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許多實(shí)際高速采樣系統(tǒng)，如電氣測(cè)試與測(cè)量設(shè)備、生命系統(tǒng)健康監(jiān)護(hù)、雷達(dá)和電子戰(zhàn)對(duì)抗等，不能接受較高的ADC轉(zhuǎn)換誤差率。這些系統(tǒng)要在很寬的噪聲頻譜上尋找極其罕見或極小的信號(hào)。誤報(bào)警可能會(huì)引起系統(tǒng)故障。因此，我們必須能夠量化高速 ADC轉(zhuǎn)換誤差率的頻率和幅度。
CER與BER
首先，讓我們理清誤差率描述中的兩大差異。轉(zhuǎn)換誤差率（CER）通常是ADC關(guān)于模擬電壓采樣的判斷不正確的結(jié)果，因此，與轉(zhuǎn)換器輸入的滿量程范圍相比較，其相應(yīng)的數(shù)字碼也不正確。ADC的誤碼率（BER）也能描述類似的誤差，但就我們的討論而言，我們把BER定義為純數(shù)字接收錯(cuò)誤；如果沒有這種錯(cuò)誤，那么轉(zhuǎn)換的碼數(shù)據(jù)就是正確的。這種情況下，正確的ADC數(shù)字輸出未能被FPGA或ASIC等下游邏輯器件正確接收到。代碼出錯(cuò)的程度及其出現(xiàn)的頻率就是本文余下部分要討論的內(nèi)容。僅僅閱讀數(shù)據(jù)手冊(cè)中的技術(shù)參數(shù)，可能難以掌握ADC轉(zhuǎn)換誤差。使用轉(zhuǎn)換器數(shù)據(jù)手冊(cè)中的單個(gè)數(shù)據(jù)，當(dāng)然可以對(duì)轉(zhuǎn)換誤差率進(jìn)行某種估計(jì)，但該數(shù)據(jù)量化的到底是什么呢？您無(wú)從判斷多大的樣本偏差可被視為錯(cuò)誤，無(wú)法確定試驗(yàn)測(cè)量或仿真的置信度。必須將“錯(cuò)誤”定義限定在已知出現(xiàn)頻率所對(duì)應(yīng)的幅度以內(nèi)。
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