老化測(cè)試是電源模塊測(cè)試的重要環(huán)節(jié)，是確保電源穩(wěn)定性和可靠性的重要手段。電源模塊老化測(cè)試就是對(duì)電源持續(xù)不斷滿負(fù)荷運(yùn)行的測(cè)試過(guò)程，判斷電源在長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行下能否保持穩(wěn)定輸出。
2024-03-20 17:16:59
104 納米軟件電源測(cè)試系統(tǒng)為電源模塊測(cè)試提供軟硬件測(cè)試方案，強(qiáng)大的系統(tǒng)功能滿足了用戶需求，指導(dǎo)著電源模塊的優(yōu)化與設(shè)計(jì)。從儀器選型到系統(tǒng)開發(fā)、再到機(jī)柜集成、項(xiàng)目演示、最終成功交付，提供一體化的測(cè)試方案，解決測(cè)試痛點(diǎn)，高效完成電源模塊測(cè)試。
2024-03-18 15:09:2875 電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《Hast老化試驗(yàn)測(cè)試.pdf》資料免費(fèi)下載
2024-03-13 15:42:38
0 為了檢測(cè)和確保電源模塊在不同溫度和惡劣環(huán)境下的工作性能，高低溫老化測(cè)試是不可或缺的測(cè)試步驟。高低溫老化測(cè)試是電子產(chǎn)品制造過(guò)程中的重要一環(huán)，電源模塊高低溫老化測(cè)試就是為了檢測(cè)電源模塊在高溫和低溫下是否可以正常工作。
2024-03-08 11:00:31122 逆變器是一種將直流電轉(zhuǎn)換為交流電的電子設(shè)備，廣泛應(yīng)用于太陽(yáng)能發(fā)電、風(fēng)能發(fā)電等領(lǐng)域。在逆變器的生產(chǎn)過(guò)程中，老化測(cè)試是一個(gè)非常重要的環(huán)節(jié)。老化測(cè)試是指在一定的時(shí)間內(nèi)，對(duì)逆變器進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的運(yùn)行測(cè)試，以模擬
2024-03-07 14:28:2091 
、性能和效率。ECU的老化可能導(dǎo)致諸如性能下降、功能失效甚至安全風(fēng)險(xiǎn)等問(wèn)題，因此對(duì)ECU老化進(jìn)行檢測(cè)非常重要。本篇文章為您介紹虹科低負(fù)載ECU老化檢測(cè)解決方案。
2024-02-20 14:40:1586 
服務(wù)范圍AC/DC電源模塊、DC/DC電源模塊檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)●GJB383.10-1988DC-DC電源變換器性能參數(shù)和測(cè)試方法●GJB2036-1994電子模塊5W系列DC/DC變換器規(guī)范檢測(cè)項(xiàng)目
2024-01-29 22:27:14
什么是晶體振蕩器老化？晶體振蕩器老化的原因 如何測(cè)量晶體振蕩器的老化？ 晶體振蕩器是一種以晶體諧振頻率為基準(zhǔn)在電子設(shè)備中產(chǎn)生穩(wěn)定時(shí)鐘信號(hào)的器件。然而，隨著時(shí)間的推移，晶體振蕩器會(huì)出現(xiàn)老化現(xiàn)象，導(dǎo)致
2024-01-25 13:51:44174 晶振老化率影響及降低方法? 晶振老化率是指晶振在使用過(guò)程中逐漸失去性能或產(chǎn)生偏差的速率。晶振老化率的增加會(huì)導(dǎo)致頻率不準(zhǔn)確、抖動(dòng)增加、功耗增加等問(wèn)題，對(duì)于一些對(duì)時(shí)鐘要求較高的應(yīng)用來(lái)說(shuō)是不可接受的。然而
2024-01-24 15:40:29109 安全、性能和效率。ECU的老化可能導(dǎo)致諸如性能下降、功能失效甚至安全風(fēng)險(xiǎn)等問(wèn)題，因此對(duì)ECU老化進(jìn)行檢測(cè)非常重要。本篇文章為您介紹虹科低負(fù)載ECU老化檢測(cè)解決方案。 一、ECU老化檢測(cè)的必要性 ECU的老化可能導(dǎo)致諸如性能下降、功能失
2024-01-24 09:41:39144 
機(jī)械免拆壓力測(cè)試方案
2024-01-20 08:08:31114 
反復(fù)短路測(cè)試是開關(guān)電源極限測(cè)試項(xiàng)目之一，是在各種輸入和輸出狀態(tài)下將開關(guān)電源輸出短路，反復(fù)多次短路測(cè)試。用電源測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試反復(fù)短路，以軟件操控硬件，完成自動(dòng)化測(cè)試，極大提高了測(cè)試效率；數(shù)據(jù)自動(dòng)采集存儲(chǔ)，保證了測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和可靠性。
2024-01-03 16:42:24273 
開關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)是一款專業(yè)的智能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，用此系統(tǒng)來(lái)測(cè)試開關(guān)電源打破了手動(dòng)及傳統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試缺點(diǎn)，功能強(qiáng)大，兼容性強(qiáng)，為電源測(cè)試提供軟硬件一體化方案，提高測(cè)試效率。
2024-01-02 16:16:06831 
絕緣老化是指什么 老化原因 怎樣延緩絕緣老化? 絕緣老化是指絕緣材料在長(zhǎng)期使用過(guò)程中逐漸失去其原有性能，最終導(dǎo)致絕緣性能下降，不能滿足電器設(shè)備的工作要求。絕緣老化是一個(gè)復(fù)雜的過(guò)程，其原因可分為內(nèi)部
2023-12-29 11:03:22517 高溫老化測(cè)試，就如同電子產(chǎn)品的“煉獄”之旅。在這個(gè)過(guò)程中，產(chǎn)品被放置在一個(gè)模擬高溫惡劣環(huán)境的特殊設(shè)備——高溫老化試驗(yàn)箱中。試驗(yàn)箱能夠精確地控制溫度和濕度，以達(dá)到加速產(chǎn)品老化的效果。通過(guò)觀測(cè)產(chǎn)品在這種極端環(huán)境下的性能表現(xiàn)，工程師們可以評(píng)估其長(zhǎng)期使用的可靠性和潛在問(wèn)題。
2023-12-22 17:21:03415 
開關(guān)電源功率常見的測(cè)試方法有：通過(guò)測(cè)量電壓和電流來(lái)計(jì)算出功率、使用功率計(jì)直接測(cè)出功率。這兩種測(cè)試方法各有優(yōu)點(diǎn)與不足。以自動(dòng)化方式測(cè)試開關(guān)電源工率，用開關(guān)電源測(cè)試軟件不僅可以提高測(cè)試速度，還可以對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行多維度分析，確保測(cè)試數(shù)據(jù)和結(jié)果可靠性。
2023-12-20 16:03:42636 本測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)用TP600多路功率溫度記錄儀制作的電機(jī)壽命測(cè)試系統(tǒng)可以同時(shí)對(duì)10組或更多電機(jī)進(jìn)行測(cè)試和老化試驗(yàn)。
2023-12-17 17:43:41143 
可靠性測(cè)試是電源模塊測(cè)試的一項(xiàng)重要測(cè)試內(nèi)容，是檢測(cè)電源模塊穩(wěn)定性、運(yùn)行狀況的重要測(cè)試方法。隨著對(duì)電源模塊的測(cè)試要求越來(lái)越高，用電源模塊測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試電源模塊可以提高測(cè)試效率，確保測(cè)試結(jié)果可靠性，滿足測(cè)試要求。
2023-12-13 15:36:36384 ATECLOUD是智能自動(dòng)化新能源汽車電源測(cè)試系統(tǒng)，打破測(cè)試程序繁瑣、技術(shù)要求高、無(wú)法隨之更新兼容、測(cè)試成本高等測(cè)試難點(diǎn)，為用戶量身打造新能源汽車電源測(cè)試設(shè)備并定制一體化測(cè)試方案，降低測(cè)試成本，實(shí)現(xiàn)高效能測(cè)試。系統(tǒng)內(nèi)含的數(shù)據(jù)洞察功能進(jìn)行全方位數(shù)據(jù)分析，幫助用戶用數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)生產(chǎn)力。
2023-12-05 14:57:32210 車載電源測(cè)試是為了檢測(cè)電源的各項(xiàng)指標(biāo)和性能，判斷其是否符合設(shè)計(jì)要求，滿足車載設(shè)備的使用。車載電源測(cè)試項(xiàng)目一般包含輸出電壓/電流測(cè)試、效率測(cè)試、過(guò)載保護(hù)測(cè)試、穩(wěn)定性和可靠性測(cè)試等。用車載電源ate
2023-11-30 14:19:11289 低溫啟動(dòng)測(cè)試是確保開關(guān)電源及設(shè)備在低溫環(huán)境下可靠運(yùn)行的測(cè)試方法之一，以評(píng)估開關(guān)電源在低溫環(huán)境下的性能。ATECLOUD-POWER開關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)采取無(wú)代碼開發(fā)模式，操作簡(jiǎn)單，用戶可自由選擇測(cè)試
2023-11-28 15:34:47286 
電源測(cè)試系統(tǒng)針對(duì)電源模塊的各項(xiàng)測(cè)試項(xiàng)目提供最合適的測(cè)試方案，解決測(cè)試需求，提高測(cè)試效能。重輕載變化測(cè)試是電源模塊測(cè)試的項(xiàng)目之一，是為了檢測(cè)負(fù)載變化時(shí)輸出電壓的變化情況。為此，納米軟件將介紹電源重輕載變化測(cè)試的方法，以及用電源測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試的優(yōu)勢(shì)。
2023-11-24 14:29:28329 
交直流一體化電源擁有高度適應(yīng)性，可以用于不同的電力需求領(lǐng)域。但是為了確保其質(zhì)量和性能，需要對(duì)交直流一體化電源進(jìn)行各項(xiàng)測(cè)試以保證正常工作。本文納米軟件將介紹交直流一體化電源的測(cè)試方法，以及如何用交直流一體化電源測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試。
2023-11-23 14:59:53247 開關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)是針對(duì)開關(guān)電源測(cè)試而開發(fā)的一種智能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，打破傳統(tǒng)測(cè)試程序與缺陷，滿足客戶新的測(cè)試需求，助力客戶解決測(cè)試難點(diǎn)，順利完成開關(guān)電源測(cè)試，提高測(cè)試效能。那么開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試方案的流程是什么呢?
2023-11-22 16:37:11379 
什么是負(fù)載？電子負(fù)載有什么用途？為什么要給電子負(fù)載進(jìn)行老化測(cè)試？ 負(fù)載是指在電子設(shè)備或電路中表現(xiàn)為電流流動(dòng)的負(fù)荷。它模擬了實(shí)際工作環(huán)境中的負(fù)荷，使電路或設(shè)備處于一種正常工作狀態(tài)。電子負(fù)載是一種專門
2023-11-16 11:01:07499 ATECLOUD-POWER是檢測(cè)電源性能的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，針對(duì)電源模塊各類測(cè)試項(xiàng)目提供定制方案，指導(dǎo)電源模塊的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)，保證電源的質(zhì)量、穩(wěn)定性和可靠性。該方案包括軟件定制開發(fā)以及硬件設(shè)備選擇兩方面，根據(jù)客戶需求定制測(cè)試方案。
2023-11-15 14:54:46311 過(guò)溫保護(hù)測(cè)試是電源模塊保護(hù)功能測(cè)試項(xiàng)目之一，也是電源模塊測(cè)試的重要測(cè)試指標(biāo)，以保證電源模塊過(guò)溫保護(hù)功能正常，確保電源模塊不受損壞。用ate測(cè)試軟件測(cè)試電源模塊過(guò)溫保護(hù)，不僅可以保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性，還可以多維度分析數(shù)據(jù)，指導(dǎo)電源的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)。
2023-11-14 14:56:57452 
如何用集成電路芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試芯片老化？ 集成電路芯片老化測(cè)試系統(tǒng)是一種用于評(píng)估芯片長(zhǎng)期使用后性能穩(wěn)定性的測(cè)試設(shè)備。隨著科技的進(jìn)步和電子產(chǎn)品的廣泛應(yīng)用，人們對(duì)芯片的可靠性要求日益增高，因此老化測(cè)試
2023-11-10 15:29:05680 鋰離子電池老化的原因 鋰電池老化的影響 鋰離子電池（Lithium-ion battery）是一種常見的可充電電池，由于其高能量密度和長(zhǎng)周期壽命，廣泛應(yīng)用于電子設(shè)備、電動(dòng)車輛和儲(chǔ)能系統(tǒng)中。然而
2023-11-10 14:41:56975 如何測(cè)試電源芯片負(fù)載調(diào)整率呢？有哪些測(cè)試規(guī)范呢？ 電源芯片的負(fù)載調(diào)整率是指電源芯片在負(fù)載變化時(shí)，輸出電壓的調(diào)整速度。測(cè)試電源芯片的負(fù)載調(diào)整率是非常重要的，它能夠評(píng)估電源芯片在實(shí)際使用中對(duì)負(fù)載變化
2023-11-09 15:30:46630 什么是電源高壓測(cè)試？電源高壓測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)什么？如何進(jìn)行電源高壓測(cè)試？ 電源高壓測(cè)試是指對(duì)電源設(shè)備進(jìn)行高壓檢測(cè)，以驗(yàn)證其在額定工作條件下的安全性和可靠性。這項(xiàng)測(cè)試是為了確保電源設(shè)備在正常運(yùn)行過(guò)程中不會(huì)
2023-11-09 15:30:341117 什么是開關(guān)電源帶載測(cè)試？開關(guān)電源負(fù)載測(cè)試方法是什么？ 開關(guān)電源帶載測(cè)試是用于評(píng)估開關(guān)電源性能和穩(wěn)定性的一項(xiàng)測(cè)試。通過(guò)模擬真實(shí)負(fù)載條件，測(cè)試人員可以確定開關(guān)電源在不同負(fù)載下的輸出電壓、電流和功率等參數(shù)
2023-11-09 09:36:351368 電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)如何進(jìn)行電源模塊測(cè)試？ 電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是用于對(duì)電源模塊進(jìn)行測(cè)試和驗(yàn)證的一種設(shè)備。它能夠根據(jù)預(yù)設(shè)的測(cè)試要求，自動(dòng)完成各項(xiàng)測(cè)試任務(wù)，并給出測(cè)試結(jié)果和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。下面將詳細(xì)介紹電源自動(dòng)測(cè)試
2023-11-09 09:30:22407 led電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)如何提高測(cè)試效率？ LED電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是一種用于測(cè)試LED電源的設(shè)備，其作用是通過(guò)自動(dòng)化的方式對(duì)LED電源進(jìn)行各項(xiàng)功能和性能的測(cè)試。使用LED電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)可以提高測(cè)試
2023-11-09 09:12:04494 芯片的老化試驗(yàn)及可靠性如何測(cè)試？ 芯片的老化試驗(yàn)及可靠性測(cè)試是評(píng)估芯片性能和使用壽命的關(guān)鍵步驟。老化試驗(yàn)旨在模擬芯片在長(zhǎng)期使用過(guò)程中可能遭遇的各種環(huán)境和應(yīng)激，并確定芯片的可靠性和耐久性。本文將詳細(xì)
2023-11-09 09:12:011120 電源測(cè)試一般包括保護(hù)特性測(cè)試、安規(guī)測(cè)試、電磁兼容測(cè)試、可靠性測(cè)試、功能測(cè)試以及其它一些特定測(cè)試。
2023-11-07 11:42:44330 
開關(guān)電源老化測(cè)試是檢測(cè)電源長(zhǎng)期穩(wěn)定性和可靠性的重要測(cè)試方法。
2023-11-07 11:30:56663 開關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)如何測(cè)試輸出電壓電流的？ 開關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)是用來(lái)測(cè)試開關(guān)電源的性能和質(zhì)量的一種設(shè)備。其中，測(cè)試輸出電壓和電流是其中非常重要的一項(xiàng)測(cè)試內(nèi)容。本文將詳細(xì)介紹開關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)如何測(cè)試輸出
2023-11-07 10:01:56782 ate測(cè)試系統(tǒng)一般由哪些電源測(cè)試設(shè)備組成？ ATE（Automated Test Equipment）測(cè)試系統(tǒng)一般由以下幾種電源測(cè)試設(shè)備組成： 1. 直流電源（DC Power Supply
2023-11-07 10:01:43538 開關(guān)電源老化測(cè)試是檢測(cè)電源長(zhǎng)期穩(wěn)定性和可靠性的重要測(cè)試方法。通過(guò)模擬開關(guān)電源在實(shí)際工作環(huán)境(如高負(fù)荷、高溫等)中的長(zhǎng)時(shí)間使用，來(lái)驗(yàn)證其性能、穩(wěn)定性和可靠性。
2023-11-06 15:08:18302 
電源功能測(cè)試是評(píng)估電源質(zhì)量好壞、性能、響應(yīng)等的重要測(cè)試方法，也是電源的常規(guī)測(cè)試內(nèi)容，包含電壓調(diào)整率、負(fù)載調(diào)整率、紋波測(cè)試等。納米軟件專注于儀器測(cè)試軟件的開發(fā)，針對(duì)電源模塊測(cè)試提供軟硬件解決方案。對(duì)于
2023-11-03 15:50:22592 開關(guān)電源電性能測(cè)試需要做諧波測(cè)試，它是屬于輸入特性方面的測(cè)試。
2023-11-03 14:18:57555 
對(duì)開關(guān)電源特性進(jìn)行測(cè)試是為了確保電氣性能的設(shè)計(jì)符合要求，保證電源的工作狀態(tài)。在進(jìn)行電源特性測(cè)試時(shí)需要注意測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和測(cè)試條件，確保測(cè)試符合要求，保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性。
2023-11-02 14:37:47549 紋波及噪聲測(cè)試是電源模塊測(cè)試項(xiàng)目之一，也是電源模塊測(cè)試的重要環(huán)節(jié)，因?yàn)榧y波噪聲對(duì)設(shè)備的性能和穩(wěn)定性有很大影響。通過(guò)電源紋波噪聲測(cè)試，檢測(cè)電源紋波情況，從而提升電源的性能。納米軟件電源模塊測(cè)試系統(tǒng)助力紋波和噪聲測(cè)試，提升測(cè)試效能。
2023-10-30 15:16:31334 
開關(guān)電源帶載測(cè)試也叫開關(guān)電源負(fù)載測(cè)試，是檢測(cè)電源輸出性能的重要測(cè)試方法之一，如輸出電壓、電流、效率、紋波等參數(shù)。通過(guò)測(cè)試來(lái)評(píng)估開關(guān)電源的輸出穩(wěn)定性，保證電源可以正常工作。
2023-10-27 15:29:19947 
芯片電源電流測(cè)試是為了測(cè)試S.M.P.S.的輸入電流有效值INPUT CURRENT。電流測(cè)試是芯片電源測(cè)試的項(xiàng)目之一，用來(lái)檢測(cè)電路或設(shè)備的電流負(fù)載是否正常，保證其正常工作防止過(guò)載，評(píng)估芯片電源的電氣特性。
2023-10-25 16:54:54620 
ATECLOUD-POWER電源測(cè)試系統(tǒng)滿足電源常規(guī)測(cè)試指標(biāo)，用電源測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試電源高壓，不僅可以提升測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性，還可以自動(dòng)分析數(shù)據(jù)，所測(cè)數(shù)據(jù)也可以生成數(shù)據(jù)報(bào)告并導(dǎo)出，方便用戶分析、管理數(shù)據(jù)，提升電源性能，實(shí)現(xiàn)智能化改造。
2023-10-24 16:34:181226 耐壓測(cè)試不僅可以檢驗(yàn)電源模塊、電器設(shè)備等承受過(guò)壓的能力，而且還可以檢測(cè)設(shè)備的絕緣性能。在電氣設(shè)備的使用過(guò)程中會(huì)出現(xiàn)電壓突然上升的情況，并且長(zhǎng)期使用設(shè)備會(huì)老化，絕緣能力會(huì)減弱，容易造成危險(xiǎn)。因此耐壓測(cè)試是電源模塊測(cè)試的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。
2023-10-18 15:50:21396 芯片老化測(cè)試的目的是為了評(píng)估芯片長(zhǎng)期在各種環(huán)境下工作的壽命、性能及可靠性，以確保芯片及系統(tǒng)的工作穩(wěn)定性。往期我們分享了芯片老化測(cè)試的內(nèi)容及注意事項(xiàng)，今天我們將分享如何用納米軟件半導(dǎo)體老化測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試芯片老化。
2023-10-16 15:49:32469 、測(cè)試、老化的得力助手。二 應(yīng)用范圍高精度高壓穩(wěn)壓電源實(shí)驗(yàn) 、電器設(shè)備的絕緣耐壓測(cè)試 、高壓電容耐壓測(cè)試 、IGBT測(cè)試、高壓二極管耐壓測(cè)試、漏電流測(cè)試、MOS、BJ
2023-10-16 15:43:35
PCBA（PrintedCircuitBoardAssembly，印刷電路板組裝）是現(xiàn)代電子產(chǎn)品中的核心組成部分。為確保其穩(wěn)定性、可靠性及長(zhǎng)期性能，老化測(cè)試成為其生產(chǎn)流程中的一個(gè)關(guān)鍵環(huán)節(jié)。本文
2023-10-11 09:36:211152 
后備電源（UPS）測(cè)試系統(tǒng)是一臺(tái)主要用于30W~800W以內(nèi)大功率的戶外電源同時(shí)測(cè)試測(cè)試的功能, 后備電源（UPS）測(cè)試系統(tǒng)是適合各種1臺(tái),以及大功率具備電池充放電等功能產(chǎn)品的電源產(chǎn)品的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
2023-10-07 16:26:58527 
使這個(gè)問(wèn)題變得更加麻煩的是，根據(jù)工作溫度，觸發(fā)熱老化所需的時(shí)間可能長(zhǎng)達(dá)數(shù)百或數(shù)千小時(shí)，這超出了正常生產(chǎn)線測(cè)試的范圍。因此，如果未被發(fā)現(xiàn)，該問(wèn)題可能會(huì)導(dǎo)致潛在的現(xiàn)場(chǎng)故障問(wèn)題。
2023-10-04 16:17:00253 
和可靠性直接決定了LED照明燈具的使用效果和壽命。為了能夠更好地應(yīng)用在LED照明燈具中，在LED驅(qū)動(dòng)電源的研發(fā)或者生產(chǎn)階段，需要采用合適的測(cè)試方案對(duì)LED驅(qū)動(dòng)電源各項(xiàng)指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試。
2023-09-22 14:46:16589 
、信息技術(shù)設(shè)備、醫(yī)療設(shè)備、電源設(shè)備、電纜橋架、無(wú)線產(chǎn)品、電器附件等產(chǎn)品的光老化試驗(yàn)。檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)DIN 75 220、JIS D0205、ISO 4892-2、ISO 48
2023-09-21 16:36:13
對(duì)電源產(chǎn)品進(jìn)行老化測(cè)試是為了檢驗(yàn)和提高電源產(chǎn)品的可靠性、穩(wěn)定性和安全性，它是生產(chǎn)工藝流程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。老化測(cè)試可以幫助制造商確保其產(chǎn)品在各種工作條件下均能正常工作，從而提供高品質(zhì)的電源解決方案
2023-09-19 10:09:17810 
提供高品質(zhì)的電源解決方案。 客戶在生產(chǎn)過(guò)程中發(fā)現(xiàn)有小批樣機(jī)在老化測(cè)試過(guò)程中燒壞。根據(jù)客戶的描述，我們提供了幾個(gè)重要步驟來(lái)查找問(wèn)題。 以下為測(cè)試樣機(jī)圖片： ? CR5215BSC樣機(jī)圖片 【應(yīng)用】小功率電源適配器/圣誕燈、LED驅(qū)動(dòng)器/蜂窩電
2023-09-19 10:07:03797 
dc-dc電源模塊因其特性被廣泛應(yīng)用于醫(yī)療、軍工、電子等領(lǐng)域。隨著技術(shù)的發(fā)展，電源模塊測(cè)試項(xiàng)目也逐漸增多，測(cè)試過(guò)程變得復(fù)雜。而納米軟件dc-dc電源模塊測(cè)試系統(tǒng)基于一種智能云測(cè)試平臺(tái)，可以為其提供高效快捷的電源測(cè)試方案。
2023-09-12 15:46:09384 成為關(guān)鍵測(cè)試項(xiàng)目之一，另外芯片和 CPU 的供電電平也越來(lái)越小，使得它對(duì)電平的變化更加敏感。因而，近來(lái)不斷地遇到客戶咨詢電源完整性的測(cè)試方案，所以是德科技的技術(shù)工程師們把電源完整性測(cè)試系統(tǒng)的技術(shù)背景和方案配置和關(guān)鍵性能指標(biāo)整理如下。
2023-09-12 11:23:561498 
和可靠性直接決定了LED照明燈具的使用效果和壽命。為了能夠更好地應(yīng)用在LED照明燈具中，在LED驅(qū)動(dòng)電源的研發(fā)或者生產(chǎn)階段，需要采用合適的測(cè)試方案對(duì)LED驅(qū)動(dòng)電源各項(xiàng)指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試。
2023-09-11 15:53:37754 
針對(duì)NMC631體系軟包鋰離子電池在高溫循環(huán)
老化過(guò)程中的熱安全性進(jìn)行研究，待電池SOH分別衰減至100%、90%、以及80%時(shí)進(jìn)行絕熱放電產(chǎn)熱
測(cè)試、絕熱熱失控
測(cè)試、以及絕熱過(guò)充
測(cè)試，從多角度分析高溫
老化對(duì)電池?zé)岚踩阅艿挠绊憽?/div>
2023-08-28 10:09:42263 
BGA老化座中的BGA全稱是BallGridArray(球柵陣列結(jié)構(gòu)的PCB)，它是集成電路采用有機(jī)載板的一種封裝法。那么這種老化座有什么優(yōu)勢(shì)呢?
?緊湊型設(shè)計(jì)，提高老化測(cè)試板容量
2023-08-22 13:32:03
Simcenter Amesim電池老化參數(shù)辨識(shí)工具內(nèi)置于電池單體和電池包模型中，該工具基于老化經(jīng)驗(yàn)公式幫助用戶通過(guò)電池老化試驗(yàn)獲得描述電池老化的相關(guān)參數(shù)。
2023-08-03 14:57:26559 
誰(shuí)測(cè)試過(guò)高壓電源的psrr這項(xiàng)參數(shù)？有一臺(tái)輸入位12V輸出1KV/1MA的電源，想測(cè)試它的PSRR與頻率的曲線
2023-08-01 14:32:18
什么是DC電源老化測(cè)試?通常是指開關(guān)電源長(zhǎng)期超負(fù)荷運(yùn)行。老化測(cè)試，也稱為烤機(jī)或老化機(jī)，通常可以持續(xù)24或48小時(shí)，也可以持續(xù)1或0小時(shí)，進(jìn)行嚴(yán)格的實(shí)驗(yàn)或“試燒”。生產(chǎn)線上的大部分新產(chǎn)品都有
2023-07-27 14:08:52363 “半導(dǎo)體激光器是光收發(fā)模塊核心器件，其穩(wěn)定性直接影響模塊的產(chǎn)品質(zhì)量，CoC老化測(cè)試是一種有效的剔除早期CoC產(chǎn)品失效的篩選方法。聯(lián)訊儀器CoC老化測(cè)試設(shè)備通過(guò)控制老化溫度，老化電流，老化時(shí)長(zhǎng)等測(cè)試
2023-07-20 00:00:00631 
老化測(cè)試最終的目的是預(yù)測(cè)產(chǎn)品的使用壽命，為生產(chǎn)商評(píng)估或預(yù)測(cè)試所生產(chǎn)的產(chǎn)品耐用性的好壞！
2023-07-04 15:56:591247 
老化測(cè)試座是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行測(cè)試的設(shè)備，具有以下幾個(gè)優(yōu)勢(shì)：
2023-07-01 16:38:24603 
凱智通微電子的IC老化測(cè)試座均采用優(yōu)質(zhì)材料原廠精工生產(chǎn)，采用翻蓋或是下壓彈片、探針結(jié)構(gòu)，探針為良好電氣導(dǎo)通性能的優(yōu)質(zhì)鈹金測(cè)試針，芯片定位快捷準(zhǔn)確，再結(jié)合性能良好的歐式插針，經(jīng)久耐用。良好的日常保養(yǎng)
2023-06-28 15:19:05539 *測(cè)試系統(tǒng)：本系統(tǒng)是專門針對(duì)各類電源模塊測(cè)試的一體化智能解決方案，此框架結(jié)構(gòu)可根據(jù)客戶實(shí)際測(cè)試需求以及預(yù)算進(jìn)行調(diào)整，經(jīng)濟(jì)適用。*測(cè)試產(chǎn)品：DC-DC電源模塊、AC-DC電源模塊、車用電源模塊、機(jī)載
2023-06-27 15:27:231 *測(cè)試系統(tǒng)：本系統(tǒng)是專門針對(duì)各類電源模塊測(cè)試的一體化智能解決方案，此框架結(jié)構(gòu)可根據(jù)客戶實(shí)際測(cè)試需求以及預(yù)算進(jìn)行調(diào)整，經(jīng)濟(jì)適用。 *測(cè)試產(chǎn)品：DC-DC電源模塊、AC-DC電源模塊、車用電源模塊、機(jī)載
2023-06-27 13:44:21305 
ATECLOUD-Power測(cè)試應(yīng)用場(chǎng)景 研發(fā)測(cè)試、產(chǎn)線測(cè)試、老化測(cè)試、一測(cè)二測(cè)等 ATECLOUD-Power解決測(cè)試痛點(diǎn) ? 人工手動(dòng)測(cè)試，效率低，需要提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性； ? 測(cè)試
2023-06-19 15:04:40590 
電容生產(chǎn)老化測(cè)試設(shè)備普遍采用可編程測(cè)試電源對(duì)測(cè)試電容樣品做充電老化測(cè)試。其中設(shè)備內(nèi)部對(duì)可編程電源輸出質(zhì)量要求最高的為電容漏電流特性測(cè)試功能模塊。其主要功能是用于檢測(cè)電容充電完畢后uA級(jí)的漏電流指標(biāo)。檢測(cè)指標(biāo)合格后，電容樣品將被安全放電并流向后道包裝環(huán)節(jié)，而測(cè)試不通過(guò)的樣品則被篩選出來(lái)另作處理。
2023-06-08 09:20:39364 
從應(yīng)用的角度來(lái)看，測(cè)試、檢測(cè)是可編程電源最大的應(yīng)用領(lǐng)域，包括汽車電子測(cè)試，半導(dǎo)體制造設(shè)備、元器件老化測(cè)試及激光、水處理和表面金屬處理等。而半導(dǎo)體制造設(shè)備同樣離不開可編程電源，如沉積設(shè)備、離子注入機(jī)
2023-06-08 09:09:29503 
為保證出貨質(zhì)量，公司要求對(duì)目前公司的驅(qū)動(dòng)器需要上功率老化，但是公司的產(chǎn)品功率等級(jí)不一樣，沒有合適的負(fù)載和老化方式，請(qǐng)教大神們有沒有合適的老化方式。
2023-06-06 10:47:55
、染料等褪色或變色。幾年來(lái)，測(cè)試抗老化和光穩(wěn)定性的各種各樣的方法都被應(yīng)用過(guò)，現(xiàn)在大部分研究者使用自然曝露方法：Q－Surn氙弧燈或QUV加速老化試驗(yàn)設(shè)備。自然曝露
2023-06-06 10:43:23498 
IEC61000-4-5標(biāo)準(zhǔn)。一.測(cè)試產(chǎn)品如下：二、雷卯采用電路保護(hù)方案：三.測(cè)試電源適配器加上雷卯07D471K照片和結(jié)果數(shù)據(jù)記錄：加上雷卯07D471K，滿足浪涌IEC61000-
2023-05-17 10:16:54574 
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：需通過(guò)IEC61000-4-5 ，測(cè)試電涌≥600V;測(cè)試目的：測(cè)試電源適配器加上雷卯07D471K是否通過(guò)IEC61000-4-5 標(biāo)準(zhǔn)。
2023-05-16 11:00:07170 
負(fù)載箱、負(fù)荷箱、假負(fù)載和老化柜實(shí)際上是同一臺(tái)測(cè)試設(shè)備的不同名稱。負(fù)載箱是一種測(cè)試設(shè)備，主要用于測(cè)試和維護(hù)發(fā)電機(jī)、不間斷電源、電力傳輸設(shè)備。它的使用避免了備用機(jī)組或電源啟動(dòng)故障造成的經(jīng)濟(jì)損失，也為新機(jī)
2023-05-15 16:27:031016 
嚴(yán)格的測(cè)試，老化測(cè)試就是其中之一。高溫試驗(yàn)箱老化測(cè)試的模塊電源可以保證產(chǎn)品質(zhì)量，使用戶在使用過(guò)程中降低故障概率，延長(zhǎng)使用壽命。在生產(chǎn)模塊電源的過(guò)程中，有些問(wèn)題是肉眼
2023-05-12 11:25:30695 
使用溫度計(jì)算和阿倫尼烏斯方程了解電阻和放大器的老化行為，以了解電阻漂移、電阻穩(wěn)定性和運(yùn)算放大器漂移。 之前，我們討論了高溫加速老化方法，該方法使用相對(duì)較短的測(cè)試持續(xù)時(shí)間來(lái)評(píng)估電子元件的長(zhǎng)期穩(wěn)定性
2023-05-03 09:56:002680 
嚴(yán)格的測(cè)試，老化測(cè)試就是其中之一。高溫試驗(yàn)箱老化測(cè)試的模塊電源可以保證產(chǎn)品質(zhì)量，使用戶在使用過(guò)程中降低故障概率，延長(zhǎng)使用壽命。在生產(chǎn)模塊電源的過(guò)程中，有些問(wèn)題是肉眼
2023-04-25 16:12:44479 
干擾）、可靠性（如老化壽命測(cè)試）、及其他之特定需求等。本篇文章納米軟件小編Namisoft將為大家詳細(xì)分享關(guān)于開關(guān)電源分類及開關(guān)電源測(cè)試解決方案。 一、開關(guān)電源包括下列之型式： ·AC-DC：如個(gè)人用、家用、辦公室用、工業(yè)用(電腦、周邊、傳真機(jī)、充電器) ·DC-DC：
2023-04-25 15:43:051372 
老化房，又叫燒機(jī)房，是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦
2023-04-17 15:33:50713 
PCBA測(cè)試老化板的方法是什么？
2023-04-14 15:22:57
和其他電氣設(shè)備一樣，電力電容器的使用壽命也是有限的。隨著電力電容器使用時(shí)間的不斷增長(zhǎng)，電力電容器會(huì)逐漸老化。但是電力電容器在運(yùn)行時(shí)，會(huì)受到過(guò)電壓、過(guò)電流、過(guò)溫等因素的影響，電力電容器就會(huì)出現(xiàn)熱老化
2023-04-10 15:22:58892 壓敏電阻是目前應(yīng)用范圍最廣泛的電子元件之一，在應(yīng)用的過(guò)程中，壓敏電阻老化的問(wèn)題是其最大的缺點(diǎn)，將會(huì)嚴(yán)重干擾系統(tǒng)的正常安全工作,本文將介紹壓敏電阻的防老化方法，能夠幫助工程師有效解決壓敏電阻的老化情況
2023-04-10 09:40:09413 
得產(chǎn)品更安全、可靠！ 常見的電子產(chǎn)品老化溫度要求： 網(wǎng)絡(luò)交換機(jī)測(cè)試溫度在40℃~50℃左右 變頻器老化測(cè)試溫度在55℃左右 電能表老化測(cè)試溫度在70℃~80℃左右 車用電子產(chǎn)品老化測(cè)試溫度在55℃左右 電池電源、充電器、種類儀器儀表老
2023-04-04 15:02:562649 
電子元器件老化是指電子元器件在使用過(guò)程中，由于環(huán)境溫度、濕度、電壓、電流、紫外線等因素的影響，使元器件的性能發(fā)生變化，從而影響元器件的使用壽命。電子元器件老化的主要表現(xiàn)有：電容器的容量變小，電阻
2023-03-28 16:16:201429 Altings的測(cè)試結(jié)果顯示，與采用LG電子WOLED技術(shù)的產(chǎn)品不同，使用QD-OLED技術(shù)的三星電子和索尼的電視在測(cè)試開始后2個(gè)月內(nèi)發(fā)生了老化現(xiàn)象。
2023-03-27 14:52:14705 為了定量描述老化機(jī)理，對(duì)電極不同位置采樣組裝半電池并進(jìn)行了電化學(xué)測(cè)試實(shí)驗(yàn)。如圖7（a）所示，實(shí)線的數(shù)據(jù)來(lái)自循環(huán)開始時(shí)的電池電極，代表陰極和陽(yáng)極電極的實(shí)測(cè)電位曲線，虛線來(lái)自容量衰減到80%后的電池。
2023-03-27 11:34:292962 1A 同步移動(dòng)電源方案
2023-03-24 13:45:59
1A 同步移動(dòng)電源方案
2023-03-24 13:45:59
1A 同步移動(dòng)電源方案
2023-03-24 13:45:59
1A 同步移動(dòng)電源方案
2023-03-24 13:45:59
1A 同步移動(dòng)電源方案
2023-03-24 13:45:59
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