--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
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--- 產(chǎn)品詳情 ---
CHOTEST中圖儀器SJ5730輪廓儀粗糙度一體機(jī)可以對零件表面的輪廓度、波紋度、粗糙度實(shí)現(xiàn)一次掃描測量,尤其是大范圍曲面、斜面進(jìn)行粗糙度檢測,如圓弧面和球面、異型曲面進(jìn)行多種粗糙度參數(shù)、微觀輪廓度參數(shù)的測量。同時儀器還可對各種精密零件輪廓度、波紋度進(jìn)行測量,對形狀參數(shù)進(jìn)行分析。為大曲面粗糙度輪廓參數(shù)測量提供了新的解決方案。
SJ5730輪廓儀粗糙度一體機(jī)具有12mm-24mm的粗糙度輪廓一體式測量范圍,分辨率達(dá)到0.1nm,同時具備球面、弧面、非球面輪廓參數(shù)評價功能,采用超高精度納米衍射光學(xué)測量系統(tǒng)、超高直線度研磨級摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動系統(tǒng)、高穩(wěn)定性氣浮隔振系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù),實(shí)現(xiàn)對球面及非球面光學(xué)元器件表面粗糙度和輪廓的高精度測量和分析,能夠滿足各種高精密輪廓粗糙度加工行業(yè)的測量需求。
產(chǎn)品功能
1.一次測量可同時評定粗糙度及輪廓參數(shù),分析評定R參數(shù)、P參數(shù)、W參數(shù)等微觀粗糙度參數(shù)及倒角、R角、直線度、位置尺寸、角度的宏觀輪廓參數(shù);
2.表面粗糙度評定: R參數(shù)、P參數(shù)、W參數(shù)、核心粗糙度Rcore、Motif等微觀粗糙度參數(shù)評定;
3.圓球類零件輪廓及粗糙度參數(shù)測量評定;
4.表面輪廓評定:評定任何點(diǎn)/線間距、兩線夾角、圓弧半徑、直徑等幾何量尺寸參量,并可對輪廓進(jìn)行直線度、圓度、輪廓度、平行度、位置度、垂直度等分析,重新分析和測量的操作簡潔高效;
5.尺寸標(biāo)注:半徑、兩圓中心距離、X/Z尺寸、斜邊、兩線夾角、直線相交、直線與圓弧相交、圓弧與圓弧相交、尺寸標(biāo)注線大小修改、線偏移、局部輪廓放大和調(diào)平等;
6.測量記錄采用集中式數(shù)據(jù)庫管理,可按被測件類型、生產(chǎn)單位、出廠編號、檢測員、送檢單位、設(shè)備編號、檢定日期和有效日期等查詢和管理測量記錄;
7.輸出多種格式報(bào)表(.doc,.docx,.xlsx,.pdf),并支持自定義報(bào)表,定制測量記錄報(bào)表,可批量打印記錄表,具有數(shù)據(jù)備份和還原數(shù)據(jù)庫功能;
8.具備自動找拐點(diǎn)功能,能按照程序設(shè)置進(jìn)行X軸自動找拐點(diǎn);
9.成熟簡單的標(biāo)定,儀器自帶高精度組合標(biāo)定臺,可對儀器的精度和測針磨損進(jìn)行精確補(bǔ)償;
10.可進(jìn)行DXF(CAD)格式圖紙導(dǎo)入,進(jìn)行理論圖紙與測量結(jié)果比對分析,可提供直觀圖形對比;
11.可導(dǎo)出坐標(biāo)點(diǎn)數(shù)據(jù)(.TXT)等格式,可讀取到Excel或者CAD軟件內(nèi)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析及標(biāo)準(zhǔn)輪廓比對;
12.可對多次測量的輪廓曲線匹配后進(jìn)行分析測量重復(fù)性。
SJ5730輪廓儀粗糙度一體機(jī)一次測量同時評定輪廓和粗糙度參數(shù),超高精度衍射光學(xué)測量系統(tǒng),具有12mm~24mm的大量程粗糙度測量范圍,分辨率高達(dá)0.1nm,系統(tǒng)殘差小于2nm。2、高精度、高穩(wěn)定性、高重復(fù)性:滿足被測件測量精度要求
1)系統(tǒng)掃描軸采用特殊的超高耐磨材質(zhì)復(fù)合材質(zhì)摩擦片,耐磨性能優(yōu)良,穩(wěn)定性高,能保障系統(tǒng)長時間的穩(wěn)定的直線度精度;
2)高精度轉(zhuǎn)軸采用特殊的高剛性、低慣量、超低摩擦系數(shù)的紅寶石轉(zhuǎn)軸系統(tǒng),確保了轉(zhuǎn)動的超高靈敏度及測量精度;
3)超高穩(wěn)定的驅(qū)動設(shè)計(jì),確保了驅(qū)動運(yùn)行過程中不產(chǎn)生任何的振動及干擾,保障了系統(tǒng)掃描運(yùn)動精度;
4)高精度的納米級光學(xué)轉(zhuǎn)軸測量系統(tǒng),保障了儀器超高的分辨率及全程納米級粗糙度測量精度;
5)一體式拔插式碳纖維測桿、高剛性、低慣量,一鍵拔插,特殊設(shè)計(jì)的高剛性拔插結(jié)構(gòu),無需鎖螺釘,方便快捷、穩(wěn)定可靠;
技術(shù)參數(shù)
型號 | SJ5730-100 | ||
輪廓參數(shù) |
測量范圍 | X軸 | 0~100mm |
立柱軸 | 0~300mm | ||
Z軸 | ±6mm(標(biāo)準(zhǔn)測桿)(±12mm:兩倍標(biāo)準(zhǔn)測桿) | ||
移動速度 | X軸 | 0~20mm/s | |
立柱軸 | 0~20mm/s | ||
掃描速度(掃描軸) | 0.05~5mm/s | ||
直線度(掃描軸) | ≤(0.05+1.5L/1000)μm *備注:≤0.2μm/100mm | ||
測量力 | 0.5mN、0.75mN、1mN、2mN、3mN(電子檔位可調(diào)) | ||
粗糙度參數(shù) | 適用Ra測量范圍 | Ra0.012μm~Ra12.5μm(可選更大范圍) | |
粗糙度測量參數(shù) | R粗糙度: Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,RzJ; Ra,Rq,Rz,Rmax,RPc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,RSm,Sm,S,Rsk,Rku,Rdq,Rdc,Rmr; 核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo; P輪廓參數(shù): Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax; W波紋度輪廓參數(shù): Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc; Motif參數(shù):R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte; 符合標(biāo)準(zhǔn): GB/T3505-2009,ISO4287:1997,ISO 13565-2:1996,ASME B46.1-2002, DIN/EN/ISO 4287:2010,JIS B 0601:2013,JIS B 0601-1994JIS B 0601-1982, ISO 1302:2002; | ||
濾波器 | 高斯濾波器、2RC濾波器,相位修正濾波器 | ||
濾波長度 | 0.08、0.25、0.8、2.5、8.0、25mm可選 | ||
濾波長度 | λc×3、4、5、6、7、8可選 | ||
儀器尺寸(長×寬×高) | 600×350×850(mm) | ||
儀器總重量 | 約95Kg |
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