1、案例背景 LED燈帶在使用一段時(shí)間后出現(xiàn)不良失效，初步判斷失效原因?yàn)殂~腐蝕。據(jù)此情況，對失效樣品進(jìn)行外觀觀察、X-RAY分析、切片分析等一系列檢測手段，明確失效原因。 2、分析過程 2.1 外觀
2023-12-11 10:09:07
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共聚焦顯微鏡具有高分辨率和高靈敏度的特點(diǎn)，適用于多種不同樣品的成像和分析，能夠產(chǎn)生結(jié)果和圖像清晰，易于分析。這些特性使共聚焦顯微鏡成為現(xiàn)代科學(xué)研究中的重要工具，同時(shí)為人們解析微觀世界提供了一種強(qiáng)大
2023-11-21 09:21:03
0 將詳細(xì)分析光耦失效的幾種常見原因。 首先，常見的光耦失效原因之一是LED失效。LED是光耦發(fā)光二極管的核心部件，它會發(fā)出光信號。常見的LED失效原因有兩種：老化和損壞。LED的使用壽命是有限的，長時(shí)間使用后會逐漸老化。老化后的LE
2023-11-20 15:13:441445 共聚焦顯微鏡能夠清晰地展示微小物體的圖像形態(tài)細(xì)節(jié)，顯示出精細(xì)的細(xì)節(jié)圖像。它具有直觀測量的特點(diǎn)，能夠有效提高工作效率，更加快捷準(zhǔn)確地完成日常任務(wù)。借助共聚焦顯微鏡，能有效提高工作效率，實(shí)現(xiàn)更準(zhǔn)確的操作。
2023-11-20 11:32:59286 
那么就要用到一些常用的失效分析技術(shù)。介于PCB的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)與失效的主要模式，其中金相切片分析是屬于破壞性的分析技術(shù)，一旦使用了這兩種技術(shù)，樣品就破壞了，且無法恢復(fù)；另外由于制樣的要求，可能掃描電鏡分析和X射線能譜分析有時(shí)也需要部分破壞樣品。
2023-11-16 17:33:05115 切片分析切片分析就是通過取樣、鑲嵌、切片、拋磨、腐蝕、觀察等一系列手段和步驟獲得 PCB 橫截面結(jié)構(gòu)的過程。
2023-11-16 16:31:56156 如今，不僅有能放大幾千倍的光學(xué)顯微鏡，也有能放大幾十萬倍的電子顯微鏡，讓我們對生物體的生命活動規(guī)律有了更深入的了解。普通中學(xué)生物教學(xué)大綱中規(guī)定的實(shí)驗(yàn)絕大部分都是利用顯微鏡來完成的，因此顯微鏡的性能是觀察好實(shí)驗(yàn)的關(guān)鍵。
2023-11-07 15:23:26797 隨著科技的不斷進(jìn)步，掃描顯微鏡成為了現(xiàn)代顯微鏡技術(shù)的重要組成部分。它能夠提供更高的分辨率、更廣的視場和更強(qiáng)的功能，用于研究各種微觀結(jié)構(gòu)和材料的特性。而高壓放大器在掃描顯微鏡系統(tǒng)中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用
2023-10-24 18:00:42343 
運(yùn)放741采用金屬罐裝，用鋼鋸可以打開。然后使用金相顯微鏡，它通過鏡頭從上方發(fā)出光線，在高放大倍率下可以獲得較清晰的照片，這樣就可以觀察元器件的細(xì)節(jié)。下面是運(yùn)放741的電路圖，對照電路圖，可以看芯片在顯微鏡下面的各個(gè)元器件的分布情況。
2023-10-21 10:47:41451 
激光共聚焦顯微鏡在材料生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中，可用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級測量。中圖儀器VT6000國產(chǎn)激光共聚焦顯微鏡是以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面
2023-10-16 09:26:14
共焦顯微鏡系統(tǒng)所展現(xiàn)的放大圖像細(xì)節(jié)要高于常規(guī)的光學(xué)顯微鏡。VT6000共聚焦激光顯微鏡技術(shù)以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，在
2023-09-28 09:19:04
本文將圍繞掃描噪聲顯微鏡（SNoiM）技術(shù)的實(shí)驗(yàn)原理及其應(yīng)用，詳細(xì)介紹如何通過自主研制的紅外被動近場顯微鏡，突破紅外熱成像的衍射極限限制，實(shí)現(xiàn)納米級紅外溫度成像。
2023-09-22 10:16:21287 
更加清晰、細(xì)致的圖像。 功率放大器可以幫助掃描
顯微鏡增強(qiáng)信號。在樣品的表面掃描過程中，掃描探針會與樣品產(chǎn)生相互作用，生成微小的信號。這些信號非常微弱，需要被放大才能被檢測和
分析。功率放大器通過提供適當(dāng)?shù)男盘?/div>
2023-09-07 18:28:23209 
SuperViewW1國產(chǎn)白光干涉顯微鏡以白光干涉技術(shù)為原理，結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌，用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量。產(chǎn)品功能
2023-09-06 14:34:18
失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動。
2023-09-06 10:28:051331 
聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統(tǒng) FIB-SEM應(yīng)用
聚焦離子束-掃描電鏡雙束系統(tǒng)主要用于表面二次電子形貌觀察、能譜面掃描、樣品截面觀察、微小樣品標(biāo)記以及TEM超薄片樣品的制備。
1.FIB切片
2023-09-05 11:58:27
芯片失效分析方法 芯片失效原因分析? 隨著電子制造技術(shù)的發(fā)展，各種芯片被廣泛應(yīng)用于各種工業(yè)生產(chǎn)和家庭電器中。然而，在使用過程中，芯片的失效是非常常見的問題。芯片失效分析是解決這個(gè)問題的關(guān)鍵。 芯片
2023-08-29 16:29:112800 在材料生產(chǎn)領(lǐng)域，共焦顯微鏡系統(tǒng)所展現(xiàn)的放大圖像細(xì)節(jié)要高于常規(guī)的光學(xué)顯微鏡。在相同物鏡放大的條件下，共焦顯微鏡所展示的圖像形態(tài)細(xì)節(jié)更清晰更微細(xì)，橫向分辨率更高。VT6000材料型轉(zhuǎn)盤共聚焦顯微鏡以共聚
2023-08-29 09:03:37
產(chǎn)品介紹—— 采用優(yōu)異的光學(xué)系統(tǒng)，視場清晰范圍更加寬廣，任意倍率下都能保持優(yōu)質(zhì)明亮的成像，是現(xiàn)代電子工業(yè)檢測及設(shè)備配套的首選。適用于PCB、LCD、IC的裝配和檢測。 體式顯微鏡參數(shù)表 ——
2023-08-28 16:22:57
產(chǎn)品介紹—— 使用一體式視頻顯微鏡可觀察PCB板上的各種不同原件，簡單的調(diào)節(jié)即可對焦實(shí)現(xiàn)快速觀察，亦可觀察LED芯片等；使用一體式視頻顯微鏡可觀察各種成型零件如鉆頭、車刀、銑刀、沖模的形狀
2023-08-28 16:19:41
激光共聚焦顯微鏡原理是由LED光源發(fā)出的光束經(jīng)過一個(gè)多孔盤和物鏡后，聚焦到樣品表面。之后光束經(jīng)樣品表面反射回測量系統(tǒng)。再次通過MPD上的針孔時(shí)，反射光將只保留聚焦的光點(diǎn)。最后，光束經(jīng)分光片反射后在
2023-08-22 15:19:49
電池材料的二維顯微成像與表征 ? 光學(xué)顯微鏡起源于17世紀(jì)，利用可見光的波長放大物體，達(dá)到微米級分辨率，廣泛應(yīng)用于生命科學(xué)、材料科學(xué)等領(lǐng)域。在電池領(lǐng)域，可以觀察電極結(jié)構(gòu)，檢測電極缺陷和鋰枝晶的生長
2023-08-22 13:41:06323 
白光干涉儀顯微鏡以白光干涉技術(shù)原理，對各種精密器件表面進(jìn)行納米級測量的儀器，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌，專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量
2023-08-22 09:15:52
由于透鏡的缺陷，必須對所有理想光路圖進(jìn)行修正。這些缺陷限制了顯微鏡的分辨率，但矛盾的是，它有助于從顯微鏡獲得更好的焦深和景深。
2023-08-18 11:31:08391 
共焦顯微鏡系統(tǒng)所展現(xiàn)的放大圖像細(xì)節(jié)要高于常規(guī)的光學(xué)顯微鏡。在相同物鏡放大的條件下，共焦顯微鏡所展示的圖像形態(tài)細(xì)節(jié)更清晰更微細(xì)，橫向分辨率更高。 VT6000系列3d形貌激光共聚焦顯微鏡以
2023-08-18 10:09:19
共聚焦顯微鏡是一種重要的顯微鏡技術(shù)，它可以提供高分辨率和三維成像能力，對材料科學(xué)等領(lǐng)域具有重要意義。三維成像原理由LED光源發(fā)出的光束經(jīng)過一個(gè)多孔盤和物鏡后，聚焦到樣品表面。之后光束經(jīng)樣品表面反射
2023-08-15 10:52:36583 
CHOTEST中圖儀器轉(zhuǎn)盤光學(xué)共聚焦顯微鏡以轉(zhuǎn)盤共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ)，結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和3D重建算法，共同組成測量系統(tǒng)，集成X、Y、Z三個(gè)方向位移調(diào)整功能的操縱手柄，可快速完成載物臺平移、Z向
2023-08-09 09:02:30
和共聚焦3D顯微形貌檢測技術(shù)，廣泛應(yīng)用于涉足超精密加工領(lǐng)域的三維形貌檢測與表面質(zhì)量檢測方案。其中，VT6000系列共聚焦顯微鏡，在結(jié)構(gòu)復(fù)雜且反射率低的表面3D微觀形貌重構(gòu)與檢測方面具有不俗的表現(xiàn)。
一
2023-08-04 16:12:06
在相同物鏡放大的條件下，共焦顯微鏡所展示的圖像形態(tài)細(xì)節(jié)更清晰更微細(xì)，橫向分辨率更高。如同為微納檢測的利器，共聚焦擅長微納級粗糙輪廓的檢測，能夠提供色彩斑斕的真彩圖像便于觀察。
2023-08-02 13:42:23
和分析來揭示樣品的微觀結(jié)構(gòu)。 1.電子源 ? TEM使用電子束而不是光束。季豐電子MA實(shí)驗(yàn)室配備的透射電鏡Talos系列采用的是超高亮度電子槍，球差透射電鏡HF5000采用的是冷場電子槍。 2.真空系統(tǒng) ? 為了避免電子束在穿越樣品之前與氣體相互作用，整個(gè)顯微鏡都必須維持在高真空條件下。 3
2023-08-01 10:02:152341 中圖儀器VT6000系列轉(zhuǎn)盤共聚焦光學(xué)顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，能測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度
2023-07-24 14:41:27
與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡相比，激光共聚焦顯微鏡具有更高的分辨率，實(shí)現(xiàn)多重?zé)晒獾耐瑫r(shí)觀察并可形成清晰的三維圖像等優(yōu)點(diǎn)。中圖儀器VT6000系列共聚焦顯微鏡以轉(zhuǎn)盤共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ)，結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和3D
2023-07-18 13:35:19
今天小編三本精密儀器給大家介紹下共聚焦顯微鏡Smartproof5數(shù)碼顯微鏡可信的數(shù)據(jù)輸出1、由于其受專利保護(hù)的寬場相關(guān)孔徑共聚焦技術(shù)，Smartproof5能夠有效地減少獲取分析結(jié)果的時(shí)間，從而
2023-07-12 14:40:13421 
在材料生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中，共聚焦激光顯微鏡可以實(shí)現(xiàn)對器件表面形貌的3D測量。 中圖儀器VT6000共聚焦激光顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸
2023-07-10 11:28:42
在材料生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中，共聚焦顯微鏡在陶瓷、金屬、半導(dǎo)體、芯片等材料科學(xué)及生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中也具有廣泛的應(yīng)用。它結(jié)合CCD的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影
2023-07-06 13:36:38
掃描隧道顯微鏡STM 掃描隧道顯微鏡 (Scanning Tunneling Microscope, 縮寫為STM) 是一種掃描探針顯微術(shù)工具，掃描隧道顯微鏡可以讓科學(xué)家觀察和定位單個(gè)原子，它具有
2023-07-04 13:12:051129 
了強(qiáng)大而靈活的功能。共聚焦顯微鏡使用激光束照射樣品，并通過適當(dāng)?shù)墓鈱W(xué)系統(tǒng)收集反射的光信號。將這些信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字圖像后，經(jīng)過計(jì)算機(jī)處理和分析，就能生成優(yōu)質(zhì)的圖像和數(shù)據(jù)
2023-07-03 16:46:18870 中圖共聚焦激光顯微鏡VT6000系列擅長微納級粗糙輪廓的檢測，能夠提供色彩斑斕的真彩圖像便于觀察。中圖共聚焦激光顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，可應(yīng)用于半導(dǎo)體
2023-06-29 14:28:22
VT6000系列中圖共聚焦激光掃描顯微鏡是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級測量的檢測儀器。它以共聚焦技術(shù)為原理，在轉(zhuǎn)盤共聚焦光學(xué)系統(tǒng)的基礎(chǔ)上，結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和3D重建算法，共同
2023-06-28 13:45:21
結(jié)構(gòu)，蔡司提供3DX射線顯微鏡到激光雙束電鏡LaserFIB的解決方案，實(shí)現(xiàn)從三維無損缺陷定位到超大尺寸高效截面制備，再到高分辨成像分析的完整流程。三維X射線顯微鏡
2023-06-27 15:52:39375 
共聚焦顯微鏡的系統(tǒng)點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)分布等于物鏡和點(diǎn)像能量分布的卷積。在物鏡相同的情況下，其橫向分辨率(x-y面)比傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡提高了1.4倍，達(dá)到0.4λ/NA，如中圖儀器的VT6000材料共聚焦顯微鏡
2023-06-20 10:19:29
在材料生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中，共聚焦顯微鏡在陶瓷、金屬、半導(dǎo)體、芯片等材料科學(xué)及生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中也具有廣泛的應(yīng)用。它以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立
2023-06-14 14:18:32
的光電倍增管，對微弱的熒光信號可以呈現(xiàn)出很高的靈敏度，并且還可以通過縮小激發(fā)范圍并使用光學(xué)切片來消除背景噪聲。 VT6000系列3D激光共聚焦顯微鏡是一款用于
2023-06-13 10:53:26
? 相機(jī)的作用說白了就是將顯微鏡光路所放大的像顯示出來。在顯微鏡領(lǐng)域有一個(gè)專業(yè)術(shù)語叫做Field Number(以下簡稱FN)，用來表征顯微鏡所成像平面(是一個(gè)圓形區(qū)域)的直徑，這個(gè)像通過顯微鏡
2023-06-09 06:50:47289 
在材料生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中，共聚焦顯微鏡所展現(xiàn)的放大圖像細(xì)節(jié)要高于常規(guī)的光學(xué)顯微鏡。傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡上常配備靈敏度較低的CCD相機(jī)來采集圖像，對于低照度的光，如熒光無法探測到，而共聚焦顯微鏡系統(tǒng)使用的探測
2023-06-06 13:39:27
產(chǎn)品介紹—— 自動對焦視頻顯微鏡可在顯示器上以全新的角度觀察樣品，無需使用目鏡。并能夠顯示及保存高品質(zhì)全彩色靜態(tài)圖像、動態(tài)高清影片，普密自動對焦視頻顯微鏡采用一體化機(jī)身設(shè)計(jì)，全套光學(xué)系統(tǒng)
2023-05-31 15:30:01
產(chǎn)品介紹—— 普密斯金相顯微鏡是一種集軟件、光、機(jī)、電一體的高精度、高效率的顯微測量儀器，從外觀到性能都緊跟國際領(lǐng)先設(shè)計(jì)風(fēng)向，致力于拓展工業(yè)領(lǐng)域全新格局。普密斯秉承不斷探索不斷超越
2023-05-31 15:24:57
產(chǎn)品介紹—— 普密斯PMS-TM200是一種新型的數(shù)字測量顯微鏡.結(jié)合了金相顯微鏡的高倍觀察能力，和影像測量儀的X、Y、Z軸表面尺寸測量功能，具備明暗場、微分干涉、偏光等多種
2023-05-31 15:19:59
產(chǎn)品介紹—— 3D視頻顯微鏡有多種3D觀察角度：30°，35°，40°，45°，直流伺服馬達(dá)驅(qū)動3D轉(zhuǎn)換鏡圍繞式樣進(jìn)行360°旋轉(zhuǎn)，實(shí)時(shí)將圖像傳導(dǎo)在高清顯示器上在線觀察。 3D視頻顯微鏡
2023-05-31 15:16:47
與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡相比，激光共聚焦顯微鏡具有更高的分辨率，所展現(xiàn)的放大圖像細(xì)節(jié)要高于常規(guī)的光學(xué)顯微鏡。所展示的圖像形態(tài)細(xì)節(jié)更清晰更微細(xì)，橫向分辨率更高。 中圖儀器VT6000激光共聚焦顯微鏡
2023-05-30 11:35:55
在材料生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中，共聚焦顯微鏡在陶瓷、金屬、半導(dǎo)體、芯片等材料科學(xué)及生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中也具有廣泛的應(yīng)用。 中圖儀器VT6000系列中圖共聚焦顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理，通過系統(tǒng)軟件對器件表面
2023-05-26 11:14:28
在材料生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中，共聚焦顯微鏡主要測量表面物理形貌，進(jìn)行微納米尺度的三維形貌分析，如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓（縱深、寬度、曲率、角度）、表面粗糙度等。與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡相比，它具有更高
2023-05-25 11:27:02
在材料生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中，共聚焦顯微鏡在陶瓷、金屬、半導(dǎo)體、芯片等材料科學(xué)及生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中也具有廣泛的應(yīng)用。 中圖儀器VT6000系列共聚焦3D成像顯微鏡系統(tǒng)以共聚焦技術(shù)為原理，通過系統(tǒng)軟件
2023-05-22 10:37:45
在材料生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中，共聚焦顯微鏡在陶瓷、金屬、半導(dǎo)體、芯片等材料科學(xué)及生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中也具有廣泛的應(yīng)用。例如，鋼的鑄造組織一般比較粗大，可直接用共聚焦顯微鏡進(jìn)行觀察，同時(shí)可以利用其模擬微合金鋼在
2023-05-18 14:05:46
中圖儀器VT6000系列轉(zhuǎn)盤共聚焦顯微鏡是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級測量的檢測儀器。它是以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立
2023-05-08 09:54:25
在材料生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中，3d共聚焦測量顯微鏡在陶瓷、金屬、半導(dǎo)體、芯片等材料科學(xué)及生產(chǎn)檢測領(lǐng)域中也具有廣泛的應(yīng)用。例如，鋼的鑄造組織一般比較粗大，可直接用共聚焦顯微鏡進(jìn)行觀察，同時(shí)可以利用其模擬微
2023-05-04 15:53:48
：通孔（支撐孔）的透錫率僅20%左右，遠(yuǎn)低于正常值75%。 針對正常焊點(diǎn)的X-RAY檢測： 說明：該批次正常品焊點(diǎn)通孔的透錫率與異常焊點(diǎn)一致。 切片斷面分析 ? #01 金相分析 針對異常焊點(diǎn)的金相分析： ? 說明：異常焊點(diǎn)的斷面金相圖示表明焊錫填充不足，存在
2023-05-03 11:05:28415 
共聚焦顯微鏡裝置是在被測對象焦平面的共軛面上放置兩個(gè)小孔，其中一個(gè)放在光源前面，另一個(gè)放在探測器前面，如圖所示。 共聚共焦顯微鏡光路示意圖 得到的圖像是來自一個(gè)焦平面的光通過針孔
2023-04-24 09:25:29
以共聚焦技術(shù)為原理的共聚焦顯微鏡，是用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級測量的檢測儀器。 中圖儀器VT6000系列三維光學(xué)輪廓共聚焦材料顯微鏡基于共聚焦顯微技術(shù)，結(jié)合精密Z向掃描模塊
2023-04-20 10:52:25
以共聚焦技術(shù)為原理的共聚焦顯微鏡，是用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級測量的檢測儀器。 中圖儀器VT6000系列3d工業(yè)共聚焦顯微鏡基于共聚焦顯微技術(shù)，結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D
2023-04-19 10:14:05
失效分析（FA）是一門發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開發(fā)
2023-04-18 09:11:211360 
中圖儀器共聚焦光學(xué)顯微鏡VT6000是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級測量的檢測儀器。它是以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面
2023-04-14 13:53:10
共聚焦顯微鏡結(jié)合CCD的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時(shí)間(約幾秒)內(nèi)精確量測物體的三維數(shù)據(jù).由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大
2023-04-12 14:29:27
中圖儀器VT6000光學(xué)3d共聚焦顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理，主要用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級測量。光學(xué)3d共聚焦顯微鏡儀器結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描
2023-04-04 11:07:52
中圖儀器VT6000超景深光學(xué)顯微鏡與共聚焦材料表面微納米級測量儀以轉(zhuǎn)盤共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ)，結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和3D重建算法，共同組成測量系統(tǒng)，保證儀器的高測量精度；隔震設(shè)計(jì)能夠消減底面振動噪聲
2023-04-04 11:04:53
中圖儀器VT60003D高精度激光共聚焦掃描顯微鏡以共聚焦顯微測量技術(shù)為原理，主要測量表面物理形貌，進(jìn)行微納米尺度的三維形貌分析，如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓（縱深、寬度、曲率、角度）、表面
2023-03-27 14:05:31
共聚焦顯微鏡主要采用3D捕獲的成像技術(shù)，它通過數(shù)碼相機(jī)針孔的高強(qiáng)度激光來實(shí)現(xiàn)數(shù)字成像，具有很強(qiáng)的縱向深度的分辨能力。 中圖儀器VT6000顯微共聚焦成像以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描
2023-03-24 15:46:01
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