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標(biāo)簽 > 熱循環(huán)
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IC產(chǎn)業(yè)可靠度測(cè)試:以熱循環(huán)試驗(yàn)?zāi)M預(yù)測(cè)熱疲勞
簡(jiǎn)介溫度循環(huán)試驗(yàn)(ThermalCyclingtests,TCT)是一種于IC產(chǎn)業(yè)可靠度測(cè)試當(dāng)中的重要測(cè)試項(xiàng)目之一。用以測(cè)試產(chǎn)品于反復(fù)升降的環(huán)境溫度下,...
半導(dǎo)體后端工藝:半導(dǎo)體封裝的可靠性測(cè)試及標(biāo)準(zhǔn)(下)
導(dǎo)致半導(dǎo)體產(chǎn)品失效的外部環(huán)境條件誘因有許多。因此,產(chǎn)品在被運(yùn)往目的地之前,需接受特定環(huán)境條件下的可靠性測(cè)試,以確保其能夠經(jīng)受住不同環(huán)境條件的考驗(yàn)。
2024-01-13 標(biāo)簽:印刷電路板控制電路半導(dǎo)體封裝 3472 0
使用ProCAST軟件進(jìn)行壓鑄模擬仿真四個(gè)步驟
ProCAST軟件在計(jì)算壓鑄件,尤其是薄壁件時(shí)精度比有限差分軟件要高得多。同時(shí),有限元網(wǎng)格可以很好的處理幾何模型中不同體之間的“接觸”問(wèn)題,因此ProC...
通孔是一種結(jié)構(gòu),在反復(fù)的熱循環(huán)下容易出現(xiàn)疲勞破壞和斷裂。盡管這些結(jié)構(gòu)在極端溫度下容易斷裂,但如何防止熱循環(huán)失效是通孔的機(jī)械設(shè)計(jì)。
汽車電子技術(shù):帶你了解發(fā)動(dòng)機(jī)三種熱循環(huán)方式
市面上大部分發(fā)動(dòng)機(jī)都是奧托循環(huán),四沖程發(fā)動(dòng)機(jī)吸氣、壓縮、做功、排氣都伴隨著正常的氣門開閉時(shí)機(jī),每次氣門的開閉都在活塞的上止點(diǎn)或下止點(diǎn),請(qǐng)看下面的GIF動(dòng)...
2016-07-29 標(biāo)簽:發(fā)動(dòng)機(jī)熱循環(huán) 1.3萬(wàn) 0
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