電磁兼容性輻射發(fā)射測試方法（適用于工作頻率30-1000MHZ）隨著電子技術(shù)的發(fā)展，電路頻率的不斷提高，在電子產(chǎn)品的設(shè)計、開發(fā)生產(chǎn)、使用和維護的整個周期中，電磁兼容性（EMC）已經(jīng)成為必須考慮的一環(huán)。按照電磁兼容目的為基準(zhǔn)，電磁兼容可以分為診斷測試和達標(biāo)測試。通過診斷測試，找到電磁兼容問題的原因，確定噪聲源與被干擾的方位，進而解決。通過達標(biāo)測試，評估產(chǎn)品是否達到電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)。按照電磁兼容測試內(nèi)容，電磁兼容可以分為騷擾（EMI）發(fā)射測試和設(shè)備的抗擾度（EMS）測試。EMI測試時設(shè)備向外界發(fā)射電磁騷擾，EMS則相反，通過給設(shè)備外加騷擾，測試其抗干擾能力。其中EMI騷擾發(fā)射的方式又分為輻射發(fā)射（RE）和傳導(dǎo)發(fā)射（CE）。二者的區(qū)別在于騷擾發(fā)射傳播的介質(zhì)不同：一個為自由空間，一個為電源線。文中主要針對電磁輻射發(fā)射測試技術(shù)進行了相關(guān)研究。隨著電磁兼容理論的發(fā)展，電磁發(fā)射發(fā)射測試技術(shù)不斷進步，一些新的試驗場地得到了開發(fā)，例如TEMCELL，G-TEMCELL，混響室等等。新場地增強了輸入功率和產(chǎn)生的騷擾場強的轉(zhuǎn)化效率，使得抗擾度測試的進行更加容易。另一個新的發(fā)展是APD（幅度概率分布）在測試中的使用。本文基于APD設(shè)計了輻射發(fā)射方法，將在后文介紹。同時白于不同頻率短的電子產(chǎn)品，電磁兼容測試的方法又有不同，主要體現(xiàn)在較高頻段測量產(chǎn)品輻射的電場強度，較低頻段測量產(chǎn)品的磁場強度。文中針對30-1 000 MHz頻率段的輻射發(fā)射測試技術(shù)作詳細(xì)研究與介紹。