集成電路（Integrated Circuit，通常簡稱IC） ，是指將很多微電子器件集成在芯片上的一種高級微電子器件。通常使用硅為基礎(chǔ)材料，在上面通過擴散或滲透技術(shù)形成N型和P型半導(dǎo)體及P-N結(jié)。實驗室中也有以砷化鎵（GaAs）為基材的芯片，性能遠超硅芯片，但是不易量產(chǎn)，價格過高。

　　集成電路是半導(dǎo)體集成電路，即以半導(dǎo)體材料為基片，將至少有一個是有源元件的兩個以上元件和部分或者全部互連線路集成在基片之中或者基片之上，以執(zhí)行某種電子功能的中間產(chǎn)品或者最終產(chǎn)品；

　　集成電路的種類一般是以內(nèi)含晶體管等電子組件的數(shù)量來分類。

　　· SSI （小型集成電路），晶體管數(shù) 10~100

　　· MSI （中型集成電路），晶體管數(shù) 100~1，000

　　· LSI （大規(guī)模集成電路），晶體管數(shù) 1，000~10，0000

　　· VLSI （超大規(guī)模集成電路），晶體管數(shù) 100，000~

　　集成電路布圖設(shè)計是指集成電路中有一個是有源元件的兩個以上和部分或者全部互連線路的三維配置，或者為制造集成電路而準(zhǔn)備的三維配置。

　　集成電路的好壞判別方法。

　　一、不在路檢測

　　這種方法是在ic未焊入電路時進行的，一般情況下可用萬用表測量各引腳對應(yīng)于接地引腳之間的正、反向電阻值，并和完好的ic進行 較。

　　二、在路檢測

　　這是一種通過萬用表檢測ic各引腳在路（ic在電路中）直流電阻、對地交直流電壓以及總工作電流的檢測方法。這種方法克服了代換試驗法需要有可代換ic的局限性和拆卸ic的麻煩，是檢測ic最常用和實用的方法。

　　1.直流工作電壓測量

　　這是一種在通電情況下，用萬用表直流電壓擋對直流供電電壓、外圍元件的工作電壓進行測量；檢測ic各引腳對地直流電壓值，并與正常值相 較，進而壓縮故障范圍， 出損壞的元件。測量時要注意以下八 ：

　?。?）萬用表要有足夠大的內(nèi)阻， 少要大于被測電路電阻的10倍以上，以免造成較大的測量誤差。