LED芯片觀察(掃描電鏡)SEM失效分析

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芯片(407687) 芯片(407687)
SEM(14323) SEM(14323)
失效分析(66160) 失效分析(66160)

軌道交通電子元器件失效分析

、襯底檢查、掃描電鏡檢查、PN結染?、DB FIB、熱點檢測、漏電位置檢測、彈坑檢測、粗細撿漏、ESD 測試（2）常?失效模式分析：靜電損傷、過電損傷、鍵合

2024-03-15 17:34:29

led失效分析-重點失效分析CNAS,CMA認證實驗室

服務范圍LED芯片、LED支架、LED封裝膠、銀漿、鍵合線、LED燈珠（COB、LAMP、TOP、CHIP）、LED燈具、燈具驅動電源。檢測標準● GB/T15651-1995半導體器件分立器件

2024-03-15 09:23:03

MOSFET,IGBT功率器件失效根因分析功

基本介紹功率器件可靠性是器件廠商和應用方除性能參數外最為關注的，也是特性參數測試無法評估的，失效分析則是分析器件封裝缺陷、提升器件封裝水平和應用可靠性的基礎。廣電計量擁有業界領先的專家團隊及先進

2024-03-13 16:26:07

如何推遲XilSEM掃描功能的開始？(二)

在 AMD Versal? 器件中, SEM 功能的實現發生了很大變化，整個解決方案基于 library 實現。下面我們一起看一下如何推遲 XilSEM 掃描功能的開始。

2024-03-13 14:45:46

400

MOS管熱阻測試失效分析

MOS管瞬態熱阻測試（DVDS）失效品分析如何判斷是封裝原因還是芯片原因，有什么好的建議和思路

2024-03-12 11:46:57

首樣免費掃描電鏡SEM-EDS測試分析【博仕檢測】

【設備應用】 SEM是掃描電子顯微鏡，用二次電子成像的原理來觀察某種物質的微觀形貌。EDS是能譜儀，是每種元素對應的電子能不同，來鑒別元素，通常與SEM結合使用，也就是說在SEM上安裝EDS附件，在

2024-03-01 18:59:58

透射電鏡TEM測試解剖芯片結構：深入微觀世界的技術探索

在芯片制造領域，透射電鏡TEM技術發揮著至關重要的作用。通過TEM測試，科學家可以觀察芯片中晶體結構的變化，分析晶體缺陷，研究材料界面結構，從而深入了解芯片的工作原理和性能。

2024-02-27 16:48:13

134

掃描電鏡的操作步驟及日常維護

掃描電鏡按構造和用處可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發射式電子顯微鏡等。 掃描電鏡常用于察看那些用普通顯微鏡所不能分辨的纖細物質構造，次要用于察看固體外表的形貌，也能與

2024-02-01 18:22:15

603

MOSFET,IGBT功率器件失效根因分析

; QJ3065.5-98元器件失效分析管理要求檢測項目試驗類型試驗項??損分析X 射線透視、聲學掃描顯微鏡、?相顯微鏡電特性/電性定位分析電參數測試、IV&a

2024-01-29 22:40:29

掃描電鏡為什么分辨率高，景深大，立體感強？

掃描電子顯微鏡是金屬科研工作中應用最廣泛的“神器”。可以說，幾乎每一個研究生都把自己最重要的科研經歷花在了身上。今天的我們就來介紹一下掃描電鏡的原理和應用。電子顯微鏡利用電子產生圖像，類似于光學

2024-01-17 09:39:56

146

聚焦離子束與芯片失效分析與運用

去除表面鈍化層、金屬化層和層間介質后有時依然無法觀察到失效點，這時候就需要對芯片進行進一步處理，對于多層布線的芯片干法腐蝕或者濕法腐蝕來逐一去除，直至最后一層金屬化和介質層。

2024-01-09 15:17:27

108

SEM掃描電子顯微鏡涂層磨損分析

數字顯微鏡Smartzoom5和SEM掃描電子顯微鏡的解決方案。圖a、b顯示的是無涂層的鉆頭的切削刃口情況，圖c、d顯示的是金剛石涂層鉆頭的脫落情況；圖a、c使用

2024-01-08 15:12:52

矩陣led掃描頻率怎么調

矩陣LED掃描頻率是指LED矩陣在單位時間內刷新顯示的次數。LED矩陣是由多個發光二極管（LED）組成的顯示設備，通過掃描控制來實現各個LED的亮滅，從而顯示出不同的圖像或信息。調整矩陣LED掃描

2024-01-02 17:30:24

361

半導體芯片結構分析

切割對于芯片膜厚層為幾十納米的，可以選擇用聚焦離子束FIB-SEM來做芯片截面形貌觀察，SEM-EDS對于芯片的結構成分分析做線性方向元素分析掃描，面掃描MAPPING來表征芯片結構的元素分析。 FIB剪

2024-01-02 17:08:51

如何理解掃描電子顯微鏡(SEM)中的充電效應

掃描電子顯微鏡（SEM）已廣泛用于材料表征、計量和過程控制的研究和先進制造中，我們在對半導體材料和結構進行觀測時，常常會遇到充電效應，本文討論了與樣品充電相關的一些問題以及減輕其影響的方法。

2023-12-29 15:57:12

462

第20講：DIPIPM?市場失效分析（2）

在了解了DIPIPM失效分析的流程后是不是會很容易地找到市場失效的原因了呢？答案是否定的。不管是對收集到的市場失效信息還是對故障解析報告的解讀、分析都需要相應的專業技能作為背景，對整機進行的測試也需要相應的測試技能。

2023-12-27 15:41:37

278

如何使用頻譜分析儀來觀察和分析雜散信號？

如何使用頻譜分析儀來觀察和分析雜散信號？頻譜分析儀是一種廣泛應用于電子領域的儀器，用于觀察和分析信號的頻譜特性。它可以幫助工程師們檢測和排除信號中的雜散信號，確保設備的正常工作和無干擾的信號傳輸

2023-12-21 15:37:16

592

蔡司場發射掃描電鏡GeminiSEM 500介紹

蔡司代理三本精密儀器小編獲悉，近期蔡司對中國科學技術大學龔明教授進行了采訪，談了對于蔡司場發射掃描電鏡在工作研究中的使用感受：中國科學技術大學工程與材料科學實驗中心副主任，材料顯微分析實驗室

2023-12-20 15:04:37

226

淺談失效分析—失效分析流程

▼關注公眾號：工程師看海▼ 失效分析一直伴隨著整個芯片產業鏈，復雜的產業鏈中任意一環出現問題都會帶來芯片的失效問題。芯片從工藝到應用都會面臨各種失效風險，筆者平時也會參與到失效分析中，這一期就對失效

2023-12-20 08:41:04

530

掃描電鏡的原理、優勢、應用領域你都知道嗎？

? ? ? ?掃描電子顯微鏡能夠以極高的分辨率觀察樣品表面的形貌和結構，是材料相關工作者和學者研究的有力工具之一。其應用范圍非常廣泛，甚至可以延伸到生物、醫療和工業領域。本文將對掃描電子顯微鏡

2023-12-19 15:31:37

507

USB脫落失效分析

的焊錫空洞。 2）SEM表面特征分析 #位置3：測試結果：剝離面有應力斷裂痕跡，PCB鎳層有裂紋。 ? #位置2：測試結果：焊接面有較大的焊錫空洞，斷裂面有應力斷裂痕跡。 ? 3）EDS成分分析 ? 測試結果：剝離面主要成分為Sn、Ni, 未發現異常元素。 4）切片斷面分析 #PCB側脫落點切片斷面

2023-12-18 09:56:12

155

蔡司掃描電鏡與X射線顯微鏡檢測介紹

蔡司代理三本精密儀器小編介紹SEM掃描電鏡與X射線顯微鏡是生命科學研究中的重要儀器，憑借其納米級分辨率，SEM掃描電鏡與X射線顯微鏡極大地提升了我們對生物超微結構的認識，-些亞細胞結構甚至是通過

2023-12-15 14:11:17

142

阻容感失效分析

有一批現場儀表在某化工廠使用一年后，儀表紛紛出現故障。經分析發現儀表中使用的厚膜貼片電阻阻值變大了，甚至變成開路了。把失效的電阻放到顯微鏡下觀察，可以發現電阻電極邊緣出現了黑色結晶物質，進一步分析

2023-12-12 15:18:17

1020

LED貼膜屏靜態掃描和動態掃描有何區別？

LED貼膜屏靜態掃描和動態掃描有何區別？ LED貼膜屏靜態掃描和動態掃描是兩種不同的驅動方式，它們在顯示效果、功耗、刷新率、圖像質量等方面存在一些區別。下面我將詳細介紹這兩種掃描方式，幫助你了解它們

2023-12-11 14:25:56

448

LED燈帶失效分析

1、案例背景 LED燈帶在使用一段時間后出現不良失效，初步判斷失效原因為銅腐蝕。據此情況，對失效樣品進行外觀觀察、X-RAY分析、切片分析等一系列檢測手段，明確失效原因。 2、分析過程 2.1 外觀

2023-12-11 10:09:07

188

掃描電鏡能測出線寬的真實長度嗎？如何才能測準？

大部分掃描電鏡實驗室對于納米尺寸的準確測量，要求沒有那么嚴格，比如線寬或顆粒大小到底是105nm還是95nm，似乎不太重要

2023-12-09 17:36:52

427

如何利用FIB和SEM中的有源和無源電位襯度進行失效定位呢？

無源電位襯度（Passive Voltage Contrast，PVC）定位基于導電結構的FIB或SEM圖像或多或少的亮度差異，可用于半導體電路的失效定位。

2023-12-01 16:18:08

514

SEM：掃描線圈和放大倍率簡析

常規的TEM使用固定的入射電子束，而SEM的電子束在兩個垂直的（X和Y）方向上水平掃描樣品。

2023-12-01 11:37:50

686

有效減少掃描電鏡荷電效應的幾種方法

掃描電子顯微鏡（SEM簡稱掃描電鏡）是一個集電子光學技術、真空技術、精細機械結構以及現代計算機控制技術于一體的復雜系統

2023-11-24 15:39:53

352

差示掃描量熱法熱分析方法

差示掃描量熱法（DSC）是一種熱分析方法，在程序控制溫度下，輸入到試樣和參比物的功率差與溫度的關系。而差示掃描量熱儀是利用這種方法，來測量材料的玻璃化轉變溫度、熔點、比熱容和氧化誘導期，來對材料

2023-11-21 13:37:56

374

蔡司掃描電鏡Sigma系列：掃描電子顯微鏡的用途原來這么多

掃描電子顯微鏡是一種全自動的、非破壞性的顯微分析系統，可針對無機材料和部分有機材料，迅速提供在統計學上可靠且可重復的礦物學、巖相學和冶金學數據，在采礦業，可用于礦產勘查、礦石表征和選礦工藝優化

2023-11-21 13:16:41

235

光耦失效的幾種常見原因及分析

將詳細分析光耦失效的幾種常見原因。首先，常見的光耦失效原因之一是LED失效。LED是光耦發光二極管的核心部件，它會發出光信號。常見的LED失效原因有兩種：老化和損壞。LED的使用壽命是有限的，長時間使用后會逐漸老化。老化后的LE

2023-11-20 15:13:44

1445

PCB失效分析技術概述

　那么就要用到一些常用的失效分析技術。介于PCB的結構特點與失效的主要模式，其中金相切片分析是屬于破壞性的分析技術，一旦使用了這兩種技術，樣品就破壞了，且無法恢復；另外由于制樣的要求，可能掃描電鏡分析和X射線能譜分析有時也需要部分破壞樣品。

2023-11-16 17:33:05

115

九項PCB失效分析的技術總結

切片分析切片分析就是通過取樣、鑲嵌、切片、拋磨、腐蝕、觀察等一系列手段和步驟獲得 PCB 橫截面結構的過程。

2023-11-16 16:31:56

156

一文帶您了解掃描電子顯微鏡EBSD技術的原理、采集及分辨率

EBSD技術是一種常用的材料顯微技術，全稱電子背散射衍射。它通過測量反射電子的角度和相位差來確定樣品的晶體結構和晶粒取向等特征。與傳統的掃描電鏡技術相比，EBSD技術具有更高的空間分辨率，可以獲得亞微米級的晶體學數據。

2023-11-16 13:31:48

366

SEM掃描電鏡中鎢燈絲與場發射的區別

相同點：都是電子槍即發射電子的裝置，都有陰極和陽極,陰極都是點源發射，陰極和陽極之間有直流高壓電場存在，高壓一般可調，用于控制電子的發射速度（能量），電子槍發射的電流強度很小，微安級別和納安級別，為防止氣體電離造成的大電流擊穿高壓電源，都需要高真空環境。電子槍陰極都屬于耗材系列。差異和優劣:1、點源直徑不同及優劣：鎢燈絲電子槍陰極使用0.1mm直徑的鎢絲制成

2023-11-10 18:43:39

353

什么是FIB？FIB有哪些應用？如何修改線路做FIB？FIB怎么做失效分析？

什么是FIB？FIB有哪些應用？如何修改線路做FIB？FIB怎么做失效分析？FIB還能生長PAD？FIB案例有些？ FIB是Focused Ion Beam（聚焦離子束）的縮寫，是一種利用離子束刻蝕

2023-11-07 10:35:04

1668

鎢燈絲掃描電鏡使用的一些注意事項

鎢絲掃描電子顯微鏡的總發射電流和光斑大，抗干擾能力和穩定性好。可在低真空下不充電對非導電樣品進行成像，并可用于形貌觀察、微觀結構分析，以及斷口形貌分析。分析，在材料、地質、礦產、冶金、機械、化學

2023-11-06 13:52:52

176

國儀量子帶您全景回顧2023全國電鏡年會

在會議期間重磅發布了自主研制的聚焦離子束電子束雙束顯微鏡DB500、超高分辨場發射掃描電子顯微鏡SEM5000X，標志著國產高端電鏡發展進入全新階段。顯微學人以振興電

2023-11-01 08:25:46

523

一文帶您了解鎢燈絲掃描電鏡的一些使用注意事項

鎢絲掃描電子顯微鏡的發射電流和光斑都比較適中，抗干擾能力和穩定性比較好。可在低真空下對非導電樣品進行成像，并可用于形貌觀察、微觀結構分析，以及斷口形貌分析。分析，在材料、地質、礦產、冶金、機械、化學

2023-10-31 15:17:52

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廣東全自動SEM掃描電鏡的原理和構造

廣東全自動SEM掃描電鏡是一種高分辨率的顯微鏡，通過掃描樣品表面并利用電子信號生成圖像。它與傳統光學顯微鏡不同，能夠提供更高的放大倍數和更好的表面細節。以下是廣東全自動SEM掃描電鏡的原理和構造

2023-10-31 15:12:41

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高端新品發布！國產雙束電鏡+超高分辨電鏡閃耀2023全國電鏡年會

10月26日，2023年全國電子顯微學學術年會在東莞市召開。國儀量子在會議期間重磅發布自主研制的聚焦離子束電子束雙束顯微鏡DB500、超高分辨場發射掃描電子顯微鏡SEM5000X，開啟了國產高端電鏡

2023-10-29 08:25:47

1158

一文帶您了解場發射掃描電鏡

普通熱發射掃描電子顯微鏡相比，場發射掃描電子顯微鏡具有更高的亮度和更小的電子束直徑，即更小的束斑尺寸和更高的分辨率。是納米尺度微區形貌分析的首選。 2. 文書組成場發射掃描電子顯微鏡由場發射電子槍、電子束推進器、聚光透

2023-10-23 14:56:39

3838

你了解掃描電鏡的特點和結構嗎

。特點制樣簡單、放大倍率可調范圍寬、圖像分辨率高、景深大、高保真度、真實的三維效果等特點。對于導電材料，它們可以直接放入樣品室進行分析。對于導電性差或絕緣性差的樣品，需噴涂導電層。基本結構從結構上看，掃描電鏡主

2023-10-19 15:38:30

357

芯片粘接失效模式和芯片粘接強度提高途徑

芯片粘接質量是電路封裝質量的一個關鍵方面，它直接影響電路的質量和壽命。文章從芯片粘接強度的失效模式出發，分析了芯片粘接失效的幾種類型，并從失效原因出發對如何在芯片粘接過程中提高其粘接強度提出了四種

2023-10-18 18:24:02

395

一分鐘帶你了解EBSD的操作過程

不同型號掃描電鏡的操作步驟會有一些差異，各廠家的EBSD系統，特別是控制SEM的軟件都不一致。

2023-10-10 09:25:08

609

基于扇出型封裝結構的芯片失效位置定位方法

本文主要設計了用于封裝可靠性測試的菊花鏈結構，研究了基于扇出型封裝結構的芯片失效位置定位方法，針對芯片偏移、ＲDL 分層兩個主要失效問題進行了相應的工藝改善。經過可靠性試驗對封裝的工藝進行了驗證，通過菊花鏈的通斷測試和阻值變化，對失效位置定位進行了相應的失效分析。

2023-10-07 11:29:02

410

CD-SEM是怎樣測線寬呢？CD-SEM與普通SEM有哪些區別？

CD-SEM,全名Critical Dimension Scanning Electron Microscopy，中文翻譯過來是：特征尺寸掃描電子顯微鏡。

2023-10-07 10:34:23

1434

電鏡常用元素分析方法：EDS、EELS、HAADF-STEM

不同的波長λ對應于不同的原子序數Z。根據這個特征能量，即可知所分析的區域存在什么元素及各元素的含量。根據掃描的方式， EDS 可分為點分析、線掃描及面掃描三種：EDS 點分析是將電子束固定于樣品中某一點上，進行定性或者定量的分析。

2023-09-28 15:54:34

1719

LGA封裝芯片焊接失效

NO.1 案例背景某攝像頭模組，在生產測試過程中發生功能不良失效，經過初步的分析，判斷可能是LGA封裝主芯片異常。 NO.2 分析過程 #1 X-ray分析樣品#1 樣品#2 測試結果：兩個失效

2023-09-28 11:42:21

399

季豐電子新熱場電子顯微鏡可幫助客戶快速獲取清晰的圖像

? 季豐電子目前擁有蔡司GeminiSEM500掃描電鏡SEM熱場發射掃描電子顯微鏡，可為客戶呈現任意樣品表面更強的信號和更豐富的細節信息；尤其在低的加速電壓下，可在避免樣品損傷的同時，快速獲取更高

2023-09-23 09:50:44

375

2023國產掃描電鏡技術應用研討會順利召開

（合肥）技術有限公司承辦的“2023國產掃描電鏡技術應用研討會”在合肥召開。來自中國科學院、北京大學、中南大學、中國農科院、中國醫學科學院、浙江中醫藥大學等高校科研

2023-09-13 08:30:05

502

各種材料失效分析檢測方法

失效分析是一門發展中的新興學科，近年開始從軍工向普通企業普及，它一般根據失效模式和現象，通過分析和驗證，模擬重現失效的現象，找出失效的原因，挖掘出失效的機理的活動。在提高產品質量，技術開發、改進，產品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。

2023-09-12 09:51:47

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集成電路為什么要做失效分析？失效分析流程？

失效分析(FA)是根據失效模式和現象，通過分析和驗證，模擬重現失效的現象，找出失效的原因，挖掘出失效的機理的活動。

2023-09-06 10:28:05

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聚焦離子束FIBSEM切片測試【博仕檢測】

聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統 FIB-SEM應用聚焦離子束-掃描電鏡雙束系統主要用于表面二次電子形貌觀察、能譜面掃描、樣品截面觀察、微小樣品標記以及TEM超薄片樣品的制備。 1.FIB切片

2023-09-05 11:58:27

蔡司掃描電鏡在第三代半導體領域的應用成果

掃描電子顯微鏡-電子通道對比成像（SEM-ECCI）是在掃描電子顯微鏡下直接表征晶體材料內部缺陷的技術。SEM-ECCI技術的發展已經取代了透射電子顯微鏡（TEM）在缺陷表征領域的部分功能。與TEM

2023-09-04 14:56:47

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集成電路失效分析

IC。然而，IC在使用過程中也可能出現失效的情況，從而影響到整個設備的使用效果。因此，對IC失效分析的研究變得越來越重要。 IC失效的原因有很多，例如因為工藝過程中的不良導致芯片內部有缺陷，或者長時間使用導致老化而出現失效等。為了找出IC失效的原因，在

2023-08-29 16:35:13

627

芯片失效分析方法芯片失效原因分析

芯片失效分析方法芯片失效原因分析? 隨著電子制造技術的發展，各種芯片被廣泛應用于各種工業生產和家庭電器中。然而，在使用過程中，芯片的失效是非常常見的問題。芯片失效分析是解決這個問題的關鍵。芯片

2023-08-29 16:29:11

2800

半導體失效分析

半導體失效分析? 半導體失效分析——保障電子設備可靠性的重要一環隨著電子科技的不斷發展，電子設備已成為人們生活和工作不可或缺的一部分，而半導體也是電子設備中最基本的組成部分之一。其作用是將電能轉化

2023-08-29 16:29:08

736

EDS面掃、線掃、點掃的應用

能譜儀（EDS）是一種快速分析樣品微區內元素種類及含量的重要工具，通常與掃描電鏡（SEM）、透射電鏡（TEM）組合使用，實現形貌與成分的對照。它的工作原理是：當電子束掃描樣品時，不同元素被激發出來的x射線能量不同，通過探測這些特征X射線的能量與強度，可以確定樣品中的元素組成和含量。

2023-08-29 09:43:24

1952

鉭電容失效分析鉭電容失效原因分析鉭電容燒壞的幾種原因 ;我需要詳盡、詳實、細致的最少1500字的文

鉭電容失效分析鉭電容失效原因分析鉭電容燒壞的幾種原因鉭電容是一種電子元器件，通常用于將電場儲存為電荷的裝置。它們具有高電容和低ESR等優點，因此被廣泛應用于數字電路、模擬電路和電源等領域。然而

2023-08-25 14:27:56

2133

國儀量子高速掃描電子顯微鏡HEM6000

“在大規模成像場景中，常規掃描電鏡成像速度和自動化程度都無法滿足應用需求。例如，在芯片結構成像應用中，需要在幾周內完成數百平方毫米區域的連續拍攝；在人類腦圖譜研究中，需要對百億級神經元進行高分辨成像

2023-08-09 08:29:23

453

蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)

蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)對于材料科學、電子、地質、物理、化工、農醫、公安、食品和輕工等領域的科學研究，人們總是關心微觀形態、晶體結構和化學組成與宏觀物理或化學性質之間的關系。光學顯微系統

2023-08-08 15:50:35

1419

金剛石礦物的晶體結構屬于等軸晶系同極鍵四面體結構。碳原子位于四面體的角部和中心，具有高度的對稱性。晶胞中的碳原子以同極鍵連接，距離為154pm。。常見的晶形有八面體、菱形十二面體、立方體、四面體和六面體等。鉆石的應用范圍非常廣泛，例如:工藝品和工業中的切割工具。石墨在高溫高壓下能形成人造金剛石，也是一種珍貴的寶石。中國也有制造鉆石的技術。需要注意的是，石墨和金剛石的物理性質是完全不同的。鉆石有各種顏色，從無

2023-08-04 11:50:01

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SEM5000交付中國農科院作科所重大平臺中心

場發射掃描電鏡SEM5000正式上線使用左側設備為鎢燈絲掃描電鏡SEM3200右側設備為場發射掃描電鏡SEM5000近日，國儀量子場發射掃描電鏡SEM5000交付中國農科院作科所重大

2023-07-31 23:30:26

350

蔡司掃描電鏡在半導體領域的應用成果

掃描電鏡-電子通道襯度成像技術（SEM-ECCI）是一種在掃描電鏡下直接表征晶體材料內部缺陷的技術。SEM-ECCI技術的發展在缺陷表征領域替代了一部分透射電鏡（TEM）的功能，相對透射電鏡分析而言

2023-07-31 15:59:56

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半導體器件鍵合失效模式及機理分析

本文通過對典型案例的介紹，分析了鍵合工藝不當，以及器件封裝因素對器件鍵合失效造成的影響。通過對鍵合工藝參數以及封裝環境因素影響的分析，以及對各種失效模式總結，闡述了鍵合工藝不當及封裝不良，造成鍵合本質失效的機理；并提出了控制有缺陷器件裝機使用的措施。

2023-07-26 11:23:15

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蔡司熱場掃描電鏡Sigma 300電子顯微鏡

蔡司熱場掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡能夠對各種材質的導電和不導電樣品、不同尺寸和形狀的樣品表面微觀結構進行高分辨觀察。配置能譜和背散射電子衍射儀附件可以實現樣品表面微觀區域內的成分和織構分析

2023-07-26 10:48:06

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LED驅動電路圖分享 LED驅動電路的工作原理和失效機理分析

隨著市場需求的不斷增加，近年從事LED制造和研發的人員大大增加。LED企業亦如雨后春筍般成長。由于從事LED驅動研發的企業和人眾多，其技術水平參差不齊，研發出來的LED驅動電路質量好壞不一。導致LED燈具的失效時常發生，阻礙了LED照明的市場推廣。

2023-07-25 09:12:04

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微波GaAs功率芯片AuSn共晶焊接微觀組織結構研究

摘要:文中采用Au80Sn20共晶焊料對GaAs功率芯片與MoCu基板進行焊接，分析了焊接溫度、摩擦次數等工藝參數對共晶焊接的影響，給出了GaAs芯片共晶焊的工藝參數控制要求，通過掃描電鏡

2023-07-15 14:01:42

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蔡司場發射掃描電鏡SIGMA 500

蔡司場發射掃描電鏡SIGMA500采用了GEMINI電子束無交叉光路設計，打破了傳統設計中電子束交叉三次發生能量擴散的局限性，束流大小適中，極大地降低色差對圖像質量的影響;鏡筒內置電子束加速器，無需

2023-07-14 16:26:59

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幾種常見的關于SEM IP的沖突

SEM IP是一種比較特殊的IP。它的基本工作就是不停地后臺掃描檢測FPGA配置RAM中的數據

2023-07-10 16:40:23

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EM科特 CUBE-Ⅱ臺式桌面掃描電鏡與傳統掃描電鏡的區別

EM科特（EmCrafts）Cube系列桌面式掃描電鏡，是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。區別與傳統掃描電鏡的笨重機身，Cube系列占地面積小，便攜性能好，可遵照客戶服務指南任意移動SEM設備。 EM

2023-07-05 15:24:02

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關于EM科特 Veritas鎢燈絲掃描電鏡系列的特點分析

的高性能高效率，大樣品倉內含5軸共心電動樣品臺，可更輕松地測量大尺寸樣品。 EM科特 Veritas鎢燈絲掃描電鏡系列產品優勢 l大尺寸樣品分析? Veritas系列可以分析常規SEM無法分析的大尺寸樣品。例如：晶圓，磁盤 l無損樣品分析?? 無需切割即可分析樣品。例如PCB，半導體圖案分析 l較重

2023-07-05 15:13:38

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SEM掃描電鏡工作原理，SEM掃描電鏡技術應用

等領域。SEM掃描電鏡分析實驗室圖源：優爾鴻信華南檢測中心SEM掃描電鏡工作原理SEM電鏡工作原理，主要基于聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品，通過光束與物質間的相

2023-07-05 10:04:06

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AMEYA360談蔡司場發射掃描電鏡Sigma系列

近日，蔡司中國新一代場發射掃描電子顯微鏡Sigma系列新品線上發布會成功舉行。為了滿足新能源、新材料、電子半導體和集成電路、深海、航天、生命科學和考古學等熱門領域高分辨率成像和綜合分析的需要，蔡司

2023-07-04 15:39:24

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BGA失效分析與改善對策

2023-06-26 10:47:41

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集成電路封裝失效分析流程

為了防止在失效分析過程中丟失封裝失效證據或因不當順序引人新的人為的失效機理，封裝失效分析應按一定的流程進行。

2023-06-25 09:02:30

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集成電路封裝失效分析方法

集成電路封裝失效分析就是判斷集成電路失效中封裝相關的失效現象、形式（失效模式），查找封裝失效原因，確定失效的物理化學過程（失效機理），為集成電路封裝糾正設計、工藝改進等預防類似封裝失效的再發生，提升

2023-06-21 08:53:40

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場發射掃描電鏡GeminiSEM 500規格參數

今天三本精密儀器小編給您介紹場發射掃描電鏡GeminiSEM500規格參數及樣品制備要求：一、樣品要求（1）本儀器不接收磁性、易潮、液體、有機、生物、不耐熱、熔融蒸發、松動粉末或碎屑等有揮發物樣品

2023-06-19 11:15:40

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講一下失效分析中最常用的輔助實驗手段：亮點分析（EMMI）

EMMI：Emission microscopy 。與SEM，FIB，EB等一起作為最常用的失效分析手段。

2023-06-12 18:21:18

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LED數顯驅動芯片/數碼管驅動芯片VK1650,LED驅動、鍵盤掃描，8段4位，8級亮度控制

? 產品品牌：永嘉微電/VINKA 產品型號：VK1650 封裝形式：SOP16 產品年份：新年份? 概述： VK1650是一種帶鍵盤掃描電路接口的 LED?驅動控制專用芯片，內部集成有數

2023-06-10 09:17:30

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喜提儀器行業大獎！國儀量子場發射掃描電鏡SEM5000獲“3i獎”

5月18日，2023第十六屆中國科學儀器發展年會(ACCSI2023)在北京雁棲湖國際會展中心盛大開幕，并頒發“儀器及檢測3i獎”。國儀量子自主研發的場發射掃描電鏡SEM5000榮獲“3i

2023-05-30 17:19:16

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LED驅動電源失效的原因分析

LED驅動電源作為LED照明中不可或缺的一部分，對其電子封裝技術要求亦愈發嚴苛，不僅需要具備優異的耐候性能、機械力學性能、電氣絕緣性能和導熱性能，同時也需要兼顧灌封材料和元器件的粘接性。那么在LED驅動電源的使用中，導致LED驅動電源失效的原因都有哪些呢?下面就跟隨名錦坊小編一起來看看吧!

2023-05-18 11:21:19

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