對于電子設備制造企業，買到翻新器件是一件令人惱火、糾結、無奈的事情。后果難料卻又束手無策，防不勝防。經過本人研究、與器件特性資深研究人士交流、經器件翻新業內資深人士言傳身教等等手段，總結四法傳授鑒別翻新器件。
　　1.光學檢測
　　工具是放大鏡，可以選用10-20倍光學放大鏡，或用高倍電子顯微鏡（光學放大*電子放大）。
　　將器件的背面，有焊錫的一面，也是與PCB板相接的一面，放置于放大鏡下，觀察其表面是否有有機焊劑揮發物，現象就是臟乎乎的，跟吃飯時濺到衣服上的油點類似，總之就是沒那么平整干凈。而且多個器件的臟污圖象對比，臟點的位置不一致。
　　2.測管腳電容
　　工具為LCR電橋，很便宜的。
　　兩塊互不連通的金屬，之間填充有絕緣介質，就構成了一個電容。我們在電路中常說的分布電容就是這個形成機理。
　　現在的器件里，半導體的特性，都會產生分布電容，但是隨著時間的推移、隨著器件日久年深的工作，兩金屬間的絕緣特性會因為電壓的持續加壓或環境影響而導致變差，從而影響到分布電容的大小。據此容值判定器件的狀態很有參考價值。
　　一個批次里，抽取多個器件，隨意隨機抽取2個管腳，測試其之間的電容特性，將抽取的多個器件相同二管腳的電容測量結果進行對比，不同器件之間±1nF的偏差波動可以理解，差得多了就要小心了。如果一個批次里測出的結果很離散，都在±7～8nF甚至更多之間離散分布，那就肯定是不對勁了。
　　3.做分布曲線
　　工具為萬用表或電橋。
　　方法是從一批供貨器件里，隨機抽取幾十個，越多越好啦，一般最少不要少于20個，然后用萬用表隨機測試任二管腳之間的阻抗，或者用電橋測任二管腳之間的電容，總之選個好測的參數，將多個器件的該參數做成分布圖（如下圖1）。分布特性如曲線①特征的為新器件，如曲線②特征的則重點懷疑為翻新器件。此為定性測量。一般新器件的參數一致性會非常好。如果分布曲線里出現兩個如曲線①特征的波峰，則可能是兩個批次的器件，兩個批次的時間差距較大。
　　
　　圖1
　　4.IV曲線
　　工具：IV曲線測試儀，電路板及元器件故障檢測分析儀（T40-II）
　　方法是從一批供貨器件里，隨機抽取一些，數量幾個到幾十個均可，如果有確定的正品新器件做參照物的話，抽樣數量也可以很少（抽測樣品1-2個都是可以的）。將懷疑器件的IV曲線與正品樣品的曲線做對比，重合的就是新器件，不重合的則可能是舊器件翻新來的。
　　如果沒有對比正品樣品，就拿多個器件來做曲線對比，同一型號器件的同一管腳的曲線重合度很高，則說明批次一致性很好，則是正品新器件，反之，則是翻新器件。
　　以上方法皆來自于江湖，且皆為定性測試，很難定量，但其參考價值和實用性不必懷疑。別問我為什么說這些，到底有什么企圖心，我叫雷鋒，職業是醫生，我的患者對象是故障器件和電路板。
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