華科智源HUSTEC-DC-2010晶體管直流參數(shù)測試系統(tǒng)是由我公司技術(shù)團隊結(jié)合半導體功率器件測試的多年經(jīng)驗，以及眾多國內(nèi)外測試系統(tǒng)產(chǎn)品的熟悉了解后，完全自主開發(fā)設(shè)計的全新一代“晶體管直流參數(shù)測試系統(tǒng)”。軟件及硬件均由團隊自主完成。這就決定了這款產(chǎn)品的功能性和可靠性能夠得到持續(xù)完善和不斷的提升。

脈沖信號源輸出方面，高壓源標配1400V（選配2KV），高流源標配100A（選配40A,200A）柵極電壓40V，柵極電流10mA，分辨率最高至1mV/30pA，精度最高可至0.5%。程控軟件基于Lab VIEW平臺編寫，填充式菜單界面。采用帶有開爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測試插座，自動補償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證測試結(jié)果準確可靠。產(chǎn)品可測試Si,SiC,GaN材料的IGBTs,DIODEs,MOSFETs,BJTs,SCRs等7大類26分類的電子元器件。涵蓋電子產(chǎn)品中幾乎所有的常見器件。無論電壓電流源還是功能配置都有著極強的擴展性。

產(chǎn)品為桌面放置的臺式機結(jié)構(gòu)，由測試主機和程控電腦兩大部分組成。外掛各類夾具和適配器，還能夠通過Prober接口、Handler接口可選（16Bin）連接分選機和機械手建立工作站，實現(xiàn)快速批量化測試。通過軟件設(shè)置可依照被測器件的參數(shù)等級進行自動分類存放。能夠極好的應(yīng)對“來料檢驗”“失效分析”“選型配對”“量產(chǎn)測試”等不同場景。

產(chǎn)品的可靠性和測試數(shù)據(jù)的重復(fù)性以及測試效率都有著非常優(yōu)秀的表現(xiàn)。創(chuàng)新的“點控式夾具”讓操作人員在夾具上實現(xiàn)一點即測。操作更簡單效率更高。測試數(shù)據(jù)可保存為EXCEL文本。