--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 服務(wù)區(qū)域 全國
- 服務(wù)資質(zhì) CNAS
- 發(fā)票 可提供
- 加急服務(wù) 可提供
- 報告類型 中英文電子/紙質(zhì)報告
--- 產(chǎn)品詳情 ---
服務(wù)范圍
IGBT、IC集成電路、微機(jī)電器件
檢測標(biāo)準(zhǔn)
GJB548微電子器件試驗方法和程序
檢測項目
(1)常見檢測項?:3DX 射線檢查、聲學(xué)掃描檢查、開封、IC 取芯片、芯片去層、襯底檢查、掃描電鏡檢查、PN結(jié)染?、DB FIB、熱點(diǎn)檢測、漏電位置檢測、彈坑檢測、粗細(xì)撿漏、ESD 測試
(2)常?失效模式分析:靜電損傷、過電損傷、鍵合異常、封裝異常、散熱異常、電參數(shù)漂移
相關(guān)資質(zhì)
CNAS
服務(wù)背景
隨著動車及高速列車電控性能的提升,其使用的電子元器件占比越來越高。一方面,為保證動車及高速列車的運(yùn)行可靠性,需要對所使用的電子元器件進(jìn)行充分的性能摸底,以熟悉產(chǎn)品性能及預(yù)期壽命。另一方面,列車運(yùn)行過程中一旦出現(xiàn)電子元器件失效,將可造成災(zāi)難性的損失;而為滿足電子元器件高功率、高負(fù)載、高性能的要求,列車上多使用進(jìn)口集成電路芯片,因檢測手段匱乏、分析方法空白,其失效問題常常受制于國外供應(yīng)商。
我們的優(yōu)勢
廣電計量通過與華為、海思等國內(nèi)集成電路芯片廠的深度合作,不斷提高自身芯片類檢測硬件實力及分析軟件實力。具備分析芯片14nm及以上工藝能力,同時可以將問題鎖定在具體芯片層或者um范圍內(nèi)。
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11月8-10日,第三十七屆全國機(jī)械行業(yè)可靠性技術(shù)學(xué)術(shù)年會暨可靠性工程分會第七屆委員會第一次全體委員會議在浙江杭州舉辦。會議由中國機(jī)械工程學(xué)會可靠性工程分會主辦、浙江理工大學(xué)與廣電計量檢測集團(tuán)股份有限公司(簡稱廣電計量)共同承辦。學(xué)術(shù)年會通過大會報告、新能源汽車可靠性專題論壇和可靠性培訓(xùn)三結(jié)合模式,匯集行業(yè)智慧,為可靠性學(xué)科的發(fā)展注入活力,共同推動中國機(jī)械工業(yè)高質(zhì)量發(fā)展。廣電計量黨委副書記、總經(jīng)理114瀏覽量 -
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引言氮化鎵(GaN),作為一種具有獨(dú)特物理和化學(xué)性質(zhì)的半導(dǎo)體材料,近年來在電子領(lǐng)域大放異彩,其制成的氮化鎵功率芯片在功率轉(zhuǎn)換效率、開關(guān)速度及耐高溫等方面優(yōu)勢盡顯,在5G通信、新能源汽車、數(shù)據(jù)中心、消費(fèi)電子等熱門領(lǐng)域,發(fā)揮重要的作用。面向中高功率市場的氮化鎵半導(dǎo)體IDM遠(yuǎn)山半導(dǎo)體是一家第三代半導(dǎo)體研發(fā)與生產(chǎn)企業(yè),具備完整的“外延材料+芯片制造”自主核心技術(shù)與生 -
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