實驗五(PSK)移相鍵控實驗
一、實驗?zāi)康模?/font>
1、 了解M序列的性能,掌握其實現(xiàn)方法及其應(yīng)用;
2、 了解2PSK系統(tǒng)的組成,驗證其調(diào)制解調(diào)原理;
3、 驗證同步解調(diào)的又一方式----同向正交環(huán)(或稱Costas環(huán))的工作原理;
4、 學(xué)習(xí)集成電路壓控振蕩器的應(yīng)用;
5、 學(xué)習(xí)2PSK系統(tǒng)主要性能指標(biāo)的測試方法。
二、實驗原理及電路說明
移相鍵控實驗電路由以下部分組成:(如本章后電路圖5.1 5.2所示)
(一)調(diào)制
1.M序列發(fā)生器
2.調(diào)相電路
3.差分編碼器
(二) 解調(diào)
1.同相正交環(huán)電路
2.集成電路壓控振蕩器
3.差分譯碼器
三、實驗儀器
高頻信號發(fā)生器一臺
直流穩(wěn)壓電源一臺
雙蹤同步示波器一臺
數(shù)字頻率計一臺
PSK試驗箱一臺
四、實驗內(nèi)容
在實驗箱中使用了7805,7905和7812芯片來保護(hù)實驗板電子元器件,電路板上標(biāo)著+5V,–5V、+12V的電源輸入端應(yīng)輸入+7V,–7V、+14V的電源。
1、 M序列發(fā)生器
設(shè)初始狀態(tài)為10000,試列表寫出一個周期的M序列。把列表的結(jié)果與實驗結(jié)果相比較,以測試點1處信號為同步信號,觀察并記錄測試點2處的波形。驗證M序列的主要性質(zhì)。
2、 差分編碼
以測試點1處信號為同步信號,觀察并記錄測試點3處的波形。將2處和3處的波形進(jìn)行比較,驗證差分編碼的規(guī)律。
3.數(shù)字調(diào)相電路
將k1撥至“同步“以3處信號為同步信號觀察并記錄測試點5處的波形;觀察并記錄測試點6處的數(shù)字調(diào)相波形。
PSK實驗電路板上的兩個開關(guān)功能如下:
以5處的載波信號輸入雙蹤同步示波器YB,用YA觀察6處的2PSK信號,利用雙蹤同步示波器上的刻度,測量π相位對0相位的相位差△φ。
4同步帶和捕捉帶
同步帶和捕捉帶是鎖相環(huán)性能的標(biāo)志。我們可用發(fā)信號的比較來判斷鎖相環(huán)是否鎖定。
用雙蹤同步示波器YA觀察測試點13處的信號碼,YB觀察測試點2處發(fā)信碼,并以YB作同步。用高頻信號發(fā)生器從電纜插座“外載波IN”輸出外載波。將K1撥至‘異步’,K2撥至“外載波’。數(shù)字頻率計接在測試點4處,高頻信號發(fā)生器的輸出幅度保持在1.5Vp-p,由低網(wǎng)高緩緩調(diào)節(jié)頻率。當(dāng)雙蹤同步示波器上出現(xiàn)收信碼同步,并且波形一致時,這時就是無誤碼情況鎖相環(huán)捕捉到外載波并鎖定,此點頻率記做fz。繼續(xù)向高頻調(diào)節(jié)頻率,直到雙蹤同步示波器上可見收信碼與發(fā)信碼不同步,這時鎖相環(huán)已不能同步跟蹤外載波而失鎖,該點頻率記做f4。將外載波頻率由此點往下調(diào)節(jié),調(diào)到再次捕捉到收信號與發(fā)信號同步一致,鎖相環(huán)再次捕捉到外載波并鎖定,此點頻率記做f3。繼續(xù)向低調(diào)節(jié)頻率,直到收信與發(fā)信碼再次失步,此點頻率記做f1。為提高測量精度,上述過程可反復(fù)進(jìn)行幾次。
圖5.3是根據(jù)環(huán)路電壓Ud與頻率的關(guān)系畫出的同步和捕捉帶示意圖。圖中f1、f2、f3、f4與實驗中測得的發(fā)f1、f2、f3、f4一一對應(yīng)。這樣
同步帶 △f1=f4-f1
捕捉帶 △f2=f3-f2
4眼圖
以碼元定時(12)作為同步信號,觀察解調(diào)后的基帶信號(7)。利用雙蹤同步示波器的刻度量測眼圖的幾個指標(biāo):
(1) 眼圖開啟度(U-2△U)/U其中U=U++U-
(2) “眼皮“厚度”2△U/U
(3) 交叉點發(fā)散度△T/T
(4) 正、負(fù)極性不對稱度|(U+-U-)|/|(U++U-)|
五、實驗報告
1. 整理實驗中的記錄,畫出相應(yīng)的曲線和波形。
2. 2PSK系統(tǒng)由那些部分組成?各部分的作用?
3. 設(shè)給定一碼組100110011100,畫出對這一碼組進(jìn)行2PSK的調(diào)制和解調(diào)的波形圖。
4. 為什么利用眼圖可以大致估計系統(tǒng)性能的優(yōu)劣?
5. 簡述同相正交工作原理。
6. 對改進(jìn)實驗內(nèi)容和電路有什么建議?
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