資料介紹
1.?頻率測(cè)試
①設(shè)置單一頻點(diǎn),范圍為1MHz-100MHz,以26M為例,方法為:主菜單-STIMULUS-CW FREQ-2 6 M。
②將掃描點(diǎn)數(shù)設(shè)置為301,設(shè)置方法為:主菜單-STIMULUS-SWEEP POINTS-301。
此時(shí)晶振PI網(wǎng)絡(luò)分析儀OUT端口輸出單一26MHz信號(hào),此時(shí)可以用頻率計(jì)進(jìn)行測(cè)試,記錄下實(shí)測(cè)頻率。
③重復(fù)上述步驟,根據(jù)需求檢測(cè)相應(yīng)的輸出頻率誤差,精度要求為±1ppm。
④恢復(fù)掃描點(diǎn)并保存,恢復(fù)掃描點(diǎn)路徑為:主菜單:STIMULUS-SWEEP POINTS,設(shè)置為401;保存路徑為:主菜單 -CONFIG-SAVE CONFIG。
上述1和2頻率超差校準(zhǔn)方法:
①設(shè)置基準(zhǔn)26M,方法為:主菜單-CONFIG-EXPERT SETTINGS-TCXO-2 6 M。
②設(shè)置單一輸出頻點(diǎn)26M,方法為:主菜單-STIMULUS-CW FREQ-2 6 M。
③將掃描點(diǎn)數(shù)設(shè)置為301,設(shè)置方法為:主菜單-STIMULUS-SWEEP POINTS-301。
④測(cè)試晶振PI網(wǎng)絡(luò)分析儀OUT端口輸出頻率,并設(shè)置到:主菜單-CONFIG-EXPERT SETTINGS-TCXO。
⑤恢復(fù)掃描點(diǎn)并保存,恢復(fù)掃描點(diǎn)路徑為:主菜單:STIMULUS-SWEEP POINTS,設(shè)置為401;保存路徑為:主菜單 -CONFIG-SAVE CONFIG。
2.?電阻測(cè)試(1Ω-500Ω)
此項(xiàng)測(cè)試需要用無(wú)感電阻進(jìn)行測(cè)試,電阻測(cè)試方法如下(若精度不夠,需要進(jìn)行重新校準(zhǔn)):
設(shè)置驗(yàn)證頻點(diǎn),如24MHz,操作方法為:主菜單-STIMULUS-CENTER -2 4 M;
設(shè)置掃描點(diǎn)數(shù)為301,操作方法為:主菜單-STIMULUS-SWEEP POINTS-301;
將顯示選項(xiàng)設(shè)置為“SERIES R”,操作方法為:主菜單-DISPLAY-FORMAT S21(THRU)-SERIES R;
插入標(biāo)準(zhǔn)電阻,顯示界面如下。若測(cè)試阻值超標(biāo),建議重新校準(zhǔn),并重復(fù)①到④驗(yàn)證步驟。更換頻點(diǎn),再重復(fù)①到④驗(yàn)證步驟。此項(xiàng)精度要求為2Ω+標(biāo)準(zhǔn)電阻*10%。
?
3.?其他參數(shù)測(cè)試
該設(shè)備沒(méi)有專用的檢定標(biāo)準(zhǔn),可以通過(guò)對(duì)比法來(lái)驗(yàn)證其精度。可利用50Ω通用網(wǎng)絡(luò)分析儀來(lái)驗(yàn)證晶振串聯(lián)諧振頻率Fs,Rs,FL,CL,需要配合12.5Ω PI網(wǎng)絡(luò)(IEC444-1中所述)。
檢測(cè)依據(jù):
①SJ/Z9154.1-87/IEC444-1(1989)用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測(cè)量石英晶體元件參數(shù)第一部分用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測(cè)量石英晶體元件諧振頻率和諧振電阻的基本方法。
②GB∕T22319.11-2018/IEC 60444-11:2010石英晶體元件參數(shù)的測(cè)量第11部分:采用自動(dòng)網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和誤差校正確定負(fù)載諧振頻率和有效負(fù)載電容的標(biāo)準(zhǔn)方法。
用通用網(wǎng)絡(luò)分析儀檢測(cè)Fs和Rs:
①中心頻率設(shè)置:根據(jù)晶振頻率設(shè)置為所需要的頻點(diǎn);
②跨度設(shè)置:設(shè)置為中心頻率的8*10-4;
③掃描功率設(shè)置:對(duì)于12.5Ω PI網(wǎng)絡(luò),將網(wǎng)絡(luò)分析儀掃描功率設(shè)置為-2dbm;
④掃描點(diǎn)數(shù)設(shè)置:設(shè)置為當(dāng)前網(wǎng)絡(luò)分析儀可提供的最大值以達(dá)到更高的精度;
⑤帶寬設(shè)置,默認(rèn)設(shè)置為100Hz;
⑥網(wǎng)絡(luò)分析儀模式設(shè)置為傳輸模式,測(cè)試參數(shù)設(shè)置為R-X;
⑦接上12.5Ω PI網(wǎng)絡(luò)到網(wǎng)絡(luò)分析儀輸出和輸入端口,進(jìn)行三端校準(zhǔn);
⑧插入相應(yīng)的晶振,使用網(wǎng)絡(luò)分析儀搜索功能,搜索電抗X為0的點(diǎn)即為串聯(lián)諧振頻率Fs,對(duì)應(yīng)的電阻R即為串聯(lián)諧振電阻Rs。Fs精度要求為±5ppm,Rs精度要求為2Ω+所測(cè)電阻*10%
用通用網(wǎng)絡(luò)分析儀檢測(cè)FL:
步驟同用通用網(wǎng)絡(luò)分析儀檢測(cè)Fs和Rs,第⑦步搜索的電抗點(diǎn)調(diào)整為。
用通用網(wǎng)絡(luò)分析儀檢測(cè)CL:
步驟同用通用網(wǎng)絡(luò)分析儀檢測(cè)Fs和Rs,第⑦步調(diào)整為標(biāo)記出中心頻率處的虛部值,.精度要求為±1pF。
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