在工作研究中的使用感受:中國科學技術大學工程與材料科學實驗中心副主任,材料顯微分析實驗室
2023-12-20 15:04:37227 掃描電子顯微鏡是金屬科研工作中應用最廣泛的“神器”。可以說,幾乎每一個研究生都把自己最重要的科研經歷花在了身上。今天的我們就來介紹一下掃描電鏡的原理和應用。 電子顯微鏡利用電子產生圖像,類似于光學
2024-01-17 09:39:56148 掃描電鏡按構造和用處可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發射式電子顯微鏡等。 掃描電鏡常用于察看那些用普通顯微鏡所不能分辨的纖細物質構造,次要用于察看固體外表的形貌,也能與
2024-02-01 18:22:15609
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