Tekvpi探針接口的一些好處是什么? Tekvmi探針接口的最大好處是多功能性和易于使用。 示波器 使用Tekvmi接口支持范圍廣泛的 普羅布斯 包括Tekvmi探針,BMC
2024-03-22 10:32:53
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測試元件 邏輯探針，20MHz
2024-03-14 20:50:37
測試元件 邏輯探針，50MHz
2024-03-14 20:50:37
探針卡微孔加工對精度要求極高，因此需要超高精密加工設備才能滿足技術要求。蘇州璟豐機電JF系列微納加工中心在微孔、深孔加工有著獨特的技術突破，為半導體探針卡制造提供先進、高效的解決方案。
2024-03-13 13:12:3654 
近日，上海韜盛科技旗下的蘇州晶晟微納宣布推出其最新研發的N800超大規模AI算力芯片測試探針卡。這款高性能探針卡采用了前沿的嵌入式合金納米堆疊技術，旨在滿足當前超大規模AI算力芯片的高精度測試需求。
2024-03-04 13:59:12201 如果應用是慢啟動類型，建議配置啟動探針或者為存活探針配置initialDelaySeconds參數，避免存活探針過早介入導致容器頻繁重啟。如果應用啟動時間不固定建議使用啟動探針。
2024-02-26 11:08:50137 臺階儀通過掃描被測樣品表面，獲取高分辨率的表面形貌數據，能夠揭示微觀結構的特征和性能。了解工作原理和性能特點臺階儀利用掃描探針在樣品表面上進行微觀測量，通過探測探針和樣品表面之間的相互作用力，獲取
2024-02-20 09:06:24
0 探針測試臺是一種用于測試集成電路（IC）的設備，工作原理是將待測試的IC芯片安裝在測試座上，然后通過探針接觸到芯片的引腳，以測試芯片的功能和性能。在測試過程中，探針測試臺會生成一系列的測試信號，通過
2024-02-04 15:14:19234 CASCADE探針臺是一種高級的網絡分析工具，可以在網絡中捕獲和分析數據流量。它可以幫助企業識別和解決網絡性能問題、網絡安全問題以及網絡優化等方面的挑戰。CASCADE探針臺具有廣泛的應用場景，下面
2024-01-31 14:41:25270 總部位于瑞士的微型 3D 打印公司Exaddon 開發了能夠以低于 20 μm 間距進行細間距探測的 3D微打印探針。細間距探針測試是用于測試半導體芯片的極其復雜且精確的過程。
2024-01-26 18:23:071334 作為芯片晶圓測試階段的重要工具之一，探針卡在不斷更新迭代。為滿足更高需求的晶圓測試，針卡類型也逐漸從懸臂針卡向垂直針卡升級。
2024-01-25 10:29:21658 
ACp65是一種常用的探針，被廣泛用于研究細胞衰老、疾病發展和治療等領域。在本文中，我們將詳細介紹ACp65探針的參數、應用以及未來的發展。 ACp65探針的基本參數 ACp65探針是一種標記于抗原
2024-01-10 14:39:01207 需要了解示波器探頭是如何工作的。示波器探頭是一種電子測量工具，用于連接示波器與被測試電路之間。它通常由一個連接到測試點的針狀探針和一個連接到示波器的插頭組成。探針通過測量被測試電路的電壓信號，并將其傳輸到示波
2024-01-08 11:42:25196 的表征太陽能電池中ITO薄膜的方阻/電阻率而生產了美能四探針電阻測試儀。該設備所擁有超大的測量范圍并支持全自動掃描，可幫助電池廠商在較短時間內輕易使用并實現高精度測量
2023-12-30 08:33:04257 
隨著生物醫學和臨床成像技術的飛速發展，在NIR-II/SWIR波段的熒光納米探針發展迅速。NIR-II波段(1000nm-1700nm)在組織中的散射和吸收較低，允許輻射更深入地穿透不透明組織，且可以保持高分辨率。
2023-12-27 06:31:44134 
電子發燒友網站提供《利用射頻收發器模塊從探針無線傳輸數據的解決方案.pdf》資料免費下載
2023-11-28 09:54:530 據傳感器專家網獲悉，近日，和林微納在接受機構調研時表示，線針、MEMS晶圓測試探針均進入部分客戶驗證環節。 和林微納進一步稱，半導體探針業務受行業及經濟環境等綜合影響，營業收入較往年有較大的變化
2023-11-16 08:38:47229 關于蔡司三坐標測量儀主探針和測針準確調節的方法，蔡司授權代理三本精密儀器講解如下:1、安裝XXT加長桿:在使用扳手擰緊測針時，XXT測針裝配輔助工具可以頂住加長桿以便于調節。2、調節XXT星形
2023-11-15 17:00:34956 
飛針式測試儀是對傳統針床在線測試儀的一種改進，它用探針來代替針床，在 X-Y 機構上裝有可分別高速移動的4 個頭共8 根測試探針，測試間隙為0.2mm。工作時在測單元（UUT， unit under
2023-11-14 15:16:54210 問：通過探針測量電源噪聲 開關電源通常在其開關頻率的諧波處或與開關頻率相干的位置產生干擾性EMI噪聲。由于電源噪聲的帶寬很大，因此示波器通常是測量此噪聲的首選工具。使用示波器測量此噪聲時需要特別注意
2023-11-09 10:45:06284 
Q A 問： 通過探針測量電源噪聲 開關電源通常在其開關頻率的諧波處或與開關頻率相干的位置產生干擾性EMI噪聲。由于電源噪聲的帶寬很大，因此示波器通常是測量此噪聲的首選工具。使用示波器測量此噪聲
2023-11-09 10:45:03155 
中圖儀器SJ5730系列納米探針式輪廓儀采用超高精度納米衍射光學測量系統、超高直線度研磨級摩擦導軌、高性能直流伺服驅動系統、高性能計算機控制系統技術，分辨率高達0.1nm，系統殘差小于3nm
2023-11-09 09:14:22
探針臺是半導體行業重要的檢測裝備之一，其廣泛應用于復雜、 高速器件的精密電氣測量，旨在確保質量及可靠性，并縮減研發時間和器件制造工藝的成本。
2023-11-08 14:04:32298 
。「美能光伏」為此生產了美能在線四探針電阻測試儀，該設備可在完成沉積工藝等眾多與電池方阻/電阻率有關的生產工藝后快速、精準的對電池進行檢測，保證在達到良好接觸率的同
2023-11-04 08:34:15239 作為現代電子設備中的重要測量工具，電流注入探頭在各個領域中發揮著重要作用。本文將詳細探討電流注入探頭的工作原理以及其應用技術，幫助讀者更好地理解和應用該技術。 一、電流注入探頭的基本原理 電流
2023-11-01 14:08:36327 
CP系列探針式臺階輪廓儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀，數據復現性高、測量穩定、便捷、高效，是微觀表面測量中使用非常廣泛的微納樣品測量手段。CP系列探針式臺階輪廓儀可以對微米和納米結構進行膜厚
2023-10-25 13:37:25
電子發燒友網站提供《一種橫向Ka波段寬帶波導-微帶探針過渡的設計.pdf》資料免費下載
2023-10-23 14:11:432 。「美能光伏」為幫助電池廠商找出太陽能電池投入使用時會出現的性能問題，憑借獨特的檢測經驗和科學的生產技術，出產了可適用于大規模沉積工藝的美能在線四探針電阻測試儀，該設備可與產線
2023-10-21 08:33:57423 “探針卡”是一種測試接口，通過連接測試機和芯片傳輸信號，對芯片參數進行測試。探針卡將探針與芯片上的焊墊直接接觸，引出芯片訊號，配合周邊測試儀器與軟件控制達到自動化量測的目的。 隨著晶圓技術的不斷提升
2023-10-13 12:30:02212 
為了保障鈣鈦礦太陽能電池的性能與質量，電池廠商往往都會關注其沉積薄膜的各種參數信息，從而采取有效的方式進行薄膜優化，提升鈣鈦礦太陽能電池的性能。「美能光伏」擁有的美能探針式臺階儀，憑借其出色和強大
2023-09-28 08:35:52359 在太陽能電池的產業化生產過程中，傳統的四探針測量技術往往會出現測量數據的偏差、測量后太陽能電池的完好性受損等問題，為了幫助電池廠商輕松處理所遇到的這些問題，「美能光伏」憑借在光伏檢測行業中專業且獨到
2023-09-23 08:36:01299 PW-US16T 探針式初粘力測試儀又叫探針式初粘力試驗機(ProbeTackTester)，是膠帶初粘力測試的方式之一，主要用于各種膠帶、粘合劑類等各種不同產品的初始粘著力測試，產品滿足ASTM
2023-09-19 16:17:03
制造工藝：制造高頻探針需要高度精密的工藝。通常，鎢粉與其他金屬粉末混合，然后通過拉拔機械等工藝加工成所需的尺寸和形狀。這確保了探針的尺寸精度和表面光滑度，以滿足高頻測試的要求。
2023-09-15 17:04:07527 
電阻測試儀端子E(或C 2 、P 2 )、P 1 、C 1 與探針所在位置對應連接。 1、準備工作 1）熟讀接地電阻測試儀的使用說明書，全面了解儀器的結構、性能及使用方法。 2）備齊測量時所必需的工具及全部儀器附件，并將儀器和接地探針擦拭干凈，特別是接地探針，一定要將其表面影
2023-09-14 10:55:362137 
SJ5730粗糙度輪廓探針式測量儀采用超高精度納米衍射光學測量系統、超高直線度研磨級摩擦導軌、高性能直流伺服驅動系統、高性能計算機控制系統技術，實現對軸承及工件表面粗糙度和輪廓的高精度測量和分析
2023-09-07 09:28:58
為了測量電路性能，需要將信號傳輸到某種傳輸線上，這要求至少兩個導體，即“信號導體”和“地導體”。因此，射頻探針可以分為三種基本類型：GS、SG、GSG。
2023-09-05 11:01:031550 
的空間也將獲得更加高效的利用。 特點： 掀蓋式屏蔽箱采用航空鋁合金材質，產品輕便，便于運輸和安裝。 在屏蔽箱兩側及后方的接入口處增加電磁屏蔽，提升了屏蔽性能，可以有效屏蔽電磁干擾，能進一步提高探針臺的測試精度。
2023-08-30 09:16:42326 
"去嵌"是一種高頻測試中常用的技術，旨在消除測量中探針或連接線等外部元件的影響，以便更準確地測量被測試器件的性能。
2023-08-28 15:39:241152 
SJ5730接觸式探針輪廓儀具有12mm-24mm的粗糙度輪廓一體式測量范圍，分辨率達到0.1nm，適合測量大曲面高精密零部件的輪廓參數測量，同時具備球面、弧面、非球面輪廓參數評價功能，能夠滿足各種
2023-08-28 11:14:15
近年來，隨著電池廠商對太陽能電池生產的要求越來越高，在生產中太陽能電池的效率和性能也愈發重要。為了更好的判斷太陽能電池的效率和性能是否符合生產標準，「美能光伏」研發了美能四探針電阻測試儀，可對
2023-08-26 08:36:01331 點擊美能光伏關注我們吧！薄層電阻在太陽能電池中起著非常重要的作用，它影響著太陽能電池的效率和性能。四探針法能夠測量太陽能電池的薄層電阻，從而精確地獲取電池片的電阻數據。「美能光伏」擁有的美能掃描
2023-08-24 08:37:061069 
光譜用于分析新開發的基于碳納米管傳感器的生物傳感器的工作效果。由于該波段成像的生物醫學和臨床應用的不斷發展，NIR-II/SWIR 波段熒光納米探針的開發正在快速增長。在 1000 nm
2023-08-24 06:25:27215 奕葉最新四向毫米波探針臺 奕葉最新的四向毫米波探針臺在IMS2023展出。該產品具有四向毫米波針座搭建及可以滿足客戶的東南，西南
2023-08-23 16:51:04
奕葉四向毫米波探針臺
2023-08-23 14:21:22555 
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?采用翻蓋加螺旋下壓結構，操作方便;
?壓塊結構合理，下壓速度線性可控,下壓力度平穩均衡，芯片管殼受力均勻保證安全;
?探針的爪頭呈凹圓弧型,有效承托錫球，既可以保證接觸性能穩定又能
2023-08-22 13:32:03
CP200探針式臺階儀是一種接觸式表面形貌測量儀器，可以對微米和納米結構進行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。臺階儀對測量工件的表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒有特別要
2023-08-17 09:59:47
近日，天津大學精密儀器與光電子工程學院的程振洲教授、劉鐵根教授與深圳大學王佳琦副教授合作研究，研發了一種基于銩離子摻雜上轉換納米顆粒的水分子傳感探針，成果以“Tm3+-doped
2023-08-10 09:39:59287 
及更高版本的各種調試探針。一些開發板需要更新板上固件才能與Keil Studio一起工作。
此應用程序說明指向板載調試探測器的更新信息。
2023-08-08 06:35:54
了解使用Arm調試或跟蹤目標時的常見問題和答案開發工作室（Arm DS）。此頁面主要介紹連接、調試和跟蹤仿真、FPGA和硅靶。
要使用Arm DS調試目標，您必須具備以下條件：
?調試探針，如
2023-08-02 06:50:15
近日，來自中科院上海微系統所傳感技術國家重點實驗室的科研人員，受到蚊子口器的啟發，開發了一種創新的神經探針。
2023-07-25 17:04:31751 
飛針測試：用探針來取代針床，使用多個由馬達驅動的、能夠快速移動的電氣探針同器件的引腳進行接觸并進行電氣測量。
2023-07-25 11:12:151419 半導體產業是全球技術進步的核心引擎，其成果無處不在，從我們的智能手機到現代交通工具，再到各種先進的醫療設備。而在這一巨大產業中，每一個微小但至關重要的部分都需經過嚴格的測試，以確保其性能和可靠性。這就是半導體檢測設備探針臺（通常稱為“探針卡”或“探針臺”）發揮作用的地方。
2023-07-25 09:59:13747 
成立于2010年，迪克微電子主要是電子產品、絕緣材料、測試針、測試夾具、五金機電、排線等產品從事貿易，2020年的測試針，測試夾具行業累的市場優勢，利用考試包括探針的設計，生產，銷售，轉為企業。目前，主要產品有連接器探針、pcb探針、ate探針等。
2023-07-20 11:46:15662 北京錦正茂科技有限公司提供的多維磁場探針臺，采用無磁材料制成，采用亥姆霍茲線圈正交放置，產生空間多維磁場。線圈可采用自然冷卻（磁場較小）或水冷結構（磁場較大），標配線圈過熱保護裝置。
2023-07-14 11:00:37242 
中圖儀器SJ5760系列大行程探針式輪廓儀是一款集成表面粗糙度和輪廓測量的測量儀器；采用進口高精度光柵測量系統、高精度研磨級導軌、高性能非接觸直線電機、音圈電機測力系統、高性能粗糙度測量模塊
2023-07-12 11:24:43
中圖儀器SJ5730表面輪廓儀探針式是一款集成表面粗糙度和輪廓測量的高精度測量儀器，該儀器具有12mm-24mm的粗糙度輪廓一體式測量范圍，分辨率達到0.1nm，因此非常適合測量大曲面高精密零部件
2023-06-27 11:01:42
輪廓測量儀是測量各種機械零件素線形狀和截面輪廓形狀的精密設備。該儀器工作臺采用高精度的橫向氣浮道軌和滾動垂直道軌，移動精度高、穩定性好、壽命長；測量效率高、操作簡單、適用于車間檢測站或計量室
2023-06-19 14:20:06
近日，潤和軟件HopeStage 操作系統與北京東方京海電子科技有限公司Agent探針軟件完成產品兼容性測試。
2023-06-16 10:04:09536 據《經濟日報》報道，芯片測試設備制造企業穎崴科技6月14日在高雄舉行了高雄第二工廠竣工儀式。公司方面表示：“為生產用于半導體測試的探針芯片，將于今年年底在臺元科技園區建設新工廠。將擴大現有生產能力。”繼新工廠啟動之后，預計明年將以探針卡業績加倍為目標。
2023-06-15 10:31:42633 Reed Gleason和Eric Strid的工作為射頻探針的進一步發展鋪平了道路。他們在Tektronix工作期間發明了第一臺高頻晶圓探針，這項創新提供了一種更便捷、無需安裝或貼合狀態下
2023-06-13 14:49:16971 
磁場探針臺主要用于半導體材料、微納米器件、磁性材料、自旋電子器件及相關技術領域的電、磁學特性測試,能夠提供磁場或變溫環境,并進行高精度的直流/射頻測量。
2023-06-08 11:04:23258 
安裝到 Link2，并通過使用 FlashMagic 閃爍驗證了調試器探針是否正常工作。我還將 LPC54102 CMSIS 包安裝到 pyocd。
當我運行 pyocd list 時，我得到的只是“沒有連接可用的調試器”。
2023-06-05 08:49:42
近日，浙江微針半導體有限公司宣布，其2D CMOS圖像傳感器（CIS）MEMS探針卡產品已成功交付給國內頭部CIS公司，公司2D MEMS探針卡進入量產階段！
2023-06-02 16:42:09603 探針臺的主要用途是為半導體芯片的電參數測試提供一個測試平臺，探針臺可吸附多種規格芯片，并提供多個可調測試針以及探針座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數檢測
2023-05-31 10:29:33
在半導體產業的制造流程上，主要可分成IC設計、晶圓制程、晶圓測試及晶圓封裝四大步驟。 其中所謂的晶圓測試，就是對晶圓上的每顆晶粒進行電性特性檢測，以檢測和淘汰晶圓上的不合格晶粒。 下面我們一起來了解一下半導體晶圓測試的核心耗材——探針卡，以及探針卡與LTCC/HTCC技術有著怎樣的聯系。
2023-05-26 10:56:55732 
幾天來我一直在嘗試使用 mcu-link（不是 -pro）探針來刷新我們基于 LPC1114 CPU 的定制板。我想使用 SWD 并可能還使用 gdb 調試我的代碼。但主要是我只是主要想擦除和編程
2023-05-22 06:16:04
這些簡單而通用的3 LED邏輯探針電路可用于測試數字電路板，如CMOS、TTL或類似電路板，以排除IC和相關級的邏輯功能故障。
2023-05-18 17:36:48979 
Multisim的虛擬測試儀器中還有電流探針，模擬鉗式電流表，其原理是電流互感器原理。與傳統電流表不一樣，鉗式電流表不需要串聯接入電路中，而只需要將其前端的鉗子（電流夾）打開，使得待測電流導線與鉗子相互環繞，利用變壓器變電流的原理測量電流。其特點就是可以實現在線測量。
2023-05-18 11:26:007273 
熒光成像具有成像速度快、靈敏度高等優點。自1962年鈣離子熒光探針問世以來，憑借其靈活可調的化學結構，離子響應型熒光探針家族不斷發展，熒光成像技術也被廣泛應用于離子檢測。作者根據離子與探針的相互作用情況
2023-05-18 10:50:24570 
就微型探針而言，已經研究了避免誤差的自動定位技術。量化并控制傾斜誤差，對于利用微懸臂梁優化自動化探針測試至關重要。然而，后者的研究還沒有考量潛在的微型MEMS探針的機械柔韌性。微懸臂梁可用于制造各種微型電氣探針，包括射頻探針。
2023-05-17 09:51:30500 
您是否還在煩惱接觸式測量儀時常發生的探針損壞以及樣品損傷？也許非接觸式測量儀才能滿足您的測量需求。 小優博士為您解惑
2023-05-11 18:57:04327 
晶圓測試的方式主要是通過測試機和探針臺的聯動，在測試過程中，測試機臺并不能直接對待測晶圓進行量測，而是透過探針卡（Probe Card）中的探針（Probe）與晶圓上的焊墊（Pad）或凸塊（Bump）接觸而構成電性接觸
2023-05-11 14:35:142362 
探針卡是半導體晶圓測試過程中需要使用的重要零部件，被認為是測試設備的“指尖”。由于每一種芯片的引腳排列、尺寸、間距變化、頻率變化、測試電流、測試機臺有所不同，針對不同的芯片都需要有定制化的探針卡
2023-05-08 10:38:273459 
晶圓測試的方式主要是通過測試機和探針臺的聯動，在測試過程中，測試機臺并不能直接對待測晶圓進行量測，而是透過探針卡（Probe Card）中的探針（Probe）與晶圓上的焊墊（Pad）或凸塊（Bump）接觸而構成電性接觸。
2023-05-08 10:36:02885 
，根據磁場感應定律，導體中的電流會產生磁場，而這個磁場也會對導體周圍的磁場產生感應。因此，當電流通過測量對象時，會在測量探針附近形成一個磁場。 2，法拉第電磁感應定律 脈沖電流探頭的工作原理還基于法拉第電磁感應定律
2023-04-27 15:55:05917 
請問Proteus仿真軟件中怎樣用探針測電壓呢？
2023-04-26 15:55:01
MCUXpresso（當前運行 11.7.1）是否支持檢測和使用以 CMSIS-DAP 模式運行的 J-Link 探針？
我已經使用 SEGGER 的 J-Link 配置器讓 J-Link 啟動
2023-04-25 08:46:12
中圖儀器SJ5730系列探針式輪廓掃描測量儀測量原理為直角坐標測量法，即通過X軸、Z軸傳感器，測繪出被測零件的表面輪廓的坐標點，通過電器組件，將傳感器所測量的坐標點數據傳輸到上位PC機，軟件對所采集
2023-04-23 16:04:24
探頭架構的關鍵優勢是，數據保留在本地，只有信息在CodimaToolbox系統之間傳輸。此外，探針的運行是并行的，所以對"哪些Cisco路由器技術支持期限將要結束"的整個企業視圖的請求，將在所有探針上同時處理，大大加快了進程，并將檢索時間降到最低。
2023-04-18 11:17:02248 我有 iMXRT1060EVK，想在 FreeRTOS 的流模式下使用 Tracealyzer。我正在使用 IAR EW 和 I-jet 調試探針。我已按照以下鏈接中的步驟進行操作，但數據流仍然存在
2023-04-17 08:02:56
思達科技多年來致力在MEMS探針的技術研發，持續推出先進的測試探針卡，以滿足各種行業的產業測試需求，Virgo Prima系列是專為微型化程序IC而設計，用在產線WAT（晶圓驗收）/ 電性測試
2023-04-13 11:24:371156 當我在 MKV42F64 定制板上測試我的定制引導加載程序時，閃存配置字段似乎已損壞，因此設備是安全的，我無法使用 PE 微型探針再次對其進行編程。嘗試通過 SWD 擦除或編程芯片時，我從 PE
2023-04-04 06:27:50
。一切正常，最后一個啟動并運行，我可以在 DAP COM 端口上與它交互并獲取 ADC 讀數。OpenDAP 拖放驅動器也出現了。但是，現在當我嘗試連接到開發板以下載上述任何項目時，我得到：無法連接探針
2023-03-30 08:02:49
因為探針校準片較小，許多客戶對于探針校準操作不是特別熟練，從而導致探針無法校準或者因操作不當導致校準片受到損壞。
2023-03-29 10:19:151064 設置為易于“執行”抓住 USB 電纜并編寫一些 python。接口和 gpio 處理了許多原語。Pico 有其中一個，另一個 Pico 可以做成探針。這可能嗎？Pico 僅使用 CLK 和 DIO，接地
2023-03-29 06:00:52
智能探針電源本身功耗較低，要為智能探針供電的同時，使噪音保持在極低的水平，是設計人員面臨的兩大棘手挑戰。智能探針電源的設計人員必須在很小的體積內進行工作，他們不僅要使電源效率達到90%以上，且要讓
2023-03-28 09:36:402082 
Multi Link 探針（通過 SWD 連接）當我嘗試啟動調試器時，主圖像加載正常，但當它嘗試加載和啟動從圖像時出現以下錯誤：PE Micro 探針在調試模式下工作，評估板中內置的 J Link
2023-03-28 07:39:23
高頻探針卡是芯片、晶圓測試中的重要工具，它可以將高頻信號從芯片中提取出來并進行分析，是芯片、晶圓測試世界中的神器。
2023-03-27 14:41:431524 射頻探針（RF Probe）是一種用于測量射頻電路參數的測試工具。它通常由一個金屬探頭和一個接收器組成，金屬探頭用于接觸被測對象，接收器用于測量電路參數。
2023-03-27 14:06:401442 大家好，我有一個基于 MPC885c PowerQUICK 處理器的項目。該處理器支持的 Codewarrior TAP 和 Probe 部件號是多少？我有基本單元 CWH-CTP-BASE-HE 和探針：CWH-CTP-COP-YE。這些與 MPC885 兼容嗎？
2023-03-27 07:58:06
中圖儀器SJ5730系列國產探針式輪廓儀是一款集成表面粗糙度和輪廓測量的高精度測量儀器，具有12mm-24mm的粗糙度輪廓一體式測量范圍，分辨率達到0.1nm，因此非常適合測量大曲面高精密零部件
2023-03-24 15:51:56
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