資料介紹
前言
有時候我們需要進行某一個特定量級的測量,但是噪聲或偶發干擾引起的數據錯誤可能會影響測量。假設我們有一個參數測量電路,偶爾會記錄一個錯誤數值,這時我們就要以某種方式對測量值進行“過濾”,濾除記錄值中的錯誤數值。
本文將介紹一個能夠在噪聲環境中減少或濾除偶發錯誤測量值的數字電路。
智能移動平均數
延遲線(DL)電路是一個廣為人知的概念,是一個可將電信號延遲一段時間的邏輯元件。從DDR SDRAM (雙倍數據率同步動態隨機存取存儲器)到DLL(延遲鎖相環),延遲線的應用范圍十分廣泛。在DL延遲線模塊內,為生成一個確定性移相信號,我們需要設定邏輯元件的延時,并調整延時設置,以補償制程、電壓和溫度(PVT)對測量值的影響。
圖1: 延遲線示例
圖 1給出一個預定數量的延遲單元構成的延遲線電路和通過配置字實現的反饋通道(Dfb)的示例,通過延遲配置字,可以在Din引腳輸入信號和Dout引腳輸出信號之間設定所需 延時。每個延遲單元在Din和Dl兩個引腳之間生成固定的通道延時。
我們可以通過多種方式計算符合理想延遲要求的配置字,計算已知時鐘延長一個周期所需延遲單元的數量就是其中一種方法。確定一個延遲單元的延時不難。圖2所示是這種計算方法的原理;ClkIN 是已知時鐘信號,輸出是延長一個周期的ClkIN信號。這個模塊的輸出(延遲單元的數量)用于確定延遲線的配置,如圖1所示。
圖2: 延遲配置字計算示例
如果噪聲或干擾在ClkIN上引起尖峰,測量精確度將會受到錯誤數據的影響。眾所 周知,錯誤的設置可能導致延遲線電路暫時性功能紊亂。假設在一段時間內,參考周期比標稱值小很多或大很多,輸入延長線的新計算值將會與以前的數值有很大差異。圖1所示的DL將會生成一個錯誤信號,被隨機抖動信號吸收。
圖3中的示例描述了當參考時鐘ClkIN有一個大的峰對峰抖動脈沖時所發生的情況,這時延遲單元數量的計算值不同于標稱值。
有時候我們需要進行某一個特定量級的測量,但是噪聲或偶發干擾引起的數據錯誤可能會影響測量。假設我們有一個參數測量電路,偶爾會記錄一個錯誤數值,這時我們就要以某種方式對測量值進行“過濾”,濾除記錄值中的錯誤數值。
本文將介紹一個能夠在噪聲環境中減少或濾除偶發錯誤測量值的數字電路。
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延遲線(DL)電路是一個廣為人知的概念,是一個可將電信號延遲一段時間的邏輯元件。從DDR SDRAM (雙倍數據率同步動態隨機存取存儲器)到DLL(延遲鎖相環),延遲線的應用范圍十分廣泛。在DL延遲線模塊內,為生成一個確定性移相信號,我們需要設定邏輯元件的延時,并調整延時設置,以補償制程、電壓和溫度(PVT)對測量值的影響。
圖1: 延遲線示例
圖 1給出一個預定數量的延遲單元構成的延遲線電路和通過配置字實現的反饋通道(Dfb)的示例,通過延遲配置字,可以在Din引腳輸入信號和Dout引腳輸出信號之間設定所需 延時。每個延遲單元在Din和Dl兩個引腳之間生成固定的通道延時。
我們可以通過多種方式計算符合理想延遲要求的配置字,計算已知時鐘延長一個周期所需延遲單元的數量就是其中一種方法。確定一個延遲單元的延時不難。圖2所示是這種計算方法的原理;ClkIN 是已知時鐘信號,輸出是延長一個周期的ClkIN信號。這個模塊的輸出(延遲單元的數量)用于確定延遲線的配置,如圖1所示。
圖2: 延遲配置字計算示例
如果噪聲或干擾在ClkIN上引起尖峰,測量精確度將會受到錯誤數據的影響。眾所 周知,錯誤的設置可能導致延遲線電路暫時性功能紊亂。假設在一段時間內,參考周期比標稱值小很多或大很多,輸入延長線的新計算值將會與以前的數值有很大差異。圖1所示的DL將會生成一個錯誤信號,被隨機抖動信號吸收。
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