如下硅與石墨復配的負極材料的背散SEM,圓圈標的地方是硅嗎?如果不是還請大佬指點一下,那些位置是硅?
2024-03-12 08:53:37
【設備應用】
SEM是掃描電子顯微鏡,用二次電子成像的原理來觀察某種物質的微觀形貌。EDS是能譜儀,是每種元素對應的電子能不同,來鑒別元素,通常與SEM結合使用,也就是說在SEM上安裝EDS附件,在
2024-03-01 18:59:58
電子發燒友網站提供《MES實施的四大疑惑.docx》資料免費下載
2024-03-01 15:35:080 在芯片制造領域,透射電鏡TEM技術發揮著至關重要的作用。通過TEM測試,科學家可以觀察芯片中晶體結構的變化,分析晶體缺陷,研究材料界面結構,從而深入了解芯片的工作原理和性能。
2024-02-27 16:48:13134 是什么?其基本結構某種存儲器(SRAM、FLASH等)制成的4輸入或6輸入1輸出地“真值表”加上一個D觸發器構成。任何一個4輸入1輸出組合邏輯電路,都有一張對應的“真值表”,同樣的如果用這么一個存儲器制成
2024-02-22 11:00:27
參考。
小標題1:超材料與超表面的基本概念
配圖說明:圖1展示了超材料和超表面的基本概念。超材料具有負折射率、負介電常數等奇異物理性質,而超表面則通過人工設計,使入射光在特定條件下產生特殊的反射或透射效果。
超
2024-02-20 09:20:23
。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等,提供依據ISO/ASME/EUR/GBT四大國
2024-02-02 09:17:54
掃描電鏡按構造和用處可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發射式電子顯微鏡等。 掃描電鏡常用于察看那些用普通顯微鏡所不能分辨的纖細物質構造,次要用于察看固體外表的形貌,也能與
2024-02-01 18:22:15603 中圖儀器SuperViewW系列3d白光形貌干涉儀是利用光學干涉原理研制開發的超精細表面輪廓測量儀器。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀
2024-01-24 10:31:58
AFM07系列產品自從面向市場以來,備受客戶青睞,但我們一直沒有停止創新升級的腳步,積極聽取客戶的反饋意見,致力于提升產品的用戶體驗和實用性,不僅拓展了多種量程范圍,還提供了流量調節閥配件供客戶選擇,以適應更多的應用場景需求。
2024-01-23 17:14:30282 。 1月20日,首臺國產商業場發射透射電子顯微鏡TH-F120在廣州市黃埔區正式發布。該透射電鏡由生物島實驗室領銜研制,擁有自主知識產權,將打破國內透射電鏡100%依賴進口的局面,標志著我國已掌握透射電鏡用的電子槍等核心技術,并具備量產透射電鏡
2024-01-22 09:54:52127 掃描電子顯微鏡是金屬科研工作中應用最廣泛的“神器”。可以說,幾乎每一個研究生都把自己最重要的科研經歷花在了身上。今天的我們就來介紹一下掃描電鏡的原理和應用。 電子顯微鏡利用電子產生圖像,類似于光學
2024-01-17 09:39:56142 數字顯微鏡Smartzoom5和SEM掃描電子顯微鏡的解決方案。圖a、b顯示的是無涂層的鉆頭的切削刃口情況,圖c、d顯示的是金剛石涂層鉆頭的脫落情況;圖a、c使用
2024-01-08 15:12:5298 薄TEM薄片+TEM觀察分析對于芯片膜層很薄的結構層,一般是幾個納米的芯片膜厚,透射電鏡TEM分辨率比SEM高,透射電子顯微鏡的分辨率比光學顯微鏡高的很多,可以達到0.1~0.2nm,放大倍數為幾萬
2024-01-02 17:08:51
掃描電子顯微鏡(SEM)已廣泛用于材料表征、計量和過程控制的研究和先進制造中,我們在對半導體材料和結構進行觀測時,常常會遇到充電效應,本文討論了與樣品充電相關的一些問題以及減輕其影響的方法。
2023-12-29 15:57:12461 4H-SiC概述(生長、特性、應用)、Bulk及外延層缺陷、光致發光/拉曼光譜法/DLTS/μ-PCD/KOH熔融/光學顯微鏡,TEM,SEM/散射光等表征方法。
2023-12-28 10:38:03486 12月19日,國儀電鏡論壇暨合肥工業大學顯微技術交流會在合肥成功舉行,來自周邊地區高校與研究機構的100余位專家學者,圍繞國產電鏡技術創新發展與示范應用開展了深入討論與交流。本次大會由安徽省電鏡學會
2023-12-22 08:25:07346 _Rst();
return DS18B20_Check();
}
short ReadTemperature(void)
{
u8 temp;
u8 TL,TH;
short tem;
DS18B20
2023-12-20 20:03:34
蔡司代理三本精密儀器小編獲悉,近期蔡司對中國科學技術大學龔明教授進行了采訪,談了對于蔡司場發射掃描電鏡在工作研究中的使用感受:中國科學技術大學工程與材料科學實驗中心副主任,材料顯微分析實驗室
2023-12-20 15:04:37226 透射電子顯微鏡(TEM)具有卓越的空間分辨率和高靈敏度的元素分析能力,可用于先進半導體技術中亞納米尺寸器件特征的計量和材料表征,比如評估界面細節、器件結構尺寸以及制造過程中出現的缺陷或瑕疵。
2023-12-18 11:23:58771 蔡司代理三本精密儀器小編介紹SEM掃描電鏡與X射線顯微鏡是生命科學研究中的重要儀器,憑借其納米級分辨率,SEM掃描電鏡與X射線顯微鏡極大地提升了我們對生物超微結構的認識,-些亞細胞結構甚至是通過
2023-12-15 14:11:17142 20多米的四氟傳輸帶在運行的過程中老是跑偏,控制是變頻控制,求各位大俠幫忙?謝謝
電機的功率;3KW
2023-12-11 07:01:06
大部分掃描電鏡實驗室對于納米尺寸的準確測量,要求沒有那么嚴格,比如線寬或顆粒大小到底是105nm還是95nm,似乎不太重要
2023-12-09 17:36:52427 無源電位襯度(Passive Voltage Contrast,PVC)定位基于導電結構的FIB或SEM圖像或多或少的亮度差異,可用于半導體電路的失效定位。
2023-12-01 16:18:08514 常規的TEM使用固定的入射電子束,而SEM的電子束在兩個垂直的(X和Y)方向上水平掃描樣品。
2023-12-01 11:37:50685 掃描電子顯微鏡(SEM簡稱掃描電鏡)是一個集電子光學技術、真空技術、精細機械結構以及現代計算機控制技術于一體的復雜系統
2023-11-24 15:39:53352 最近收到老師同學們的許多問題,其中大家最想要了解的問題是“如何在透射電鏡下判斷位錯類型(螺位錯、刃位錯、混合位錯)”。在此,為了能快速理解并分析,我整理了三個問題,希望能幫助到大家,以下見解如有錯誤,請大家批評指正。
2023-11-13 14:37:25634 相同點:都是電子槍即發射電子的裝置,都有陰極和陽極,陰極都是點源發射,陰極和陽極之間有直流高壓電場存在,高壓一般可調,用于控制電子的發射速度(能量),電子槍發射的電流強度很小,微安級別和納安級別,為防止氣體電離造成的大電流擊穿高壓電源,都需要高真空環境。電子槍陰極都屬于耗材系列。差異和優劣:1、點源直徑不同及優劣:鎢燈絲電子槍陰極使用0.1mm直徑的鎢絲制成
2023-11-10 18:43:39353 11月7日,國儀電鏡論壇暨安徽大學先進功能材料分析測試技術交流會在安徽大學磬苑校區成功舉行,來自周邊地區高校的80多位領域內師生參與了本次會議,深入探討先進功能材料的分析測試技術與電子顯微鏡在研究
2023-11-10 08:24:59618 在會議期間重磅發布了自主研制的聚焦離子束電子束雙束顯微鏡DB500、超高分辨場發射掃描電子顯微鏡SEM5000X,標志著國產高端電鏡發展進入全新階段。顯微學人以振興電
2023-11-01 08:25:46523 廣東全自動SEM掃描電鏡是一種高分辨率的顯微鏡,通過掃描樣品表面并利用電子信號生成圖像。它與傳統光學顯微鏡不同,能夠提供更高的放大倍數和更好的表面細節。以下是廣東全自動SEM掃描電鏡的原理和構造
2023-10-31 15:12:41770 10月26日,2023年全國電子顯微學學術年會在東莞市召開。國儀量子在會議期間重磅發布自主研制的聚焦離子束電子束雙束顯微鏡DB500、超高分辨場發射掃描電子顯微鏡SEM5000X,開啟了國產高端電鏡
2023-10-29 08:25:471155 掃描電子顯微鏡是一種電子光學儀器,廣泛應用于化學、生物、醫藥、冶金、材料、半導體制造、微電路檢測等領域。自20世紀60年代以來,掃描電子顯微鏡一直被用作一種工具。商用電子顯微鏡問世以來,發展迅速
2023-10-19 15:38:30357
舵機只有在接通或斷掉pwm信號時才動180度,怎么辦呢?
2023-10-19 07:52:38
超調控制主要是用來做什么作用
2023-10-16 07:15:22
UltraScale / UlraScale+系列的SEM IP一共有6種工作模式
2023-10-13 10:06:59431 9月25日-27日,國儀電鏡論壇暨中國科學技術大學前沿材料表征技術交流會在中國科學技術大學舉行,來自安徽省及周邊地區高校、研究院所和企業的80多位專家學者,共同就前沿材料表征技術、電鏡自主研制與示范應用進行了深入交流。01中國科學技術大學龔明國儀電鏡論
2023-10-10 12:00:11362 在設備開發和測試中,特別是功放的測試,為什么會有這么多指標來衡量線性呢?輸入互調、頻譜發射模板(SEM)和鄰道泄露抑制比(ACLR)。
2023-10-10 11:44:39439 不同型號掃描電鏡的操作步驟會有一些差異,各廠家的EBSD系統,特別是控制SEM的軟件都不一致。
2023-10-10 09:25:08609 PID在控制的過程中怎么控制超調大小
2023-10-10 07:56:49
SEM/FIB(Scanning Electron Microscope/Focused Ion beam)雙束系統中,FIB是將離子源(大多數FIB采用Ga源,也有Xe、He等離子源)產生的離子束
2023-10-07 14:44:41393 CD-SEM,全名Critical Dimension Scanning Electron Microscopy,中文翻譯過來是:特征尺寸掃描電子顯微鏡。
2023-10-07 10:34:231434 超全實用電路圖合集
2023-09-25 08:13:25
新入行半導體,被各種名詞整到暈菜,網上找資料整理了一張圖,如果哪里不對,歡迎大家指正
另有備注解釋的xmind版本,可惜上傳不了
2023-09-21 15:57:23
聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統 FIB-SEM應用
聚焦離子束-掃描電鏡雙束系統主要用于表面二次電子形貌觀察、能譜面掃描、樣品截面觀察、微小樣品標記以及TEM超薄片樣品的制備。
1.FIB切片
2023-09-05 11:58:27
掃描電子顯微鏡-電子通道對比成像(SEM-ECCI)是在掃描電子顯微鏡下直接表征晶體材料內部缺陷的技術。SEM-ECCI技術的發展已經取代了透射電子顯微鏡(TEM)在缺陷表征領域的部分功能。與TEM
2023-09-04 14:56:47353 散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關,因此可以形成明暗不同的影像,影像在放大、聚焦后在成像器件(如熒光屏,膠片以及感光耦合組件)上顯示出來的顯微鏡。 透射電鏡TEM原理 博仕檢測工程師對客戶指定樣品區域內定點制備高質量的透射電子顯微鏡(TEM) 樣品 聚焦離子束FI
2023-08-29 14:54:151370 能譜儀(EDS)是一種快速分析樣品微區內元素種類及含量的重要工具,通常與掃描電鏡(SEM)、透射電鏡(TEM)組合使用,實現形貌與成分的對照。它的工作原理是:當電子束掃描樣品時,不同元素被激發出來的x射線能量不同,通過探測這些特征X射線的能量與強度,可以確定樣品中的元素組成和含量。
2023-08-29 09:43:241950 /ASME/EUR/GBT四大國內外標準共計300余種2D、3D參數作為評價標準。產品功能1)中圖白光干涉儀粗糙度儀設備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓
2023-08-29 09:00:58
芯明天壓電鏡架通常是由兩支壓電螺釘驅動來完成二維角度偏轉,兩軸之間具有共同的軸心,通過施加電壓使兩支壓電螺釘產生直線運動分別控制對應軸的偏轉角度及方向,從而調整鏡片的位置和方向。 芯明天常規款電動壓電鏡
2023-08-24 10:08:06161 作為輻射發射和輻射抗擾度測試的測試環境,除了常用的電波暗室,國際電工委員會IEC還規定了基于TEM的測試方法,也就是IEC 61000-4-20: Electromagnetic
2023-08-23 09:47:181699
應用:此示例顯示如何駕駛NUC230/240系列芯片上的四階段級步動發動機。
BSP 版本: NUC230/240系列 BSP CMSIS V3.01.001
硬件
2023-08-23 08:10:14
蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)對于材料科學、電子、地質、物理、化工、農醫、公安、食品和輕工等領域的科學研究,人們總是關心微觀形態、晶體結構和化學組成與宏觀物理或化學性質之間的關系。光學顯微系統
2023-08-08 15:50:351418 TEM的成像原理涉及許多物理和光學概念,涵蓋了電子束的產生、聚焦、樣品相互作用以及圖像形成等多個方面,從而造成TEM像的解釋很復雜。更具體的原因有以下幾點: 1.復雜的物理過程 ? TEM中涉及
2023-08-07 09:47:06841 NVIDIA 宣布高度逼真模擬應用PhysX,持續開源
2023-08-01 14:50:13348 和分析來揭示樣品的微觀結構。 1.電子源 ? TEM使用電子束而不是光束。季豐電子MA實驗室配備的透射電鏡Talos系列采用的是超高亮度電子槍,球差透射電鏡HF5000采用的是冷場電子槍。 2.真空系統 ? 為了避免電子束在穿越樣品之前與氣體相互作用,整個顯微鏡都必須維持在高真空條件下。 3
2023-08-01 10:02:152337 場發射掃描電鏡SEM5000正式上線使用左側設備為鎢燈絲掃描電鏡SEM3200右側設備為場發射掃描電鏡SEM5000近日,國儀量子場發射掃描電鏡SEM5000交付中國農科院作科所重大
2023-07-31 23:30:26350 掃描電鏡-電子通道襯度成像技術(SEM-ECCI)是一種在掃描電鏡下直接表征晶體材料內部缺陷的技術。SEM-ECCI技術的發展在缺陷表征領域替代了一部分透射電鏡(TEM)的功能,相對透射電鏡分析而言
2023-07-31 15:59:56330 今天我們繼續學習Additional spectrumemission mask,附加的頻譜發射模板。什么是附加?其實我們大概兩年前,在一起來學5G終端射頻測試標準(A-MPR-1)中已經學習過Additional(附加)的概念,A-MPR是附加的最大輸出功率回退。A-SEM是附加的頻譜發射模板。
2023-07-31 11:14:561351 。蔡司代理三本精密儀器小編今天為您介紹蔡司熱場掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡制備要求:1.SEM樣品要求(1)塊體樣品:金屬塊體樣品可用導電膠直接固定在樣品臺上
2023-07-26 10:48:06650 蔡司場發射掃描電鏡SIGMA500采用了GEMINI電子束無交叉光路設計,打破了傳統設計中電子束交叉三次發生能量擴散的局限性,束流大小適中,極大地降低色差對圖像質量的影響;鏡筒內置電子束加速器,無需
2023-07-14 16:26:59916 SEM IP是一種比較特殊的IP。它的基本工作就是不停地后臺掃描檢測FPGA配置RAM中的數據
2023-07-10 16:40:23420 EM科特(EmCrafts)Cube系列桌面式掃描電鏡,是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。區別與傳統掃描電鏡的笨重機身,Cube系列占地面積小,便攜性能好,可遵照客戶服務指南任意移動SEM設備。 EM
2023-07-05 15:24:02433 的高性能高效率,大樣品倉內含5軸共心電動樣品臺,可更輕松地測量大尺寸樣品。 EM科特 Veritas鎢燈絲掃描電鏡系列 產品優勢 l大尺寸樣品分析? Veritas系列可以分析常規SEM無法分析的大尺寸樣品。例如:晶圓,磁盤 l無損樣品分析?? 無需切割即可分析樣品。例如PCB,半導體圖案分析 l較重
2023-07-05 15:13:38270 等領域。SEM掃描電鏡分析實驗室圖源:優爾鴻信華南檢測中心SEM掃描電鏡工作原理SEM電鏡工作原理,主要基于聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品,通過光束與物質間的相
2023-07-05 10:04:061992 電子發燒友網站提供《使用分組無線電鏡像機器人運動.zip》資料免費下載
2023-06-29 09:59:310 今天三本精密儀器小編給您介紹場發射掃描電鏡GeminiSEM500規格參數及樣品制備要求:一、樣品要求(1)本儀器不接收磁性、易潮、液體、有機、生物、不耐熱、熔融蒸發、松動粉末或碎屑等有揮發物樣品
2023-06-19 11:15:40811 1張16G,HC 4速的TF卡可以識別成高速卡,但1張2G,HC 10速的TF卡識別成低速卡, 用讀卡器在PC上讀20MB/秒,寫5MB,應該是高速卡,例程是不是有問題?
2023-06-15 09:28:40
可充電四級耳機有段時間沒有使用,現在無法使用想求一份相關的電路圖
2023-06-01 17:49:20
透射電子顯微鏡TEM 透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡稱TEM),可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結構,這些結構稱為亞顯微結構
2023-05-31 09:20:40782 5月18日,2023第十六屆中國科學儀器發展年會(ACCSI2023)在北京雁棲湖國際會展中心盛大開幕,并頒發“儀器及檢測3i獎”。國儀量子自主研發的場發射掃描電鏡SEM5000榮獲“3i
2023-05-30 17:19:16366 芯明天壓電鏡架是一種利用壓電效應來控制鏡片位置的光學機械。壓電效應是指在某些晶體中,如壓電陶瓷,當施加電場時,壓電陶瓷會發生形變,通過機械結構將這種形變轉換為直線毫米級行程,該運動對鏡架進行角度偏轉
2023-05-25 10:27:45349 LAYERTEC色散補償飛秒啁啾反射鏡對 啁啾反射鏡用于飛秒激光色散補償。色散補償飛秒啁啾反射鏡對可以矯正超短脈沖通過光學系統時發生的脈沖展寬,非常適合
2023-05-24 14:39:36
中紅外可調諧光纖飛秒激光器UltraTune 3400 中紅外可調諧光纖飛秒激光器UltraTune 3400是一款商業中紅外超快激光器,其結構
2023-05-24 10:54:02
Harmony OPA飛秒光學參數放大器 用戶在 Fluence Harmony OPA飛秒光學參數放大器產生的四個完美同步且精確可調的波長輸出中找到和諧。Fluence
2023-05-24 10:20:11
比如說下面這個圖... 只有一張圖片,沒有原始的EDA文件:
唯一的方法是重新繪制... 但通過合理的方法,可以讓這個過程輕松一點兒... 具體方式參見視頻...
2023-05-22 19:47:52
單機上位,就好比狗嘴。能充當一只手的功能,但卻功能有限。只能做一些簡單的操作。
2-3機共聯,能做到90%的超復雜活動,這就像有一雙手加一張嘴。
多機共聯就像蜈蚣的腳,其實閑置的多,二軸就夠了,用五
2023-05-19 19:28:28
一個項目上需要存儲大量門禁卡數據并作檢索(三萬張卡)
每個卡為十位十進制數。
用spi nor flash做外置存儲。。現在發現最壞情況下,三萬張卡檢索一次需要4-6秒鐘。。請問有啥優化的辦法能提高到一秒以內。。。
謝謝
2023-05-17 10:15:24
在信號量的api中有一個api: rt_sem_control ,目前只支持一個命令RT_IPC_CMD_RESET 即重置信號量值,在官方的demo中經常看到這種用法rt_sem
2023-05-05 17:26:37
使用的是imx6ull平臺的PXP模塊拼接兩張圖片輸出到LCD。其中一張是QT界面(菜單),QT設置的是不透明但是是下層的圖片會導入致使菜如Qt。 。
設計需求:
設計需要,
1,使用CSI傳輸顯示
2023-04-27 07:19:30
;
? ? short tem;
? ? DS18B20_Start ();? ?? ?? ???//啟動溫度轉換操作
? ? DS18B20_Rst();
? ? DS18B20
2023-04-26 12:20:45
;
? ? short tem;
? ? DS18B20_Start ();? ?? ?? ???//啟動溫度轉換操作
? ? DS18B20_Rst();
? ? DS18B20
2023-04-26 12:11:21
課程簡介為持續給國儀量子SEM用戶提供高質量的使用體驗,國儀量子電鏡事業部將搭建一個用戶與國儀量子應用專家之間進行深入技術交流的平臺,定期開展在線和線下的應用培訓課程。本次線下課程以小班形式進行教學
2023-04-21 09:20:47279 場發射掃描電鏡SEM5000SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場發射掃描電子顯微鏡。先進的鏡筒設計,高壓隧道技術(SuperTunnel)、低像差無漏磁物鏡設計,實現了低電壓高分辨率成像,同時
2023-04-12 11:38:30572 各位大神好做了個SW3518s充電板,想做成充電頭,找了好長時間沒找到前級原理圖。求張220v轉24v100w的電源原理圖。謝謝了。
2023-04-09 12:13:42
TEM 3-2422N
2023-04-06 23:30:30
在這篇文章中,我們將學習如何構建一個簡單而逼真的模型列車控制器電路,它可以與現有機動列車系統的軌道集成,并用于控制其速度、加速度、減速和原始效果。
2023-04-02 10:40:20768 AFM-4012
2023-03-28 13:49:44
MAX14917AFM+
2023-03-28 13:14:12
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