資料介紹
? The Agilent Medalist x6000 AXI
?system offers extensive simul-
?taneous 3D X-ray inspection of
?double-sided panels at throughput
?rates that match most line rates of
?medium to high complexity printed
?circuit board assemblies (PCBA).
? Provides uncompromised 3D
?inspection for maximum fault
?detection up to 95% of all manu-
?facturing defects.
? Designed for in-line or off-line
?automated X-ray process testing
?of lead or lead-free solder joints
?on PCBAs, with user con?? gurable
?pass-thru or pass-back loading.
? Enables successful implementa-
?tions through an easy-to-learn
?and easy-to-use development
?environment providing faster
?time-to-market with high
?quality results.
? Digital cross-sectional X-ray images
?of solder joints are automatically
?generated and analyzed. The
?dynamic analysis measures joint
?characteristics and compares
?results against both learned and
?user de?? ned thresholds.
?system offers extensive simul-
?taneous 3D X-ray inspection of
?double-sided panels at throughput
?rates that match most line rates of
?medium to high complexity printed
?circuit board assemblies (PCBA).
? Provides uncompromised 3D
?inspection for maximum fault
?detection up to 95% of all manu-
?facturing defects.
? Designed for in-line or off-line
?automated X-ray process testing
?of lead or lead-free solder joints
?on PCBAs, with user con?? gurable
?pass-thru or pass-back loading.
? Enables successful implementa-
?tions through an easy-to-learn
?and easy-to-use development
?environment providing faster
?time-to-market with high
?quality results.
? Digital cross-sectional X-ray images
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