以單端口DUT測(cè)量為例，測(cè)試模型參考o(jì)ne port error model。

　　由 于VNA的輸出和DUT的待測(cè)輸入一般都存在中間過渡件/連接件，使得理想網(wǎng)絡(luò)分析儀的測(cè)試平面和DUT的待測(cè)平面間出現(xiàn)了一個(gè)誤差網(wǎng)絡(luò)。對(duì)于單端口誤差 模型，有三個(gè)誤差項(xiàng)。為了求解三個(gè)誤差項(xiàng)，由線性矩陣?yán)碚摚枰⑷齻€(gè)不相關(guān)的方程來求解。校準(zhǔn)的原理就是建立這三個(gè)方程。

　　通過在測(cè)試面 加入三個(gè)已知特性的校準(zhǔn)件，例如開路件，反射系數(shù)理論上為1，短路件，反射系數(shù)理論上為-1，負(fù)載件反射系數(shù)理論上為0。通過VNA測(cè)量這三個(gè)校準(zhǔn)件，得 到實(shí)際測(cè)量結(jié)果。也就得到包含三個(gè)誤差模型的線性方程，通過求解就能得到三個(gè)誤差項(xiàng)。在后續(xù)的測(cè)量中，在直接獲得的測(cè)試結(jié)果中，先通過數(shù)學(xué)運(yùn)算，消除三個(gè) 誤差項(xiàng)帶來的影響，顯示給用戶的就是校準(zhǔn)后DUT的特性。

　　當(dāng)然兩端口誤差模型更加復(fù)雜，分為正向和反向，正向具有6個(gè)誤差項(xiàng)，反向也有6個(gè)誤差項(xiàng)，總共有12個(gè)誤差項(xiàng)需要求解，求解方法可用參考“RF Measurement of Die and Packages”

　　當(dāng)然一般網(wǎng)絡(luò)分析儀提供的二端口矢量校準(zhǔn)方法為SOLT，通過單端口的分析，其實(shí)校準(zhǔn)件的本質(zhì)是建立誤差模型方程，選擇不同已知反射系數(shù)的校準(zhǔn)件，就得到了很多不同的校準(zhǔn)方法，例如LRM，LRRM，TRL等等。

　　當(dāng)然校準(zhǔn)的本質(zhì)也是去嵌入（De-embedding）的過程，去嵌入的本質(zhì)得到誤差網(wǎng)絡(luò)的S參數(shù)，通過轉(zhuǎn)換到T參數(shù)，運(yùn)用級(jí)聯(lián)運(yùn)算進(jìn)行消除。去嵌入還能夠消除非傳輸線網(wǎng)絡(luò)的S參數(shù)，應(yīng)用也比校準(zhǔn)廣泛。