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The 'LVTH18646A and 'LVTH182646A scan test devices with 18-bit bus transceivers and registers are members of the Texas Instruments (TI) SCOPE testability integrated-circuit family. This family of devices supports IEEE Std 1149.1-1990 boundary scan to facilitate testing of complex circuit board assemblies. Scan access to the test circuitry is accomplished via the 4-wire test access port (TAP) interface.
Additionally, these devices are designed specifically for low-voltage (3.3-V) VCC operation, but with the capability to provide a TTL interface to a 5-V system environment.
In the normal mode, these devices are 18-bit bus transceivers and registers that allow for multiplexed transmission of data directly from the input bus or from the internal registers.
- 具有3態輸出的3.3-V ABT 16位緩沖器/驅動器SN54LVTH16541 SN74LVTH16541數據表
- 具有3態輸出的3.3-V ABT 16位緩沖器/驅動器SN54LVTH162541 SN74LVTH162541數據表
- 具有3態輸出的3.3-V ABT 16位緩沖器/驅動器SN74LVTH16244A-EP數據表
- 具有3態輸出的3.3-V ABT 16位總線收發器SN74LVTH16245A-EP數據表
- 具有3態輸出的3.3-V ABT 16位緩沖器/驅動器SN54LVTH16240 SN74LVTH16240數據表
- 具有3態輸出的3.3-V ABT 16位邊緣放大D型觸發器SN54LVTH162374 SN74LVTH162374數據表
- 3.3-V ABT 16位透明D型三態輸出鎖存器SN54LVTH162373 SN74LVTH162373數據表
- 3.3-V ABT 16位透明D型三態輸出鎖存器SN54LVTH16373 SN74LVTH16373 數據表
- 具有3態輸出的3.3-V ABT 16位總線收發器SN74LVTH16245A數據表
- SN74LVTH32373,pdf(3.3-V ABT 32
- SN74LVTH32374,pdf(3.3-V ABT 32
- SN74LVTH322374,pdf(3.3-V ABT 3
- SN74LVTH32245,pdf(3.3-V ABT 32
- SN74LVTH16245A-Q1,pdf(3.3-V AB
- SN74LVTH32244,pdf93.3-V ABT 32
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