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深圳市邁凱瑞儀器儀表有限公司

儀器儀表,電子元器件

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E7405A頻譜分析儀E7405A產品介紹

型號: E7405A

--- 產品參數 ---

  • 頻譜分析儀 E7405A
  • 信號發生器 E4438C
  • 網絡分析儀 E5062A
  • 示波器 TDS3054C

--- 產品詳情 ---

E7405A

E7405A|Agilent E7405A EMC分析儀|惠普EMI測試儀

性能
頻率范圍:30Hz至26.5GHz
1 Hz至5 MHz(包括200 Hz、9 kHz、120 kHz、1 MHz EMI BW)
+12.5 dBm TOI
-150 dBm
+45 dBm二次諧波失真(SHI)
自動EMI測量
對數掃描
內置前置放大器
可選跟蹤發生器
描述
對您設計的 EMI 性能進行早期評估是產品*的關鍵。采用 Agilent EMC 預論證解決方案,您能得到進行室內預論證測試需要的全部功能特性,包括預先編程、自動測量、交互式軟件,以及獲得一致和可重復結果的自動測量功能。

新特性! 對數掃描
新特性! 1 Hz 和 3 Hz 分辨率帶寬
新特性! 在 Intern e t 上遠程觀察和控制 E7400A
全彩色顯示
3.5‘ 磁盤驅動器
自動 EMI 測量
5 分鐘預熱
內置前置放大器
堅固的便攜式設計

E7405A性能

頻率范圍:30Hz至26.5GHz
1 Hz至5 MHz(包括200 Hz、9 kHz、120 kHz、1 MHz EMI BW) 
12.5 dBm TOI 
≤ -150 dBm 
 +45 dBm二次諧波失真(SHI) 
自動EMI測量
對數掃描
內置前置放大器 
可選跟蹤發生器

高頻信號源:N5183B, N5183A,E8257D,E8247C,E8267D,N5173B

性能描述:
盡早測試設計的 EMI 性能對于打造*的產品至關重要。E7405A EMC 標準分析儀提供了您需要的功能,使內部 EMI 預先一致性測試成為可能。

EMC 標準分析儀通過內置更多可以提高生產效率的選件并保證快速交付,為您創造大價值。

輻射發射
當與寬帶天線配合使用時,E7405A 能夠檢測您的被測件散發的輻射發射。在沒有反射目標的區域(例如開闊地)或 EMI 室內,它的表現尤為出眾。

傳導發射
通過使用線路阻抗穩定網絡(LISN)器件或功率吸收鉗,將 E7405A 儀器與電源線或數據線耦合,您可以對電源線或數據線產生的噪聲或受到的干擾信號進行測量。

故障診斷和隔離
如果您遇到發射問題,可以使用 E7405A 和近場探頭來隔離和診斷故障源。

11940A 近場探頭,30 MHz 至 1 GHz

11941A 近場探頭,9 kHz 至 30 MHz
特性! 對數掃描 
新特性! 1 Hz 和 3 Hz 分辨率帶寬 
新特性! 在 Internet 上遠程觀察和控制 E7400A 
全彩色顯示  3.5' 磁盤驅動器 
自動 EMI 測量 
5 分鐘預熱 
內置前置放大器 
堅固的便攜式設計
選件:
11941A 11941A 近場探頭,9 kHz ~ 30 MHz
Agilent 11941A 手持式探頭專門用于測量表面電流的磁場輻射。

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