SPEA DOT100 MEMS測(cè)試設(shè)備
型號(hào):
DOT100
SPEA DOT100設(shè)備導(dǎo)向型測(cè)試儀:這臺(tái)設(shè)備就是設(shè)計(jì)來(lái)解決MEMS和其他低接腳計(jì)數(shù)裝置的測(cè)試要求在一個(gè)令人難以置信的成本低。SPEA DOT100設(shè)備導(dǎo)向型測(cè)試儀是基于革命的”按照設(shè)備”的架構(gòu)上。每個(gè)被測(cè)試設(shè)備的專用的CPU管理整個(gè)測(cè)試過(guò)程。而且每張明信片大小的卡就承載所有資源以并行測(cè)試六個(gè)設(shè)備。因此,該系統(tǒng)可以集成到SPEA MEMS仿真單元、硬/軟嵌入到處理設(shè)備及探針臺(tái),或者或作為臺(tái)式設(shè)備。
DOT測(cè)試儀的核心是接腳電子:它提供了48個(gè)通道道,分為3/6路獨(dú)立的部分。 每個(gè)部分包含: