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SPEA

SPEA成立于1976年,注于于電路板和電路模塊檢測,為半導(dǎo)體IC和 MEMS傳感器設(shè)計并制造自動測試設(shè)備,提供標準化產(chǎn)品和定制化服務(wù)方案

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SPEA 4020飛針測試儀 更快速度更高精度

型號: 4020

--- 產(chǎn)品參數(shù) ---

  • 飛針數(shù)量 4個
  • 測試能力 在線測試、上電測試、短路測試、電源測試等
  • xyz運動技術(shù) 線性馬達
  • 最小封裝尺寸 0.254x0.127mm
  • 測試精度 ±40um
  • 重復(fù)性 ±10um
  • 占地面積 4020S2 M(1360x1220mm)約1.66m²

--- 數(shù)據(jù)手冊 ---

--- 產(chǎn)品詳情 ---

4020 飛針測試儀概況

4020適用于電路板原型、新產(chǎn)品導(dǎo)入、小批量生產(chǎn),這款設(shè)備采用三軸運動技術(shù)采用線性馬達,具有超高的測試精度、穩(wěn)定的測試能力,并且沒有治具成本。實時信號采集保障無量測信號衰減或干擾,驅(qū)動及量測單元被集成放置在每個飛針頭上,擁有卓越的測量速度及性能。


1.快速測試能力源自運動技術(shù)突破

優(yōu)質(zhì)線性電機可以提供其他運動技術(shù)無可比擬的生產(chǎn)率和耐性,這就是為什么所有最先進的產(chǎn)品設(shè)備(如:最新抓取與放置)都基于該先進的技術(shù),SPEA的飛針也具備這些特性。

  • XYZ軸高性能線性電機
  • 超高速運動
  • 無磨損免維護
  • 持久的機械穩(wěn)定性

 

2.精準的微小SMD植針

SPEA 4020 飛針測試設(shè)備滿足高密度元器件電路板測試,X-Y-Z軸上的線性光學(xué)編碼器使定位測試更精準。獨有的軟著陸技術(shù)可以令探針輕柔觸碰電路板及元器件,避免劃傷電路板。

 

  • XYZ axis在XYZ 軸上的高性能線性光學(xué)編碼器
  • 微型-SMD  (01005) pad  精準接觸
  • 靈活輕薄的印制電路可靠的測試,柔性電路板
  • 長久位置量測的穩(wěn)定性
  • 超高速軟著陸技術(shù):無碰觸損傷,在PCB及微型-SMD上無壓力

 

3.更好的測試精度

探針與量測單元間距離越短量測越精確,根據(jù)這個顯而易見的電路原理SPEA設(shè)計了一臺獨特的飛針測試機。驅(qū)動及量測單元被集成放置在每個飛針頭上,擁有卓越的測量速度及性能。

 

  • 超高的量測精度(0.1pF )
  • 信號完整性
  • 無量測信號衰減或干擾
  • 實時信號采集

 

4.七大測試功能

5.多模式雙面植針

4020  S2 能合并4個頂部高速飛針,測試頭以及配備接觸電路板底的額外工具,提高產(chǎn)量以及測試能力。

每一個飛針測試探針能用于在線測試、上電測試、SINK/電源模擬、數(shù)字激勵/感應(yīng)、在線燒錄、邊界掃描、預(yù)分頻器。

4個頂部探針從上面執(zhí)行飛針測試,底部可升降平 臺可用于針床治具,多個大電流電源、數(shù)字輸入/輸出、高速信號、固定探針、平面支撐。

 

 

 

 

 

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