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The 'ABTH18502A and 'ABTH182502A scan test devices with 18-bit universal bus transceivers are members of the Texas Instruments SCOPE testability integrated-circuit family. This family of devices supports IEEE Standard 1149.1-1990 boundary scan to facilitate testing of complex circuit-board assemblies. Scan access to the test circuitry is accomplished via the 4-wire test access port (TAP) interface.
In the normal mode, these devices are 18-bit universal bus transceivers that combine D-type latches and D-type flip-flops to allow data flow in transparent, latched, or clocked modes. They can be used either as two 9-bit transceivers or one 18-bit transceiver. The test circuitry can be activated by the TAP to take snapshot samples of the data appearing at the device pins or to perform a self test on the boundary-test cells.
- 帶18位通用總線收發(fā)器的3.3伏ABT掃描測(cè)試裝置SN54LVTH18502A SN54LVTH182502A SN74LVTH18502A SN74LVTH182502A 數(shù)據(jù)表
- SN54ABTH32318,SN74ABTH32318,pd
- SN54ABTH32316,SN74ABTH32316,pd
- SN54ABTH18652A,SN54ABTH182652A
- SN54ABTH18646A,SN54ABTH182646A
- SN54ABTH18504A,SN54ABTH182504A
- SN54ABTH16460,SN74ABTH16460,pd
- SN54ABT16260,SN74ABTH16260,pdf
- SN54ABTH162260,SN74ABTH162260,
- SN54ABTH32245,SN74ABTH32245,pd
- SN54ABTH25245,SN74ABTH25245,pd
- SN54ABTH16245, SN74ABTH16245,p
- SN54ABTH162245, SN74ABTH162245
- SN54ABTH32543,SN74ABTH32543,pd
- SN54ABTH16244, SN74ABTH16244,p
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