【技術大咖測試筆記系列】之八：低功率范圍內的MOSFET表征

低電流范圍內電氣表征的典型問題是：必需確定低功率/低漏流MOSFET在不同條件下可實現的器件性能。

2021-10-20 標簽：MOSFET泰克科技MOSFET晶體管 1592 0

【技術大咖測試筆記系列】之六：曲線追蹤儀與I-V曲線追蹤儀軟件

曲線追蹤儀是一種基礎電子測試設備，通過分析半導體器件（如二極管、晶體管、晶閘管等）的特點，用來執行I-V曲線追蹤。它們通常用于器件可靠性應用中，如故障分...

2021-09-14 標簽：晶體管泰克科技 2132 0

油罐車尾的鐵鏈消失不見，如何量化材料的電阻率？

體積電阻率測量一般采用下圖1所示的測試夾具完成，將電壓源V-Source施加到上電極，測試流經測試樣品的小電流I，隨后體積電阻率ρv用公式ρv=kvτR...

2021-08-13 標簽：電阻率泰克科技 2096 0

【技術大咖測試筆記系列】之二：吉時利和Initial State全新方案，在家即可分析DAQ/DMM數據

數據傳送功能讓用戶能夠遠程監測流程，不再局限于實驗室現場辦公。在監測長時間運行的測試時，比如環境測試或HALT （高加速測試）時，這改變了游戲規則。

2021-08-11 標簽：泰克科技 988 0

【技術大咖測試筆記系列】之一：選擇手持式數字萬用表還是臺式數字萬用表？

臺式DMM通常用于自動測試，要求有接口，以使用電腦控制DMM并收發數據。自動測試通常要求快速測量速率，并能夠采樣復雜波形。

2021-08-04 標簽：數字萬用表DMM泰克科技 2030 0

滿足EMC嚴苛測試要求，使用示波器檢驗ESD仿真器

大多數ESD標準對大多數產品規定觸點放電測試電平為±4 kV，但會因應用或使用環境而變化。

2021-06-03 標簽：ESD示波器仿真器 8714 0

新一代內存DDR5帶來了哪些改變？

具體有哪些變化？DDR5與DDR4差別很大，實際上更像LPDDR4，DDR5帶來9個變化。

2021-05-19 標簽：物聯網內存泰克科技 4584 0

NVM測試要求發生演變，泰克4200A一體化測試解決方案集中進行表征

理想的內存應兼具動態內存和非易失性內存的特點：成本越來越低，密度越來越高；快速讀/寫，類似于或快于現有的DRAM速度

2020-11-17 標簽：示波器NVM內存技術 1125 0

【泰克電源設計與測試】致工程師系列之四：寬禁帶半導體器件GaN、SiC設計優化驗證

選擇TIVH差分探頭的基本原則是以驅動信號的上升時間為依據，儀器系統對被測點的影響小于3%。上管信號測量考慮因素：帶寬、電壓范圍（共模和差模）、CMRR和連接。

2020-08-11 標簽：SiCGaN泰克科技 1125 0

基于C-V測量的最佳電容和AC阻抗測量方案

CVUs采用獨特的電路設計，通過Clarius軟件控制，支持多種特性和診斷工具，確保測量結果的準確度達到最高。

2020-08-10 標簽：測量系統參數分析儀阻抗測量 3580 1

PCIe Gen3/Gen4接收端鏈路均衡測試（下篇：實踐篇）

在PCIe 2.0的時代，通常只要保證了發送端的信號質量，那么整個系統也就能夠正常工作；因此接收端測試并不是必測項。

2020-04-09 標簽：測試儀器PCIePCIe Gen3 4768 0

【汽車以太網測試】系列之一：全雙工通信帶來測試挑戰，泰克信號分割法讓你獨具慧眼

隨著汽車行業加快轉向汽車以太網技術，全方位設計驗證對保證多個ECU之間的互操作能力和可靠運行至關重要。

2019-10-30 標簽：以太網連接器信號完整性 1925 0